(3) 邊界測(cè)試結(jié)果

測(cè)試步驟 4 對(duì)應(yīng)波形如圖 1所示， 寄存器最大值為 64’hFFFFFFFFFFFFFFFF，到達(dá)最大值后一個(gè)時(shí)鐘周期后翻轉(zhuǎn)回 0， 在隨機(jī)時(shí)刻使用 force 將寄存器賦值臨近最大值， 當(dāng)寄存器達(dá)到最大值后， 翻轉(zhuǎn)回到 0， 讀取數(shù)值為 0， 仿真行為符合設(shè)計(jì)預(yù)期。

圖1 寄存器邊界測(cè)試仿真波形圖

(4) 功能測(cè)試結(jié)果

測(cè)試步驟 5 對(duì)應(yīng)打印信息如圖 2 所示， 由于此步驟波形跨度較大因此使用打

印信息展示。 在 24618ns 時(shí)刻讀取寄存器值為 64’h1F， 在 79434ns 時(shí)刻讀取寄存器值

為 64’h35A7， 計(jì)算時(shí)間差值除以 4 等于寄存器兩次讀取差值， 仿真行為符合設(shè)計(jì)預(yù)

期， 測(cè)試通過。

圖2 寄存器功能測(cè)試打印信息圖

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