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優(yōu)可測(cè)白光干涉儀助力提升光模塊信息質(zhì)量

優(yōu)可測(cè) ? 2025-04-30 09:22 ? 次閱讀
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QOKUBRA7ADQDK?

全球AI快速發(fā)展,AI大模型(如ChatGPT、Sora等)的訓(xùn)練和應(yīng)用,為了提升數(shù)據(jù)傳輸效率,越來(lái)越多的計(jì)算單元、服務(wù)器都加入了光模塊。據(jù)行業(yè)預(yù)測(cè),全球光模塊市場(chǎng)規(guī)模預(yù)計(jì)2025年突破800億美元,年均增長(zhǎng)率達(dá)15%。

在電子設(shè)備中,光模塊的作用是在發(fā)送端,把電信號(hào)轉(zhuǎn)換成光信號(hào),通過(guò)光纖傳送后,接收端再把光信號(hào)轉(zhuǎn)換成電信號(hào)。光模塊通常包括激光器(如VCSEL或EEL)、調(diào)制器、光探測(cè)器、光纖接口、驅(qū)動(dòng)電路等組件。為了保證非常高效的傳輸,光模塊各組成單在的生產(chǎn)制造中,均需進(jìn)行高質(zhì)量的把控。

接下來(lái),優(yōu)可測(cè)就為大家介紹一下,通信模塊的頭部企業(yè),他們?cè)谥圃熘?,?huì)對(duì)產(chǎn)品做哪些維度的質(zhì)量把控數(shù)據(jù)檢測(cè)。

發(fā)射激光器:端面尺寸、三維形貌

例如“垂直腔面發(fā)射激光器(VCSEL)”和“邊發(fā)射激光器(EEL)”需確保發(fā)射端面三維形貌尺寸,以減少光信號(hào)損耗和散射。這時(shí),就需要檢測(cè)激光器端面的尺寸,確保光信號(hào)高效傳輸。

ZMR7PRA7ABQAU?

優(yōu)可測(cè)白光干涉儀VCSEL檢測(cè)數(shù)據(jù)

陶瓷基板:臺(tái)階高、平面度

目前,陶瓷基板也廣泛應(yīng)用于光通信模塊,陶瓷基板在光模塊中主要用于封裝結(jié)構(gòu),特別是作為高精度高導(dǎo)熱性的基板,用于安裝和固定關(guān)鍵光學(xué)和電子元件,確保模塊的可靠性和性能。在各種制造工藝環(huán)境中,陶瓷基板的臺(tái)階高、平面度等參數(shù)會(huì)直接影響其封裝性能、成本管控等。

CSLEBRA7ABAFS?

優(yōu)可測(cè)白光干涉儀陶瓷基板檢測(cè)數(shù)據(jù)

MLA:粗糙度、ROC、SPD、K值

微透鏡陣列(MLA)在光通信領(lǐng)域中也扮演著關(guān)鍵角色。MLA通過(guò)高效光路控制和高密度集成,解決了光通信中光束準(zhǔn)直、耦合損耗、溫控等核心挑戰(zhàn)。

隨著CPO和硅光技術(shù)的普及,MLA在高速光模塊、數(shù)據(jù)中心互聯(lián)及5G前傳網(wǎng)絡(luò)中的應(yīng)用將進(jìn)一步深化,推動(dòng)光通信向更高帶寬、更低功耗方向發(fā)展。

MLA在生產(chǎn)制造過(guò)程中,其表面粗糙度、ROC、SPD、K值等參數(shù),都會(huì)直接影響光散射的損耗、光束準(zhǔn)直/耦合等效果。對(duì)這些參數(shù)進(jìn)行精準(zhǔn)檢測(cè)尤為重要。

ESLEBRA7ADQDK?

優(yōu)可測(cè)白光干涉儀MLA檢測(cè)數(shù)據(jù)

光纖端面:形貌、粗糙度、高度

此外,在光纖端面形貌、粗糙度、高度等也直接會(huì)影響最終的耦合效果,從而影響光信號(hào)傳輸質(zhì)量。

X2KUBRA7AAACK?

優(yōu)可測(cè)白光干涉儀光纖端面檢測(cè)

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