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上海季豐電子

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奕斯偉計(jì)算榮獲季豐電子AEC-Q100認(rèn)證證書(shū)

2023年12月,北京奕斯偉計(jì)算技術(shù)股份有限公司(簡(jiǎn)稱“奕斯偉計(jì)算”)EPA9900車用LCD顯示屏....
的頭像 上海季豐電子 發(fā)表于 01-08 18:18 ?1762次閱讀
奕斯偉計(jì)算榮獲季豐電子AEC-Q100認(rèn)證證書(shū)

封裝可靠性之BHAST試驗(yàn)簡(jiǎn)析

高加速溫度和濕度應(yīng)力測(cè)試(強(qiáng)加速穩(wěn)態(tài)濕熱試驗(yàn))BHAST通過(guò)對(duì)芯片施加嚴(yán)苛的溫度、濕度和偏置條件來(lái)加....
的頭像 上海季豐電子 發(fā)表于 01-02 18:14 ?10390次閱讀
封裝可靠性之BHAST試驗(yàn)簡(jiǎn)析

季豐電子極速封裝線磨劃能力介紹

季豐電子極速封裝車間擁有千級(jí)無(wú)塵化磨劃生產(chǎn)線、一支經(jīng)驗(yàn)豐富的磨劃團(tuán)隊(duì)以及全套的先進(jìn)設(shè)備,致力于為客戶....
的頭像 上海季豐電子 發(fā)表于 12-28 09:53 ?1442次閱讀
季豐電子極速封裝線磨劃能力介紹

季豐電子新增93K EXA硬件設(shè)計(jì)能力

為滿足客戶對(duì)高速數(shù)字、CPU、嵌入式存儲(chǔ)器、GPU/MPU、Single Chip Phone、In....
的頭像 上海季豐電子 發(fā)表于 12-13 18:26 ?2023次閱讀
季豐電子新增93K EXA硬件設(shè)計(jì)能力

紅墨水測(cè)試的定義 焊點(diǎn)裂紋的常見(jiàn)分類

紅墨水試驗(yàn)是將焊點(diǎn)置于紅色墨水或染料中,讓紅墨水或染料滲入焊點(diǎn)的裂紋之中,干燥后將焊點(diǎn)強(qiáng)行分離,焊點(diǎn)....
的頭像 上海季豐電子 發(fā)表于 12-12 10:51 ?1903次閱讀
紅墨水測(cè)試的定義  焊點(diǎn)裂紋的常見(jiàn)分類

PCB紅墨水測(cè)試的定義

隨著SMT技術(shù)與元器件高密封裝技術(shù)的迅速發(fā)展,PCB上的元器件,因?yàn)楹附庸に嚨膯?wèn)題,焊點(diǎn)的焊接質(zhì)量是....
的頭像 上海季豐電子 發(fā)表于 12-12 10:48 ?2114次閱讀
PCB紅墨水測(cè)試的定義

什么是TLP?Celestron TLP的簡(jiǎn)易模型和優(yōu)勢(shì)

杭州季豐電子ESD測(cè)試業(yè)務(wù)一直深受客戶的信任和好評(píng),實(shí)驗(yàn)室近期又對(duì)Thermo Celestron ....
的頭像 上海季豐電子 發(fā)表于 12-11 16:51 ?3191次閱讀
什么是TLP?Celestron TLP的簡(jiǎn)易模型和優(yōu)勢(shì)

季豐電子新增功率器件動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試方法

季豐電子ATE實(shí)驗(yàn)室最新引進(jìn)了兩臺(tái)雙脈沖測(cè)試儀DPT1000A和Edison,分別覆蓋功率單管和模塊....
的頭像 上海季豐電子 發(fā)表于 12-05 18:09 ?1551次閱讀
季豐電子新增功率器件動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試方法

季豐80路 40dBm射頻放大器正式發(fā)布

長(zhǎng)期以來(lái),射頻芯片可靠性測(cè)試中,一直需要大功率射頻激勵(lì)信號(hào)。在此需求下,季豐開(kāi)發(fā)設(shè)計(jì)了GF-RF-P....
的頭像 上海季豐電子 發(fā)表于 11-25 09:09 ?1060次閱讀

季豐電子榮膺2023上海交大“未來(lái)領(lǐng)軍”企業(yè)

11月23日,由上海交通大學(xué)主辦、上海臨港經(jīng)濟(jì)發(fā)展(集團(tuán))有限公司聯(lián)合主辦的2023交大創(chuàng)業(yè)者(秋季....
的頭像 上海季豐電子 發(fā)表于 11-25 09:07 ?979次閱讀

季豐電子激光誘導(dǎo)擊穿光譜元素分析儀介紹

為滿足客戶分析需求的多樣性,季豐電子在張江實(shí)驗(yàn)室配備了激光誘導(dǎo)擊穿光譜元素分析設(shè)備,采用355nm的....
的頭像 上海季豐電子 發(fā)表于 11-21 10:15 ?1420次閱讀
季豐電子激光誘導(dǎo)擊穿光譜元素分析儀介紹

LCR數(shù)字電橋測(cè)試儀的工作原理和使用方法

季豐電子張江實(shí)驗(yàn)室為了滿足大家的測(cè)試LCR的需求,增加一臺(tái)E4980AL-LCR數(shù)字電橋測(cè)試儀,E4....
的頭像 上海季豐電子 發(fā)表于 11-21 10:12 ?6763次閱讀
LCR數(shù)字電橋測(cè)試儀的工作原理和使用方法

季豐電子建立熱仿真能力提升半導(dǎo)體測(cè)試成功率案例分享

隨著5G通訊的普及、AI的興起以及chiplet工藝的采用,待測(cè)芯片的功耗不斷增大
的頭像 上海季豐電子 發(fā)表于 11-15 09:59 ?1211次閱讀
季豐電子建立熱仿真能力提升半導(dǎo)體測(cè)試成功率案例分享

季豐電子榮膺“大零號(hào)灣”影響力TOP10企業(yè)榜單

10月30日,“5載耕耘 閔創(chuàng)未來(lái)——中國(guó)(上海)創(chuàng)業(yè)者公共實(shí)訓(xùn)基地南部科創(chuàng)中心分基地成果展示活動(dòng)暨....
的頭像 上海季豐電子 發(fā)表于 11-02 18:21 ?840次閱讀

季豐電子兩處場(chǎng)所獲得CNAS認(rèn)可證書(shū)

隨著季豐電子的日益壯大,公司規(guī)模也在不斷地?cái)U(kuò)增,為了提高實(shí)驗(yàn)室能力、優(yōu)化質(zhì)量管理水平并提升客戶滿意度....
的頭像 上海季豐電子 發(fā)表于 10-13 09:41 ?1257次閱讀

SEM/FIB雙束系統(tǒng)截面加工:實(shí)現(xiàn)離子的成像、注入、刻蝕和沉積

SEM/FIB(Scanning Electron Microscope/Focused Ion b....
的頭像 上海季豐電子 發(fā)表于 10-07 14:44 ?2094次閱讀
SEM/FIB雙束系統(tǒng)截面加工:實(shí)現(xiàn)離子的成像、注入、刻蝕和沉積

季豐電子新熱場(chǎng)電子顯微鏡可幫助客戶快速獲取清晰的圖像

? 季豐電子目前擁有蔡司GeminiSEM500掃描電鏡SEM熱場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡,可為客戶呈現(xiàn)任....
的頭像 上海季豐電子 發(fā)表于 09-23 09:50 ?1083次閱讀
季豐電子新熱場(chǎng)電子顯微鏡可幫助客戶快速獲取清晰的圖像

季豐電子入選上海市服務(wù)型制造示范平臺(tái)

9月20日,以“共享G60創(chuàng)新生態(tài),服務(wù)型制造賦能產(chǎn)業(yè)高質(zhì)量發(fā)展”為主題的“服務(wù)型制造萬(wàn)里行——走進(jìn)....
的頭像 上海季豐電子 發(fā)表于 09-22 09:51 ?1101次閱讀

季豐電子新引入精密芯片裂片設(shè)備SELA—MC10

SELA是通過(guò)刻痕和斷裂的雙重過(guò)程制備樣品,獲得高質(zhì)量截面。
的頭像 上海季豐電子 發(fā)表于 09-21 18:27 ?2417次閱讀
季豐電子新引入精密芯片裂片設(shè)備SELA—MC10

STEM的成像原理 STEM的圖像襯度來(lái)源

掃描透射電子顯微鏡(Scanning Transmission Electron Microscop....
的頭像 上海季豐電子 發(fā)表于 09-19 11:24 ?7844次閱讀
STEM的成像原理 STEM的圖像襯度來(lái)源

如何計(jì)算芯片內(nèi)部自研IP模塊的FIT的數(shù)值

Q1 圖中這個(gè)分層是哪里導(dǎo)致的? A1 die attach,銀漿分層,最好有個(gè)reference對(duì)....
的頭像 上海季豐電子 發(fā)表于 09-10 10:36 ?3394次閱讀
如何計(jì)算芯片內(nèi)部自研IP模塊的FIT的數(shù)值

工藝可靠性電遷移EM測(cè)試

電遷移是金屬線在電流和溫度作用下產(chǎn)生的金屬遷移現(xiàn)象——運(yùn)動(dòng)中的電子和主體金屬晶格之間相互交換動(dòng)量,金....
的頭像 上海季豐電子 發(fā)表于 09-07 09:37 ?8379次閱讀
工藝可靠性電遷移EM測(cè)試

EDS面掃、線掃、點(diǎn)掃的應(yīng)用

能譜儀(EDS)是一種快速分析樣品微區(qū)內(nèi)元素種類及含量的重要工具,通常與掃描電鏡(SEM)、透射電鏡....
的頭像 上海季豐電子 發(fā)表于 08-29 09:43 ?8072次閱讀
EDS面掃、線掃、點(diǎn)掃的應(yīng)用

波峰焊焊點(diǎn)吹孔的分析及解決方案

在波峰焊生產(chǎn)過(guò)程中,吹孔是比較常見(jiàn)的不良現(xiàn)象,即從焊點(diǎn)表面肉眼可見(jiàn)較大的空洞,在IPC-A-610中....
的頭像 上海季豐電子 發(fā)表于 08-16 10:33 ?2415次閱讀

tem成像系統(tǒng)有哪幾部分組成

TEM的成像原理涉及許多物理和光學(xué)概念,涵蓋了電子束的產(chǎn)生、聚焦、樣品相互作用以及圖像形成等多個(gè)方面....
的頭像 上海季豐電子 發(fā)表于 08-07 09:47 ?2511次閱讀
tem成像系統(tǒng)有哪幾部分組成

透射電子顯微鏡的用途和特點(diǎn)

透射電子顯微鏡(Transmission Electron Microscope, TEM)是一種用....
的頭像 上海季豐電子 發(fā)表于 08-01 10:02 ?7083次閱讀

介紹一種基于ICP-MS的硅材料痕量金屬檢測(cè)方法

隨著硅材料在半導(dǎo)體和光電子領(lǐng)域的應(yīng)用日益廣泛,痕量金屬元素對(duì)材料性能和質(zhì)量的影響越來(lái)越大,高精度的硅....
的頭像 上海季豐電子 發(fā)表于 07-27 17:49 ?2135次閱讀

季豐電子面向客戶提供完整的半導(dǎo)體工藝可靠性測(cè)試服務(wù)

季豐電子面向客戶提供完整的半導(dǎo)體工藝可靠性測(cè)試、驗(yàn)證和咨詢服務(wù),可有效縮短制造工藝和器件開(kāi)發(fā)的時(shí)間,....
的頭像 上海季豐電子 發(fā)表于 07-23 11:16 ?2744次閱讀
季豐電子面向客戶提供完整的半導(dǎo)體工藝可靠性測(cè)試服務(wù)

季豐2DX-ray分析能力可實(shí)現(xiàn)細(xì)微缺陷清晰展現(xiàn)

? Dage Quadra7介紹 作為Dage Quadra 系列中前沿的產(chǎn)品,Dage Quadr....
的頭像 上海季豐電子 發(fā)表于 06-26 11:14 ?997次閱讀
季豐2DX-ray分析能力可實(shí)現(xiàn)細(xì)微缺陷清晰展現(xiàn)

季豐電子FEI-Centrios線路修補(bǔ)設(shè)備為客戶提供高效服務(wù)

FEI-Centrios線路修補(bǔ)設(shè)備可以更高效地根據(jù)客戶需求,完成鋁制程及銅制程芯片,市場(chǎng)大部鋁制程....
的頭像 上海季豐電子 發(fā)表于 06-20 11:21 ?1324次閱讀