漢通達文章

• 非常詳細的BUCK電路 PCB layout建議2025-01-17 10:03

  

  在DC-DC芯片的應用設計中，PCB布板是否合理對于芯片能否表現(xiàn)出其最優(yōu)性能有著至關(guān)重要的影響。不合理的PCB布板會造成芯片性能變差如線性度下降（包括輸入線性度以及輸出線性度）、帶載能力下降、工作不穩(wěn)定、EMI輻射增加、輸出噪聲增加等，更嚴重的可能會直接造成芯片損壞。一般DC-DC芯片的使用手冊中都會有其對應的PCB布板設計要求以及布板示意圖，本次我們就以同

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• 拋磚引玉，教你學習各種總線技術(shù)2025-01-10 10:02

  

  如果一座只能容一個人來往的獨木橋，兩端的人都想要過橋，為了不擁擠、阻塞，那我們就得采取有效的辦法。比如規(guī)定某段時間哪端的人過橋，另一端的人就等著該他過橋的時間段的到來，同時也還可以規(guī)定人多時要按先來后到或年齡長幼的次序過橋。在這不經(jīng)意間，我們就體會到了現(xiàn)代電子信息數(shù)據(jù)通過總線按時分系統(tǒng)傳輸?shù)淖钤嫉乃枷搿，F(xiàn)代網(wǎng)絡信息的發(fā)展，特別是對于成本和空間而言，總線傳輸

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• 芯片行業(yè)，怎么看？2025-01-03 10:03

  

  剛過去的2024年，半導體行業(yè)喜憂參半。但恭喜大家，我們都順利跨入了2025年?；氐饺ツ甑陌雽w行業(yè)，喜的是，在AI的推動下，類似英偉達、博通、Marvell等大廠能夠憑借在數(shù)據(jù)中心相關(guān)芯片上的優(yōu)勢，獲得了很多的機會。但除了AI以外，似乎所有市場都不盡如人意。無論是之前高歌猛進的汽車產(chǎn)業(yè)，還是早已陷入了低潮的消費電子。這就讓芯片市場在2024年，愁容滿面。展

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• 半導體，最新預測2024-12-27 10:03

  

  人工智能技術(shù)讓半導體領(lǐng)導者對2025年更加樂觀，但阻力可能來自地緣政治和人才保留問題。這些是美國審計、稅務和咨詢公司畢馬威(KPMG)和全球半導體聯(lián)盟(GSA)發(fā)布的第20份年度全球半導體展望報告中的一些預測。接受調(diào)查的半導體高管中約有92%預測2025年整個行業(yè)將實現(xiàn)增長。由于人工智能、云、數(shù)據(jù)中心、無線通信和汽車應用的發(fā)展，對芯片的需求將持續(xù)增長，畢馬威

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• 芯片的失效性分析與應對方法2024-12-20 10:02

  

  在汽車、數(shù)據(jù)中心和人工智能等關(guān)鍵領(lǐng)域，半導體芯片的可靠性成為系統(tǒng)穩(wěn)定運行的核心要素。隨著技術(shù)發(fā)展，芯片面臨著更為復雜的使用環(huán)境與性能需求，其失效問題愈發(fā)凸顯。本文將深入探討芯片失效的根源，剖析芯片老化的內(nèi)在機理，揭示芯片失效問題的復雜性，并提出針對性的應對策略，為提升芯片可靠性提供全面的分析與解決方案，助力相關(guān)行業(yè)在芯片應用中有效應對挑戰(zhàn)，保障系統(tǒng)的高效穩(wěn)定

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• 【漢通達科技】引領(lǐng)未來測試技術(shù)，ATX中國區(qū)獨家呈現(xiàn)高端夾具與設備2024-12-13 10:01

  

  在這個日新月異的科技時代，每一個細微的精準都決定了產(chǎn)品的卓越與否。作為德國ATX公司在中國區(qū)的獨家代理商，北京漢通達科技有限公司攜手ATX，為您帶來一場前所未有的測試技術(shù)盛宴。ATX，以其卓越的創(chuàng)新能力和對品質(zhì)的不懈追求，為全球客戶提供了一系列領(lǐng)先業(yè)界的測試夾具與生產(chǎn)設備。今天，就讓我們一起探索ATX如何助力您的生產(chǎn)線邁向更高效、更安全的未來。一、產(chǎn)品介紹1

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• 北京漢通達科技有限公司正式簽約德國ATX公司，成為中國獨家代理商2024-12-07 01:04

  

  近日，北京漢通達科技有限公司（以下簡稱“漢通達”）與德國ATX公司達成戰(zhàn)略合作，正式成為ATX公司在中國地區(qū)的獨家代理商。這一里程碑式的合作不僅標志著漢通達在測試夾具及自動化技術(shù)領(lǐng)域的進一步拓展，也意味著中國客戶將能夠更便捷地接觸到ATX公司的卓越產(chǎn)品和一流服務。ATX公司，作為歐洲市場的領(lǐng)導者，自1997年成立以來，始終致力于為客戶提供高質(zhì)量的測試夾具和自

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• IC芯片老化測試以及方案詳解2024-11-23 01:02

  

  芯片老化試驗是一種對芯片進行長時間運行和負載測試的方法，以模擬芯片在實際使用中的老化情況。1.目的：芯片老化試驗的目的是評估芯片在長時間使用和負載情況下的可靠性和性能穩(wěn)定性，以確定其壽命和可靠性指標。2.測試方案設計：-選擇適當?shù)臏y試負載：根據(jù)芯片的應用場景和預期使用條件，確定合適的測試負載，包括電壓、頻率、溫度等參數(shù)。-設計測試持續(xù)時間：根據(jù)芯片的預期使用

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• 芯片測試程序2024-11-16 01:03

  

  一、測試程序的基本概念測試程序，即被ATE（AutomaticTestEquipment，自動測試設備）識別和執(zhí)行的指令集，是集成電路測試的核心。測試程序的主要功能是指引ATE在測試中如何與被測器件（DUT）交互，具體包括如何對DUT施加不同的輸入激勵，如何測量其響應信號，以及將測量結(jié)果與設定的門限值（Limit）進行比較，最終判定測試結(jié)果為“通過”（Pas

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• CP測試與FT測試的區(qū)別2024-11-02 08:03

  

  在集成電路（IC）制造與測試過程中，CP（ChipProbing，晶圓探針測試）和FT（FinalTest，最終測試）是兩個重要的環(huán)節(jié)，它們承擔了不同的任務，使用不同的設備和方法，但都是為了保證產(chǎn)品的質(zhì)量與可靠性。1.CP測試與FT測試的基礎概念要理解CP和FT的區(qū)別，我們可以將整個芯片制造和測試過程比喻成“篩選和包裝水果”的過程。CP測試：相當于在水果采摘

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