為解決臺階儀在微結(jié)構(gòu)測量中的點(diǎn)云配準(zhǔn)精度不足、系統(tǒng)誤差難補(bǔ)償及傳統(tǒng)校準(zhǔn)離散、導(dǎo)軌誤差大等問題，費(fèi)曼儀器致力于為全球工業(yè)智造提供提供精準(zhǔn)測量解決方案，Flexfilm探針式臺階儀可以實(shí)現(xiàn)表面微觀特征的精準(zhǔn)表征與關(guān)鍵參數(shù)的定量測量，精確測定樣品的表面臺階高度與膜厚，為材料質(zhì)量把控和生產(chǎn)效率提升提供數(shù)據(jù)支撐。

本研究提出融合增強(qiáng)型ICP與SIL的表面匹配方法，輔以多目標(biāo)加權(quán)機(jī)制、低垂度球面全量程校準(zhǔn)及納米級光學(xué)玻璃導(dǎo)軌設(shè)計(jì)。結(jié)果顯示，臺階儀實(shí)現(xiàn)亞納米表面匹配誤差，傳感器線性誤差降低90%，復(fù)雜曲面測量與干涉儀偏差<100nm。該研究為臺階儀超精密測量構(gòu)建技術(shù)框架，為高梯度光學(xué)元件及微結(jié)構(gòu)表面檢測提供可靠支撐，具重要工程意義。

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關(guān)鍵技術(shù)方法

flexfilm

改進(jìn)的ICP算法

ICP 算法流程

本研究對傳統(tǒng)ICP算法進(jìn)行了多方面改進(jìn)：

引入多目標(biāo)加權(quán)機(jī)制，綜合考量自適應(yīng)閾值、曲率、法向量和距離加權(quán)；

采用三種加權(quán)策略：法向一致性加權(quán)、曲率加權(quán)和距離加權(quán)；

通過點(diǎn)對點(diǎn)和點(diǎn)對面兩種誤差最小化方法實(shí)現(xiàn)精確配準(zhǔn)；

對部分重疊數(shù)據(jù)集，剔除距離最大的10%點(diǎn)對及頂點(diǎn)/邊緣點(diǎn)以提升效率。

同步迭代定位技術(shù)

（a）工件坐標(biāo)系與測量機(jī)坐標(biāo)系間的對應(yīng)關(guān)系（b） 最近點(diǎn)匹配原理

基于SIL算法擴(kuò)展ICP框架，建立工件坐標(biāo)系與測量機(jī)坐標(biāo)系的變換關(guān)系。通過最小二乘準(zhǔn)則最小化對應(yīng)點(diǎn)間的平方距離，求解最優(yōu)變換矩陣，確保法向量與投影點(diǎn)滿足正交條件，實(shí)現(xiàn)高精度坐標(biāo)轉(zhuǎn)換。

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測量系統(tǒng)設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)

flexfilm

為提升測量精度，本研究設(shè)計(jì)了專用的輪廓儀測量系統(tǒng)：

采用光學(xué)級玻璃制造導(dǎo)軌，通過可控成形技術(shù)加工導(dǎo)軌面

利用波前干涉儀評估導(dǎo)軌平面度、平行度與垂直度

將導(dǎo)軌幾何誤差控制在納米級，顯著減小工作臺運(yùn)動(dòng)誤差

集成高精度位移參考系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)20nm直線運(yùn)動(dòng)精度和20nm測頭精度

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實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證與分析

flexfilm

算法精度驗(yàn)證

光學(xué)復(fù)雜面形誤差的實(shí)際計(jì)算過程

通過將理論點(diǎn)云進(jìn)行平移旋轉(zhuǎn)生成測量點(diǎn)云，驗(yàn)證配準(zhǔn)算法精度。結(jié)果顯示，殘差算法誤差低于1nm，證明方法具有極高精度。

傳感器誤差補(bǔ)償

低矢高凹球參數(shù)與干涉儀面形測量結(jié)果

針對傳感器0-400 μm量程內(nèi)的測量誤差，創(chuàng)新性地采用低矢高凹球面進(jìn)行全量程校準(zhǔn)：

選用孔徑60 mm、矢高300 μm的標(biāo)準(zhǔn)凹球

采用分段測量策略（0-300 μm和100-400 μm）

利用重疊區(qū)域（100-300 μm）拼接全量程誤差曲線

通過最小二乘擬合和誤差分離提取傳感器誤差特性

實(shí)驗(yàn)結(jié)果顯示，傳感器在不同測量段呈現(xiàn)特征誤差：0-100 μm段誤差最大（約1.2 μm），100-350 μm段呈線性關(guān)系（約0.9 μm），350-400 μm段誤差最小（約0.1 μm）。

測量結(jié)果對比

探頭的測量誤差

探頭誤差補(bǔ)償前后的測量結(jié)果（a）未補(bǔ)償 （b）已補(bǔ)償 （c）在進(jìn)行補(bǔ)償后，工件會旋轉(zhuǎn) 90°以重現(xiàn)測量結(jié)果

臺階儀的測量結(jié)果與干涉儀的測量結(jié)果進(jìn)行了對比分析

正弦相位板測量結(jié)果

補(bǔ)償后測量結(jié)果表明：

凹球面形貌與干涉儀結(jié)果高度一致

臺階儀與干涉儀測量的PV與RMS誤差幾乎相同

點(diǎn)對點(diǎn)偏差極小，證明補(bǔ)償效果顯著

正弦相位板測量結(jié)果驗(yàn)證了方法的工程實(shí)用性

本研究成功開發(fā)了一套用于提升高精度光學(xué)臺階儀/輪廓儀測量性能的系統(tǒng)性解決方案。通過采用納米級精度的光學(xué)玻璃導(dǎo)軌，顯著降低了儀器運(yùn)動(dòng)平臺的幾何誤差。針對臺階儀垂直掃描機(jī)構(gòu)的非線性誤差，創(chuàng)新性地提出了基于低矢高標(biāo)準(zhǔn)凹球的全量程連續(xù)校準(zhǔn)方法，實(shí)現(xiàn)了400μm量程內(nèi)0.1μm精度的傳感器誤差補(bǔ)償。為解決臺階儀在微結(jié)構(gòu)測量中的系統(tǒng)誤差問題提供了有效方法，顯著提升了測量數(shù)據(jù)的可靠性和準(zhǔn)確性，在精密光學(xué)元件和微機(jī)電系統(tǒng)（MEMS）的高精度檢測領(lǐng)域具有重要的工程應(yīng)用價(jià)值。

Flexfilm探針式臺階儀

flexfilm

在半導(dǎo)體、光伏、LED、MEMS器件、材料等領(lǐng)域，表面臺階高度、膜厚的準(zhǔn)確測量具有十分重要的價(jià)值，尤其是臺階高度是一個(gè)重要的參數(shù)，對各種薄膜臺階參數(shù)的精確、快速測定和控制，是保證材料質(zhì)量、提高生產(chǎn)效率的重要手段。

• 配備500W像素高分辨率彩色攝像機(jī)
• 亞埃級分辨率，臺階高度重復(fù)性1nm
• 360°旋轉(zhuǎn)θ平臺結(jié)合Z軸升降平臺
• 超微力恒力傳感器保證無接觸損傷精準(zhǔn)測量

費(fèi)曼儀器作為國內(nèi)領(lǐng)先的薄膜厚度測量技術(shù)解決方案提供商，Flexfilm探針式臺階儀可以對薄膜表面臺階高度、膜厚進(jìn)行準(zhǔn)確測量，保證材料質(zhì)量、提高生產(chǎn)效率。

原文參考：《High-precision microstructure contouring coordinate measurement technology》

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