動態(tài)

• 發(fā)布了文章 2025-11-27 14:15

  PCB紅墨水試驗的三大作用

  

  在電子制造領(lǐng)域，PCB的質(zhì)量直接影響到電子設(shè)備的性能與可靠性。紅墨水試驗，又叫染色試驗，是一種常用的電子組裝焊接質(zhì)量的分析手段，可以考察電子零件的焊接工藝是否存在虛焊，假焊，裂縫等瑕疵。因為是破壞性實驗，一般僅運用在已經(jīng)無法經(jīng)由其它非破壞性方法檢查出問題的電路板上面。染色試驗?zāi)軌蛘鎸崱⒖煽康亟o出焊點裂縫的三維分布情況，便于SMT工藝制造者和失效分析工程師了解

  pcb PCB 焊接

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• 發(fā)布了文章 2025-11-27 14:14

  車規(guī)級與消費級芯片的差異與影響

  

  車規(guī)級芯片與消費級芯片在設(shè)計目標、應(yīng)用場景及性能要求上存在顯著差異，其核心區(qū)別源于各自服務(wù)的產(chǎn)品屬性——汽車領(lǐng)域強調(diào)安全性、可靠性與長生命周期，而消費電子則更注重性價比與短期性能迭代。引言隨著汽車電子化與智能化的快速發(fā)展，車規(guī)級芯片作為汽車電子系統(tǒng)的核心部件，其重要性日益凸顯。盡管消費級芯片在性能與成本方面具備一定優(yōu)勢，卻難以滿足汽車行業(yè)對安全性、可靠性及長

  芯片 車規(guī)級芯片

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• 發(fā)布了文章 2025-11-26 17:13

  背散射衍射技術(shù)（EBSD）的應(yīng)用領(lǐng)域

  

  電子背散射衍射技術(shù)（EBSD）在材料科學(xué)的研究中，對材料的顯微結(jié)構(gòu)和晶體學(xué)特性的深入理解是至關(guān)重要的。電子背散射衍射技術(shù)（EBSD）作為一種強大的顯微分析工具，它允許科學(xué)家們在原子尺度上研究材料的晶體取向、晶粒大小、晶界特性以及織構(gòu)等。本文將詳細介紹EBSD技術(shù)的工作原理、樣品制備過程以及其在材料科學(xué)中的應(yīng)用。EBSD技術(shù)的工作原理EBSD是一種掃描電子顯微

  顯微鏡 材料

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• 發(fā)布了文章 2025-11-26 17:08

  LED導(dǎo)電銀膠來料檢驗

  

  導(dǎo)電銀膠是由銀粉填充入基體樹脂形成的具有導(dǎo)熱、導(dǎo)電及粘結(jié)性能的復(fù)合材料?；w樹脂固化后作為導(dǎo)電膠的分子骨架，決定了導(dǎo)電銀膠的力學(xué)性能和粘接性能。銀粉在基體樹脂中形成連結(jié)網(wǎng)絡(luò)從而導(dǎo)電、導(dǎo)熱，但同時也會受到基體樹脂的影響。因此，各組分材料的選擇和添加量的確定對導(dǎo)電銀膠的性能影響重大。導(dǎo)電銀膠物理、化學(xué)特性和固晶工藝都對銀膠的粘接、散熱效果發(fā)揮著重要的作用，銀膠的

  led 導(dǎo)電

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• 發(fā)布了文章 2025-11-26 17:06

  如何用FIB技術(shù)定位納米級缺陷？關(guān)鍵操作與案例解析

  

  FIB技術(shù)以其獨特的納米級加工能力，在半導(dǎo)體芯片、材料科學(xué)等領(lǐng)域展現(xiàn)出精準切割、成像和分析的強大功能。樣品制備樣品制備是FIB測試的首要環(huán)節(jié)，其質(zhì)量直接影響最終測試結(jié)果的準確性。對于不同類型的樣品，制備要求也各不相同。1.塊狀樣品的尺寸控制一般而言，樣品最大尺寸不應(yīng)超過2cm，高度需控制在3mm以內(nèi)。這種尺寸要求相當于將日常物體精確縮小到適合觀察的尺度。過大

  fib 測試 納米級

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• 發(fā)布了文章 2025-11-25 17:14

  氬離子拋光制樣經(jīng)驗分享

  

  氬離子拋光技術(shù)通過電場加速產(chǎn)生的高能氬離子束，在真空環(huán)境下對樣品表面進行可控的物理濺射剝離。與傳統(tǒng)機械制樣方法相比，其核心優(yōu)勢在于：完全避免機械應(yīng)力導(dǎo)致的樣品損傷，能夠保持材料的原始微觀結(jié)構(gòu)，實現(xiàn)真正的全局平面化處理，為后續(xù)的SEM、EDS、EBSD等分析提供理想的觀測基底。一、微納米顆粒（針對200μm以下樣品）微納米顆粒樣品，如鋰電池陽極材料等，通常需要

  拋光 電子元器件

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• 發(fā)布了文章 2025-11-25 17:12

  汽車車燈LED車規(guī)級認證之AEC-Q102

  

  LED光源在汽車領(lǐng)域的應(yīng)用日益廣泛，車燈照明、智能系統(tǒng)、盲點偵測等場景均對LED品質(zhì)提出了高要求。因此，眾多LED元器件供貨商紛紛布局車用LED領(lǐng)域，而通過AEC-Q102驗證，成為其產(chǎn)品立足車電市場的關(guān)鍵通行證。車規(guī)級的核心定義與標準差異車規(guī)級是適用于汽車電子元件的專屬規(guī)格標準，其嚴苛程度可通過與消費級、工業(yè)級、軍工級的對比清晰體現(xiàn)：汽車需在戶外高溫、高寒

  led 汽車 認證

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• 發(fā)布了文章 2025-11-25 17:10

  透射電鏡（TEM）樣品制備方法

  

  在材料科學(xué)與生命科學(xué)的研究中，透射電子顯微鏡（TEM）已成為探索微觀世界不可或缺的工具。然而，許多科研人員在TEM分析過程中常常遇到圖像質(zhì)量不理想、數(shù)據(jù)解讀困難的問題，其根源往往不在于儀器操作或分析技術(shù)，而在于實驗的第一步——樣品制備。一、TEM樣品的基本要求1.樣品須為固體，且厚度通常應(yīng)小于100nm；2.在電鏡的電磁環(huán)境中保持穩(wěn)定，不會被吸附至極靴；3.

  TEM 顯微鏡 電鏡

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• 發(fā)布了文章 2025-11-24 14:42

  聚焦離子束-掃描電鏡（FIB-SEM）的三大應(yīng)用技術(shù)

  

  聚焦離子束-掃描電鏡（FIB-SEM）雙束系統(tǒng)是現(xiàn)代材料科學(xué)研究中不可或缺的多維表征平臺。該系統(tǒng)將聚焦離子束的精準加工能力與掃描電鏡的高分辨率成像功能有機結(jié)合，為從微觀到納米尺度的材料結(jié)構(gòu)解析提供了完整解決方案。二維樣品制備基礎(chǔ)FIB二維樣品制備通過可控離子濺射實現(xiàn)材料的定點加工，首先在目標區(qū)域沉積鉑/鎢保護層，隨后采用聚焦離子束進行精確定點銑削獲得觀測截面

  fib 掃描電鏡 離子束

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• 發(fā)布了文章 2025-11-24 14:38

  以供應(yīng)商和制造商的視角看AEC-Q認證

  

  在汽車電子行業(yè)中，AEC-Q102標準是確保光電子半導(dǎo)體器件質(zhì)量和可靠性的關(guān)鍵規(guī)范。作為供應(yīng)商和制造商，遵循這一標準不僅是對產(chǎn)品質(zhì)量的嚴格把控，也是對客戶承諾的象征。AEC-Q102標準的重要性AEC-Q102標準是汽車電子委員會（AEC）制定的，專門針對光電子半導(dǎo)體器件的一系列測試規(guī)范。這些規(guī)范包括了高溫工作壽命（HTOL）、溫度循環(huán)（TC）、濕熱高濕高低

  AEC 汽車電子 認證

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