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rigol普源nfp-3近場探頭產(chǎn)品特性及其使用方法

PRBTEK ? 來源:PRBTEK ? 作者:PRBTEK ? 2024-03-04 14:34 ? 次閱讀
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NFP-3 近場探頭用于配合 RIGOL DSA 系列頻譜分析儀進行電子產(chǎn)品的 EMI 測試,可用來檢測元器件表面的磁場強度、磁場耦合通道以及電子模塊附近的磁場環(huán)境,從而快速定位干擾源。NFP-3 包含四個型號 NFP-3-P1、NFP-3-P2、NFP-3-P3 和 NFP-3-P4。

wKgaomXla16APabCAABrWawwdkI00.jpeg

測量連接NFP-3 與頻譜分析儀的連接方式如下圖所示。

wKgaomXla16AQCUqAACCKx7CEnc50.jpeg

與頻譜分析儀連接

使用 BNC-SMB 射頻線纜分別連接 NFP-3 的 SMB(陽)頭和 N-BNC 轉接器的 BNC(陰)頭,再將 N-BNC 轉接器的 N(陽)頭連接至頻譜分析儀的射頻輸入端。

與被測設備連接

NFP-3 與被測設備近距離非接觸式測量。測量時,請注意近場探頭的擺放方向。

典型應用:

EMI 輻射干擾源定位。

確定干擾源頻譜分量的頻率及相對強度。

wKgZomXla1-AX062AACqW74JdKQ45.jpeg

wKgZomXla1-AbxrAAACnyP7iSwI74.jpeg


審核編輯 黃宇

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