在上周剛剛結(jié)束的DVcon China會議上,本土EDA企業(yè)英諾達(dá)攜其EnAltius昂屹 CDC(ECDC)跨域檢查工具亮相,并發(fā)表主題演講《Enhancing CDC tool to deliver complete CDC solutions for advanced IC design》。該工具通過創(chuàng)新算法與全流程覆蓋能力,為高性能芯片設(shè)計提供完整的CDC驗證解決方案,顯著提升復(fù)雜多時鐘域設(shè)計的可靠性與驗證效率。
主題:增強(qiáng)CDC工具以交付完整的CDC解決方案
演講人:Ivan Qiu
盡管時鐘域交叉(Clock Domain Crossing, CDC)是一個老生常談的問題,但在當(dāng)今超大規(guī)模系統(tǒng)級芯片(SoC)設(shè)計中,CDC已成為影響芯片功能正確性和可靠性的核心問題。隨著芯片工藝節(jié)點不斷向深亞微米演進(jìn),設(shè)計規(guī)模和復(fù)雜度呈現(xiàn)指數(shù)級增長,單芯片集成上百個異步時鐘域的場景已屢見不鮮。這種多異步時鐘域架構(gòu)雖能有效實現(xiàn)功耗與性能的平衡,卻帶來了復(fù)雜的跨時鐘域信號交互難題,使得CDC設(shè)計驗證成為決定芯片成敗的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。
異步時鐘域間的信號傳遞面臨的風(fēng)險,歸根結(jié)底是因為異步時鐘沒有固定的相位關(guān)系,導(dǎo)致無法進(jìn)行時序收斂。其中當(dāng)信號跨越不同頻率或相位的時鐘域時,接收寄存器不滿足建立和保持時間就會進(jìn)入亞穩(wěn)態(tài)(Metastability), 這種介于邏輯"0"和"1"之間的不確定狀態(tài)不僅會導(dǎo)致其驅(qū)動的邏輯單元功耗變大,而且會導(dǎo)致亞穩(wěn)態(tài)驅(qū)動的多個邏輯單元由于網(wǎng)絡(luò)上不同的電阻電容值而觀測到不同的狀態(tài),從而導(dǎo)致系統(tǒng)級功能錯誤。
使用多級寄存器打拍的結(jié)構(gòu)是解決亞穩(wěn)態(tài)的經(jīng)典結(jié)構(gòu),其同步后的信號可有效抑制亞穩(wěn)態(tài)。通過對亞穩(wěn)態(tài)所導(dǎo)致的MTBF(平均失效時間)分析,亞穩(wěn)態(tài)的產(chǎn)生始終是一個概率事件,無法被徹底消除。然而在絕大多數(shù)工藝下,兩級寄存器同步的結(jié)構(gòu)可以將MTBF提升至幾十年以上,但設(shè)計者依然期望能夠進(jìn)一步提升MTBF。通過分析計算MTBF的參數(shù)構(gòu)成,盡可能將同步所使用的兩個寄存器布局在相近位置,就可以顯著提高M(jìn)TBF,因此如何產(chǎn)生這樣一套指導(dǎo)布局布線工具使用的約束文件成為了設(shè)計者的需求。
CDC檢查和靜態(tài)時序分析STA就像兩條并行的軌道,CDC檢查異步時鐘的路徑,STA檢查同步時鐘域的路徑。然而CDC與STA并不是沒有交集,CDC的一些結(jié)構(gòu)仍然需要STA的保證,比如使用有效同步信號Qualifier的同步結(jié)構(gòu),使用格雷碼進(jìn)行多比特位總線同步的結(jié)構(gòu)。他們依然需要時序約束文件來進(jìn)行時序收斂從而保證CDC結(jié)構(gòu)的功能。通常這樣的時序文件由富有經(jīng)驗的設(shè)計者手動編寫, 存在引入錯漏的可能,給芯片帶來巨大的風(fēng)險。
當(dāng)今SoC設(shè)計中的大量跨時鐘域的處理使得CDC的違例可能數(shù)以十萬計,人工檢查分析所有的違例已經(jīng)變得越來越不可能完成,使用SVA (System Verilog Assertion) 仿真來輔助進(jìn)行CDC的檢查已經(jīng)成為一個勢在必行的環(huán)節(jié)。一個完整的CDC解決方案不僅需要靜態(tài)驗證工具來檢測出所有的跨時鐘域風(fēng)險,而且需要在仿真,時序收斂,布局布線等環(huán)節(jié)上來保證CDC的功能和可靠性。英諾達(dá)的EnAltius CDC(ECDC)跨域檢測工具采用了自研的基于邏輯的檢測算法,具有高精確率,高性能,易使用的特點。作為一款靜態(tài)驗證工具,ECDC是CDC檢測的第一道也是最重要的防線,可在設(shè)計早期規(guī)避風(fēng)險,而且工具可以覆蓋百億門級設(shè)計的CDC問題。
不止于此,致力于提供更完整的CDC解決方案,ECDC在現(xiàn)有跨時鐘域檢測基礎(chǔ)上,未來將能夠輸出一整套與設(shè)計相適應(yīng)的設(shè)計約束文件,仿真SVA文件,實現(xiàn)從問題定位到驗證閉環(huán)的一站式服務(wù),助力客戶應(yīng)對日益復(fù)雜的異步設(shè)計挑戰(zhàn)。
關(guān)于DVcon China
DVCon China是在中國舉辦的集成電路相關(guān)的高技術(shù)會議,探討集成電路和電子系統(tǒng)設(shè)計與驗證中的標(biāo)準(zhǔn)語言、工具與方法學(xué)。由Accellera Systems Initiative主辦,DVCon已成功舉辦了超過20年。入會者主要來自電子系統(tǒng)設(shè)計師、集成電路設(shè)計師和FPGA專家,也包括EDA工具研究與開發(fā)工程師、IP系統(tǒng)集成專家。
關(guān)于英諾達(dá)
英諾達(dá)(成都)電子科技有限公司是一家由行業(yè)頂尖資深人士創(chuàng)立的本土EDA企業(yè),公司堅持以客戶需求為導(dǎo)向,幫助客戶實現(xiàn)價值最大化,為中國半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)提供卓越的EDA解決方案。公司的長期目標(biāo)是通過EDA工具的研發(fā)和上云實踐,參與國產(chǎn)EDA完整工具鏈布局并探索適合中國國情的工業(yè)軟件上云的路徑與模式,賦能半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)高質(zhì)量發(fā)展。公司的主營業(yè)務(wù)包括:EDA軟件研發(fā)、IC設(shè)計云解決方案以及IC設(shè)計服務(wù)。
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原文標(biāo)題:CDC靜態(tài)驗證到完整解決方案的演進(jìn)
文章出處:【微信號:gh_387c27f737c1,微信公眾號:英諾達(dá)EnnoCAD】歡迎添加關(guān)注!文章轉(zhuǎn)載請注明出處。
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