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MOT2165J N 溝道 MOSFET 技術(shù)解析

深圳市首質(zhì)誠(chéng)科技有限公司 ? 2025-10-24 10:22 ? 次閱讀
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MOT2165J 是仁懋電子(MOT)推出的一款N 溝道增強(qiáng)型 MOSFET,采用 PDFN3X3 封裝形式,聚焦于功率開關(guān)控制、筆記本核心供電等場(chǎng)景,以低導(dǎo)通損耗、快速開關(guān)特性和小型化封裝為核心技術(shù)亮點(diǎn)。

一、核心參數(shù)與技術(shù)意義

  • 電壓電流特性:漏源電壓(VDS)最大 20V,適配 20V 及以下低壓電路;連續(xù)漏極電流(ID)達(dá) 55A,脈沖漏極電流(IDM)可至 200A,能滿足持續(xù)高負(fù)載與瞬時(shí)峰值電流的雙重需求,在工業(yè)功率切換、消費(fèi)電子供電等場(chǎng)景中具備可靠的電流承載能力。
  • 導(dǎo)通電阻表現(xiàn):柵源電壓(VGS)為 4.5V 時(shí),導(dǎo)通電阻(RDS (on))僅 5.2mΩ;VGS 降至 2.5V 時(shí),RDS (on) 為 6.8mΩ。低導(dǎo)通電阻特性可顯著降低大電流導(dǎo)通階段的功率損耗,尤其適配低功耗驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)與高功率密度應(yīng)用。
  • 電容與開關(guān)性能:輸入電容(Ciss)1166pF、輸出電容(Coss)189pF、反向傳輸電容(Crss)141pF,配合 3.9Ω 的開關(guān)電阻(Rg),既保障了柵極驅(qū)動(dòng)的響應(yīng)速度,又通過(guò)低反向傳輸電容減少 “米勒效應(yīng)” 干擾,實(shí)現(xiàn)快速開關(guān)動(dòng)作,降低高頻切換時(shí)的損耗。
  • 熱穩(wěn)定性:結(jié)溫工作范圍覆蓋 - 55℃至 + 150℃,滿足工業(yè)級(jí)寬溫環(huán)境需求;結(jié)到環(huán)境熱阻(RthJA)40℃/W,結(jié)合 PDFN3X3 封裝的底部散熱焊盤設(shè)計(jì),可高效傳導(dǎo)功率損耗產(chǎn)生的熱量,避免結(jié)溫過(guò)高導(dǎo)致器件性能衰減。

二、技術(shù)特性與優(yōu)勢(shì)

高效開關(guān)能力低反向傳輸電容(Crss)與快速開關(guān)特性的結(jié)合,使其在 DC-DC 變換器等高頻功率轉(zhuǎn)換場(chǎng)景中,能有效減少開關(guān)損耗,提升系統(tǒng)能量轉(zhuǎn)換效率。

低功耗設(shè)計(jì)5.2mΩ(@VGS=4.5V)的低導(dǎo)通電阻,在大電流導(dǎo)通時(shí)可大幅降低功率損耗;同時(shí)適配 2.5V 低壓驅(qū)動(dòng)場(chǎng)景,滿足低功耗控制系統(tǒng)的設(shè)計(jì)需求。

小型化與散熱兼顧PDFN3X3 封裝的尺寸僅 3.0mm×3.0mm,適配小型化電子設(shè)備布局;底部裸露的散熱焊盤配合 40℃/W 的熱阻,保障了器件在高負(fù)載下的熱穩(wěn)定性,平衡了 “小型化” 與 “散熱能力” 的技術(shù)矛盾。

三、典型應(yīng)用場(chǎng)景

  • 功率開關(guān)模塊:憑借 55A 連續(xù)電流和 200A 脈沖電流的承載能力,可用于工業(yè)設(shè)備的直流功率切換、消費(fèi)電子的電源控制環(huán)節(jié),實(shí)現(xiàn)穩(wěn)定可靠的大電流通斷。
  • 筆記本核心供電:PDFN3X3 的小型化封裝與低功耗特性,完美適配筆記本電腦內(nèi)部 CPU、GPU 等核心部件的供電需求,在有限空間內(nèi)實(shí)現(xiàn)高效電能轉(zhuǎn)換,同時(shí)降低設(shè)備運(yùn)行功耗。
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