chinese直男口爆体育生外卖, 99久久er热在这里只有精品99, 又色又爽又黄18禁美女裸身无遮挡, gogogo高清免费观看日本电视,私密按摩师高清版在线,人妻视频毛茸茸,91论坛 兴趣闲谈,欧美 亚洲 精品 8区,国产精品久久久久精品免费

0
  • 聊天消息
  • 系統(tǒng)消息
  • 評(píng)論與回復(fù)
登錄后你可以
  • 下載海量資料
  • 學(xué)習(xí)在線(xiàn)課程
  • 觀(guān)看技術(shù)視頻
  • 寫(xiě)文章/發(fā)帖/加入社區(qū)
會(huì)員中心
創(chuàng)作中心

完善資料讓更多小伙伴認(rèn)識(shí)你,還能領(lǐng)取20積分哦,立即完善>

3天內(nèi)不再提示

芯片晶圓里TaN薄膜是什么?TaN薄膜的性質(zhì)、制備方法

工程師鄧生 ? 來(lái)源:未知 ? 作者:劉芹 ? 2023-12-19 11:48 ? 次閱讀
加入交流群
微信小助手二維碼

掃碼添加小助手

加入工程師交流群

芯片晶圓里TaN薄膜是什么?TaN薄膜的性質(zhì)、制備方法

TaN薄膜是一種在芯片晶圓制備過(guò)程中常用的材料。它具有高熔點(diǎn)、高硬度和良好的熱穩(wěn)定性,因此在芯片技術(shù)中應(yīng)用廣泛。本文將對(duì)TaN薄膜的性質(zhì)和制備方法進(jìn)行詳細(xì)介紹。

一、TaN薄膜的性質(zhì)

1. 物理性質(zhì)

TaN薄膜具有金屬銅色,具有較高的熔點(diǎn)(約3120℃),使其能夠承受高溫環(huán)境。此外,TaN薄膜還具有較高的硬度(在6-7Mohs之間),使其能夠抵抗劃痕和磨損。

2. 電學(xué)性質(zhì)

TaN薄膜是一種導(dǎo)電材料,具有較低的電阻率。這使得TaN薄膜成為芯片技術(shù)中常用的導(dǎo)電層材料。此外,TaN薄膜還具有一定的抗氧化性,可以在高溫環(huán)境下保持穩(wěn)定的導(dǎo)電性能。

3. 化學(xué)性質(zhì)

TaN薄膜具有較好的化學(xué)穩(wěn)定性,可以在氧化、酸化和堿性溶液中保持其完整性。這使得TaN薄膜在芯片技術(shù)中可以作為一種抗腐蝕保護(hù)層。

4. 應(yīng)力特性

TaN薄膜的制備過(guò)程中常常會(huì)引入內(nèi)應(yīng)力。這些內(nèi)應(yīng)力對(duì)TaN薄膜的性質(zhì)和性能有一定的影響。因此,了解和控制應(yīng)力是制備高質(zhì)量TaN薄膜的重要因素之一。

二、TaN薄膜的制備方法

1. 物理氣相沉積(Physical Vapor Deposition,簡(jiǎn)稱(chēng)PVD)

PVD是一種常用的TaN薄膜制備方法。其中,磁控濺射是最常用的一種技術(shù)。在磁控濺射過(guò)程中,將高純度的TaN目標(biāo)放置在真空室中,通過(guò)施加高電壓和磁場(chǎng),使TaN目標(biāo)表面逐漸剝離,并形成TaN薄膜。

2. 化學(xué)氣相沉積(Chemical Vapor Deposition,簡(jiǎn)稱(chēng)CVD)

CVD是另一種常用的制備TaN薄膜的方法。在CVD過(guò)程中,將適量的金屬原料通過(guò)氣相輸送到反應(yīng)室中,并在高溫下進(jìn)行化學(xué)反應(yīng),生成TaN薄膜。CVD方法制備的TaN薄膜具有優(yōu)良的均勻性和致密性。

3. 溶液法和凝膠法

除了PVD和CVD方法外,溶液法和凝膠法也常常用于制備TaN薄膜。其中,溶液法通常采用有機(jī)金屬化合物和溶劑的混合物進(jìn)行噴涂或浸漬,然后通過(guò)熱處理將其轉(zhuǎn)化為T(mén)aN薄膜。凝膠法則是將TaN前體溶膠轉(zhuǎn)化為凝膠,然后通過(guò)熱退火形成TaN薄膜。

總結(jié):TaN薄膜是在芯片晶圓制備過(guò)程中常用的材料。它具有高熔點(diǎn)、高硬度和良好的熱穩(wěn)定性,能夠承受高溫環(huán)境。TaN薄膜是一種導(dǎo)電材料,具有較低的電阻率。在制備TaN薄膜時(shí),常用的方法包括物理氣相沉積、化學(xué)氣相沉積、溶液法和凝膠法。選擇適合的制備方法可以獲得高質(zhì)量的TaN薄膜。

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫(xiě)或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀(guān)點(diǎn)僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場(chǎng)。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問(wèn)題,請(qǐng)聯(lián)系本站處理。 舉報(bào)投訴
  • 電磁場(chǎng)
    +關(guān)注

    關(guān)注

    0

    文章

    802

    瀏覽量

    48718
  • 芯片晶圓
    +關(guān)注

    關(guān)注

    0

    文章

    7

    瀏覽量

    8048
收藏 人收藏
加入交流群
微信小助手二維碼

掃碼添加小助手

加入工程師交流群

    評(píng)論

    相關(guān)推薦
    熱點(diǎn)推薦

    四探針?lè)?| 測(cè)量射頻(RF)技術(shù)制備的SnO2:F薄膜的表面電阻

    SnO?:F薄膜作為重要透明導(dǎo)電氧化物材料,廣泛用于太陽(yáng)能電池、觸摸屏等電子器件,其表面電阻特性直接影響器件性能。本研究以射頻(RF)濺射技術(shù)制備的SnO?:F薄膜為研究對(duì)象,通過(guò)鋁PAD法與四探針
    的頭像 發(fā)表于 09-29 13:43 ?267次閱讀
    四探針?lè)?| 測(cè)量射頻(RF)技術(shù)<b class='flag-5'>制備</b>的SnO2:F<b class='flag-5'>薄膜</b>的表面電阻

    臺(tái)階儀精準(zhǔn)測(cè)量薄膜工藝中的膜厚:制備薄膜理想臺(tái)階提高膜厚測(cè)量的準(zhǔn)確性

    固態(tài)薄膜因獨(dú)特的物理化學(xué)性質(zhì)與功能在諸多領(lǐng)域受重視,其厚度作為關(guān)鍵工藝參數(shù),準(zhǔn)確測(cè)量對(duì)真空鍍膜工藝控制意義重大,臺(tái)階儀法因其能同時(shí)測(cè)量膜厚與表面粗糙度而被廣泛應(yīng)用于航空航天、半導(dǎo)體等領(lǐng)域。費(fèi)曼儀器
    的頭像 發(fā)表于 09-05 18:03 ?368次閱讀
    臺(tái)階儀精準(zhǔn)測(cè)量<b class='flag-5'>薄膜</b>工藝中的膜厚:<b class='flag-5'>制備</b><b class='flag-5'>薄膜</b>理想臺(tái)階提高膜厚測(cè)量的準(zhǔn)確性

    Molex薄膜電池的技術(shù)原理是什么?-赫聯(lián)電子

      Molex 的薄膜電池由鋅和二氧化錳制成,讓最終用戶(hù)更容易處置電池。大多數(shù)發(fā)達(dá)國(guó)家都有處置規(guī)定;這使得最終用戶(hù)處置帶有鋰電池的產(chǎn)品既昂貴又不便。消費(fèi)者和醫(yī)療制造商需要穿著舒適且輕便的解決方案
    發(fā)表于 07-15 17:53

    淺談半導(dǎo)體薄膜制備方法

    本文簡(jiǎn)單介紹一下半導(dǎo)體鍍膜的相關(guān)知識(shí),基礎(chǔ)的薄膜制備方法包含熱蒸發(fā)和濺射法兩類(lèi)。
    的頭像 發(fā)表于 06-26 14:03 ?898次閱讀
    淺談半導(dǎo)體<b class='flag-5'>薄膜</b><b class='flag-5'>制備</b><b class='flag-5'>方法</b>

    氧化硅薄膜和氮化硅薄膜工藝詳解

    氧化硅薄膜和氮化硅薄膜是兩種在CMOS工藝中廣泛使用的介電層薄膜。
    的頭像 發(fā)表于 06-24 09:15 ?1065次閱讀
    氧化硅<b class='flag-5'>薄膜</b>和氮化硅<b class='flag-5'>薄膜</b>工藝詳解

    關(guān)鍵技術(shù)突破!國(guó)內(nèi)首個(gè)光子芯片中試線(xiàn)成功下線(xiàn)首片晶

    電子發(fā)燒友網(wǎng)綜合報(bào)道 近日消息,上海交大無(wú)錫光子芯片研究院(CHIPX)取得重大進(jìn)展,其在國(guó)內(nèi)首個(gè)光子芯片中試線(xiàn)成功下線(xiàn)首片6英寸薄膜鈮酸鋰光子芯片晶
    的頭像 發(fā)表于 06-13 01:02 ?4360次閱讀

    詳解原子層沉積薄膜制備技術(shù)

    CVD 技術(shù)是一種在真空環(huán)境中通過(guò)襯底表面化學(xué)反應(yīng)來(lái)進(jìn)行薄膜生長(zhǎng)的過(guò)程,較短的工藝時(shí)間以及所制備薄膜的高致密性,使 CVD 技術(shù)被越來(lái)越多地應(yīng)用于薄膜封裝工藝中無(wú)機(jī)阻擋層的
    的頭像 發(fā)表于 05-14 10:18 ?878次閱讀
    詳解原子層沉積<b class='flag-5'>薄膜</b><b class='flag-5'>制備</b>技術(shù)

    常見(jiàn)的幾種薄膜外延技術(shù)介紹

    薄膜外延生長(zhǎng)是一種關(guān)鍵的材料制備方法,其廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體器件、光電子學(xué)和納米技術(shù)領(lǐng)域。
    的頭像 發(fā)表于 03-19 11:12 ?1679次閱讀
    常見(jiàn)的幾種<b class='flag-5'>薄膜</b>外延技術(shù)介紹

    芯片制造中薄膜厚度量測(cè)的重要性

    本文論述了芯片制造中薄膜厚度量測(cè)的重要性,介紹了量測(cè)納米級(jí)薄膜的原理,并介紹了如何在制造過(guò)程中融入薄膜量測(cè)技術(shù)。
    的頭像 發(fā)表于 02-26 17:30 ?1908次閱讀
    <b class='flag-5'>芯片</b>制造中<b class='flag-5'>薄膜</b>厚度量測(cè)的重要性

    Aigtek功率放大器如何幫助制備(1~100nm)級(jí)的納米薄膜

    材料、平面顯示器、超導(dǎo)材料、氣體催化材料、過(guò)濾器材料、光敏材料、高密度的磁性記錄材料。那么 功率放大器 可以幫助制備(1~100nm)級(jí)的納米薄膜嗎? 首先,我們來(lái)聊一聊納米薄膜材料的性質(zhì)
    的頭像 發(fā)表于 12-20 10:42 ?785次閱讀
    Aigtek功率放大器如何幫助<b class='flag-5'>制備</b>(1~100nm)級(jí)的納米<b class='flag-5'>薄膜</b>

    有什么方法可以去除晶鍵合邊緣缺陷?

    去除晶鍵合邊緣缺陷的方法主要包括以下幾種: 一、化學(xué)氣相淀積與平坦化工藝 方法概述: 提供待鍵合的晶。 利用化學(xué)氣相淀積的方法,在晶
    的頭像 發(fā)表于 12-04 11:30 ?584次閱讀
    有什么<b class='flag-5'>方法</b>可以去除晶<b class='flag-5'>圓</b>鍵合邊緣缺陷?

    氮化硅薄膜的特性及制備方法

    小、化學(xué)穩(wěn)定性好以及介電常數(shù)高等一系列優(yōu)點(diǎn)。本文將主要介紹了氮化硅薄膜制備方法、特性及其在半導(dǎo)體器件制造中的具體應(yīng)用,重點(diǎn)對(duì)比低壓化學(xué)氣相沉積(LPCVD)和等離子體增強(qiáng)化學(xué)氣相沉積(PECVD)兩種
    的頭像 發(fā)表于 11-29 10:44 ?2825次閱讀
    氮化硅<b class='flag-5'>薄膜</b>的特性及<b class='flag-5'>制備</b><b class='flag-5'>方法</b>

    氮化硅薄膜制備方法及用途

    一、氮化硅薄膜制備方法及用途 氮化硅(Si3N4)薄膜是一種應(yīng)用廣泛的介質(zhì)材料。作為非晶態(tài)絕緣體,氮化硅薄膜的介電特性?xún)?yōu)于二氧化硅,具有對(duì)可
    的頭像 發(fā)表于 11-24 09:33 ?2270次閱讀
    氮化硅<b class='flag-5'>薄膜</b><b class='flag-5'>制備</b><b class='flag-5'>方法</b>及用途

    濺射薄膜性能的表征與優(yōu)化

    在現(xiàn)代科技領(lǐng)域中,薄膜技術(shù)發(fā)揮著至關(guān)重要的作用。而磁控濺射鍍膜作為一種常用的薄膜制備方法,其工藝的成功與否關(guān)鍵在于對(duì)薄膜性能的準(zhǔn)確表征。 一
    的頭像 發(fā)表于 11-22 10:35 ?794次閱讀

    淺談薄膜沉積

    集成電路的發(fā)展,晶制造工藝不斷精細(xì)化,芯片結(jié)構(gòu)的復(fù)雜度也在不斷提高,需要在更微小的線(xiàn)寬上制造。制造商要求制備薄膜品種也隨之增加,對(duì)薄膜
    的頭像 發(fā)表于 11-01 11:08 ?3680次閱讀