哪位師博有德生PL660電路圖給傳一張,謝謝各位師傅。
2025-12-08 18:47:04
、定位偏差等導(dǎo)致的精度問(wèn)題。 邁威選擇性波峰焊視覺(jué)編程系統(tǒng)以創(chuàng)新的實(shí)時(shí)在機(jī)視覺(jué)編程技術(shù),徹底改變了這一現(xiàn)狀。該系統(tǒng)通過(guò)高精度工業(yè)相機(jī)直接對(duì)已裝夾的PCB板進(jìn)行快速掃描與成像,使編程人員能夠基于真實(shí)的板卡狀態(tài)進(jìn)行可視化操作,
2025-12-05 08:54:36
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在材料科學(xué)與生物實(shí)驗(yàn)領(lǐng)域,電子顯微鏡(EM)作為關(guān)鍵的微結(jié)構(gòu)表征手段,以電子束代替可見(jiàn)光作為照明源,可實(shí)現(xiàn)納米級(jí)分辨能力,顯著優(yōu)于光學(xué)顯微鏡的觀測(cè)極限。掃描電子顯微鏡(SEM)1.原理SEM的核心
2025-11-05 14:39:25
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電廠一樣為電網(wǎng)提供調(diào)峰、調(diào)頻服務(wù),甚至比傳統(tǒng)電廠更靈活。想要搞懂這個(gè)“看不見(jiàn)卻實(shí)力強(qiáng)”的能源新物種,一張“虛擬電廠核心邏輯圖”就足夠清晰,我們不妨順著圖的脈絡(luò),一層層揭開(kāi)它的神秘面紗。
2025-11-03 15:21:17
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掃描電子顯微鏡(SEM)與聚焦離子束(FIB)結(jié)合形成的雙束系統(tǒng),是現(xiàn)代微納加工與材料分析領(lǐng)域中一種高度集成的多功能儀器平臺(tái)。該系統(tǒng)通過(guò)在同一真空腔體內(nèi)集成電子束與離子束兩套獨(dú)立的成像與加工系統(tǒng)
2025-10-30 21:04:04
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在微觀世界的探索中,科研人員一直致力于發(fā)展兼具精準(zhǔn)操作與高分辨率表征功能的集成化系統(tǒng)。聚焦離子束-掃描電子顯微鏡雙束系統(tǒng)(FIB-SEM)正是滿足這一需求的先進(jìn)工具,它實(shí)現(xiàn)了微納加工與高分辨成像功能
2025-10-14 12:11:10
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以“城市一張網(wǎng)”為基石,打造可信數(shù)據(jù)空間,賦能全域數(shù)字化轉(zhuǎn)型
2025-10-14 09:29:35
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信息、智能決策、高效協(xié)同,將分散的力量凝聚成一個(gè)有機(jī)整體。 一、核心挑戰(zhàn):從“信息孤島”到“態(tài)勢(shì)一張圖” 傳統(tǒng)模式下,各參與部門往往使用獨(dú)立的通信系統(tǒng)和數(shù)據(jù)平臺(tái),形成“信息孤島”。一旦發(fā)生需要多方協(xié)同的復(fù)雜
2025-09-28 14:48:10
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存在誤解,這些誤解往往會(huì)導(dǎo)致設(shè)計(jì)失敗。? ” 我們先通過(guò)一張圖來(lái)概括 LDO 的應(yīng)用: 線性穩(wěn)壓電源與 LDO 先澄清一個(gè)基礎(chǔ)的概念 : LDO 是線性穩(wěn)壓電源的一種 ,但不是所有線性穩(wěn)壓電源都是 LDO。兩者都是 通過(guò) 反饋控制環(huán)路 來(lái)實(shí)現(xiàn)穩(wěn)壓的
2025-09-23 17:22:27
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串口接收數(shù)據(jù)后release信號(hào)量,接收線程take sem,高頻大數(shù)據(jù)量接受數(shù)據(jù),運(yùn)行一段時(shí)間后接受線程suspend,但是release正常釋放
出現(xiàn)問(wèn)題問(wèn)題后查看信息如下:
接受線程為suspend,sem的值一直在增加,考慮了線程棧及線程優(yōu)先級(jí)問(wèn)題,沒(méi)有找到根本原因.
2025-09-23 08:17:20
).sem);
此時(shí)該傳入的參數(shù)在莫名的情況下變成了NULL,該問(wèn)題發(fā)生在頻繁建立和斷開(kāi)TCP連接的測(cè)試案例中。
發(fā)生問(wèn)題的板子是當(dāng)TCP服務(wù)器,對(duì)端當(dāng)TCP客戶端,反復(fù)來(lái)進(jìn)行鏈接測(cè)試。
請(qǐng)教一下引起這個(gè)現(xiàn)象的主要原因有哪些?
非常感謝!
2025-09-23 07:07:36
聚焦離子束(Focusionbeam,F(xiàn)IB)結(jié)合掃描電子顯微鏡(Scanningelectronmicroscopy,SEM)結(jié)合形成的雙束系統(tǒng),是現(xiàn)代微納加工與表征領(lǐng)域的重要工具。該系統(tǒng)同時(shí)具備
2025-09-18 11:41:34
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在鋰電池產(chǎn)業(yè)高速發(fā)展的背景下,薄膜類關(guān)鍵材料(如極片涂層、隔離膜)的力學(xué)性能直接決定電池的循環(huán)壽命、安全性能與能量密度。當(dāng)前,鋰電池薄膜材料測(cè)試設(shè)備作為研發(fā)創(chuàng)新與質(zhì)量管控的核心工具,需求持續(xù)增長(zhǎng),但
2025-08-30 14:16:41
CEM3000掃描電鏡顯微鏡SEM憑借空間分辨率出色和易用性強(qiáng),用戶能夠非??旖莸剡M(jìn)行各項(xiàng)操作。甚至在自動(dòng)程序的幫助下,無(wú)需過(guò)多人工調(diào)節(jié),便可一鍵得到理想的拍攝圖片。CEM3000臺(tái)式掃描電鏡無(wú)需
2025-08-29 13:52:42
中圖儀器SEM電鏡掃描顯微鏡憑借空間分辨率出色和易用性強(qiáng),用戶能夠非??旖莸剡M(jìn)行各項(xiàng)操作。甚至在自動(dòng)程序的幫助下,無(wú)需過(guò)多人工調(diào)節(jié),便可一鍵得到理想的拍攝圖片。CEM3000臺(tái)式掃描電鏡無(wú)需占據(jù)大量
2025-08-26 14:03:35
薄膜鍵盤是一種常見(jiàn)的鍵盤類型,它使用薄膜作為按鍵的觸發(fā)器。而鍵盤薄膜高彈UV膠則是一種特殊改性的UV固化膠,用于薄膜鍵盤按鍵彈性體的部分或高彈性密封。薄膜鍵盤的優(yōu)點(diǎn)如下:1.薄膜鍵盤相對(duì)于傳統(tǒng)機(jī)械
2025-08-26 10:03:54
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中圖儀器SEM電鏡掃描顯微鏡憑借空間分辨率出色和易用性強(qiáng),用戶能夠非??旖莸剡M(jìn)行各項(xiàng)操作。甚至在自動(dòng)程序的幫助下,無(wú)需過(guò)多人工調(diào)節(jié),便可一鍵得到理想的拍攝圖片。CEM3000臺(tái)式掃描電鏡無(wú)需占據(jù)大量
2025-08-25 11:19:50
,導(dǎo)致部分膜層厚度測(cè)量結(jié)果偏離真實(shí)值。對(duì)此本文構(gòu)建了一套針對(duì)超薄膜橢偏測(cè)量靈敏度和唯一性評(píng)估模型,應(yīng)用于超薄膜待測(cè)參數(shù)高精度的提取,并結(jié)合在國(guó)內(nèi)領(lǐng)先測(cè)量供應(yīng)商費(fèi)曼儀器
2025-08-22 18:09:58
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1. 項(xiàng)目概述
本項(xiàng)目旨在開(kāi)發(fā)并部署一個(gè)高精度的深度學(xué)習(xí)模型,用于自動(dòng)鑒別一張圖片是由AI生成(如Stable Diffusion, DALL-E, Midjourney等工具生成)還是真實(shí)的畫(huà)家
2025-08-21 13:59:47
在半導(dǎo)體芯片的研發(fā)與失效分析環(huán)節(jié),聚焦離子束雙束系統(tǒng)(FIB-SEM)憑借其獨(dú)特的功能,逐漸成為該領(lǐng)域的核心技術(shù)工具。簡(jiǎn)而言之,這一系統(tǒng)將聚焦離子束(FIB)的微加工優(yōu)勢(shì)與掃描電子顯微鏡(SEM
2025-08-14 11:24:43
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SEM(Soft Error Mitigation)技術(shù)通過(guò)目標(biāo)式ECC奇偶校驗(yàn)位注入實(shí)現(xiàn)可觀測(cè)的軟錯(cuò)誤模擬。該機(jī)制在配置存儲(chǔ)器幀(CRAM Frame)內(nèi)精確選擇校驗(yàn)位進(jìn)行可控翻轉(zhuǎn),確保注入錯(cuò)誤
2025-08-13 16:59:01
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SEM是一種功能強(qiáng)大的工具,在材料科學(xué)、生物學(xué)、納米技術(shù)和醫(yī)學(xué)研究等科學(xué)領(lǐng)域得到廣泛應(yīng)用,其常見(jiàn)用途是測(cè)量納米和微米尺度上物體或結(jié)構(gòu)的尺寸。
2025-08-12 10:38:44
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中圖儀器sem掃描電鏡檢測(cè)儀器憑借空間分辨率出色和易用性強(qiáng),用戶能夠非??旖莸剡M(jìn)行各項(xiàng)操作。甚至在自動(dòng)程序的幫助下,無(wú)需過(guò)多人工調(diào)節(jié),便可一鍵得到理想的拍攝圖片。CEM3000臺(tái)式掃描電鏡無(wú)需占據(jù)
2025-08-11 13:47:13
CEM3000SEM掃描電子顯微電鏡憑借其簡(jiǎn)便的操作系統(tǒng),讓復(fù)雜的掃描電鏡使用過(guò)程變得簡(jiǎn)單快捷。在工業(yè)領(lǐng)域展現(xiàn)出廣泛的應(yīng)用價(jià)值,標(biāo)配有高性能二次電子探頭和多象限背散射探頭、并可選配能譜儀、低真空系統(tǒng)
2025-08-04 13:43:34
中圖儀器金屬材料掃描電鏡SEM憑借空間分辨率出色和易用性強(qiáng),用戶能夠非??旖莸剡M(jìn)行各項(xiàng)操作。甚至在自動(dòng)程序的幫助下,無(wú)需過(guò)多人工調(diào)節(jié),便可一鍵得到理想的拍攝圖片。CEM3000臺(tái)式掃描電鏡無(wú)需占據(jù)
2025-07-28 15:18:12
,SEM的圖像顆粒輪廓、裂紋走向、元素襯度一目了然。透射電鏡(TEM)則讓高能電子直接“穿墻而過(guò)”。只有當(dāng)樣品被削到百納米以下,電子才能帶著晶格間距、厚度、缺陷密
2025-07-18 21:05:21
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厘米級(jí)的精確參考。那么一份能夠滿足自動(dòng)駕駛需求的高精度地圖到底是如何生成的?其背后又依賴了哪些關(guān)鍵技術(shù)? 想要生成一張合格的高精度地圖,需要“眼睛”先看懂路,這個(gè)“眼睛”來(lái)自于多傳感器的數(shù)據(jù)采集平臺(tái)。常見(jiàn)的做法是借助
2025-07-18 09:08:16
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聚焦離子束掃描電鏡(FIB-SEM)是一種集多種先進(jìn)技術(shù)于一體的微觀分析儀器,其工作原理基于離子束與電子束的協(xié)同作用。掃描電子顯微鏡(SEM)工作機(jī)制掃描電子顯微鏡(SEM)的核心成像邏輯并非
2025-07-17 16:07:54
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Molex 的薄膜電池由鋅和二氧化錳制成,讓最終用戶更容易處置電池。大多數(shù)發(fā)達(dá)國(guó)家都有處置規(guī)定;這使得最終用戶處置帶有鋰電池的產(chǎn)品既昂貴又不便。消費(fèi)者和醫(yī)療制造商需要穿著舒適且輕便的解決方案
2025-07-15 17:53:47
第一張圖和第二張圖是空載的時(shí)候,第三張圖和第四張圖是帶載2A時(shí)
2025-06-30 16:00:50
中圖儀器CEM3000材料表征SEM掃描電鏡采用的鎢燈絲電子槍,發(fā)射電流大、穩(wěn)定性好,以及對(duì)真空度要求不高。臺(tái)式電鏡無(wú)需占據(jù)大量空間來(lái)容納整個(gè)電鏡系統(tǒng),這使其甚至能夠出現(xiàn)在用戶日常工作的桌面上,在用
2025-06-27 11:37:55
中圖儀器CEM3000高性能SEM掃描電鏡空間分辨率出色和易用性強(qiáng),用戶能夠非??旖莸剡M(jìn)行各項(xiàng)操作。甚至在自動(dòng)程序的幫助下,無(wú)需過(guò)多人工調(diào)節(jié),便可一鍵得到理想的拍攝圖片。CEM3000全系列電鏡均
2025-06-24 11:23:09
氧化硅薄膜和氮化硅薄膜是兩種在CMOS工藝中廣泛使用的介電層薄膜。
2025-06-24 09:15:23
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中圖儀器SEM掃描電鏡斷裂失效分析采用鎢燈絲電子槍,其電子槍發(fā)射電流大、穩(wěn)定性好,以及對(duì)真空度要求不高,使得鎢燈絲臺(tái)式掃描電鏡能夠在較短的時(shí)間內(nèi)達(dá)到穩(wěn)定的工作狀態(tài)并獲得清晰的圖像,從而提高了檢測(cè)效率
2025-06-17 15:02:09
和n+摻雜層鈍化的未拋光的平面硅片ITO薄膜既是減反射涂層(ARC),也是正面觸點(diǎn)。
(左圖,中間圖)不同放大倍數(shù)的太陽(yáng)能電池頂部圓盤的電子顯微圖。左邊的圖突出了單個(gè)圓盤的特性,而中間的SEM圖突出
2025-06-17 08:58:17
中圖儀器CEM3000系列多探頭SEM掃描電鏡采用鎢燈絲電子槍,其電子槍發(fā)射電流大、穩(wěn)定性好,以及對(duì)真空度要求不高,使得鎢燈絲臺(tái)式掃描電鏡能夠在較短的時(shí)間內(nèi)達(dá)到穩(wěn)定的工作狀態(tài)并獲得清晰的圖像,從而
2025-06-09 18:13:01
如下圖所示:
python demo11_line.py
第一張圖像,展示的是創(chuàng)建出來(lái)的黑色圖,第二張圖像是畫(huà)線完成的圖像,至此,畫(huà)線實(shí)驗(yàn)就結(jié)束了。
2025-06-04 10:38:31
。甚至在自動(dòng)程序的幫助下,無(wú)需過(guò)多人工調(diào)節(jié),便可一鍵得到理想的拍攝圖片。中圖儀器sem掃描電子顯微鏡儀器采用的鎢燈絲電子槍控制相對(duì)簡(jiǎn)單,操作容易上手,不需要專業(yè)的
2025-05-30 10:54:19
CEM3000系列SEM電鏡掃描儀器采用的鎢燈絲電子槍控制相對(duì)簡(jiǎn)單,操作容易上手,不需要專業(yè)的、長(zhǎng)時(shí)間的培訓(xùn)即可掌握其基本操作技能,適合廣大用戶使用,尤其是對(duì)于那些沒(méi)有深厚電子顯微鏡操作經(jīng)驗(yàn)的初學(xué)者
2025-05-26 15:56:38
中圖儀器CEM3000系列sem掃描電子顯微鏡空間分辨率出色和易用性強(qiáng),用戶能夠非常快捷地進(jìn)行各項(xiàng)操作。甚至在自動(dòng)程序的幫助下,無(wú)需過(guò)多人工調(diào)節(jié),便可一鍵得到理想的拍攝圖片。采用的鎢燈絲電子槍控制
2025-05-22 17:07:41
我們想使用 CYUSB3025 讀取 2 張 SD 卡,但是我們正在進(jìn)行板載測(cè)試。 最后它只讀了一張卡。
我可以知道如何同時(shí)讀取 2 張 SD 卡嗎? 謝謝。
2025-05-19 07:51:22
中圖儀器SEM鎢燈絲掃描電子顯微鏡采用鎢燈絲電子槍,其電子槍發(fā)射電流大、穩(wěn)定性好,以及對(duì)真空度要求不高,使得鎢燈絲臺(tái)式掃描電鏡能夠在較短的時(shí)間內(nèi)達(dá)到穩(wěn)定的工作狀態(tài)并獲得清晰的圖像,從而提高了檢測(cè)效率
2025-05-15 14:32:49
中圖儀器鎢燈絲掃描電鏡SEM采用鎢燈絲電子槍,其電子槍發(fā)射電流大、穩(wěn)定性好,以及對(duì)真空度要求不高,使得鎢燈絲臺(tái)式掃描電鏡能夠在較短的時(shí)間內(nèi)達(dá)到穩(wěn)定的工作狀態(tài)并獲得清晰的圖像,從而提高了檢測(cè)效率,節(jié)省
2025-05-13 15:50:16
中圖儀器CEM3000自主化SEM掃描電鏡采用鎢燈絲電子槍,其電子槍發(fā)射電流大、穩(wěn)定性好,以及對(duì)真空度要求不高,使得鎢燈絲臺(tái)式掃描電鏡能夠在較短的時(shí)間內(nèi)達(dá)到穩(wěn)定的工作狀態(tài)并獲得清晰的圖像,從而
2025-05-07 10:44:54
中圖SEM掃描電鏡憑借其簡(jiǎn)便的操作系統(tǒng),讓復(fù)雜的掃描電鏡使用過(guò)程變得簡(jiǎn)單快捷。樣品一鍵裝入,自動(dòng)導(dǎo)航和一鍵出圖能力(自動(dòng)聚焦+自動(dòng)消像散+自動(dòng)亮度對(duì)比度)幫助用戶在短短幾十秒內(nèi)就可獲取高清圖像,大大
2025-05-06 17:48:47
).sem);
此時(shí)該傳入的參數(shù)在莫名的情況下變成了NULL,該問(wèn)題發(fā)生在頻繁建立和斷開(kāi)TCP連接的測(cè)試案例中。
請(qǐng)教一下引起這個(gè)現(xiàn)象的主要原因有哪些?
2025-04-30 07:35:46
精確無(wú)損測(cè)量薄膜厚度對(duì)光伏太陽(yáng)能電池等電子器件很關(guān)鍵。在高效硅異質(zhì)結(jié)(SHJ)太陽(yáng)能電池中,叉指背接觸(IBC)設(shè)計(jì)可減少光反射和改善光捕獲,但其制備需精確圖案化和控制薄膜厚度。利用光致發(fā)光成像技術(shù)
2025-04-21 09:02:50
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技術(shù)原理與核心優(yōu)勢(shì)聚焦離子束雙束系統(tǒng)(FIB-SEM)是一種集成多種先進(jìn)技術(shù)的高端設(shè)備,其核心構(gòu)成包括聚焦離子束(FIB)模塊、掃描電子顯微鏡(SEM)模塊以及多軸樣品臺(tái),這種獨(dú)特的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)使得它能
2025-04-10 11:53:44
1125 
聚焦離子束顯微鏡(FIB-SEM)作為一種前沿的微觀分析與加工工具,將聚焦離子束(FIB)和掃描電子顯微鏡(SEM)技術(shù)深度融合,兼具高分辨率成像和精密微加工能力,廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、電子工業(yè)
2025-04-01 18:00:03
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系統(tǒng)構(gòu)成與工作原理FIB-SEM雙束系統(tǒng)是一種集微區(qū)成像、加工、分析、操縱于一體的綜合型分析與表征設(shè)備。其基本構(gòu)成是將單束聚焦離子束系統(tǒng)與掃描電子顯微鏡(SEM)耦合而成。在常見(jiàn)的雙束設(shè)備中,電子束
2025-03-28 12:14:50
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SEM掃描電鏡即掃描電子顯微鏡,主要用于以下方面的檢測(cè):1、材料微觀形貌觀察-材料表面結(jié)構(gòu):可以清晰地觀察到材料表面的微觀結(jié)構(gòu),如金屬材料的表面紋理、陶瓷材料的晶粒分布、高分子材料的表面形貌等。例如
2025-03-24 11:45:43
3200 
聚焦離子束掃描電鏡(FIB-SEM)憑借其高分辨率成像與精準(zhǔn)微加工能力,已成為科學(xué)研究和工程領(lǐng)域不可或缺的工具。它將聚焦離子束(FIB)與掃描電子顯微鏡(SEM)的功能完美結(jié)合,實(shí)現(xiàn)了微觀結(jié)構(gòu)
2025-03-21 15:27:33
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Molex 的薄膜電池由鋅和二氧化錳制成,讓最終用戶更容易處置電池。大多數(shù)發(fā)達(dá)國(guó)家都有處置規(guī)定;這使得最終用戶處置帶有鋰電池的產(chǎn)品既昂貴又不便。消費(fèi)者和醫(yī)療制造商需要穿著舒適且輕便的解決方案
2025-03-21 11:52:17
聚焦離子束掃描電鏡雙束系統(tǒng)(FIB-SEM)作為一種前沿的微納加工與成像技術(shù),憑借其強(qiáng)大的功能和多面性,在材料科學(xué)研究中占據(jù)著舉足輕重的地位。它能夠深入微觀世界,揭示材料內(nèi)部的結(jié)構(gòu)與特性,為材料科學(xué)
2025-03-19 11:51:59
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離子束掃描電子顯微鏡(FIB-SEM)是將聚焦離子束(FIB)技術(shù)與掃描電子顯微鏡(SEM)技術(shù)有機(jī)結(jié)合的高端設(shè)備。什么是FIB-SEM?FIB-SEM系統(tǒng)通過(guò)聚焦離子束(FIB)和掃描電子顯微鏡
2025-03-12 13:47:40
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SEM技術(shù)及其在陶瓷電阻分析中的作用掃描電子顯微鏡(SEM)是一種強(qiáng)大的微觀分析工具,能夠提供高分辨率的表面形貌圖像。通過(guò)SEM測(cè)試,可以清晰地觀察到陶瓷電阻表面的微觀結(jié)構(gòu)和形態(tài)特征,從而評(píng)估其質(zhì)量
2025-03-05 12:44:38
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和n+摻雜層鈍化的未拋光的平面硅片ITO薄膜既是減反射涂層(ARC),也是正面觸點(diǎn)。
(左圖,中間圖)不同放大倍數(shù)的太陽(yáng)能電池頂部圓盤的電子顯微圖。左邊的圖突出了單個(gè)圓盤的特性,而中間的SEM圖突出
2025-03-05 08:57:32
本案例的目的是仿真圖像經(jīng)過(guò)圖像處理轉(zhuǎn)化成二進(jìn)制信號(hào)之后,在光纖系統(tǒng)中進(jìn)行傳輸,最后經(jīng)過(guò)圖像恢復(fù)得到傳輸后的圖像,并觀察眼圖來(lái)評(píng)估傳輸質(zhì)量。
一、黑白圖像傳輸
首先,我們搭建一個(gè)如圖1所示的系統(tǒng)布局
2025-03-03 09:26:33
第一張圖是在DMD未啟動(dòng)時(shí),用激光照射DMD芯片時(shí)反射的圖像
第二張圖是DMD啟動(dòng)后,用激光照射DMD芯片時(shí)反射的圖像。和第一張圖相比,大部分反射圖像由左下角轉(zhuǎn)移到右上角,但左下角依之前衍射
2025-03-03 06:13:35
sequence子模式,我是通過(guò)使用opengl配合顯卡畫(huà)出正弦圖像并進(jìn)行投影,但是從lightcrafter的J7口得到的觸發(fā)脈沖頻率是顯卡的刷新頻率,并不能正確的拍到一張張正弦圖,請(qǐng)問(wèn)
2025-02-28 08:38:41
白光直接照到dmd上 透射一張白色圖片 為什么會(huì)出現(xiàn)這么多顏色 理論上不是只有向右反射出白方塊嗎
2025-02-28 07:36:26
你好,剛買了一臺(tái)Lightcraft4500,看英文說(shuō)明書(shū)看不太懂,我想使用Lightcraft4500有一定的時(shí)間間隔投影4張24位的RGB圖像,請(qǐng)問(wèn)該如何操作,謝謝。還有,請(qǐng)問(wèn)貴公司能不能發(fā)布一些中文的詳細(xì)軟件操作手冊(cè),這樣便于使用。非常感謝
2025-02-27 08:41:34
求教DLP 4500能否上傳一組912*1140分辨率的bmp圖片,然后給正向觸發(fā),每次觸發(fā)投影一張圖片?
如果可以,如何操作,user‘s guide貌似沒(méi)看到這種操作。附件為其中一張bmp圖片。
2025-02-27 07:28:56
我用98h命令建立內(nèi)部pattern投影表發(fā)現(xiàn)當(dāng)一個(gè)set有多張圖片時(shí),只重復(fù)投影第一張pattern多次
例如一個(gè)set有5張pattern,我設(shè)置pattern num為5,但是投影的圖像
2025-02-27 06:35:41
DLP3010+DLPC3478目前開(kāi)機(jī)是一張splah圖片,是否可以通過(guò)更改固件讓開(kāi)機(jī)就進(jìn)入internal pattern mode 進(jìn)行投圖呢,同時(shí)trigger也默認(rèn)配置。
因?yàn)镈LP4500通過(guò)更改ini文件是可以做到這樣的,我想實(shí)現(xiàn)和4500一樣的功能,請(qǐng)問(wèn)是否可以實(shí)現(xiàn)?
2025-02-26 07:49:13
DLP4500中存儲(chǔ)4張24位圖像,按照8bit一幅投射,共12幅,編號(hào)為0,1,2,3,4,5,6,7,8,9,10,11。
PatLut 為0,1,2,0,1,2,0,1,2,0,1,2
2025-02-26 06:02:41
1,我用DLP4500外觸發(fā)相機(jī),投一張pattern相機(jī)拍攝一次,按照手冊(cè)trig_out的引腳J14上的pin2接到了相機(jī)的觸發(fā)線輸入,pin6接的相機(jī)的地,但是用示波器顯示J14的pin2
2025-02-25 08:43:20
,而非每一張圖都需要點(diǎn)擊鼠標(biāo)好幾次。
4 說(shuō)明文檔當(dāng)中提到vidio模式,也是按1bit的圖像進(jìn)行播放的,是否可以理解為,如果把24bit圖像按照順序做成vidio,最后播放出來(lái),對(duì)于1bit圖像而言也就是達(dá)到2.8kHz以上呢?(這樣是屬于External RGB Input Pattern嗎?)
2025-02-25 07:30:31
DMD)。如果配置周期大于曝光時(shí)間,效果會(huì)得到改善,當(dāng)大于某個(gè)值時(shí),則不會(huì)有后一張投影的殘留。不知道是什么原因?
3.當(dāng)投影8bit圖像時(shí)
如果總bit數(shù)不超過(guò)48bit,則兩種周期與曝光配置方式都能
2025-02-25 06:31:27
我想事先燒錄一組圖案至dlp6500的固件內(nèi),然后利用上位機(jī)軟件調(diào)用dlpc900 SDK提供的API來(lái)控制投影儀,通過(guò)指定圖像索引來(lái)投影我想要投影的某一張圖案。這個(gè)功能我之前在利用dlp4500
2025-02-25 06:07:34
我目前使用DLP4500投影8張8bit的光柵圖片,圖片是以及燒錄到硬件中,使用pattern sequence 模式投影,但是發(fā)現(xiàn)一些問(wèn)題,具體如下:
1.曝光時(shí)間&lt
2025-02-25 06:03:48
SEM是掃描電鏡,英文全稱為ScanningElectronMicroscope。以下是關(guān)于掃描電鏡的一些基本信息:1、工作原理:掃描電鏡是一種利用電子束掃描樣品表面,通過(guò)檢測(cè)電子與樣品相互作用產(chǎn)生
2025-02-24 09:46:26
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你好,吳工,用DLP4500燒錄9張8bit位深度的相移圖,3張合成了一張24bit,結(jié)果每一張24bit都重復(fù)投射三次,想問(wèn)下這是為什么?(我使用的是之前發(fā)的那個(gè)VS2010版本的API控制代碼)
2025-02-24 08:00:36
時(shí),直接先通過(guò)并行口輸入一張圖像,用以保證后續(xù)每次圖片都正常,但是測(cè)試時(shí)發(fā)現(xiàn),只要兩次圖像操作的時(shí)間間隔超過(guò)一定時(shí)間,后面操作輸出的第1次圖像又會(huì)變成默認(rèn)圖像。請(qǐng)問(wèn),在External Pattern
2025-02-21 14:49:30
工程師您好,DMD一張張加載圖片顯示這個(gè)速度是否能夠更改?在DMD上加載圖片顯示目前只能6幀/s。如果需要提高速度應(yīng)該從哪里去考慮?謝謝回答。
2025-02-21 12:12:13
6500的一次可以投影多少張8bit圖像呢,我一次投影20張灰度圖和單張投影20次效果也不一樣,每次灰度標(biāo)定都一張張投影非常費(fèi)時(shí)
望大佬們可以解答?。「屑げ槐M?。?
2025-02-21 10:20:50
片數(shù)量有時(shí)候會(huì)不對(duì),配置的15張圖,有時(shí)只有14張(少一張),有時(shí)有16張(多一張),出現(xiàn)少一張的情況往往持續(xù)出現(xiàn),出現(xiàn)多一張的情況往往每間隔7次trig once 會(huì)出現(xiàn)一次多一張圖的情況(多圖少圖
2025-02-21 07:54:35
掃描電鏡SEM(ScanningElectronMicroscope)是一種用于觀察和分析樣品微觀結(jié)構(gòu)和表面形貌的大型精密分析儀器,以下從其構(gòu)造、工作過(guò)程、應(yīng)用等方面進(jìn)行具體介紹:一、基本構(gòu)造
2025-02-20 11:38:40
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在編輯dlp3010的固件時(shí),更改了splash的四張圖片,并設(shè)置上電投影其中一張,實(shí)際燒錄之后,evm上電總是先顯示一張棋盤格圖片(并不在四張圖片內(nèi)),然后再顯示我所設(shè)置的圖片
2025-02-20 07:29:07
我最近在自己設(shè)計(jì)板子,我的需求是想讓DLP4710投影自己的四五張二值圖像,比如十字線或者圓形,并且可以通過(guò)MCU控制投影具體哪一張以及所在的位置(可以上下左右移動(dòng)圖片),這個(gè)需求可以實(shí)現(xiàn)
2025-02-19 07:09:20
我設(shè)置了三組Pattern Set(每組一張二值圖片,真實(shí)場(chǎng)景每組Set是18張,在此僅設(shè)置了一張而已),然后啟動(dòng)投影,發(fā)現(xiàn)每組Pattern Set之間的切換間隔間隔時(shí)間竟然達(dá)到了3ms上下。
請(qǐng)問(wèn)你們我可以有什么設(shè)置或者其它途徑改變這個(gè)時(shí)間嗎?請(qǐng)看下圖:
謝謝!
2025-02-17 08:29:23
我需要投影3個(gè)相位的8bit條紋光圖案,但是當(dāng)我提高觸發(fā)間隔到100ms時(shí),投影的圖案會(huì)重疊,投影一張或兩張時(shí),圖案沒(méi)有出現(xiàn)重疊的情況,另外我的曝光時(shí)間為40ms,我希望能盡可能提高圖案投影的幀率
我的相機(jī)和DLP做了同步,這是拍攝1張、2張、3張相位的圖像
2025-02-17 07:54:54
DLP4500中存儲(chǔ)4張8位圖像,記編號(hào)為0,1,2,3
PatLut 為0,1,2,0
splashLut為,0,1
但是投射的結(jié)果為0,3和兩張空白圖像。
希望得到幫助。
2025-02-17 07:28:42
示意圖。(b) Au濺射LLZTO 界面的截面SEM-EDS圖像。(c) UW-Li/Au-LLZTO的截面SEM圖。(d)具有不同 Au層濺射時(shí)間的UWLi|Au-LLZTO|Li對(duì)稱電池的EIS圖
2025-02-15 15:08:47
摘要結(jié)合聚焦離子束(FIB)技術(shù)和掃描電子顯微鏡(SEM)的FIB-SEM雙束系統(tǒng),通過(guò)整合氣體注入系統(tǒng)、納米操控器、多種探測(cè)器以及可控樣品臺(tái)等附件,已發(fā)展成為一個(gè)能夠進(jìn)行微觀區(qū)域成像、加工、分析
2025-02-10 11:48:44
834 
鋰離子電池材料的構(gòu)成鋰離子電池作為現(xiàn)代能源存儲(chǔ)領(lǐng)域的重要組成部分,其性能的提升依賴于對(duì)電池材料的深入研究。鋰離子電池通常由正極、負(fù)極、電解質(zhì)、隔膜和封裝材料等部分構(gòu)成。正極材料和負(fù)極材料的微觀結(jié)構(gòu)
2025-02-08 12:15:47
1145 
引言 隨著開(kāi)關(guān)電源的發(fā)展,軟開(kāi)關(guān)技術(shù)得到了廣泛的發(fā)展和應(yīng)用,已研究出了不少高效率的電路拓?fù)?,主要為諧振型的軟開(kāi)關(guān)拓?fù)浜蚉WM型的軟開(kāi)關(guān)拓?fù)?。近幾年?lái),隨著半導(dǎo)體器件制造技術(shù)的發(fā)展,開(kāi)關(guān)管的導(dǎo)通電
2025-02-08 10:58:38
8258 
01引言想象一下,當(dāng)你拿起手機(jī)拍攝一張風(fēng)景照時(shí),由于角度或設(shè)備本身的限制,照片可能會(huì)有點(diǎn)歪斜或者變形。這時(shí)候,你是否希望有一種方法可以簡(jiǎn)單地“拉直”這張照片,讓它看起來(lái)更加完美?或者,在構(gòu)建虛擬現(xiàn)實(shí)
2025-02-07 16:06:59
1271 
,DualBeamFIB-SEM(聚焦離子束-掃描電子顯微鏡雙束系統(tǒng))以其獨(dú)特的多合一功能,成為材料科學(xué)領(lǐng)域不可或缺的利器。DualBeamFIB-SEM系統(tǒng)的核心是將聚焦離子束(FIB)與掃
2025-01-26 13:40:47
542 
中圖儀器CEM3000系列高分辨率SEM掃描電鏡用于對(duì)樣品進(jìn)行微觀尺度形貌觀測(cè)和分析。它空間分辨率出色和易用性強(qiáng),用戶能夠非常快捷地進(jìn)行各項(xiàng)操作。甚至在自動(dòng)程序的幫助下,無(wú)需過(guò)多人工調(diào)節(jié),便可一
2025-01-15 17:15:21
硅太陽(yáng)能電池和組件在光伏市場(chǎng)占主導(dǎo),但半電池切割產(chǎn)生的新表面會(huì)加劇載流子復(fù)合,影響電池效率,邊緣鈍化技術(shù)可解決此問(wèn)題。Al2O3薄膜穩(wěn)定性高、介電常數(shù)高、折射率低,在光學(xué)和光電器件中有應(yīng)用前景,常用
2025-01-13 09:01:39
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如上圖所示所采集到的數(shù)據(jù)是在沒(méi)有任何輸入的前提下所得到的。
第一張圖片所得的數(shù)據(jù)是在打開(kāi)ADC3224 內(nèi)部斬波器所得的雙通道采樣數(shù)據(jù);第二張圖片所得的數(shù)據(jù)為關(guān)閉斬波器所得。采樣頻率為
2025-01-07 06:38:59
聚焦離子束掃描電子顯微鏡(FIB-SEM)雙束系統(tǒng)是一種集成了聚焦離子束(FIB)和掃描電子顯微鏡(SEM)功能的高科技分析儀器。它通過(guò)結(jié)合氣體沉積裝置、納米操縱儀、多種探測(cè)器和可控樣品臺(tái)等附件
2025-01-06 12:26:55
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評(píng)論