光功率是光學研究中的核心參數(shù)之一，它不僅能夠反映光源的強度、光學元件的透射效率以及光束聚焦的效果，還能夠通過其變化來評估整個光學系統(tǒng)的性能表現(xiàn)。在光通信系統(tǒng)中，發(fā)射端產(chǎn)生光功率，而接收端則負責接收該光功率。無論是光纖的衰耗測試還是接頭衰耗的測量，實質(zhì)上都是在測定光纖兩端之間的光功率差異。值得注意的是，在光通信領(lǐng)域，光功率通常較為微弱，范圍大致介于納瓦(nW)到毫瓦(mW)級別之間，這對用于檢測光功率的儀表——如光功率計的精確度和靈敏度提出了相當高的要求。

是德科技的N77-C系列光功率計，針對多樣化的應用場景，提供了豐富的選擇，包括多端口光功率計、高功率光功率計、高靈敏度光功率計，以及配套的光探頭主機和光探頭。無論您的需求是什么，這個系列的產(chǎn)品都能為您提供精確而可靠的測量解決方案。接下來，就讓我們一起深入了解是德科技的這一系列光功率計儀表，探索它們的獨特之處與卓越性能。

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高功率光功率計

N7742C和N7743C是緊湊型高速光功率計，配備了模擬反饋輸出功能，能夠高效測量輸入光信號的光功率。這兩款設(shè)備支持的波長范圍可擴展至800nm，并覆蓋了850nm和970nm波段，適用于多模光纖通信及車載光纖通信中使用的特殊波長。特別地，N7743C型號將最大輸入功率提升到了+20dBm，從而能夠測量具有更高輸入光功率的待測件。這些特性使得N7742C和N7743C成為處理多種復雜應用場景的理想選擇。

N7742C和N7743C主要用于：

? 通用光功率測量；

? 多模光信號光功率測量；

? 光纖車載以太網(wǎng)；

? 光纖對準；

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多端口光功率計

N7744C和N7745C是緊湊型、高密度、高速多端口光功率計，能夠支持多達8個端口。在進行多端口波長掃描測試時，這兩款設(shè)備與高速、高精度的TSL可調(diào)諧激光器配合使用，可以在雙向200nm/s的高速掃描中提供低至0.1pm的測試分辨率。此外，它們配備了獨特設(shè)計的4合1磁吸式連接器，每個連接器包含4個相同類型的端口，支持包括FC、LC以及裸纖在內(nèi)的多種光纖類型連接。當需要在多個待測光路之間切換時，可以預先將各個待測光路連接到磁吸式連接器上，從而實現(xiàn)更加便捷高效的操作體驗。這種設(shè)計不僅提升了測試效率，還極大地簡化了多端口測試過程中的操作復雜度。

N7744C和N7745C主要用于：

? 通用光功率測量；

? 多端口、高密度場景下的光功率測量；

? 配合TSL可調(diào)諧激光器等儀表，實現(xiàn)IL/PDL掃描測試；

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高靈敏度光功率計

N7747C和N7748C具備模擬反饋輸出功能，以極低的噪聲和漂移著稱。這兩款設(shè)備為每個端口提供了模擬輸出支持，能夠根據(jù)光功率測量結(jié)果提供線性或?qū)?shù)輸出反饋。其端口連接器可替換，兼容包括FC、SC、LC、MU在內(nèi)的多種光纖類型，增強了設(shè)備的靈活性和適用性。它們能夠?qū)崿F(xiàn)對低至-110dBm的輸入光信號進行精確測量，并在800至1700nm的寬波長范圍內(nèi)展現(xiàn)出卓越的測試靈敏度。這些特點使得N7747C和N7748C成為需要高精度和高穩(wěn)定性的光學測試應用的理想選擇。

該設(shè)備主要用于：

? 通用光功率測量(支持SM和MM)；

? 計量場景下高精度、高靈敏度光功率測量；

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光探頭主機&光探頭

是德科技的N7749C和8162XC系列光探頭接口及光探頭，依據(jù)采用的傳感器材料的不同，能夠覆蓋廣泛的波長范圍和輸入光功率水平，滿足多樣化的光信號測試需求。該系列光探頭的設(shè)計允許探測器在位置安排和應用場景上擁有更高的靈活性與適應性。面對高光功率測試需求時，用戶可以選擇使用積分球來實現(xiàn)最高可達+40dBm的光功率檢測。這種設(shè)計不僅提升了測試的精確性和可靠性，同時也為不同測試場景提供了更大的便利性和適應性。

N7749C和8162XC系列主要用于：

? 通用光功率測量；

? 使用積分球進行高功率測量；

? 使用光探頭進行空間光束功率測量；

是德科技光功率計相關(guān)解決方案

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波長掃描光無源測試系統(tǒng)

隨著數(shù)據(jù)中心和光通信領(lǐng)域的迅猛發(fā)展，光無源器件已經(jīng)取得了顯著的進步，如今大量無源光器件，例如光分路器、光復用與解復用器、光濾波器等得到了廣泛應用。對于那些技術(shù)相對成熟的無源光芯片的測試，主要集中在測量插入損耗（IL）、偏振相關(guān)損耗（PDL）以及回波損耗（RL）等方面。傳統(tǒng)的測試方法通常依賴于寬帶光源結(jié)合光譜分析儀來完成這些測試。然而，為了實現(xiàn)更高的波長分辨率和更寬的測試動態(tài)范圍，采用高性能或快速可調(diào)諧光源配合多通道功率計進行掃描測試通常是更為準確的選擇。尤其是在評估多通道器件（如波分復用器件）或需要精確測量偏振相關(guān)損耗的情況下，結(jié)合使用可調(diào)諧光源、偏振控制器以及多通道光功率計往往是唯一可行的高效測試方案。這種方法不僅能夠提供更加精確的測試結(jié)果，還能適應更為復雜的測試需求，為光通信系統(tǒng)的優(yōu)化提供了堅實的基礎(chǔ)。

光無源器件測試平臺

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混合光有源器件直流波長響應測試方案

混合光電芯片/器件指的是將有源組件（例如光電轉(zhuǎn)換器）與無源組件（如光解復用器）集成在單一芯片或器件上的技術(shù)。這種集成方式能夠有效地提升設(shè)備的功能性和效率，同時也為測試帶來了新的挑戰(zhàn)。針對混合光電芯片/器件進行直流波長響應的測試時，可以采用類似于測試光無源器件的系統(tǒng)平臺。不過，二者之間存在一個關(guān)鍵的不同點：混合光電芯片/器件的輸出接口是電信號接口，而不是光信號接口。這意味著在測試過程中，除了使用標準的光學測試設(shè)備外，還需要通過精確的直流源表來測量電輸出性能。例如，是德科技的B2900系列精密直流源表就能提供所需的精度和功能，確保對混合光電芯片/器件的準確測試。

ICR直流特性測試平臺

隨著光芯片研發(fā)的深入，除了傳統(tǒng)的光器件測試外，光芯片的On-wafer測試需求日益增長，成為研發(fā)和測試人員關(guān)注的重點。在進行光芯片測試時，如何高效且準確地將光芯片上的光信號通過光纖耦合到測試系統(tǒng)中，是確保測試成功的關(guān)鍵步驟之一。

是德科技（Keysight）的N77-C系列光功率計為這一過程提供了強大的支持。該系列設(shè)備能夠提供與光功率測量結(jié)果相關(guān)的模擬反饋輸出，支持線性和對數(shù)兩種模式。這種反饋機制使得在進行光纖耦合時，可以根據(jù)光功率的測量結(jié)果實時調(diào)整耦合參數(shù)，以達到最佳耦合效率。特別是在低光功率條件下，對數(shù)模式能提供更高的靈敏度，從而保證了測量的準確性。