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從 2D 到 3.5D 封裝演進(jìn)中焊材的應(yīng)用與發(fā)展

深圳市傲??萍加邢薰?/a> ? 2025-08-11 15:45 ? 次閱讀
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半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)的發(fā)展進(jìn)程中,封裝技術(shù)從 2D 逐步邁向 3.5D,實(shí)現(xiàn)了從平面到立體、從低集成到高集成的跨越。這一演進(jìn)不僅提升了芯片性能,還改變了對封裝焊接材料的需求。作為專業(yè)生產(chǎn)錫膏、助焊劑、銀膠、燒結(jié)銀等焊材的企業(yè),深入了解這些變化對產(chǎn)品研發(fā)和市場拓展至關(guān)重要。

一、2D 封裝:傳統(tǒng)焊材的基石作用

2D 封裝是最基礎(chǔ)的形式,芯片以平鋪方式安裝在基板上,通過引線鍵合或倒裝芯片技術(shù)實(shí)現(xiàn)電氣連接。這一階段,錫膏和助焊劑是主要焊材。

  1. 錫膏:以 SAC305(Sn96.5Ag3Cu0.5)為代表的無鉛錫膏廣泛應(yīng)用,其熔點(diǎn)約 217℃,適用于 0.5mm 以上間距的 BGA、QFP 等封裝。針對細(xì)間距需求(如 0.4mm pitch),T5 級(15 - 25μm 粒徑)錫粉被采用,以確保印刷精度和焊接質(zhì)量。
  2. 助焊劑:在 2D 封裝中,助焊劑起到去除金屬表面氧化物、降低焊料表面張力、促進(jìn)焊料潤濕和鋪展的作用。免清洗助焊劑因無需后續(xù)清洗工序,減少了對芯片的損傷風(fēng)險(xiǎn),在消費(fèi)電子等領(lǐng)域得到廣泛應(yīng)用,其殘留物表面絕緣電阻需大于 10^13Ω,防止電化學(xué)遷移。
  3. 銀膠:用于芯片與基板的機(jī)械固定和電氣連接,尤其是在柔性電路板FPC)與芯片的連接中。銀膠的銀含量通?!?5%,熱導(dǎo)率可達(dá) 60W/m?K,確保良好的導(dǎo)電性和散熱性。固化條件一般為 150 - 170℃,需精確控制膠量(±5%),以保證連接強(qiáng)度和可靠性。

二、2.1D 封裝:對焊材精度與性能的新要求

2.1D 封裝在 2D 基礎(chǔ)上,通過在封裝基板上制造細(xì)間距金屬互連層(RDL)或嵌入硅橋,實(shí)現(xiàn)更高密度的芯片間互連。

  1. 微凸塊材料:為實(shí)現(xiàn)更細(xì)間距的互連(如 10 - 20μm),銅柱凸塊結(jié)合 SnAgCu 焊料成為主流。銅柱凸塊高度通常在 50 - 100μm,提供了可靠的電氣連接和機(jī)械支撐。SnAgCu 焊料在保證焊接強(qiáng)度的同時(shí),需滿足更低的空洞率要求(≤5%),以提升信號傳輸?shù)姆€(wěn)定性。
  2. 納米銀漿:隨著封裝密度的提高,納米銀漿(粒徑 50 - 100nm)開始應(yīng)用。激光燒結(jié)后,納米銀漿形成的銀層電阻率低至 4.7μΩ?cm,熱導(dǎo)率達(dá) 260W/m?K,適用于 10μm 以下間距的硅橋互連,有效降低了電阻和熱阻,提升了封裝性能。
  3. 底部填充膠:為減少熱應(yīng)力對焊點(diǎn)的影響,底部填充膠的性能要求更加嚴(yán)格。環(huán)氧基底部填充膠的熱膨脹系數(shù)(CTE)需與芯片和基板相匹配,一般控制在 18ppm/℃左右,填充時(shí)間要求小于 30 秒,以確保在短時(shí)間內(nèi)均勻覆蓋焊點(diǎn),提高封裝的可靠性。

三、2.3D 封裝:有機(jī)中介層帶來的焊材變革

2.3D 封裝引入有機(jī)中介層,實(shí)現(xiàn)了芯片與基板之間的高密度互連。

  1. 焊球與焊料:在有機(jī)中介層與基板的連接中,SAC305 焊球(直徑 100 - 150μm)仍是常用選擇,但對焊球的一致性和焊接空洞率要求更高,空洞率需嚴(yán)格控制在 5% 以下,以保證信號傳輸?shù)姆€(wěn)定性。同時(shí),為適應(yīng)多層堆疊的階梯焊接,高導(dǎo)熱、低熔點(diǎn)的 Sn-Zn-Bi 合金(熔點(diǎn) 180-190℃,熱導(dǎo)率80W/m?K)也得到應(yīng)用,減少高溫對底層芯片的損傷。
  2. 助焊劑:針對有機(jī)中介層的焊接,無鹵素助焊劑成為主流。這類助焊劑在保證良好焊接性能的同時(shí),避免了鹵素對有機(jī)材料的腐蝕,確保了封裝的長期可靠性。如傲牛AN-227-1無鹵素助焊劑,能有效支持銅柱凸塊的無鉛焊接,接觸角≤15°,提升了焊接的潤濕性和可靠性。
  3. 底部填充材料:與 2.1D 封裝類似,底部填充材料需具備良好的流動性和低 CTE 特性。但由于 2.3D 封裝的結(jié)構(gòu)更為復(fù)雜,對底部填充材料的填充能力和與有機(jī)中介層的兼容性要求更高。

四、2.5D 封裝:高性能焊材支撐高密度集成

2.5D 封裝以硅中介層為核心,通過 TSV(硅通孔)和RDL實(shí)現(xiàn)芯片間的高速、高密度互連。

  1. 微凸塊與混合鍵合材料:在芯片與硅中介層的連接中,微凸塊的尺寸和間距進(jìn)一步縮小,銅柱凸塊直徑可低至20 - 50μm,互連密度高達(dá)1000 個(gè)/mm2。為實(shí)現(xiàn)更高的帶寬和更低的延遲,部分場景采用混合鍵合技術(shù),直接通過Cu - Cu鍵合實(shí)現(xiàn)芯片間互聯(lián),無需傳統(tǒng)焊料,帶寬密度可達(dá)1TB/s/mm2。
  2. 底部填充與散熱材料:由于2.5D封裝中芯片集成度高、發(fā)熱量大,底部填充材料不僅要具備良好的機(jī)械性能,還需具備高導(dǎo)熱性。例如,3M TM2910 高導(dǎo)熱銀膠,熱導(dǎo)率可達(dá) 200W/m?K 以上,在填充焊點(diǎn)間隙的同時(shí),有效將芯片產(chǎn)生的熱量傳導(dǎo)出去,降低芯片溫度,提升封裝的可靠性。
  3. 助焊劑與清洗工藝:在 2.5D 封裝中,助焊劑的殘留對芯片性能影響更大。因此,對助焊劑的清洗要求更為嚴(yán)格,通常采用去離子水清洗(電阻率 > 18MΩ?cm),確保助焊劑殘留離子(如 Cl?、Br?)濃度低于10μg/cm2,防止電化學(xué)遷移導(dǎo)致的芯片失效。

五、3D 封裝:垂直堆疊下的焊材挑戰(zhàn)與創(chuàng)新

3D 封裝實(shí)現(xiàn)了芯片的垂直堆疊,通過 TSV 和微凸點(diǎn)實(shí)現(xiàn)芯片間的垂直互連,對焊材的性能和工藝提出了極高要求。

  1. TSV 填充材料:電鍍銅是 TSV 填充的主要材料,要求純度>99.99%,以確保低電阻(電阻率 1.7μΩ?cm)和良好的導(dǎo)電性。對于 10μm 以下孔徑的 TSV,需精確控制電鍍工藝,保證銅填充的均勻性和完整性,避免空洞和裂縫的產(chǎn)生。
  2. 低溫焊料與混合鍵合:為減少堆疊過程中的熱應(yīng)力,低溫焊料如 Sn58Bi(熔點(diǎn) 138℃)被廣泛應(yīng)用于多層堆疊的階梯焊接。同時(shí),混合鍵合技術(shù)在3D封裝中也得到進(jìn)一步發(fā)展,通過精確控制鍵合溫度、壓力和時(shí)間,實(shí)現(xiàn)芯片間的高質(zhì)量連接,提升封裝的整體性能。
  3. 自修復(fù)焊料:針對3D封裝中焊點(diǎn)易受熱應(yīng)力影響產(chǎn)生微裂紋的問題,自修復(fù)焊料成為研究熱點(diǎn)。例如,嵌入微膠囊型助焊劑的焊料,當(dāng)焊點(diǎn)出現(xiàn)微裂紋時(shí),膠囊破裂釋放助焊劑,修復(fù)氧化層,恢復(fù)焊點(diǎn)的導(dǎo)電性和機(jī)械強(qiáng)度,提高封裝的長期可靠性。

六、3.5D 封裝及未來趨勢:焊材的持續(xù)進(jìn)化

3.5D封裝結(jié)合了2.5D和3D封裝的優(yōu)勢,通過中介層實(shí)現(xiàn)芯片的橫向和垂直互連,對焊材的性能、精度和集成度提出了更高要求。

  1. 高性能納米材料:未來,納米銀漿、納米銅漿等高性能納米材料將在 3.5D 封裝中發(fā)揮更大作用。這些材料具有更低的電阻率和更高的熱導(dǎo)率,能夠滿足更高密度互連和更高效散熱的需求。例如,通過優(yōu)化納米銀漿的燒結(jié)工藝,可使其熱導(dǎo)率達(dá)到 300W/m?K 以上,電阻降低至 3μΩ?cm 以下。
  2. 無助焊劑鍵合技術(shù):隨著封裝尺寸的不斷縮小和集成度的不斷提高,助焊劑殘留對芯片性能的影響愈發(fā)顯著。無助焊劑鍵合技術(shù),如在真空或惰性氣體環(huán)境中進(jìn)行的銅 - 銅直接鍵合,將逐漸成為主流。這種技術(shù)不僅能提高互連的長期可靠性,還能避免助焊劑殘留導(dǎo)致的腐蝕和短路問題。
  3. 智能化與定制化焊材:隨著 AI 技術(shù)在半導(dǎo)體制造中的應(yīng)用,智能化焊材將成為趨勢。例如,具備自適應(yīng)調(diào)節(jié)性能的焊材,可根據(jù)焊接過程中的溫度、壓力等參數(shù)自動調(diào)整物理性質(zhì),確保焊接質(zhì)量的一致性。同時(shí),針對不同應(yīng)用場景和客戶需求,定制化焊材將得到更多開發(fā),滿足如醫(yī)療、航天等特殊領(lǐng)域?qū)Ψ庋b可靠性和性能的嚴(yán)格要求。

從 2D 到 3.5D 封裝的演進(jìn)過程中,錫膏、助焊劑、銀膠、燒結(jié)銀等焊材不斷創(chuàng)新和發(fā)展,以適應(yīng)日益復(fù)雜的封裝結(jié)構(gòu)和更高的性能要求。作為焊材生產(chǎn)企業(yè),緊跟封裝技術(shù)發(fā)展趨勢,持續(xù)投入研發(fā),開發(fā)出更高效、更可靠、更環(huán)保的焊材產(chǎn)品,將是在半導(dǎo)體封裝市場中保持競爭力的關(guān)鍵。

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