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安森美650V碳化硅MOSFET NTHL075N065SC1:性能與應(yīng)用剖析

lhl545545 ? 2026-05-07 17:10 ? 次閱讀
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安森美650V碳化硅MOSFET NTHL075N065SC1:性能與應(yīng)用剖析

在功率半導(dǎo)體領(lǐng)域,碳化硅(SiC)MOSFET憑借其卓越的性能逐漸成為工程師們的首選。今天,我們就來(lái)深入探討安森美(onsemi)推出的一款650V碳化硅MOSFET——NTHL075N065SC1。

文件下載:NTHL075N065SC1-D.PDF

產(chǎn)品特性亮點(diǎn)

低導(dǎo)通電阻

該MOSFET在不同柵源電壓下具有低導(dǎo)通電阻特性。典型情況下,當(dāng)(V{GS}=18V)時(shí),(R{DS(on)} = 57mΩ);當(dāng)(V{GS}=15V)時(shí),(R{DS(on)} = 75mΩ)。低導(dǎo)通電阻意味著在導(dǎo)通狀態(tài)下,器件的功率損耗更低,能夠有效提高系統(tǒng)效率。這對(duì)于追求高效能的電源應(yīng)用來(lái)說(shuō)至關(guān)重要,例如開(kāi)關(guān)模式電源(SMPS)和太陽(yáng)能逆變器等。

低門(mén)極電荷和輸出電容

具有超低的門(mén)極電荷(Q{G(tot)} = 61nC)和低輸出電容(C{oss} = 107pF)。低門(mén)極電荷使得器件在開(kāi)關(guān)過(guò)程中所需的驅(qū)動(dòng)能量減少,從而降低驅(qū)動(dòng)損耗,提高開(kāi)關(guān)速度。低輸出電容則有助于減少開(kāi)關(guān)過(guò)程中的能量損耗,進(jìn)一步提升系統(tǒng)效率。

雪崩測(cè)試與高溫性能

經(jīng)過(guò)100%雪崩測(cè)試,表明該器件具有良好的抗雪崩能力,能夠在異常情況下保證可靠性。同時(shí),其結(jié)溫(T_{J})可達(dá)(175^{circ}C),這使得它能夠在高溫環(huán)境下穩(wěn)定工作,拓寬了其應(yīng)用范圍。

環(huán)保特性

該器件為無(wú)鹵產(chǎn)品,并且符合RoHS標(biāo)準(zhǔn)(豁免7a),在二級(jí)互連處為無(wú)鉛(Pb - Free 2LI),符合環(huán)保要求。

典型應(yīng)用場(chǎng)景

  • 開(kāi)關(guān)模式電源(SMPS):低導(dǎo)通電阻和快速開(kāi)關(guān)特性使得NTHL075N065SC1能夠有效提高電源的轉(zhuǎn)換效率,減少功率損耗,適用于各種SMPS設(shè)計(jì)。
  • 太陽(yáng)能逆變器:在太陽(yáng)能發(fā)電系統(tǒng)中,需要高效的功率轉(zhuǎn)換器件。該MOSFET的高性能特性能夠滿(mǎn)足太陽(yáng)能逆變器對(duì)效率和可靠性的要求,提高太陽(yáng)能發(fā)電系統(tǒng)的整體性能。
  • 不間斷電源(UPS):在UPS系統(tǒng)中,需要快速響應(yīng)和高效的功率轉(zhuǎn)換。NTHL075N065SC1的快速開(kāi)關(guān)速度和低損耗特性能夠確保UPS系統(tǒng)在市電中斷時(shí)快速切換,為負(fù)載提供穩(wěn)定的電源。
  • 能量存儲(chǔ)系統(tǒng):在能量存儲(chǔ)系統(tǒng)中,需要高效的充放電控制。該MOSFET能夠?qū)崿F(xiàn)高效的功率轉(zhuǎn)換,提高能量存儲(chǔ)系統(tǒng)的效率和可靠性。

關(guān)鍵參數(shù)解讀

最大額定值

參數(shù) 符號(hào) 條件 單位
漏源電壓 (V_{DSS}) - 650 V
柵源電壓 (V_{GS}) - -8/+22 V
推薦柵源電壓 (V_{GSop}) (T_{C} < 175^{circ}C) -5/+18 V
連續(xù)漏極電流((T_{C}=25^{circ}C)) (I_{D}) 穩(wěn)態(tài) 38 A
功率耗散((T_{C}=25^{circ}C)) (P_{D}) - 148 W
連續(xù)漏極電流((T_{C}=100^{circ}C)) (I_{D}) 穩(wěn)態(tài) 26 A
功率耗散((T_{C}=100^{circ}C)) (P_{D}) - 74 W
脈沖漏極電流((T_{C}=25^{circ}C)) (I_{DM}) - 120 A
工作結(jié)溫和存儲(chǔ)溫度范圍 (T{J}, T{stg}) - -55 to +175 (^{circ}C)
源極電流(體二極管 (I_{S}) - 38 A
單脈沖漏源雪崩能量 (E_{AS}) (I_{L(pk)} = 12.9A, L = 1mH) 83 mJ
焊接最大引腳溫度 (T_{L}) 距外殼1/8英寸,5s 260 (^{circ}C)

電氣特性

關(guān)斷特性

  • 漏源擊穿電壓:(V{(BR)DSS})在(V{GS}=0V),(I{D}=1mA)時(shí)為650V,且其溫度系數(shù)(V{(BR)DSS}/T_{J})為 - 0.15V/°C。
  • 零柵壓漏極電流:(I{DSS})在(V{GS}=0V),(T{J}=25^{circ}C),(V{DS}=650V)時(shí)為10μA;在(T_{J}=175^{circ}C)時(shí)為1mA。
  • 柵源泄漏電流:(I{GSS})在(V{GS}= + 18/ - 5V),(V_{DS}=0V)時(shí)為250nA。

導(dǎo)通特性

  • 柵極閾值電壓:(V{GS(TH)})在(V{GS}=V{DS}),(I{D}=5mA)時(shí),最小值為1.8V,典型值為2.8V,最大值為4.3V。
  • 推薦柵極電壓:(V_{GOP})范圍為 - 5V到 + 18V。
  • 漏源導(dǎo)通電阻:在不同條件下有不同值,如(V{GS}=15V),(I{D}=15A),(T{J}=25^{circ}C)時(shí),典型值為75mΩ;(V{GS}=18V),(I{D}=15A),(T{J}=25^{circ}C)時(shí),典型值為57mΩ,最大值為85mΩ;(V{GS}=18V),(I{D}=15A),(T_{J}=175^{circ}C)時(shí),典型值為68mΩ。
  • 正向跨導(dǎo):(g{fs})在(V{DS}=10V),(I_{D}=15A)時(shí),典型值為9S。

電荷、電容與柵極電阻

  • 輸入電容:(C{iss})在(V{GS}=0V),(f = 1MHz),(V_{DS}=325V)時(shí)為1196pF。
  • 輸出電容:(C_{oss})為107pF。
  • 反向傳輸電容:(C_{RSS})為9pF。
  • 總柵極電荷:(Q{G(TOT)})在(V{GS}= - 5/18V),(V{DS}=520V),(I{D}=15A)時(shí)為61nC。
  • 柵源電荷:(Q_{GS})為19nC。
  • 柵漏電荷:(Q_{GD})為18nC。
  • 柵極電阻:(R_{G})在(f = 1MHz)時(shí)為5.8Ω。

開(kāi)關(guān)特性

  • 導(dǎo)通延遲時(shí)間:(t_{d(ON)})為10ns。
  • 上升時(shí)間:(t_{r})為12ns。
  • 關(guān)斷延遲時(shí)間:(t_{d(OFF)})為20ns。
  • 下降時(shí)間:(t_{f})為7ns。
  • 導(dǎo)通開(kāi)關(guān)損耗:(E_{ON})為38μJ。
  • 關(guān)斷開(kāi)關(guān)損耗:(E_{OFF})為16μJ。
  • 總開(kāi)關(guān)損耗:(E_{tot})為54μJ。

漏源二極管特性

  • 連續(xù)漏源二極管正向電流:(I{SD})在(V{GS}= - 5V),(T_{J}=25^{circ}C)時(shí)最大值為38A。
  • 脈沖漏源二極管正向電流:(I_{SDM})最大值為120A。
  • 正向二極管電壓:(V{SD})在(V{GS}= - 5V),(I{SD}=15A),(T{J}=25^{circ}C)時(shí)典型值為4.4V。
  • 反向恢復(fù)時(shí)間:(t_{RR})為18ns。
  • 反向恢復(fù)電荷:(Q_{RR})為85nC。
  • 反向恢復(fù)能量:(E_{REC})為10.6μJ。
  • 峰值反向恢復(fù)電流:(I_{RRM})為10A。
  • 充電時(shí)間:(T_{a})為10ns。
  • 放電時(shí)間:(T_)為8ns。

封裝與訂購(gòu)信息

該器件采用TO - 247 - 3LD封裝,每管裝30個(gè)。封裝尺寸在文檔中有詳細(xì)說(shuō)明,在進(jìn)行PCB設(shè)計(jì)時(shí)需要參考這些尺寸,確保器件的正確安裝和布局。

總結(jié)

安森美NTHL075N065SC1碳化硅MOSFET憑借其低導(dǎo)通電阻、低門(mén)極電荷、低輸出電容、良好的雪崩特性和高溫性能等優(yōu)勢(shì),在功率轉(zhuǎn)換領(lǐng)域具有廣闊的應(yīng)用前景。電子工程師在設(shè)計(jì)開(kāi)關(guān)模式電源、太陽(yáng)能逆變器、UPS和能量存儲(chǔ)系統(tǒng)等應(yīng)用時(shí),可以考慮使用該器件來(lái)提高系統(tǒng)的效率和可靠性。但在實(shí)際應(yīng)用中,還需要根據(jù)具體的設(shè)計(jì)要求和工作條件,對(duì)器件的參數(shù)進(jìn)行詳細(xì)的評(píng)估和驗(yàn)證。你在使用類(lèi)似的碳化硅MOSFET時(shí),遇到過(guò)哪些挑戰(zhàn)呢?歡迎在評(píng)論區(qū)分享你的經(jīng)驗(yàn)。

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