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上海季豐電子

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2025季豐電子技術研討會江蘇站成功舉行

近日,一場聚焦半導體前沿技術的行業(yè)盛會——2025季豐電子技術交流研討會·江蘇站,在江蘇無錫新湖鉑爾....
的頭像 上海季豐電子 發(fā)表于 07-08 17:53 ?851次閱讀

季豐電子新引入FUJI AIMEX III設備

隨著中國集成電路的快速發(fā)展,半導體測試板PCBA需求增加明顯,特別是高端機臺用大尺寸的可靠性測試板,....
的頭像 上海季豐電子 發(fā)表于 07-05 16:09 ?879次閱讀

季豐精密機械成功完成三溫工程Kit自制

近日,季豐精密機械成功完成三溫工程Kit自制,進一步提升了季豐ATE工程測試能力,提高了測試項目的整....
的頭像 上海季豐電子 發(fā)表于 07-05 11:45 ?659次閱讀

季豐車規(guī)級高精度SLT測試能力更新

浙江季豐電子測試廠新引入的SLT HT3012CT + ATC 5.1系統級測試設備,集高效、精準、....
的頭像 上海季豐電子 發(fā)表于 07-05 11:43 ?765次閱讀

閂鎖效應的形成原理和測試流程

在CMOS電路中,存在寄生的PNP和NPN晶體管,它們相互影響在VDD與GND間產生一低阻通路,形成....
的頭像 上海季豐電子 發(fā)表于 07-03 16:20 ?2621次閱讀
閂鎖效應的形成原理和測試流程

遼寧材料實驗室一行到訪季豐電子

近日,季豐電子迎來了遼寧材料實驗室郭可信材料表征中心副主任周楊韜博士一行人員的到訪。此次交流活動旨在....
的頭像 上海季豐電子 發(fā)表于 07-03 16:18 ?539次閱讀

季豐精密通過IATF16949質量管理體系認證

在競爭激烈的汽車行業(yè)供應鏈中,質量與可靠性始終是核心競爭力的關鍵要素。浙江季豐精密電子有限公司近日成....
的頭像 上海季豐電子 發(fā)表于 07-01 17:22 ?789次閱讀

季豐電子全新推出350℃高溫電路板

季豐電子全新推出350℃高溫電路板,以行業(yè)領先的溫度能力,為高溫加速老化測試樹立新標桿!
的頭像 上海季豐電子 發(fā)表于 06-23 15:24 ?674次閱讀

季豐電子自建引腳完整性測試能力

季豐可靠性測試項目拓展AEC-Q100車規(guī)芯片驗證C6:LI - Lead Integrity 引腳....
的頭像 上海季豐電子 發(fā)表于 06-23 09:22 ?737次閱讀
季豐電子自建引腳完整性測試能力

如何提高電路板組件環(huán)境可靠性

電路板組件PCBA(Printed Circuit Board Assembly)的可靠性特別是多水....
的頭像 上海季豐電子 發(fā)表于 06-18 15:22 ?685次閱讀

季豐電子與杰平方達成戰(zhàn)略合作

近日,上海季豐電子股份有限公司(以下簡稱“季豐電子”)與杰平方半導體(上海)有限公司(以下簡稱“杰平....
的頭像 上海季豐電子 發(fā)表于 06-10 15:02 ?800次閱讀

季豐計量榮獲CNAS認可資質

上海季豐計量有限公司(以下簡稱“季豐計量”)自2022年6月成立以來,始終堅持以“以人為本、滿足客戶....
的頭像 上海季豐電子 發(fā)表于 06-05 18:07 ?845次閱讀
季豐計量榮獲CNAS認可資質

季豐電子推出低高溫手動探針臺設備

為滿足客戶對低溫測試的要求,季豐電子成功自研了低高溫手動探針臺,目前已在季豐張江FA投入使用,該機臺....
的頭像 上海季豐電子 發(fā)表于 06-05 13:38 ?587次閱讀

季豐推出SRAM錯誤地址定位黑科技

近期受晶圓廠委托, 季豐在執(zhí)行完SRAM芯片在中子輻射下SER測試后, 通過對SRAM芯片的深入研究....
的頭像 上海季豐電子 發(fā)表于 06-03 10:08 ?706次閱讀
季豐推出SRAM錯誤地址定位黑科技

季豐電子與林眾電子、瞻芯電子達成戰(zhàn)略合作伙伴關系

近日,上海季豐電子股份有限公司(以下簡稱“季豐電子”)與上海林眾電子科技有限公司(以下簡稱“林眾電子....
的頭像 上海季豐電子 發(fā)表于 05-27 17:53 ?635次閱讀

電子束對Low-K材料有什么影響

指介電常數較低的材料。這種材料廣泛運用于集成電路中,可以減少漏電電流、降低導線之間的電容效應,并減少....
的頭像 上海季豐電子 發(fā)表于 05-27 09:48 ?632次閱讀
電子束對Low-K材料有什么影響

季豐電子新型電池材料評估能力概覽

季豐電子,作為國內半導體材料表征領域的領先企業(yè),憑借其深厚的半導體級精密分析技術積淀,成功將業(yè)務延伸....
的頭像 上海季豐電子 發(fā)表于 05-23 16:38 ?659次閱讀

季豐電子ESD實驗室新增VFTLP測試能力

隨著半導體工藝節(jié)點不斷向5nm、3nm邁進,芯片內部結構日趨精密,靜電放電(ESD)問題愈發(fā)嚴峻。傳....
的頭像 上海季豐電子 發(fā)表于 05-21 15:21 ?827次閱讀
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集成電路后段互連設計規(guī)則的三種電流

Javg,或稱Iavg/Jdc/Idc,即保證EM低風險的最大直流DC電流,是直接和電遷移效應失效相....
的頭像 上海季豐電子 發(fā)表于 05-20 11:16 ?971次閱讀
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離子研磨在芯片失效分析中的應用

芯片失效分析中對芯片的截面進行觀察,需要對樣品進行截面研磨達到要觀察的位置,而后再采用光學顯微鏡(O....
的頭像 上海季豐電子 發(fā)表于 05-15 13:59 ?1403次閱讀
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季豐電子如何提高太陽能電池的光電轉換效率

在季豐電子的分析實驗室, 我們具備三個“微觀偵探”——SEM、FIB和TEM,它們就像“原子放大鏡”....
的頭像 上海季豐電子 發(fā)表于 05-13 14:55 ?1185次閱讀

光伏組件復合環(huán)境試驗介紹

長期以來,在光伏組件的研發(fā)與測試階段,評估各部件的耐候性能始終是至關重要的環(huán)節(jié)。相較于傳統常規(guī)測試,....
的頭像 上海季豐電子 發(fā)表于 05-09 10:01 ?408次閱讀
光伏組件復合環(huán)境試驗介紹

季豐電子半導體測試機和探針臺設備介紹

其中,前者負責測試晶圓器件參數(如IV,CV,Vt,Ion/Ioff等),或者可靠性(如HCI,NB....
的頭像 上海季豐電子 發(fā)表于 04-30 15:39 ?1207次閱讀
季豐電子半導體測試機和探針臺設備介紹

FIB制備Low-K材料的TEM樣品面臨難點

指介電常數較低的材料。這種材料廣泛運用于集成電路中,可以減少漏電電流、降低導線之間的電容效應,并減少....
的頭像 上海季豐電子 發(fā)表于 04-29 10:27 ?785次閱讀
FIB制備Low-K材料的TEM樣品面臨難點

衢州季豐助力光伏產業(yè)綠色發(fā)展

隨著光伏產業(yè)的迅猛發(fā)展,對組件實際發(fā)電性能的精確評估已成為行業(yè)關注的焦點。傳統的實驗室測試方法(例如....
的頭像 上海季豐電子 發(fā)表于 04-27 14:53 ?621次閱讀

半導體器件中微量摻雜元素的EDS表征

微量摻雜元素在半導體器件的發(fā)展中起著至關重要的作用,可以精準調控半導體的電學、光學性能。對器件中微量....
的頭像 上海季豐電子 發(fā)表于 04-25 14:29 ?1241次閱讀
半導體器件中微量摻雜元素的EDS表征

季豐成都實驗室開啟芯片微加工新篇章

在科技飛速發(fā)展的今天,芯片制造與微加工技術已然成為推動各行業(yè)進步的核心驅動力。
的頭像 上海季豐電子 發(fā)表于 04-19 16:03 ?944次閱讀

季豐電子細線鍵合機概述

隨著集成電路的發(fā)展, 先進封裝技術不斷發(fā)展變化以適應各種半導體新工藝和新材料的要求和挑戰(zhàn)。
的頭像 上海季豐電子 發(fā)表于 04-16 15:43 ?509次閱讀

上海交大師生一行到訪季豐電子參觀交流

此前,4月9日-11日,上海交通大學自動化與感知學院及集成電路學院師生代表一行70余人,在上海交通大....
的頭像 上海季豐電子 發(fā)表于 04-14 14:41 ?881次閱讀

季豐電子推出經濟型精密探針座 MP-05探針座

在與客戶的交流中發(fā)現,部分客戶對某些測試在精度可滿足實驗需求的情況下,希望有更經濟的解決方案。 為滿....
的頭像 上海季豐電子 發(fā)表于 04-09 18:36 ?647次閱讀
季豐電子推出經濟型精密探針座 MP-05探針座