季豐電子最新引進晶圓接受度WAT（Wafer Accept Test）測試系統(tǒng)，該系統(tǒng)由是德科技Keysight 4082F測試機和Accretech AP3000e全自動12寸晶圓探針臺所組成。

從此，季豐電子將有能力為客戶提供以下兩方面的測試服務(wù)：

參數(shù)測試系統(tǒng)總體解決方案

Keysight 4080 系列提供了豐富的測量功能，可充分滿足基本參數(shù)測試的要求，輕松執(zhí)行諸如 Vth、Ids、Idoff、Cox 等直流DC和電容CV測量。

4080 系列可支持SMU（源表模塊）進行直流測量，另外數(shù)字電壓表（DVM）和 高性能脈沖發(fā)生器SPGU 表等多種儀表選件可進一步增強測量功能。

全自動晶圓級可靠性測試服務(wù)

該機臺測試能力足夠覆蓋多項JEP001和AEC-Q100規(guī)范標準中的晶圓驗證檢測項目，如HCI，NBTI，TDDB等針對半導(dǎo)體器件的可靠度驗證測試和性能壽命評估項目。

同時，由于高低溫（-50~200°C）晶圓全自動探針臺的自動対針換片功能的使用，使得多片晶圓和多測試結(jié)構(gòu)的測試效率較之半自動探針臺均有顯著提升。

另外，經(jīng)Keysight正式授權(quán)，季豐電子依托自身制造能力和資源，可代為客戶提供滿足4070/4080系列兼容需求的探針卡的定制，由此可以幫助客戶提高實驗驗證測試效率，縮短工藝和器件開發(fā)的時間，從而加速其產(chǎn)品投入市場的進程周期。

審核編輯：彭菁