動態(tài)

• 發(fā)布了文章 2025-08-28 10:38

  聚焦離子束（FIB）技術(shù)分析

  

  聚焦離子束技術(shù)（FIB）聚焦離子束技術(shù)（FocusedIonbeam，F(xiàn)IB）是利用電透鏡將離子束聚焦成非常小尺寸的離子束轟擊材料表面，實現(xiàn)材料的剝離、沉積、注入、切割和改性。隨著納米科技的發(fā)展，納米尺度制造業(yè)發(fā)展迅速，而納米加工就是納米制造業(yè)的核心部分，納米加工的代表性方法就是聚焦離子束。近年來發(fā)展起來的聚焦離子束技術(shù)（FIB）利用高強度聚焦離子束對材料進

  fib 離子束

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• 發(fā)布了文章 2025-08-28 10:37

  五大常見電子元器件的失效全解析

  

  電子設(shè)備中絕大部分故障最終都可溯源至元器件失效。熟悉各類元器件的失效模式，往往僅憑直覺就能鎖定故障點，或僅憑一次簡單的電阻、電壓測量即可定位問題。電阻器類電阻器家族包括固定電阻與可變電阻（電位器），在整機中數(shù)量龐大且持續(xù)耗能，其引發(fā)的故障約占總故障的15%。統(tǒng)計表明，其中85%～90%為斷路、機械損傷、短路、絕緣擊穿等致命失效，僅約10%源于阻值漂移。1.材

  元器件 電子元器件 電子設(shè)備

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• 發(fā)布了文章 2025-08-27 15:04

  HALT實驗與HASS實驗在可靠性測試中的區(qū)別

  

  什么是HALT試驗？HALT（HighlyAcceleratedLifeTest）的全稱是高加速壽命試驗。HALT是一種通過施加逐級遞增的環(huán)境應(yīng)力或工作載荷，來加速暴露產(chǎn)品的缺陷和薄弱點的試驗方法。主要應(yīng)用于產(chǎn)品開發(fā)階段，它能以較短的時間促使產(chǎn)品的設(shè)計和工藝缺陷暴露出來，從而為我們做設(shè)計改進，提升產(chǎn)品可靠性提供依據(jù)。金鑒實驗室作為專注于可靠性領(lǐng)域的科研檢測機

  HALT HASS 可靠性測試

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• 發(fā)布了文章 2025-08-27 14:59

  CDM試驗對電子器件可靠性的影響

  

  在電子器件制造和應(yīng)用中，靜電放電（ESD）是一個重要的可靠性問題。CDM（帶電器件模型）試驗是評估電子器件在靜電放電環(huán)境下的敏感度和可靠性的重要手段。通過CDM試驗，可以有效識別器件在制造、運輸和使用過程中可能面臨的靜電放電風險，從而優(yōu)化產(chǎn)品設(shè)計，提高其在實際應(yīng)用中的穩(wěn)定性和可靠性。檢測服務(wù)涵蓋靜電放電（ESD）測試、可靠性測試、失效分析以及AEC-Q系列認

  CDM 電子器件 靜電放電

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• 發(fā)布了文章 2025-08-27 14:58

  微量摻雜元素在半導體器件發(fā)展中的作用

  

  微量摻雜元素表征的意義1.材料性能摻雜元素可改變半導體的能帶結(jié)構(gòu)和載流子行為，從而決定器件的電學特性。以硅材料為例，摻入五價砷（As）元素可為晶格引入多余電子，使本征硅轉(zhuǎn)變?yōu)閚型半導體，直接影響導電類型與載流子濃度。通過對摻雜種類、含量及分布形態(tài)的精確分析，可實現(xiàn)器件導電性能的定向設(shè)計，例如提升晶體管開關(guān)速度、降低功耗。在光電器件中，微量摻雜同樣具有關(guān)鍵作用

  GaN 光電器件 半導體器件

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• 發(fā)布了文章 2025-08-26 15:22

  晶須生長試驗-電子元件可靠性驗證的重要手段

  

  晶須是一種在金屬材料中形成的細長絲狀晶體，這種微小結(jié)構(gòu)可能在電子或電氣產(chǎn)品中出現(xiàn)。晶須的形成通常與金屬晶體的非均勻擴張有關(guān)，可能由應(yīng)力或其他外部因素引起。錫、鎘、鋅等金屬是容易產(chǎn)生晶須的典型材料，其中錫晶須尤為常見。晶須的存在可能對電子產(chǎn)品的性能和可靠性產(chǎn)生負面影響，因此在電子制造過程中，控制和預(yù)防晶須的形成顯得尤為重要。晶須的成因與影響晶須的形成過程通常涉

  晶體 電子元件 錫須

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• 發(fā)布了文章 2025-08-26 15:20

  聚焦離子束（FIB）在材料分析的應(yīng)用

  

  FIB是聚焦離子束的簡稱，由兩部分組成。一是成像，把液態(tài)金屬離子源輸出的離子束加速、聚焦，從而得到試樣表面電子像（與SEM相似）；二是加工，通過強電流離子束剝離表面原子，從而完成微，納米級別的加工。FIB主要功能1.微納米級截面加工FIB可以精確地在器件的特定微區(qū)進行截面觀測，同時可以邊加工刻蝕、邊利用SEM實時觀察樣品。截面分析是FIB最常見的應(yīng)用。這種刻

  fib 材料 離子束

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• 發(fā)布了文章 2025-08-25 15:30

  一文了解功率半導體的可靠性測試

  

  功率半導體概述功率半導體是一種特殊的半導體器件，它們在電力系統(tǒng)中扮演著至關(guān)重要的角色。這些器件能夠高效地控制和調(diào)節(jié)電力的流動，包括電壓和頻率的轉(zhuǎn)換，以及交流電（AC）和直流電（DC）之間的轉(zhuǎn)換。這種能力使得功率半導體在各種電力應(yīng)用中不可或缺，例如電力變換器、電機驅(qū)動器和電力調(diào)節(jié)器等。功率半導體的應(yīng)用領(lǐng)域功率半導體器件在多個領(lǐng)域中發(fā)揮著核心作用，尤其是在新能源

  功率半導體 可靠性測試

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• 發(fā)布了文章 2025-08-25 15:28

  LED燈需要做哪些檢測

  

  在如今的照明領(lǐng)域，LED燈以其節(jié)能、環(huán)保、長壽命等優(yōu)勢被廣泛應(yīng)用。然而，只有經(jīng)過嚴格檢測的LED燈才能在眾多產(chǎn)品中脫穎而出，為消費者帶來真正的優(yōu)質(zhì)體驗。LED燈具檢測涉及眾多關(guān)鍵項目，涵蓋力學測試、電性能參數(shù)、光學參數(shù)、可靠性試驗以及結(jié)構(gòu)與外觀等多個方面。測試時的檢驗項目1、力學測試：拉力試驗、壓力試驗、插拔力試驗、耐磨擦試驗、模擬運輸振動試驗。2、電性能參

  led led燈 檢測

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• 發(fā)布了文章 2025-08-25 15:25

  無鹵與鹵素含量測試

  

  無鹵與鹵素含量測試的概念無鹵（HalogenFree，HF）并非簡單地把鹵族元素“清零”，而是指材料或成品中氟（F）、氯（Cl）、溴（Br）、碘（I）四項元素的總和或單項含量被嚴格限定在行業(yè)標準以下，從而避免因鹵素釋放導致的腐蝕、毒性及環(huán)境風險。作為專注于化學分析領(lǐng)域的科研檢測機構(gòu)，能夠?qū)Σ牧现械柠u素含量進行嚴格的檢測，致力于為客戶提供高質(zhì)量的測試服務(wù)。鹵素

  無鹵素 電子器件

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