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電子裝聯(lián)工藝技術(shù)發(fā)展趨勢(shì)及激光焊錫技術(shù)的優(yōu)勢(shì)(上)

大研智造 ? 來源:jf_44781395 ? 作者:jf_44781395 ? 2024-10-18 14:38 ? 次閱讀
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在電子信息制造業(yè)的快速發(fā)展中,數(shù)字化和智能化已成為推動(dòng)行業(yè)發(fā)展的雙引擎。5G技術(shù)的普及,更是為"電子+"趨勢(shì)提供了強(qiáng)有力的支撐。"電子+"戰(zhàn)略指的是通過電子和通信技術(shù)的廣泛應(yīng)用,實(shí)現(xiàn)非電子產(chǎn)品的電子化和簡(jiǎn)單電子產(chǎn)品的智能化。5G網(wǎng)絡(luò)的"低延遲、大帶寬、廣連接"特性,為生產(chǎn)設(shè)備、消費(fèi)終端等萬物互聯(lián)提供了理想的網(wǎng)絡(luò)環(huán)境,智能汽車等新興領(lǐng)域的快速發(fā)展便是這一趨勢(shì)的生動(dòng)體現(xiàn)。

1 現(xiàn)代電子裝聯(lián)工藝技術(shù)的概述

電子裝聯(lián)工藝的發(fā)展經(jīng)歷了多個(gè)階段,從電子管時(shí)代到晶體管時(shí)代,再到集成電路時(shí)代、表面安裝時(shí)代,直至今天的微組裝時(shí)代。裝聯(lián)工藝技術(shù)經(jīng)歷了三次重大革命:通孔插裝、表面安裝和微組裝。器件封裝技術(shù)也經(jīng)歷了從QFP、BGA、CSP、DCA到MCM的演變。隨著小型和超小型器件的涌現(xiàn),高密度組裝技術(shù)的發(fā)展推動(dòng)了相關(guān)工藝和組裝設(shè)備的創(chuàng)新。

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現(xiàn)代電子裝聯(lián)工藝主要包括裝聯(lián)前的準(zhǔn)備、PCB組裝和整機(jī)組裝。裝聯(lián)前的準(zhǔn)備包括元器件和PCB的可焊性測(cè)試、元器件引線的預(yù)處理、導(dǎo)線的端頭處理、PCB的復(fù)驗(yàn)和預(yù)處理。PCB組裝通常包括通孔插裝、表面安裝和混合安裝,電氣互連技術(shù)包括手工焊接、波峰焊接、再流焊接、激光焊接、壓接、繞接等,清洗方式也多種多樣。整機(jī)組裝則涉及機(jī)械安裝、電氣互連、電纜組裝件制作、防護(hù)與加固等多個(gè)環(huán)節(jié)。

2 現(xiàn)代電子裝聯(lián)工藝技術(shù)更新現(xiàn)狀

2.1 系統(tǒng)級(jí)封裝技術(shù)-SIP

SIP技術(shù)融合了傳統(tǒng)的SMT組件制程工藝與芯片封裝工藝,其應(yīng)用日益廣泛,尤其在AIoT產(chǎn)品與可穿戴電子產(chǎn)品領(lǐng)域。SIP技術(shù)可以實(shí)現(xiàn)多功能的集中,具有輕便性、超薄性、微小化、高傳輸性等特點(diǎn)。隨著技術(shù)要求與生產(chǎn)工藝難度的提高,整合封裝工藝和組件工藝,增強(qiáng)功能性,面臨著諸多挑戰(zhàn)。

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在小型化消費(fèi)電子市場(chǎng)的快速發(fā)展推動(dòng)下,SiP技術(shù)得到了廣泛應(yīng)用。預(yù)計(jì)到2025年,系統(tǒng)級(jí)封裝市場(chǎng)規(guī)模將達(dá)到188億美元,復(fù)合年增長(zhǎng)率為6%。SiP技術(shù)的應(yīng)用主要是將各類功能的有源電子元件與可選無源器件進(jìn)行組裝,形成具有一定功能的單個(gè)標(biāo)準(zhǔn)封裝件,實(shí)現(xiàn)多類型功能芯片的集成封裝。

從SiP封裝工藝的運(yùn)用分析,是按照一定的工序,在封裝基班上,進(jìn)行器件的組裝互連,同時(shí)將芯片包封保護(hù)。按照芯片與基板的連接方式,SiP封裝制程可以備劃分為兩類,即引線鍵合封裝和倒裝焊兩種。以引線鍵合封裝流程為例,主要流程如下:(1)晶圓研磨。指的是采用機(jī)械或者CMP方式,完成研磨作業(yè),將圓片處理到一定的薄度適合進(jìn)行封裝作業(yè)。一般來說,主要包括貼膜、背面研磨、去膜三個(gè)環(huán)節(jié)。(2)晶圓切割。根據(jù)工藝流程,需要進(jìn)行貼片,目的是防止芯片在收割時(shí)散落,同時(shí)也是方便后續(xù)芯片切單環(huán)節(jié)拾取芯片。芯片切單也就是芯片切割,可采用刀片切割法和激光切割方法。切割之后,全部的芯片都完全分離,放入到晶圓框架盒內(nèi),開展下道工序。

2.2 高密度先進(jìn)封裝HDAP

高密度先進(jìn)封裝HDAP已成為芯片封裝技術(shù)發(fā)展的熱點(diǎn)。這種技術(shù)采用先進(jìn)的設(shè)計(jì)思路與集成工藝,實(shí)現(xiàn)芯片的封裝級(jí)重構(gòu),提高功能密度。先進(jìn)封裝技術(shù)包括裝焊、晶圓級(jí)封裝(WLP)、2.5D封裝(RDL)、3D封裝(TSV)等。與傳統(tǒng)封裝工藝不同,先進(jìn)封裝創(chuàng)新了封裝工藝,無Bonding Wire,且封裝集成度高,體積小,內(nèi)部互聯(lián)短,系統(tǒng)性能得到全面提升。

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先進(jìn)封裝的四個(gè)要素為:Bump、RDL、Wafer、TSV。其中,Bump為一種金屬凸點(diǎn),自從倒裝焊Flip Chip出現(xiàn)就已經(jīng)實(shí)現(xiàn)了廣泛應(yīng)用,主要分為球狀與柱狀或者塊狀。隨著工藝技術(shù)水平的不斷提高,Bump尺寸可以越做越小。混合鍵合最為突出的特點(diǎn)就是無凸點(diǎn)的鍵合結(jié)構(gòu),在實(shí)際應(yīng)用中可以達(dá)到高集成密度的水平。

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RDL重布線層,XY平面電氣延伸和互聯(lián)。從實(shí)際應(yīng)用的角度來說,進(jìn)行芯片設(shè)計(jì)與制造,通常來說IO Pad分布在芯片的邊沿或四周圍,如果是Bond Wire工藝較為方便,但對(duì)于Flip Chip不適合。因此,RDL有了發(fā)揮空間。其在晶元表面沉積金屬層以及介質(zhì)層,并且能夠形成金屬布線,實(shí)現(xiàn)進(jìn)行IO端口的重新布局,布置到占位更加充足的區(qū)域,同時(shí)形成面陣列排布效果。從RDL的具體應(yīng)用分析,在FIWLP中,此技術(shù)為關(guān)鍵技術(shù)之一,能夠?qū)O Pad進(jìn)行扇入Fan-In,或者扇出Fan-Out,能夠形成多種類型的晶圓級(jí)封裝。如果是2.5D IC集成中,此技術(shù)的應(yīng)用也比較重要,通過RDL將網(wǎng)絡(luò)互聯(lián)并且分部到相應(yīng)的位置,最終實(shí)現(xiàn)硅基板上方芯片的Bump與基板下方的Bump的連接。如果是3D IC集成,當(dāng)堆疊上下不是一樣的芯片,利用此技術(shù)重布線層促使上下層芯片的IO對(duì)準(zhǔn),最終完成電氣互聯(lián)。

Wafer晶圓被認(rèn)為有著廣泛用途的技術(shù),不僅能作為芯片制造的基底,也能夠在Wafer上制作硅基班實(shí)現(xiàn)2.5D集成。此外,還可以用于WLP晶圓級(jí)封裝,當(dāng)作WLP的承載晶圓。不同于傳統(tǒng)的封裝技術(shù),WLP在Wafer的基礎(chǔ)上先進(jìn)行封裝,之后切割分片,全面提高了作業(yè)的效率,并且節(jié)約了一定的成本。從Wafer的尺寸變化來看,由最初的6英寸和8英寸,到當(dāng)前的12英寸,未來會(huì)發(fā)展到18英寸。

TSV硅通孔的功能為Z軸電器延伸和互聯(lián)。根據(jù)集成類型進(jìn)行劃分,主要為2.5D TSV與3D TSV。在一定的時(shí)間背景下,先進(jìn)封裝僅僅是個(gè)概念,隨著技術(shù)的發(fā)展未來也會(huì)變成“傳統(tǒng)封裝”。根據(jù)四要素內(nèi)在的先進(jìn)性進(jìn)行排序,具體為Bump、RDL、Wafer、TSV。

2.3 先進(jìn)封裝與SiP的對(duì)比

SiP技術(shù)和先進(jìn)封裝技術(shù)都是半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)鏈關(guān)注的焦點(diǎn)。從兩個(gè)技術(shù)的不同點(diǎn)分析,主要如下:(1)關(guān)注點(diǎn)。SiP技術(shù)重點(diǎn)是系統(tǒng)在封裝內(nèi)部的實(shí)現(xiàn),因此系統(tǒng)為技術(shù)的主要關(guān)注對(duì)象。與Sip系統(tǒng)級(jí)封裝相對(duì)的是單芯片封裝。這里所述的先進(jìn)封裝,更加注重封裝技術(shù)和工藝的先進(jìn)性,與其相對(duì)的是傳統(tǒng)封裝。(2)技術(shù)范疇不同。例如,單芯片的FIWLP、FOWLP以及FOPLP為先進(jìn)封裝,不過不在SiP范疇內(nèi);FliP Chip和2.5D integration以及3D integration在HDAP范疇內(nèi),同時(shí)也可以應(yīng)用在SiP。

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這兩項(xiàng)技術(shù)都具有小型化、低功耗、高性能的特點(diǎn),為電子系統(tǒng)集成提供解決方案。盡管兩項(xiàng)技術(shù)自身不存在瓶頸,但在裸芯片的供應(yīng)鏈和芯片之間的接口標(biāo)準(zhǔn)方面,仍需進(jìn)一步完善。

3 現(xiàn)代電子裝聯(lián)工藝技術(shù)的發(fā)展

3.1 借助自然原理

自然原理在生產(chǎn)過程中的應(yīng)用是技術(shù)研究的重要內(nèi)容。自然界中的物質(zhì)對(duì)象極為復(fù)雜,它們通過耦合無數(shù)相同的元素來形成自身,如DNA雙螺旋線。這些結(jié)構(gòu)在熱動(dòng)力學(xué)平衡中不依賴共價(jià)化學(xué)鍵結(jié)合,比較容易被機(jī)械力影響,不過能夠持續(xù)地修復(fù),進(jìn)行自我的調(diào)整,同時(shí)也能夠借助每個(gè)顆粒的屬性實(shí)現(xiàn)構(gòu)建,其中涵蓋表面張力與分子之間的耦合力。

從合成技術(shù)的角度來說,自組裝工藝技術(shù)的應(yīng)用,要處于相應(yīng)的條件中實(shí)現(xiàn)控制,進(jìn)而獲得理想的結(jié)構(gòu)或?qū)傩?,比如分子條件和壓力條件等。隨著半導(dǎo)體設(shè)備日益的微小化,帶動(dòng)著現(xiàn)代電子裝聯(lián)工藝技術(shù)研究在這些方面進(jìn)行。

3.2 封裝差距

隨著半導(dǎo)體尺寸的不斷縮小,許多機(jī)械組裝技術(shù)已無法滿足需求,先進(jìn)封裝技術(shù)的應(yīng)用研究因此受到廣泛關(guān)注。封裝差距指的是微型和中間規(guī)模的組裝封裝差距。按照摩爾定律,那么可能會(huì)遇到組裝問題。傳統(tǒng)的電子元器件封裝中,實(shí)現(xiàn)系統(tǒng)級(jí)封裝,有著一定的成本壓力。隨著新封裝技術(shù)的應(yīng)用和發(fā)展,系統(tǒng)級(jí)封裝的水平將得到提高,封裝成本也將降低。

(未完,接下篇)

審核編輯 黃宇

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