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航空級(jí)電機(jī)控制系統(tǒng)的抗輻照MCU功能安全設(shè)計(jì)與電磁兼容驗(yàn)證方法

安芯 ? 來源:jf_29981791 ? 2026-02-14 00:01 ? 次閱讀
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摘要 :航空級(jí)電機(jī)控制系統(tǒng)是飛機(jī)電傳操縱、燃油管理、環(huán)境控制及機(jī)載設(shè)備驅(qū)動(dòng)的關(guān)鍵組成部分,其可靠性與安全性直接關(guān)系到飛行安全。隨著多電飛機(jī)和全電飛機(jī)技術(shù)的發(fā)展,電機(jī)控制系統(tǒng)的復(fù)雜度和功率等級(jí)持續(xù)提升,對(duì)核心控制器的功能安全等級(jí)和電磁兼容性能提出了嚴(yán)苛要求。本文基于國科安芯AS32S601系列MCU的重離子單粒子試驗(yàn)、質(zhì)子單粒子效應(yīng)試驗(yàn)、總劑量效應(yīng)試驗(yàn)及脈沖激光單粒子效應(yīng)試驗(yàn)數(shù)據(jù),系統(tǒng)分析抗輻照MCU在航空級(jí)電機(jī)控制系統(tǒng)中的功能安全設(shè)計(jì)方法,深入探討ASIL-B功能安全等級(jí)要求下的硬件容錯(cuò)機(jī)制、軟件安全策略及系統(tǒng)架構(gòu)設(shè)計(jì),詳細(xì)闡述電磁兼容驗(yàn)證的試驗(yàn)方法、評(píng)估標(biāo)準(zhǔn)及與抗輻照設(shè)計(jì)的協(xié)同優(yōu)化,為航空級(jí)電機(jī)控制系統(tǒng)的可靠性設(shè)計(jì)提供技術(shù)參考。

一、引言

航空級(jí)電機(jī)控制系統(tǒng)是現(xiàn)代飛機(jī)的關(guān)鍵機(jī)電系統(tǒng),承擔(dān)飛行控制面驅(qū)動(dòng)、發(fā)動(dòng)機(jī)燃油調(diào)節(jié)、環(huán)控系統(tǒng)壓縮機(jī)驅(qū)動(dòng)、機(jī)載泵閥控制及起落架收放等重要功能。傳統(tǒng)飛機(jī)采用液壓、氣壓和機(jī)械系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)上述功能,存在系統(tǒng)復(fù)雜、維護(hù)困難、能量效率低等局限。多電飛機(jī)和全電飛機(jī)技術(shù)通過用電能替代傳統(tǒng)的液壓能和氣壓能,顯著提升了飛機(jī)的能量效率、可維護(hù)性和任務(wù)可靠性,是航空技術(shù)發(fā)展的重要方向。

多電飛機(jī)概念的提出源于二十世紀(jì)八十年代,美國空軍在F-22戰(zhàn)斗機(jī)上首次大規(guī)模采用電傳操縱和機(jī)電作動(dòng)器,驗(yàn)證了多電技術(shù)的可行性。此后,波音787、空客A380及A350等民用客機(jī)廣泛采用電驅(qū)動(dòng)系統(tǒng),多電技術(shù)進(jìn)入工程實(shí)用階段。全電飛機(jī)則更進(jìn)一步,完全取消液壓和氣壓系統(tǒng),所有二次能源均由電能提供,代表了未來航空技術(shù)的發(fā)展方向。電機(jī)控制系統(tǒng)作為多電/全電飛機(jī)的能量轉(zhuǎn)換和執(zhí)行終端,其性能直接決定系統(tǒng)的響應(yīng)速度、控制精度和可靠性。

航空級(jí)電機(jī)控制系統(tǒng)的應(yīng)用環(huán)境具有特殊性。大氣層內(nèi)飛行時(shí),控制系統(tǒng)暴露于宇宙射線與大氣核作用產(chǎn)生的次級(jí)粒子環(huán)境中,中子單粒子效應(yīng)成為主要可靠性威脅;電機(jī)功率開關(guān)的高速切換產(chǎn)生強(qiáng)烈的電磁干擾,對(duì)控制電路信號(hào)完整性構(gòu)成挑戰(zhàn);發(fā)動(dòng)機(jī)艙、起落架艙等安裝位置的溫度極端、振動(dòng)劇烈,對(duì)電子元器件的機(jī)械和熱可靠性提出嚴(yán)苛要求。這些環(huán)境因素相互耦合,增加了系統(tǒng)設(shè)計(jì)的復(fù)雜度。

抗輻照微控制器是電機(jī)控制系統(tǒng)的核心處理單元,承擔(dān)PWM信號(hào)生成、電流采樣、速度/位置控制、故障診斷及通信管理等功能。AS32S601系列MCU是基于32位RISC-V指令集的抗輻照微控制器,按照ASIL-B功能安全等級(jí)設(shè)計(jì),已通過系統(tǒng)的輻照效應(yīng)試驗(yàn)驗(yàn)證。本文基于該系列MCU的完整試驗(yàn)數(shù)據(jù),結(jié)合航空級(jí)電機(jī)控制系統(tǒng)的功能安全需求和電磁兼容要求,深入分析功能安全設(shè)計(jì)方法、電磁兼容驗(yàn)證技術(shù)及兩者的協(xié)同優(yōu)化策略。

二、航空級(jí)電機(jī)控制系統(tǒng)的技術(shù)架構(gòu)與功能安全需求

2.1 電機(jī)控制系統(tǒng)的功能組成與性能要求

航空級(jí)電機(jī)控制系統(tǒng)通常采用永磁同步電機(jī)或感應(yīng)電機(jī)作為執(zhí)行元件,配合電壓源型逆變器實(shí)現(xiàn)四象限運(yùn)行。系統(tǒng)的核心功能包括:電流環(huán)控制,通過采樣相電流實(shí)施矢量控制或直接轉(zhuǎn)矩控制,響應(yīng)時(shí)間通常<100μs;速度環(huán)控制,通過編碼器或旋轉(zhuǎn)變壓器反饋實(shí)施速度閉環(huán),帶寬通常>100Hz;位置環(huán)控制,用于伺服作動(dòng)器的精確定位,精度通常<0.1°;PWM信號(hào)生成,產(chǎn)生驅(qū)動(dòng)功率開關(guān)的脈寬調(diào)制信號(hào),載波頻率通常>10kHz以降低聲學(xué)噪聲;故障診斷與保護(hù),實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)過流、過壓、過熱、堵轉(zhuǎn)等故障并實(shí)施保護(hù)動(dòng)作;通信管理,與飛控計(jì)算機(jī)或航電系統(tǒng)交換指令和狀態(tài)信息。

上述功能對(duì)微控制器的性能指標(biāo)提出了嚴(yán)格要求。PWM分辨率需>12位以實(shí)現(xiàn)精細(xì)的電壓調(diào)節(jié),電流采樣需16位分辨率以覆蓋寬動(dòng)態(tài)范圍,控制算法需在<50μs內(nèi)完成以保障電流環(huán)帶寬,通信延遲需<1ms以滿足實(shí)時(shí)性要求。此外,系統(tǒng)需滿足DO-178C軟件適航標(biāo)準(zhǔn)和DO-254硬件適航標(biāo)準(zhǔn),開發(fā)過程需符合嚴(yán)格的構(gòu)型管理和驗(yàn)證要求。

2.2 功能安全等級(jí)要求與ASIL-B設(shè)計(jì)

功能安全是航空級(jí)系統(tǒng)的核心設(shè)計(jì)要求,旨在確保系統(tǒng)在故障情況下進(jìn)入安全狀態(tài),避免對(duì)人員、設(shè)備和環(huán)境造成危害。ISO 26262和ARP 4754A等標(biāo)準(zhǔn)定義了汽車航空領(lǐng)域的功能安全方法論,采用汽車安全完整性等級(jí)(ASIL)或開發(fā)保證等級(jí)(DAL)量化安全要求。ASIL-B等級(jí)要求中等嚴(yán)格度的安全設(shè)計(jì)和驗(yàn)證,適用于可能導(dǎo)致中等嚴(yán)重程度傷害的系統(tǒng)功能。

ASIL-B等級(jí)對(duì)硬件和軟件均有具體要求。硬件層面要求單點(diǎn)故障度量(SPFM)≥90%,潛伏故障度量(LFM)≥60%,診斷覆蓋率需通過安全機(jī)制實(shí)現(xiàn);軟件層面要求嚴(yán)格的開發(fā)流程,包括需求分析、架構(gòu)設(shè)計(jì)、詳細(xì)設(shè)計(jì)、編碼、測(cè)試和驗(yàn)證,代碼覆蓋率需達(dá)到特定目標(biāo);系統(tǒng)層面要求故障模式影響分析(FMEA)和故障樹分析(FTA),識(shí)別單點(diǎn)故障并實(shí)施緩解措施。

AS32S601按照ASIL-B功能安全等級(jí)設(shè)計(jì),集成了多項(xiàng)硬件安全機(jī)制:ECC保護(hù)的存儲(chǔ)器,檢測(cè)并糾正單粒子翻轉(zhuǎn)導(dǎo)致的比特錯(cuò)誤;獨(dú)立看門狗定時(shí)器,監(jiān)測(cè)程序執(zhí)行流并實(shí)施復(fù)位;時(shí)鐘監(jiān)控電路,檢測(cè)時(shí)鐘丟失、頻率偏差及毛刺;電源監(jiān)控電路,檢測(cè)欠壓、過壓及電源斜坡;溫度傳感器,監(jiān)測(cè)芯片結(jié)溫并實(shí)施過熱保護(hù)。這些機(jī)制為電機(jī)控制系統(tǒng)的功能安全設(shè)計(jì)提供了硬件基礎(chǔ)。

2.3 單粒子效應(yīng)對(duì)功能安全的影響

單粒子效應(yīng)是航空級(jí)電機(jī)控制系統(tǒng)面臨的主要可靠性威脅,可能破壞功能安全機(jī)制的完整性。單粒子翻轉(zhuǎn)可能改變PWM占空比寄存器的值,導(dǎo)致電機(jī)轉(zhuǎn)矩突變;可能改變故障閾值參數(shù),導(dǎo)致保護(hù)功能失效或誤動(dòng)作;可能改變程序計(jì)數(shù)器或堆棧指針,導(dǎo)致程序跑飛。單粒子鎖定可能導(dǎo)致微控制器功耗劇增、功能混亂,觸發(fā)系統(tǒng)級(jí)保護(hù)動(dòng)作。單粒子瞬態(tài)可能在電流采樣時(shí)刻引入噪聲,導(dǎo)致控制決策錯(cuò)誤。

功能安全設(shè)計(jì)需考慮單粒子效應(yīng)對(duì)安全機(jī)制本身的威脅。ECC電路若發(fā)生故障,可能無法正確檢測(cè)或糾正錯(cuò)誤;看門狗定時(shí)器若被單粒子翻轉(zhuǎn)禁用,可能喪失程序監(jiān)控能力。因此,安全機(jī)制需具備自檢或互檢能力,或采用多重冗余設(shè)計(jì),確保單粒子效應(yīng)不會(huì)同時(shí)破壞主功能和保護(hù)功能。

三、AS32S601系列MCU的技術(shù)特征與輻照試驗(yàn)數(shù)據(jù)

3.1 RISC-V架構(gòu)與功能資源配置

AS32S601系列MCU采用32位RISC-V指令集架構(gòu),該開源架構(gòu)為航空級(jí)電機(jī)控制應(yīng)用提供了靈活的技術(shù)基礎(chǔ)。處理器核心最高工作頻率達(dá)180MHz,支持單周期乘法和硬件除法,為實(shí)時(shí)控制算法提供充足性能。存儲(chǔ)器子系統(tǒng)包括512KiB帶ECC的SRAM、512KiB帶ECC的數(shù)據(jù)Flash及2MiB帶ECC的程序Flash,滿足復(fù)雜控制算法、多組電機(jī)參數(shù)及故障記錄數(shù)據(jù)的存儲(chǔ)需求。

模擬外設(shè)配置針對(duì)電機(jī)控制優(yōu)化:三個(gè)12位ADC支持48通道輸入,采樣速率滿足電流環(huán)控制需求;兩個(gè)模擬比較器可實(shí)現(xiàn)快速的過流保護(hù)和硬件關(guān)斷;兩個(gè)8位DAC適用于輔助控制信號(hào)生成。通信接口包括六路SPI、四路CAN-FD、四路USART及兩路IIC,支持與編碼器、旋轉(zhuǎn)變壓器、功率驅(qū)動(dòng)模塊及航電總線的互聯(lián)。

3.2 輻照效應(yīng)試驗(yàn)數(shù)據(jù)

重離子單粒子試驗(yàn)在國家空間科學(xué)中心完成,采用Kr離子(LET=37.9MeV·cm2/mg,注量1×10?ion/cm2),12V電源電流穩(wěn)定于78mA,未發(fā)生單粒子鎖定,SEL閾值>37.9MeV·cm2/mg。質(zhì)子單粒子效應(yīng)試驗(yàn)采用100MeV質(zhì)子(注量1×101?p/cm2),器件功能正常,未出現(xiàn)單粒子效應(yīng)??倓┝啃?yīng)試驗(yàn)采用鈷60源(150krad(Si)),工作電流穩(wěn)定,性能合格。脈沖激光試驗(yàn)覆蓋等效LET值5至75MeV·cm2·mg?1,在1585pJ(LET≈75MeV·cm2·mg?1)時(shí)監(jiān)測(cè)到CPU復(fù)位型單粒子翻轉(zhuǎn)。

上述數(shù)據(jù)表明AS32S601具備良好的抗輻照性能,為航空級(jí)電機(jī)控制系統(tǒng)的功能安全設(shè)計(jì)提供了可靠性基礎(chǔ)。

四、功能安全設(shè)計(jì)方法與實(shí)現(xiàn)策略

4.1 硬件層面的容錯(cuò)設(shè)計(jì)

硬件容錯(cuò)設(shè)計(jì)通過物理冗余和監(jiān)控機(jī)制抑制單粒子效應(yīng)的影響。PWM生成通道采用雙緩沖結(jié)構(gòu),更新時(shí)先寫入緩沖寄存器,在PWM周期邊界同步切換,避免單粒子翻轉(zhuǎn)導(dǎo)致的瞬時(shí)占空比跳變;關(guān)鍵比較器閾值采用三模冗余存儲(chǔ),配合ECC實(shí)現(xiàn)錯(cuò)誤糾正;ADC采樣結(jié)果通過硬件CRC校驗(yàn),檢測(cè)傳輸過程中的單粒子瞬態(tài)干擾。

功率級(jí)驅(qū)動(dòng)信號(hào)實(shí)施互鎖保護(hù),防止單粒子翻轉(zhuǎn)導(dǎo)致的上下橋臂直通;故障關(guān)斷路徑采用硬件優(yōu)先設(shè)計(jì),任何故障檢測(cè)直接觸發(fā)硬件關(guān)斷,不依賴軟件響應(yīng);看門狗定時(shí)器采用獨(dú)立時(shí)鐘源,防止主時(shí)鐘故障導(dǎo)致的監(jiān)控失效。

4.2 軟件層面的安全策略

軟件安全策略通過程序結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)和算法容錯(cuò)保障功能安全。控制算法采用狀態(tài)機(jī)架構(gòu),狀態(tài)轉(zhuǎn)移條件多重校驗(yàn),防止非法狀態(tài)進(jìn)入;關(guān)鍵計(jì)算實(shí)施結(jié)果范圍檢查,超出物理合理范圍的結(jié)果被拒絕使用;PWM更新采用"準(zhǔn)備-校驗(yàn)-生效"流程,校驗(yàn)失敗時(shí)保持上一周期輸出。

故障診斷算法融合多源信息,避免單一傳感器的單粒子錯(cuò)誤導(dǎo)致誤診斷;故障記錄采用環(huán)形緩沖和校驗(yàn)和保護(hù),確保故障信息的完整性和可追溯性;軟件實(shí)施周期性自檢,驗(yàn)證安全機(jī)制的有效性,自檢失敗時(shí)進(jìn)入安全狀態(tài)。

4.3 系統(tǒng)層面的架構(gòu)設(shè)計(jì)

系統(tǒng)架構(gòu)設(shè)計(jì)通過功能分配和冗余策略實(shí)現(xiàn)故障容錯(cuò)。關(guān)鍵控制功能分配至AS32S601的硬件模塊(如PWM發(fā)生器、比較器),減少軟件干預(yù);非關(guān)鍵功能(如通信協(xié)議處理)由軟件實(shí)現(xiàn),故障時(shí)優(yōu)先保障控制功能。

雙通道冗余架構(gòu)適用于高安全等級(jí)應(yīng)用,主備通道獨(dú)立運(yùn)行,輸出交叉校驗(yàn),不一致時(shí)切換至安全模式;通道間通過高速同步鏈路交換狀態(tài),確保切換的連續(xù)性。系統(tǒng)級(jí)FMEA識(shí)別所有單點(diǎn)故障并實(shí)施緩解,F(xiàn)TA驗(yàn)證頂層安全目標(biāo)的達(dá)成。

五、電磁兼容驗(yàn)證方法與抗輻照協(xié)同設(shè)計(jì)

5.1 電磁兼容試驗(yàn)方法

航空級(jí)電機(jī)控制系統(tǒng)的電磁兼容驗(yàn)證遵循DO-160標(biāo)準(zhǔn),包括傳導(dǎo)發(fā)射、輻射發(fā)射、傳導(dǎo)敏感度和輻射敏感度等測(cè)試項(xiàng)目。傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)試評(píng)估系統(tǒng)通過電源線和信號(hào)線向外部傳導(dǎo)的電磁干擾,頻率范圍通常10kHz至152MHz;輻射發(fā)射測(cè)試評(píng)估系統(tǒng)通過空間輻射的電磁干擾,頻率范圍100MHz至6GHz。

傳導(dǎo)敏感度測(cè)試評(píng)估系統(tǒng)對(duì)電源線和信號(hào)線上注入干擾的抵抗能力,包括音頻頻率傳導(dǎo)敏感度、射頻傳導(dǎo)敏感度及電快速瞬變脈沖群等;輻射敏感度測(cè)試評(píng)估系統(tǒng)對(duì)空間電磁場(chǎng)的抵抗能力,包括射頻電磁場(chǎng)輻射敏感度及雷電感應(yīng)瞬態(tài)敏感度等。電機(jī)控制系統(tǒng)的功率開關(guān)高速切換產(chǎn)生的高dv/dt和di/dt是主要干擾源,需通過濾波、屏蔽及布局優(yōu)化抑制。

5.2 電磁兼容與抗輻照協(xié)同設(shè)計(jì)

電磁兼容設(shè)計(jì)與抗輻照設(shè)計(jì)存在協(xié)同優(yōu)化空間。屏蔽措施同時(shí)抑制電磁干擾和單粒子效應(yīng):金屬屏蔽殼體阻擋空間電磁輻射,同時(shí)衰減大氣中子通量;濾波電路抑制高頻噪聲,同時(shí)濾除單粒子瞬態(tài)引入的尖峰。PCB布局優(yōu)化同時(shí)改善信號(hào)完整性和抗輻照性能:關(guān)鍵信號(hào)線短而直,減少天線效應(yīng)和串?dāng)_,同時(shí)降低單粒子瞬態(tài)的耦合;電源和地層完整連續(xù),提供低阻抗回路,同時(shí)增強(qiáng)電荷泄放能力。

功率驅(qū)動(dòng)電路的緩沖設(shè)計(jì)同時(shí)抑制過沖和單粒子鎖定:柵極電阻限制開關(guān)速度,抑制電壓過沖,同時(shí)限制單粒子觸發(fā)的電流上升率;驅(qū)動(dòng)電源的退耦電容濾除高頻噪聲,同時(shí)提供單粒子鎖定保護(hù)所需的電荷泄放路徑。軟件濾波算法同時(shí)抑制電磁干擾和單粒子噪聲:數(shù)字低通濾波抑制高頻干擾,同時(shí)平滑單粒子瞬態(tài)引入的異常采樣值。

六、結(jié)論

本文基于AS32S601系列MCU的輻照試驗(yàn)數(shù)據(jù),分析了航空級(jí)電機(jī)控制系統(tǒng)的功能安全設(shè)計(jì)和電磁兼容驗(yàn)證方法。AS32S601的ASIL-B功能安全等級(jí)設(shè)計(jì)、全面ECC保護(hù)及高抗輻照性能,為電機(jī)控制系統(tǒng)提供了可靠的硬件平臺(tái)。功能安全設(shè)計(jì)需從硬件容錯(cuò)、軟件安全及系統(tǒng)架構(gòu)多層面實(shí)施,電磁兼容設(shè)計(jì)與抗輻照設(shè)計(jì)存在協(xié)同優(yōu)化空間。隨著多電飛機(jī)技術(shù)的發(fā)展,抗輻照MCU與功率電子、傳感器及通信技術(shù)的深度集成,將支撐新一代航空電機(jī)控制系統(tǒng)的高可靠發(fā)展。

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    輻照MCU在核電站交換機(jī)中的可靠性驗(yàn)證方法研究

    摘要 :隨著核電站數(shù)字化儀控系統(tǒng)(DCS)向著智能化、網(wǎng)絡(luò)化方向的深度演進(jìn),輻照控制器單元(MCU)已成為核島內(nèi)
    的頭像 發(fā)表于 01-22 23:50 ?170次閱讀
    <b class='flag-5'>抗</b><b class='flag-5'>輻照</b><b class='flag-5'>MCU</b>在核電站交換機(jī)中的可靠性<b class='flag-5'>驗(yàn)證</b><b class='flag-5'>方法</b>研究

    EMC電磁兼容測(cè)試系統(tǒng):如何實(shí)現(xiàn)生命安全級(jí)的防護(hù)

    深圳南柯電子|EMC電磁兼容測(cè)試系統(tǒng):如何實(shí)現(xiàn)生命安全級(jí)的防護(hù)
    的頭像 發(fā)表于 01-21 09:43 ?240次閱讀

    光電傳感器領(lǐng)域國產(chǎn)MCU芯片輻照技術(shù)考量

    摘要: 隨著光電傳感器在航空航天、特種工業(yè)和核設(shè)施等領(lǐng)域應(yīng)用的日益廣泛,對(duì)配套MCU芯片的輻照性能提出了更高要求。本文系統(tǒng)梳理了國產(chǎn)
    的頭像 發(fā)表于 10-30 23:50 ?650次閱讀

    輻照MCU芯片在低軌商業(yè)衛(wèi)星原子鐘中的適配與優(yōu)化

    精度和時(shí)間同步的可靠性。然而,低軌衛(wèi)星運(yùn)行環(huán)境復(fù)雜,受到高能粒子輻射的影響,這對(duì)原子鐘控制系統(tǒng)輻照性能提出了嚴(yán)峻挑戰(zhàn)。MCU(微控制器)
    的頭像 發(fā)表于 10-10 18:48 ?719次閱讀

    電磁兼容電磁干擾在電磁兼容性大數(shù)據(jù)分析中的智能管理平臺(tái)

    電磁兼容電磁干擾在電磁兼容性大數(shù)據(jù)分析中的智能管理系統(tǒng)
    的頭像 發(fā)表于 09-17 14:58 ?569次閱讀
    <b class='flag-5'>電磁兼容</b>與<b class='flag-5'>電磁</b>干擾在<b class='flag-5'>電磁兼容</b>性大數(shù)據(jù)分析中的智能管理平臺(tái)

    電磁兼容電磁干擾在電磁兼容性大數(shù)據(jù)分析中的智能管理系統(tǒng)

    電磁兼容電磁干擾在電磁兼容性大數(shù)據(jù)分析中的智能管理系統(tǒng)
    的頭像 發(fā)表于 09-17 14:42 ?854次閱讀
    <b class='flag-5'>電磁兼容</b>與<b class='flag-5'>電磁</b>干擾在<b class='flag-5'>電磁兼容</b>性大數(shù)據(jù)分析中的智能管理<b class='flag-5'>系統(tǒng)</b>

    七大無人機(jī)電磁兼容測(cè)試平臺(tái)系統(tǒng):如何護(hù)航飛行安全

    七大無人機(jī)電磁兼容測(cè)試平臺(tái)系統(tǒng):如何護(hù)航飛行安全
    的頭像 發(fā)表于 09-12 14:49 ?686次閱讀
    七大無人機(jī)<b class='flag-5'>電磁兼容</b>測(cè)試平臺(tái)<b class='flag-5'>系統(tǒng)</b>:如何護(hù)航飛行<b class='flag-5'>安全</b>

    電磁兼容技術(shù)案例分享】磁環(huán)電感量的理論計(jì)算與仿真驗(yàn)證分析

    電磁兼容技術(shù)案例分享】磁環(huán)電感量的理論計(jì)算與仿真驗(yàn)證分析
    的頭像 發(fā)表于 07-15 16:25 ?736次閱讀
    【<b class='flag-5'>電磁兼容</b>技術(shù)案例分享】磁環(huán)電感量的理論計(jì)算與仿真<b class='flag-5'>驗(yàn)證</b>分析

    輻照MCU在衛(wèi)星載荷電機(jī)控制器中的實(shí)踐探索

    摘要 在航天領(lǐng)域,衛(wèi)星系統(tǒng)的可靠運(yùn)行對(duì)電子元件的輻照性能提出了嚴(yán)苛要求。微控制單元(MCU)作為衛(wèi)星載荷
    的頭像 發(fā)表于 06-07 12:27 ?858次閱讀

    電磁兼容與信息安全測(cè)試系統(tǒng)平臺(tái)軟件

    電磁兼容與信息安全測(cè)試系統(tǒng)平臺(tái)軟件
    的頭像 發(fā)表于 05-06 14:50 ?716次閱讀
    <b class='flag-5'>電磁兼容</b>與信息<b class='flag-5'>安全</b>測(cè)試<b class='flag-5'>系統(tǒng)</b>平臺(tái)軟件

    電磁兼容與信息安全測(cè)試系統(tǒng)軟件

    電磁兼容與信息安全測(cè)試系統(tǒng)軟件
    的頭像 發(fā)表于 04-28 22:58 ?679次閱讀
    <b class='flag-5'>電磁兼容</b>與信息<b class='flag-5'>安全</b>測(cè)試<b class='flag-5'>系統(tǒng)</b>軟件

    電磁兼容技術(shù)案例分享】某工業(yè)控制器產(chǎn)品振鈴波擾度整改案例

    電磁兼容技術(shù)案例分享】某工業(yè)控制器產(chǎn)品振鈴波擾度整改案例
    的頭像 發(fā)表于 03-05 18:04 ?1077次閱讀
    【<b class='flag-5'>電磁兼容</b>技術(shù)案例分享】某工業(yè)<b class='flag-5'>控制</b>器產(chǎn)品振鈴波<b class='flag-5'>抗</b>擾度整改案例