該ADC08D1520是一種8位、雙通道、低功耗、高性能的CMOS模擬轉(zhuǎn)數(shù)字轉(zhuǎn)換器，基于ADC08D1000平臺構(gòu)建。該ADC08D1520能夠數(shù)字化信號，分辨率為8位，采樣率最高可達(dá)1.7 GSPS。它擁有擴(kuò)展的功能相比ADC08D1000，包括用于系統(tǒng)調(diào)試的測試模式輸出、時(shí)鐘相位調(diào)整，以及可選輸出解復(fù)用模式。在解復(fù)用模式下，功耗為典型的2.0W，功率為1.5 GSPS來自單一1.9伏電源，該設(shè)備確保在整個(gè)工作溫度范圍內(nèi)無缺失碼。獨(dú)特的折疊和插值架構(gòu)，完全差分比較器設(shè)計(jì)，創(chuàng)新的內(nèi)部采樣保持放大器設(shè)計(jì)自校準(zhǔn)方案使所有動態(tài)參數(shù)在奈奎斯特之外都能實(shí)現(xiàn)非常平坦的響應(yīng)，在748 MHz輸入信號和1.5 GHz的同時(shí)，產(chǎn)生高7.2的有效比特?cái)?shù)（ENOB），采樣率為10^-18^代碼錯(cuò)誤率（C.E.R.） 輸出 格式為偏移二進(jìn)制，低電壓差分信號（LVDS）數(shù)字輸出為兼容IEEE 1596.3-1996，唯一例外是可調(diào)的共模電壓介于0.8V到1.2V之間。
*附件：adc08d1520qml-sp.pdf

每個(gè)轉(zhuǎn)換器都有一個(gè)可選的輸出解復(fù)用器，用于供兩條LVDS總線。如果選擇1：2解復(fù)用模式，輸出數(shù)據(jù)率會降低到輸入采樣率的一半在每個(gè)總線上。當(dāng)選擇非解復(fù)用模式時(shí)，通道DI和DQ的輸出數(shù)據(jù)速率與輸入采樣時(shí)鐘的速率相同。這兩個(gè)轉(zhuǎn)換器可以交錯(cuò)使用，作為單個(gè)3 GSPS的ADC。

該轉(zhuǎn)換器在斷電模式下通常功耗低于2.9毫瓦，且可選擇采用128針、熱增強(qiáng)、多層陶瓷四邊形封裝，適用于軍用（-55°C ≤ T 一個(gè) ≤+125°C）溫度范圍。

特性

• 總電離劑量 300 krad（Si）
• 單事件鎖定120 MeV-cm ^2^ /毫克
• 單+1.9V±0.1V作
• 2倍采樣率的交錯(cuò)模式
• 多 ADC 同步能力
• 輸入全刻度范圍、偏移和時(shí)鐘相位調(diào)整的調(diào)整
• SDR或DDR輸出時(shí)鐘的選擇
• 1：1 或 1：2 可選輸出去多工
• 第二代DCLK輸出
• 占空比校正采樣時(shí)鐘
• 測試模式
• 用于擴(kuò)展控制的串行接口

主要規(guī)格

• 分辨率 8位
• 最大轉(zhuǎn)化率 1.5 GSPS（最?。?/li>
• 代碼錯(cuò)誤率 10-18（類型）
• ENOB 在 748 MHz 輸入 7.2 位（類型）
• DNL ±0.15 LSB（類型）
• 功耗
  • 工作電壓為1：2多工輸出2.0瓦（典型）
  • 斷電模式 2.9 mW（典型）

參數(shù)

方框圖

?1. 產(chǎn)品概述?

• ADC08D1520是一款8位雙通道低功耗高性能CMOS模數(shù)轉(zhuǎn)換器
• 支持雙1.5 GSPS或單3.0 GSPS采樣率
• 基于ADC08D1000平臺構(gòu)建，具有增強(qiáng)功能

?2. 關(guān)鍵特性?

• ?輻射耐受性?：
  • 總電離劑量：300 krad(Si)
  • 單粒子鎖定：120 MeV-cm2/mg
• ?工作模式?：
  • 交織模式實(shí)現(xiàn)2倍采樣率
  • 多ADC同步能力
  • 可選擇的SDR或DDR輸出時(shí)鐘
  • 1:1或1:2可選輸出解復(fù)用器
  • 第二DCLK輸出
  • 占空比校正采樣時(shí)鐘
  • 測試模式
  • 擴(kuò)展控制串行接口

?3. 電氣規(guī)格?

• 分辨率：8位
• 最大轉(zhuǎn)換率：1.5 GSPS（最小值）
• 碼錯(cuò)誤率：10?1?（典型值）
• 在748 MHz輸入時(shí)的ENOB：7.2位（典型值）
• DNL：±0.15 LSB（典型值）
• 功耗：
  • 1:2解復(fù)用輸出模式：2.0 W（典型值）
  • 掉電模式：2.9 mW（典型值）

?4. 應(yīng)用領(lǐng)域?

• 直接RF下變頻
• 數(shù)字示波器
• 通信系統(tǒng)
• 測試儀器

?5. 架構(gòu)特點(diǎn)?

• 采用折疊和插值架構(gòu)
• 全差分比較器設(shè)計(jì)
• 內(nèi)部采樣保持放大器創(chuàng)新設(shè)計(jì)
• 自校準(zhǔn)方案

?6. 封裝信息?

• 128引腳熱增強(qiáng)多層陶瓷四方封裝
• 工作溫度范圍：軍用級（-55°C ≤ TA ≤ +125°C）

?7. 控制模式?

• ?非擴(kuò)展控制模式?：通過控制引腳進(jìn)行基本配置
• ?擴(kuò)展控制模式?：通過串行接口訪問9個(gè)寄存器
• 支持串行接口編程

?8. 校準(zhǔn)功能?

• 必須由用戶啟動校準(zhǔn)程序
• 校準(zhǔn)周期時(shí)間：tCAL
• 校準(zhǔn)運(yùn)行指示：CalRun引腳

?9. 電源要求?

• 單電源供電：+1.9V ±0.1V
• 輸出驅(qū)動器電源：+1.8V至VA

?10. 熱管理?

• 封裝熱阻：θJA = 11.5°C/W
• 底部裸露焊盤必須焊接到接地平面

?11. 典型性能?

• 提供詳細(xì)的INL、DNL、ENOB、SNR、THD、SFDR等參數(shù)隨溫度、電源電壓和采樣率變化的特性曲線

?12. 輻射環(huán)境應(yīng)用?

• 針對輻射環(huán)境設(shè)計(jì)
• 滿足MIL-STD-883標(biāo)準(zhǔn)
• 提供特殊應(yīng)用建議和注意事項(xiàng)

?13. 測試與驗(yàn)證?

• 符合MIL-PRF-38535質(zhì)量規(guī)范
• 通過MIL-STD-883方法5005進(jìn)行質(zhì)量一致性檢查