chinese直男口爆体育生外卖, 99久久er热在这里只有精品99, 又色又爽又黄18禁美女裸身无遮挡, gogogo高清免费观看日本电视,私密按摩师高清版在线,人妻视频毛茸茸,91论坛 兴趣闲谈,欧美 亚洲 精品 8区,国产精品久久久久精品免费

0
  • 聊天消息
  • 系統(tǒng)消息
  • 評(píng)論與回復(fù)
登錄后你可以
  • 下載海量資料
  • 學(xué)習(xí)在線課程
  • 觀看技術(shù)視頻
  • 寫文章/發(fā)帖/加入社區(qū)
會(huì)員中心
創(chuàng)作中心

完善資料讓更多小伙伴認(rèn)識(shí)你,還能領(lǐng)取20積分哦,立即完善>

3天內(nèi)不再提示

SEM掃描電鏡顯微鏡結(jié)合AI技術(shù)助力醫(yī)療器械提升效率

三本精密儀器 ? 2024-06-18 11:51 ? 次閱讀
加入交流群
微信小助手二維碼

掃碼添加小助手

加入工程師交流群

Smith+Nephew (施樂(lè)輝)是一家專注于骨骼和組織重建、傷口愈合和關(guān)節(jié)置換領(lǐng)域的醫(yī)療技術(shù)集團(tuán)。該公司所銷售的涂層關(guān)節(jié)假體在瑞士 Aarau 生產(chǎn)基地生產(chǎn),且多年來(lái)一直使用蔡司光學(xué)顯微鏡監(jiān)測(cè)真空室中應(yīng)用的鐵涂層和輕基磷灰石涂層是否符合嚴(yán)格的公差要求。自2022 年夏季以來(lái),與ZEISS Axio lmager Z2m 相結(jié)合的 AI 輔助軟件解決方案也已投入使用。在 Aarau生產(chǎn)基地的應(yīng)用取得顯著成效。

施樂(lè)輝 Aarau 生產(chǎn)基地負(fù)責(zé)質(zhì)量的 Stéphane Monod 談到ZEISS Axio lmager 光學(xué)顯微鏡時(shí)興奮地表示:“一切盡在掌握”。Z2m與AI 輔助軟件結(jié)合,功能更為強(qiáng)大。為證明其 AI 特性,他將嵌入丙烯酸的測(cè)試板切片的拋光樣品放在光學(xué)顯微鏡的檢查臺(tái)上。經(jīng)過(guò)短暫的校準(zhǔn)后,該顯微鏡啟動(dòng)ZEISS ZEN core 軟件,開始自動(dòng)測(cè)量?!?七分鐘后,軟件輸出了一份 18 頁(yè)的報(bào)告其中包含髓關(guān)節(jié)植入物涂層厚度和孔隙率的所有關(guān)鍵數(shù)據(jù)“,這位高級(jí)制造質(zhì)量工程師解釋:“無(wú)論我或同事對(duì)此樣品進(jìn)行多少次分析,測(cè)量結(jié)果始終一致?!案鶕?jù) Monod 的說(shuō)法,醫(yī)療技術(shù)公司的產(chǎn)品必須符合更嚴(yán)格的質(zhì)量規(guī)范,因此該解決方案對(duì)醫(yī)療技術(shù)公司“大有裨益”。

穩(wěn)定結(jié)合的植入物涂層
Aarau 生產(chǎn)基地每年生產(chǎn) 400,000 套寬關(guān)節(jié)和膝關(guān)節(jié)假體。其中大部分涂層在五間最先進(jìn)的真空室中進(jìn)行,室內(nèi)溫度高達(dá)20,000 攝氏度。涂層物質(zhì)為純欽或欽和釋基磷灰石。后者是種骨替代物質(zhì),可改善或刺激骨骼向內(nèi)生長(zhǎng)至多孔假體表面中。以髓關(guān)節(jié)假體為例,輕基磷灰石涂層假體柄可與周圍的骨組織形成穩(wěn)定而富有彈性的結(jié)合。這對(duì)年輕患者來(lái)說(shuō)是一個(gè)特別的優(yōu)勢(shì)。許多骨科醫(yī)生認(rèn)為,如果日后需進(jìn)行髓關(guān)節(jié)假體翻修,植入髓關(guān)節(jié)假體比骨水泥型關(guān)節(jié)假體更具手術(shù)優(yōu)勢(shì)。

可重復(fù)且準(zhǔn)確的結(jié)果
用于髓關(guān)節(jié)重建的POLARSTEM股骨柄的鐵和經(jīng)基磷灰石涂層的厚度要求在 155 um-305 um 之間。這家總部位于倫敦的集團(tuán)從一開始便使用ZEISS Axio lmager 光學(xué)顯微鏡進(jìn)行質(zhì)量檢測(cè)。該類型檢測(cè)每個(gè)樣品各采集超過(guò)一毫米的五張圖像(場(chǎng)景)。為了計(jì)算涂層厚度,員工必須在高度放大的圖像中手動(dòng)繪制總共 50 條垂直線。然后必須將確定的數(shù)值插入 Excel 文件,由操作員進(jìn)行分析。如果手動(dòng)操作,一個(gè)樣品的完整測(cè)量和分析過(guò)程需要 45 至60 分鐘。
自 2022 年夏季開始投入使用的基于AI的解決方案將這一速度大幅提升,僅需 5到7 分鐘即可提供 8 mm 樣品長(zhǎng)度上的涂層厚度和孔隙率值。設(shè)備設(shè)置了343 條垂直線,操作員無(wú)需進(jìn)行任何操作,因此確定的數(shù)值不僅可重復(fù)性更高,而且更加精確。

wKgaomZxA-2AcwxxAANMtQxD9XY441.png

AI 輔助圖像分割
自動(dòng)圖像分割使測(cè)量過(guò)程顯著加速。如果不借助 AI,則需要一雙訓(xùn)練有素的眼睛和大量人工干預(yù),才能將圖像分割到特定區(qū)域。

在本例中,操作員必須在圖像中的預(yù)定義點(diǎn)處繪制一條從涂層的起點(diǎn)到頂點(diǎn)的垂直線。而人工智能可獨(dú)立識(shí)別應(yīng)用的涂層,并將相應(yīng)的垂直線鋪設(shè)至頂點(diǎn),無(wú)需人工干預(yù)。但是,如要實(shí)現(xiàn)該目標(biāo),必須事先對(duì)其進(jìn)行訓(xùn)練。施樂(lè)輝向蔡司提供了其產(chǎn)品相應(yīng)涂層的相應(yīng)暗場(chǎng)和明場(chǎng)圖像。簡(jiǎn)而言之,這些涂層著色專用于訓(xùn)練。經(jīng)過(guò)訓(xùn)練,AI 不僅學(xué)習(xí)了該領(lǐng)域的特征,并創(chuàng)建了自己的分類算法。隨后,該算法在訓(xùn)練過(guò)程中被應(yīng)用于其他圖像數(shù)據(jù),據(jù) Monod 稱,取得了“令人信服的結(jié)果”。

wKgaomZxA_mATBnSAAGcloZQfSE869.png

著眼未來(lái)
質(zhì)量經(jīng)理對(duì)配置了ZEISS ZEN core 軟件的ZEISS Axio lmager Z2m充滿熱情。除以上原因,該設(shè)備還“ 可以滿足未來(lái)的標(biāo)準(zhǔn)要求”。這是因?yàn)樵谄叻昼姷臋z測(cè)過(guò)程中,基于AI的解決方案不僅獲取了針涂層和釋基磷灰石涂層的厚度,還得到了其孔隙率。
這是一個(gè)重要的質(zhì)量特征,因?yàn)橹挥锌涨怀渥?,骨骼才能良好生長(zhǎng)到植入物中。Aarau 生產(chǎn)基地此前無(wú)法確定孔隙率,或付出極大代價(jià)才能確定,而新型顯微鏡可輕松解決這一難題。ZEISS ZEN core 軟件在圖像中設(shè)置水亞線,并自動(dòng)計(jì)算MVIL (平均孔隙截距),以便快速、輕松確定孔,隙尺寸或孔隙率,并根據(jù)醫(yī)學(xué)植入物的醫(yī)療行業(yè)標(biāo)準(zhǔn) ASTM F1854 對(duì)孔隙率進(jìn)行評(píng)價(jià)。

實(shí)現(xiàn)可靠生產(chǎn)
由于真空等離子噴涂(VPS)涂層的應(yīng)用非常復(fù)雜,生產(chǎn)過(guò)程受到嚴(yán)密監(jiān)控。為避免破壞植入物,施樂(lè)輝對(duì)每份訂單進(jìn)行板涂層測(cè)試。經(jīng)燃燒器首次點(diǎn)火后,需對(duì)涂層板材每天進(jìn)行常規(guī)顯微檢查。如果在生產(chǎn)過(guò)程中使用千分尺進(jìn)行手動(dòng)測(cè)試發(fā)現(xiàn)涂層厚度異常,則也應(yīng)將這些測(cè)試板切開,將其鑲嵌在丙烯酸中,并在顯微鏡下進(jìn)行檢查。

據(jù)施樂(lè)輝 Aarau 生產(chǎn)基地的生產(chǎn)工程師 Joel Dude 稱,此方法可“確保高質(zhì)量和穩(wěn)定生產(chǎn)”?,F(xiàn)借助 ZEISS Axio lmager Z2m結(jié)果獲取比以前提升10倍,有助于他“更快追蹤潛在錯(cuò)誤來(lái)源”。

此外,由于測(cè)量自動(dòng)進(jìn)行,排除了人為錯(cuò)誤,因此“如果出現(xiàn)問(wèn)題,無(wú)需再對(duì)該過(guò)程進(jìn)行詳細(xì)檢查”。目前,Dude正在對(duì)第五個(gè)真空系統(tǒng)進(jìn)行可靠性調(diào)試,因此,蔡司全新解決方案對(duì)他而言“獲益良多”。

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場(chǎng)。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問(wèn)題,請(qǐng)聯(lián)系本站處理。 舉報(bào)投訴
  • SEM
    SEM
    +關(guān)注

    關(guān)注

    0

    文章

    274

    瀏覽量

    15720
  • 顯微鏡
    +關(guān)注

    關(guān)注

    0

    文章

    776

    瀏覽量

    25617
  • 掃描電鏡
    +關(guān)注

    關(guān)注

    0

    文章

    121

    瀏覽量

    9979
  • 工業(yè)顯微鏡
    +關(guān)注

    關(guān)注

    0

    文章

    58

    瀏覽量

    6855
收藏 人收藏
加入交流群
微信小助手二維碼

掃碼添加小助手

加入工程師交流群

    評(píng)論

    相關(guān)推薦
    熱點(diǎn)推薦

    共聚焦顯微鏡技術(shù)原理與掃描方式詳解

    原理,并詳細(xì)介紹主流掃描方式,幫助厘清其成像邏輯與選型要點(diǎn)。#Photonixbay.共聚焦顯微鏡技術(shù)原理傳統(tǒng)寬視野顯微鏡與共聚焦顯微鏡
    的頭像 發(fā)表于 03-17 18:04 ?881次閱讀
    共聚焦<b class='flag-5'>顯微鏡</b>的<b class='flag-5'>技術(shù)</b>原理與<b class='flag-5'>掃描</b>方式詳解

    從五大角度分析SEM和TEM的區(qū)別

    掃描電鏡與透射電鏡的區(qū)別:掃描電鏡SEM)和透射電鏡(TEM)是兩種常用的電子顯微鏡,它們?cè)谟^
    的頭像 發(fā)表于 03-04 12:00 ?373次閱讀
    從五大角度分析<b class='flag-5'>SEM</b>和TEM的區(qū)別

    一文讀懂:共聚焦顯微鏡的雙向掃描控制技術(shù)

    共聚焦顯微鏡作為微觀檢測(cè)的核心工具,憑借高分辨率成像和光學(xué)切片能力,廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、半導(dǎo)體等領(lǐng)域。傳統(tǒng)單向掃描模式中,振反向行程的浪費(fèi)導(dǎo)致成像效率偏低,而雙向
    的頭像 發(fā)表于 01-27 18:03 ?265次閱讀
    一文讀懂:共聚焦<b class='flag-5'>顯微鏡</b>的雙向<b class='flag-5'>掃描</b>控制<b class='flag-5'>技術(shù)</b>

    共聚焦顯微鏡與光片顯微鏡的區(qū)別

    技術(shù)原理、成像性能、應(yīng)用場(chǎng)景等方面,系統(tǒng)比較這兩種顯微鏡技術(shù)的區(qū)別。#Photonixbay.成像原理的差異1.共聚焦顯微鏡共聚焦成像共聚焦顯微鏡
    的頭像 發(fā)表于 01-22 18:05 ?773次閱讀
    共聚焦<b class='flag-5'>顯微鏡</b>與光片<b class='flag-5'>顯微鏡</b>的區(qū)別

    共聚焦顯微鏡、光學(xué)顯微鏡與測(cè)量顯微鏡的區(qū)分

    ,光子灣科技將拆解三者的從屬與交叉關(guān)系,解析共聚焦顯微鏡的核心特性,助力清晰認(rèn)知不同顯微鏡的定位與適用場(chǎng)景。#Photonixbay.共聚焦顯微鏡
    的頭像 發(fā)表于 01-20 18:02 ?397次閱讀
    共聚焦<b class='flag-5'>顯微鏡</b>、光學(xué)<b class='flag-5'>顯微鏡</b>與測(cè)量<b class='flag-5'>顯微鏡</b>的區(qū)分

    共聚焦顯微鏡VS激光共聚焦顯微鏡技術(shù)對(duì)比

    ,但在技術(shù)實(shí)現(xiàn)、性能表現(xiàn)及應(yīng)用場(chǎng)景上存在顯著分化。下文,光子灣科技將深入剖析二者的區(qū)別,助力科研選型、實(shí)驗(yàn)精度提升及研究效率優(yōu)化。#Photonixbay.相同的
    的頭像 發(fā)表于 01-15 18:02 ?466次閱讀
    共聚焦<b class='flag-5'>顯微鏡</b>VS激光共聚焦<b class='flag-5'>顯微鏡</b>的<b class='flag-5'>技術(shù)</b>對(duì)比

    淺談掃描電鏡的分辨率概念

    掃描電鏡SEM)的分辨率是指其能夠分辨樣品表面兩點(diǎn)之間的最小距離,是衡量其成像能力的關(guān)鍵指標(biāo)。
    的頭像 發(fā)表于 01-14 16:55 ?1631次閱讀
    淺談<b class='flag-5'>掃描電鏡</b>的分辨率概念

    激光掃描共聚焦顯微鏡與轉(zhuǎn)盤共聚焦顯微鏡的區(qū)別

    共聚焦顯微技術(shù)是現(xiàn)代科學(xué)研究的重要成像工具,主要通過(guò)引入共軛針孔濾除非焦平面雜散光,實(shí)現(xiàn)優(yōu)異的光學(xué)切片能力和三維分辨率。其主流技術(shù)路徑分為激光掃描共聚焦
    的頭像 發(fā)表于 01-08 18:02 ?539次閱讀
    激光<b class='flag-5'>掃描</b>共聚焦<b class='flag-5'>顯微鏡</b>與轉(zhuǎn)盤共聚焦<b class='flag-5'>顯微鏡</b>的區(qū)別

    聚焦離子束-掃描電鏡(FIB-SEM)的三大應(yīng)用技術(shù)

    聚焦離子束-掃描電鏡(FIB-SEM)雙束系統(tǒng)是現(xiàn)代材料科學(xué)研究中不可或缺的多維表征平臺(tái)。該系統(tǒng)將聚焦離子束的精準(zhǔn)加工能力與掃描電鏡的高分辨率成像功能有機(jī)結(jié)合,為從微觀到納米尺度的材料
    的頭像 發(fā)表于 11-24 14:42 ?621次閱讀
    聚焦離子束-<b class='flag-5'>掃描電鏡</b>(FIB-<b class='flag-5'>SEM</b>)的三大應(yīng)用<b class='flag-5'>技術(shù)</b>

    一文看懂掃描電鏡SEM)和透射電鏡(TEM)

    從最初的光學(xué)顯微鏡到如今的電子顯微鏡,我們觀察微觀世界的能力不斷提升,推動(dòng)了材料科學(xué)、生物學(xué)、半導(dǎo)體技術(shù)等領(lǐng)域的革命性進(jìn)展。本文將講解現(xiàn)代微觀分析的兩大主力工具——
    的頭像 發(fā)表于 11-06 12:36 ?1602次閱讀
    一文看懂<b class='flag-5'>掃描電鏡</b>(<b class='flag-5'>SEM</b>)和透射<b class='flag-5'>電鏡</b>(TEM)

    如何選擇合適的顯微鏡(光學(xué)顯微鏡/透射電鏡/掃描電子顯微鏡

    在科學(xué)研究與分析測(cè)試領(lǐng)域,顯微鏡無(wú)疑是不可或缺的利器,被譽(yù)為“科學(xué)之眼”。它使人類能夠探索肉眼無(wú)法分辨的微觀世界,為材料研究、生物醫(yī)學(xué)、工業(yè)檢測(cè)等領(lǐng)域提供了關(guān)鍵技術(shù)支持。面對(duì)不同的研究需求,如何選擇
    的頭像 發(fā)表于 09-28 23:29 ?1333次閱讀
    如何選擇合適的<b class='flag-5'>顯微鏡</b>(光學(xué)<b class='flag-5'>顯微鏡</b>/透射<b class='flag-5'>電鏡</b>/<b class='flag-5'>掃描</b>電子<b class='flag-5'>顯微鏡</b>)

    掃描電鏡掃描電子顯微鏡:解析二者的關(guān)系與區(qū)別

    在科研、工業(yè)檢測(cè)等領(lǐng)域,“掃描電鏡”和“掃描電子顯微鏡”這兩個(gè)術(shù)語(yǔ)經(jīng)常被提及。對(duì)于剛接觸相關(guān)領(lǐng)域的人來(lái)說(shuō),很容易對(duì)它們產(chǎn)生困惑,不清楚二者之間究竟存在怎樣的聯(lián)系和區(qū)別。其實(shí),從本質(zhì)上來(lái)說(shuō),二者有著
    的頭像 發(fā)表于 07-25 10:42 ?1324次閱讀
    <b class='flag-5'>掃描電鏡</b>與<b class='flag-5'>掃描</b>電子<b class='flag-5'>顯微鏡</b>:解析二者的關(guān)系與區(qū)別

    FIB-SEM的常用分析方法

    聚焦離子束掃描電鏡(FIB-SEM)是一種集多種先進(jìn)技術(shù)于一體的微觀分析儀器,其工作原理基于離子束與電子束的協(xié)同作用。掃描電子顯微鏡
    的頭像 發(fā)表于 07-17 16:07 ?1019次閱讀
    FIB-<b class='flag-5'>SEM</b>的常用分析方法

    掃描電鏡(SEM)的工作原理和主要成像模式

    掃描電鏡的概念和技術(shù)起源于20世紀(jì)30年代,最早是由德國(guó)物理學(xué)家Max Knoll和Ernst Ruska首次提出了掃描電子顯微鏡的概念,經(jīng)過(guò)科學(xué)家們不斷研究與
    的頭像 發(fā)表于 06-09 14:02 ?1.4w次閱讀
    <b class='flag-5'>掃描電鏡</b>(<b class='flag-5'>SEM</b>)的工作原理和主要成像模式

    掃描電鏡:打開微觀世界的“超維相機(jī)”,科學(xué)家如何用它破解納米謎題?

    傳統(tǒng)顯微鏡受限于可見光波長(zhǎng),放大極限止步于200納米。而掃描電鏡利用高能電子束作為"探針",通過(guò)電磁透鏡操控電子軌跡,突破衍射極限,分辨率可達(dá)1納米以下。
    的頭像 發(fā)表于 05-23 14:22 ?848次閱讀
    <b class='flag-5'>掃描電鏡</b>:打開微觀世界的“超維相機(jī)”,科學(xué)家如何用它破解納米謎題?