隨著精密儀器制造與半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)的快速發(fā)展，對(duì)微小結(jié)構(gòu)表面形貌的高精度、高效率測(cè)量需求日益迫切。共聚焦顯微成像技術(shù)以其高分辨率、高信噪比和優(yōu)異的光學(xué)層切能力，在三維表面形貌測(cè)量中展現(xiàn)出重要價(jià)值。下文，光子灣科技將系統(tǒng)綜述共聚焦顯微成像在三維形貌測(cè)量中的技術(shù)，重點(diǎn)圍繞掃描方法、探測(cè)數(shù)據(jù)分析及光譜編碼技術(shù)三個(gè)方面展開。

共聚焦掃描方法

單點(diǎn)掃描共聚焦顯微鏡

共聚焦顯微鏡成像需通過掃描獲取全視場(chǎng)圖像，掃描方式是影響成像速度與系統(tǒng)架構(gòu)的關(guān)鍵。

1.單點(diǎn)掃描共聚焦

主要包括振鏡掃描與聲光偏轉(zhuǎn)掃描。振鏡掃描通過兩個(gè)正交振鏡控制光束偏轉(zhuǎn)，實(shí)現(xiàn)三維掃描，精度高、易控制，但頻率通常限于kHz級(jí)。采用諧振鏡作為快鏡可提升行掃描速度。聲光偏轉(zhuǎn)器無機(jī)械運(yùn)動(dòng)、響應(yīng)快（可達(dá)MHz），常與振鏡組合或用于線掃描系統(tǒng)，進(jìn)一步提升掃描速率。

2.并行掃描共聚焦

通過同時(shí)照明多個(gè)點(diǎn)提高成像速度。典型代表包括：

針孔盤掃描：采用Nipkow盤上螺旋排列的針孔陣列，旋轉(zhuǎn)實(shí)現(xiàn)照明掃描，使用面陣探測(cè)器接收。優(yōu)點(diǎn)是可實(shí)現(xiàn)實(shí)時(shí)成像，但光能利用率低（<1%），視場(chǎng)固定。通過附加微透鏡陣列可提升光通量與視場(chǎng)。

空間光調(diào)制器（SLM）掃描：利用液晶SLM或數(shù)字微鏡陣列（DMD）生成可編程針孔陣列，靈活性高。DMD具有高填充比、高切換頻率（22kHz），可通過優(yōu)化針孔布局平衡速度與分辨率。

3.線掃描共聚焦

線掃描共聚焦顯微鏡

使用狹縫代替點(diǎn)針孔，照明光在樣品上呈線狀，只需一維掃描即可完成二維成像，顯著提升幀率。雖在線方向上分辨率有所損失，但軸向?qū)忧心芰θ缘靡员３帧＝Y(jié)合暗場(chǎng)照明或聲光掃描，在晶圓缺陷檢測(cè)中表現(xiàn)出良好應(yīng)用前景。

基于探測(cè)數(shù)據(jù)分析的共聚焦方法

此類方法旨在通過信號(hào)處理獲取軸向信息，避免機(jī)械軸向掃描，提升測(cè)量速度。

1.差動(dòng)探測(cè)共聚焦

在焦平面前后對(duì)稱位置放置兩個(gè)探測(cè)針孔，通過兩探測(cè)器信號(hào)差值反映樣品軸向位移，實(shí)現(xiàn)納米級(jí)軸向定位精度。該方法已用于透鏡曲率、厚度等參數(shù)的高精度測(cè)量。后續(xù)發(fā)展出分光瞳差分、三探測(cè)器差分等變體，進(jìn)一步提升了軸向分辨率和范圍。

2.雙探測(cè)共聚焦

雙探測(cè)的共聚焦軸向定位方法

使用兩個(gè)不同尺寸的針孔同時(shí)探測(cè)，通過信號(hào)比值獲取軸向位置信息。該方法無需軸向掃描，數(shù)據(jù)處理簡單，適合快速輪廓測(cè)量。結(jié)合DMD并行掃描可大幅提升三維成像速度，環(huán)形光斑調(diào)制還能進(jìn)一步提高軸向分辨率。

基于照明光譜編碼的共聚焦方法

利用寬譜光源的色散特性，將高度信息編碼于光譜中，實(shí)現(xiàn)快速軸向定位。

1.橫向光譜編碼

通過光柵等色散元件將寬譜光色散為橫向彩色線斑，掃描方向垂直于色散方向。沿色散方向的位置與波長一一對(duì)應(yīng)，借助光譜解析可獲得一維橫向信息，實(shí)現(xiàn)無需快軸掃描的二維成像。

2.軸向光譜編碼（色散共聚焦）

使用色散物鏡或衍射元件使不同波長聚焦于不同軸向深度，樣品高度信息對(duì)應(yīng)探測(cè)信號(hào)的中心波長。該方法無需軸向掃描即可實(shí)現(xiàn)幾納米至幾百納米的軸向分辨率，測(cè)量范圍可達(dá)毫米級(jí)。與并行掃描或線掃描結(jié)合可進(jìn)一步提升整體三維成像速度。

共聚焦顯微技術(shù)憑借其高分辨率、高信噪比和優(yōu)秀層切能力，在三維表面形貌測(cè)量中具有顯著優(yōu)勢(shì)。當(dāng)前技術(shù)發(fā)展主要圍繞提升成像速度、增強(qiáng)軸向定位能力及系統(tǒng)集成化展開：掃描方式從單點(diǎn)向并行化、線掃描演進(jìn)；探測(cè)數(shù)據(jù)分析方法可在無需軸向機(jī)械掃描的條件下獲取高度信息；光譜編碼技術(shù)則通過波長維度編碼提升信息獲取效率。

光子灣3D共聚焦顯微鏡

光子灣3D共聚焦顯微鏡是一款用于對(duì)各種精密器件及材料表面，可應(yīng)對(duì)多樣化測(cè)量場(chǎng)景，能夠快速高效完成亞微米級(jí)形貌和表面粗糙度的精準(zhǔn)測(cè)量任務(wù)，提供值得信賴的高質(zhì)量數(shù)據(jù)。

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超寬視野范圍，高精細(xì)彩色圖像觀察

提供粗糙度、幾何輪廓、結(jié)構(gòu)、頻率、功能等五大分析技術(shù)

采用針孔共聚焦光學(xué)系統(tǒng)，高穩(wěn)定性結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)

提供調(diào)整位置、糾正、濾波、提取四大模塊的數(shù)據(jù)處理功能

光子灣共聚焦顯微鏡以原位觀察與三維成像能力，為精密測(cè)量提供表征技術(shù)支撐，助力從表面粗糙度與性能分析的精準(zhǔn)把控，成為推動(dòng)多領(lǐng)域技術(shù)升級(jí)的重要光學(xué)測(cè)量工具。

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