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閃德半導(dǎo)體推出RDT200高溫老化測(cè)試設(shè)備

閃德半導(dǎo)體 ? 來(lái)源:閃德半導(dǎo)體 ? 2026-03-17 13:43 ? 次閱讀
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隨著 SSD 與存儲(chǔ)產(chǎn)品性能不斷提升,高溫老化測(cè)試在研發(fā)與生產(chǎn)中的重要性日益凸顯。為了確保產(chǎn)品在極端環(huán)境下的可靠性和穩(wěn)定性,閃德推出了 RDT200 高溫老化測(cè)試設(shè)備。 RDT200 高溫老化測(cè)試設(shè)備采用可拆卸箱體設(shè)計(jì),不僅操作便捷,而且可高效完成老化測(cè)試,成為研發(fā)驗(yàn)證與量產(chǎn)品質(zhì)保障環(huán)節(jié)的關(guān)鍵工具。

雙柜體高溫SSD RDT老化測(cè)試設(shè)備RDT200

設(shè)備定位:為消費(fèi)級(jí)與企業(yè)級(jí)存儲(chǔ)產(chǎn)品提供可靠性保障的關(guān)鍵測(cè)試設(shè)備,核心價(jià)值在于提升產(chǎn)品可靠性、降低生產(chǎn)風(fēng)險(xiǎn)、加速產(chǎn)品上市。

設(shè)備特點(diǎn)

設(shè)備箱體可拆卸,方便進(jìn)入各類測(cè)試場(chǎng)所;此設(shè)備可用于SSD固態(tài)硬盤批量性進(jìn)行高溫RDT老化測(cè)試,左右獨(dú)立柜體,配置360W獨(dú)立開關(guān)電源,12V轉(zhuǎn)5V測(cè)試板卡,單柜可測(cè)300PCS,整機(jī)可測(cè)600PCS產(chǎn)品,提升設(shè)備使用率,測(cè)試數(shù)量支持定制。

技術(shù)規(guī)格

1、根據(jù)不同的要求配置本體系統(tǒng)、主電系統(tǒng)、控制系統(tǒng)、加熱系統(tǒng)、溫度控制系統(tǒng)、進(jìn)排風(fēng)系統(tǒng)、恒溫系統(tǒng)、時(shí)間控制系統(tǒng)、測(cè)試負(fù)載等,通過(guò)此測(cè)試程序可檢查出不良品或不良件。

2、加熱系統(tǒng):全獨(dú)立系統(tǒng),鎳鉻合金電加熱式加熱器;

3、循環(huán)系統(tǒng):耐高溫低噪音電機(jī),多葉式離心風(fēng)輪,運(yùn)行低噪音,讓您安心工作;

4、控制系統(tǒng):采用進(jìn)口高級(jí)溫度控制儀表,可設(shè)定多種參數(shù),數(shù)字式顯示,讀數(shù)極為方便;

5、安全保護(hù):設(shè)有漏電、短路、超溫、電機(jī)過(guò)熱、過(guò)電流保護(hù);

6、采用雙柜體方式,提升設(shè)備使用率,外觀美觀大方,提升公司形象。

應(yīng)用場(chǎng)景

此設(shè)備可用于SSD研發(fā)實(shí)驗(yàn)室、生產(chǎn)前品質(zhì)驗(yàn)證及生產(chǎn)線抽檢環(huán)節(jié),完成SSD老化和性能測(cè)試,篩選出不良品。

設(shè)備詳細(xì)參數(shù)

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原文標(biāo)題:【上新】雙柜體高溫SSD RDT老化測(cè)試設(shè)備

文章出處:【微信號(hào):閃德半導(dǎo)體,微信公眾號(hào):閃德半導(dǎo)體】歡迎添加關(guān)注!文章轉(zhuǎn)載請(qǐng)注明出處。

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