季豐電子最新引進晶圓接受度WAT（Wafer Accept Test）測試系統(tǒng)，該系統(tǒng)由是德科技Keysight 4082F測試機和Accretech AP3000e全自動12寸晶圓探針臺所組成。

從此，季豐電子將有能力為客戶提供以下兩方面的測試服務：

參數(shù)測試系統(tǒng)總體解決方案

Keysight 4080 系列提供了豐富的測量功能，可充分滿足基本參數(shù)測試的要求，輕松執(zhí)行諸如 Vth、Ids、Idoff、Cox 等直流DC和電容CV測量。

4080 系列可支持SMU（源表模塊）進行直流測量，另外數(shù)字電壓表（DVM）和 高性能脈沖發(fā)生器SPGU 表等多種儀表選件可進一步增強測量功能。

全自動晶圓級可靠性測試服務

該機臺測試能力足夠覆蓋多項JEP001和AEC-Q100規(guī)范標準中的晶圓驗證檢測項目，如HCI，NBTI，TDDB等針對半導體器件的可靠度驗證測試和性能壽命評估項目。

同時，由于高低溫（-50~200°C）晶圓全自動探針臺的自動対針換片功能的使用，使得多片晶圓和多測試結構的測試效率較之半自動探針臺均有顯著提升。

另外，經(jīng)Keysight正式授權，季豐電子依托自身制造能力和資源，可代為客戶提供滿足4070/4080系列兼容需求的探針卡的定制，由此可以幫助客戶提高實驗驗證測試效率，縮短工藝和器件開發(fā)的時間，從而加速其產(chǎn)品投入市場的進程周期。

審核編輯：彭菁