采購溫補(bǔ)晶振時(shí)特別需要關(guān)注頻率穩(wěn)定性、頻率溫度特性、頻率調(diào)節(jié)、輸出特性等,具體說明如下
2025-12-30 14:40:08
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芯片燒錄失敗多源于細(xì)節(jié)疏漏,使用編程器需規(guī)避常見錯誤。首要確保芯片與編程器適配,核查封裝、電壓協(xié)議并驗(yàn)證芯片 ID;重視環(huán)境與連接,做好靜電防護(hù)、保障電源穩(wěn)定及觸點(diǎn)清潔;規(guī)范文件流程,嚴(yán)格版本核對
2025-12-30 10:59:35
102 如何解決CW32L083系列微控制器在通信過程中可能出現(xiàn)的數(shù)據(jù)錯誤問題?
2025-12-16 08:01:10
MOSFET時(shí)需要綜合考慮多個(gè)因素,以確保其滿足BMS的高效和穩(wěn)定運(yùn)行要求。本文將介紹在BMS設(shè)計(jì)過程中選擇MDD的MOSFET時(shí)需要重點(diǎn)關(guān)注的關(guān)鍵因素和最佳實(shí)踐。一、MO
2025-12-15 10:24:57
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這是一個(gè)雙節(jié)鋰電池給各個(gè)系統(tǒng)供電的原理圖,可以實(shí)現(xiàn)充電功能
問題1:為什么在充電過程中HY2213-BB3A會特別特別燙,這應(yīng)該如何解決
問題2:把充電放電保護(hù)模塊去掉后,在充電過程中帶開關(guān)的鋰電池
2025-11-26 21:05:34
煤炭運(yùn)輸過程中,由于煤堆內(nèi)部通風(fēng)不暢導(dǎo)致熱量積聚,存在自燃風(fēng)險(xiǎn),嚴(yán)重威脅運(yùn)輸安全。在煤炭運(yùn)輸環(huán)節(jié)部署紅外熱像儀系統(tǒng),可顯著提升安全等級并優(yōu)化管理效能。
2025-11-06 15:41:26
390 問題與NucleiStudio中的問題3類似,即Flash程序錯誤,MCU鎖死,其報(bào)錯界面如下圖所示??梢园凑丈鲜鰡栴}3中的方法加以解決。
正常下載的界面如下所示:
此外需要注意的點(diǎn)
2025-10-30 07:59:05
從鋁到銅,再到釕與銠,半導(dǎo)體布線技術(shù)的每一次革新,都是芯片性能躍升的關(guān)鍵引擎。隨著制程進(jìn)入2nm時(shí)代,傳統(tǒng)銅布線正面臨電阻與可靠性的極限挑戰(zhàn),而鑲嵌(大馬士革)工藝的持續(xù)演進(jìn)與新材料的融合,為超高
2025-10-29 14:27:51
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在超高純度晶圓制造過程中,盡管晶圓本身需達(dá)到11個(gè)9(99.999999999%)以上的純度標(biāo)準(zhǔn)以維持基礎(chǔ)半導(dǎo)體特性,但為實(shí)現(xiàn)集成電路的功能化構(gòu)建,必須通過摻雜工藝在硅襯底表面局部引入特定雜質(zhì)。
2025-10-29 14:21:31
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晶圓制造過程中,多個(gè)關(guān)鍵工藝環(huán)節(jié)都極易受到污染,這些污染源可能來自環(huán)境、設(shè)備、材料或人體接觸等。以下是最易受污染的環(huán)節(jié)及其具體原因和影響: 1. 光刻(Photolithography) 污染類型
2025-10-21 14:28:36
688 在長期提供技術(shù)支持服務(wù)的過程中,飛凌嵌入式總結(jié)了用戶開發(fā)全志系列產(chǎn)品時(shí)常見的問題及排查方法。本文中,小編將為大家梳理這些經(jīng)驗(yàn),助力開發(fā)者快速定位問題,提升開發(fā)效率。
2025-10-15 08:04:36
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UPS在日常的使用過程中,只有定期對UPS放電才能延長UPS的使用壽命,UPS 電源電池需要每三個(gè)月進(jìn)行一次充放電,怎樣對UPS進(jìn)行放電才能讓其保持在最佳工作狀態(tài)? 現(xiàn)在,由匯智天源工程師和大家聊一
2025-10-11 11:33:23
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在現(xiàn)代環(huán)境監(jiān)測、農(nóng)業(yè)調(diào)查及地質(zhì)研究中,野外地物光譜儀成為不可或缺的工具。許多用戶在選購過程中常常面臨諸多疑問:如何選擇適合自己需求的地物光譜儀?哪些關(guān)鍵參數(shù)影響測量精度?如何保證設(shè)備在復(fù)雜野外環(huán)境下
2025-09-30 10:50:02
261 在大電流起弧過程中,電弧的燃燒會伴隨聲壓與超聲波信號的產(chǎn)生,這些信號并非雜亂無章,而是與電弧的燃燒狀態(tài)、故障類型緊密相關(guān)。正常起弧時(shí),電弧燃燒穩(wěn)定,聲壓與超聲波信號呈現(xiàn)出規(guī)律的特征;當(dāng)起弧過程中存在
2025-09-29 09:27:38
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串口發(fā)送數(shù)據(jù)的過程中,會中間停幾毫秒,導(dǎo)致PLC觸發(fā)了MODBUS的T3.5,數(shù)據(jù)接收不對,
1、一開始用的是freemodbus,查看后發(fā)現(xiàn)是輪詢發(fā)送,后來改為不用freemodbus,直接發(fā)
2025-09-29 07:51:18
lv_port_disp_init();使用lvgl時(shí)在移植過程中這個(gè)函數(shù)報(bào)錯怎么解決
2025-09-19 07:35:31
芯片在研發(fā)過程中一般包含4個(gè)階段:芯片設(shè)計(jì)、生產(chǎn)樣片、測試驗(yàn)證和大規(guī)模量產(chǎn)。在完成芯片設(shè)計(jì)后,工程師們需要先拿到一些芯片樣片,用它們進(jìn)行測試和驗(yàn)證,來判斷新研發(fā)的芯片在功能和性能上是否符合設(shè)計(jì)要求
2025-09-09 15:04:36
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請問,有什么辦法可以在CUBEIDE 調(diào)試過程中,將數(shù)組的數(shù)據(jù)拷貝到電腦上去?
2025-09-09 07:20:49
在氣瓶充裝過程中,溫度異??赡芤l(fā)瓶體爆裂、氣體泄漏等嚴(yán)重事故,直接威脅人員與生產(chǎn)安全。而紅外測溫技術(shù)的應(yīng)用,正成為實(shí)時(shí)監(jiān)控溫度、防范風(fēng)險(xiǎn)的“利器”。
2025-08-26 15:54:58
759 一臺某品牌存儲設(shè)備中有一組由8塊硬盤(包括熱備盤)組建的raid5磁盤陣列。上層安裝的Linux操作系統(tǒng)。
raid5磁盤陣列有一塊硬盤掉線,熱備盤自動上線并開始同步數(shù)據(jù)。在熱備盤同步數(shù)據(jù)的過程中,raid5陣列又有一塊硬盤由于未知原因掉線,raid同步過程中斷。
存儲崩潰;陣列不可用,卷無法掛載。
2025-08-26 13:24:31
234 對于新唐的8051芯片,在Keil Debug模式下的單步執(zhí)行過程中,定時(shí)器可以停止嗎?
2025-08-26 06:33:25
對于新唐的8051芯片,在Keil Debug模式下的單步執(zhí)行過程中,定時(shí)器可以停止嗎?
2025-08-25 07:57:43
LZ-DZ100背面 在分布式光伏集群的遠(yuǎn)程運(yùn)維中,數(shù)據(jù)安全和隱私保護(hù)面臨多重風(fēng)險(xiǎn),包括 傳輸過程中的竊聽 / 篡改、未授權(quán)訪問控制指令、設(shè)備固件被惡意植入、敏感數(shù)據(jù)(如站點(diǎn)位置、運(yùn)行參數(shù))泄露 等
2025-08-22 10:26:23
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靜力水準(zhǔn)儀在測量過程中遇到誤差如何處理?靜力水準(zhǔn)儀在工程沉降監(jiān)測中出現(xiàn)數(shù)據(jù)偏差時(shí),需采取系統(tǒng)性處理措施。根據(jù)實(shí)際工況,誤差主要源于環(huán)境干擾、設(shè)備狀態(tài)、安裝缺陷及操作不當(dāng)四類因素,需針對性解決。靜力
2025-08-14 13:01:56
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在使用AURIX進(jìn)行調(diào)試的過程中,如果進(jìn)入某個(gè)函數(shù)的時(shí)候出現(xiàn)問題,是配置項(xiàng)的問題還是函數(shù)中的變量的問題?
2025-08-11 07:17:56
今天,我將與您分享在購買鋰電池清洗機(jī)之前的重要預(yù)防措施!在任何場合和任何過程中,保持工業(yè)和其他部件的清潔都是非常重要的。清潔部件有助于機(jī)器的順利運(yùn)行;它們有助于保護(hù)敏感部件免受損壞、污染和腐蝕
2025-08-08 17:04:12
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增強(qiáng)型GaN HEMT具有開關(guān)速度快、導(dǎo)通電阻低、功率密度高等特點(diǎn),正廣泛應(yīng)用于高頻、高效率的電源轉(zhuǎn)換和射頻電路中。但由于其柵極電容小,柵極閾值電壓低(通常在1V到2V之間)、耐受電壓低(通常-5V到7V)等特點(diǎn),使得驅(qū)動電路設(shè)計(jì)時(shí)需格外注意,防止開關(guān)過程中因誤導(dǎo)通或振蕩而導(dǎo)致器件失效。
2025-08-08 15:33:51
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涂布機(jī)主要是用于薄膜、紙張等的表面涂布工藝生產(chǎn),此機(jī)是將成卷的基材涂上一層特定功能的膠、涂料或油墨等,并烘干后裁切成片或收卷,被加工過程中的薄膜、紙張等物料及涂布機(jī)各類輥軸之間的互相摩擦?xí)a(chǎn)生大量
2025-08-08 13:40:44
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在濕法清洗過程中,防止污染物再沉積是確保清洗效果和產(chǎn)品質(zhì)量的關(guān)鍵。以下是系統(tǒng)化的防控策略及具體實(shí)施方法:一、流體動力學(xué)優(yōu)化設(shè)計(jì)1.層流場構(gòu)建技術(shù)采用低湍流度的層流噴淋系統(tǒng)(雷諾數(shù)Re9),同時(shí)向溶液
2025-08-05 11:47:20
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需要考慮多個(gè)因素以確保監(jiān)控系統(tǒng)的效果與安全性。以下是一份詳細(xì)的指南,幫助您在選購和安裝過程中做出明智的決策。天波IPC攝像頭可在戶外使用1、像素與清晰度:IPC監(jiān)
2025-07-31 09:45:01
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onnx轉(zhuǎn)kmodel環(huán)境安裝過程中,pip install onnxsim 報(bào)錯
2025-07-31 07:41:41
本文描述了ADC和FPGA之間LVDS接口設(shè)計(jì)需要考慮的因素,包括LVDS數(shù)據(jù)標(biāo)準(zhǔn)、LVDS接口數(shù)據(jù)時(shí)序違例解決方法以及硬件設(shè)計(jì)要點(diǎn)。
2025-07-29 10:01:26
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固件升級過程中,EC INT中斷經(jīng)常會被觸發(fā),如何禁用? 這個(gè)中斷,協(xié)議棧是怎么觸發(fā)的或者說需要滿足什么條件?
2025-07-25 06:43:33
據(jù)第一財(cái)經(jīng),360 集團(tuán)創(chuàng)始人周鴻祎在回答 “是否會重啟采購英偉達(dá) H20 芯片” 問題時(shí)表示,目前 360 對于芯片的采購正往國產(chǎn)芯片方向轉(zhuǎn)變,最近采購的(芯片)都是華為的產(chǎn)品。 ? 關(guān)于原因,他
2025-07-24 09:20:41
5006 半導(dǎo)體制造過程中,清洗工序貫穿多個(gè)關(guān)鍵步驟,以確保芯片表面的潔凈度、良率和性能。以下是需要清洗的主要工序及其目的: 1. 硅片準(zhǔn)備階段 硅片切割后清洗 目的:去除切割過程中殘留的金屬碎屑、油污和機(jī)械
2025-07-14 14:10:02
1016 在半導(dǎo)體硅片生產(chǎn)過程中,精確調(diào)控材料的電阻率是實(shí)現(xiàn)器件功能的關(guān)鍵,而原位摻雜、擴(kuò)散和離子注入正是達(dá)成這一目標(biāo)的核心技術(shù)手段。下面將從專業(yè)視角詳細(xì)解析這三種技術(shù)的工藝過程與本質(zhì)區(qū)別。
2025-07-02 10:17:25
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密切相關(guān)。高精度的讀碼器不僅能讀取完好無損的標(biāo)簽,對于部分損壞和模糊的標(biāo)簽也能保持較好的識別能力。四、接口與兼容性固定式讀碼器的接口類型和與其他設(shè)備的兼容性也是選購時(shí)需要重點(diǎn)考慮的指標(biāo)。1. 接口類型
2025-06-26 16:43:56
超聲波清洗機(jī)如何在清洗過程中減少廢液和對環(huán)境的影響隨著環(huán)保意識的增強(qiáng),清洗過程中的廢液處理和環(huán)境保護(hù)變得越來越重要。超聲波清洗機(jī)作為一種高效的清洗技術(shù),也在不斷發(fā)展以減少廢液生成和對環(huán)境的影響。本文
2025-06-16 17:01:21
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MOS管(金屬氧化物半導(dǎo)體場效應(yīng)晶體管)在開關(guān)過程中易產(chǎn)生電壓尖峰,可能引發(fā)器件損壞或電磁干擾問題。為有效抑制電壓尖峰,需從電路設(shè)計(jì)、器件選型、布局布線及保護(hù)措施等多維度進(jìn)行優(yōu)化,以下為具體解決方案
2025-06-13 15:27:10
1372 在巖土工程與結(jié)構(gòu)物安全監(jiān)測中,固定式測斜儀是捕捉位移變化的核心設(shè)備。然而,實(shí)際應(yīng)用中可能因環(huán)境、操作或設(shè)備因素導(dǎo)致測量誤差。很多人想要了解固定式測斜儀在測量過程中遇到誤差如何處理?下面讓南京峟思給
2025-06-13 12:10:00
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安裝過程中的關(guān)鍵控制點(diǎn),幫助用戶規(guī)避常見誤差風(fēng)險(xiǎn)。儀器檢查與預(yù)處理安裝前的準(zhǔn)備工作是避免誤差的第一步。首先需核對應(yīng)變計(jì)型號是否與設(shè)計(jì)要求一致,例如標(biāo)距(100mm
2025-06-13 12:01:42
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光纖布放過程中的安全問題涉及人身安全、設(shè)備安全及網(wǎng)絡(luò)可靠性三大維度,需從施工操作、環(huán)境防護(hù)、應(yīng)急處理等方面系統(tǒng)防范。以下是具體注意事項(xiàng)及應(yīng)對措施: 一、人身安全防護(hù) 防靜電傷害 風(fēng)險(xiǎn):靜電放電
2025-06-13 09:59:37
1282 01為什么要測高晶圓劃片機(jī)是半導(dǎo)體封裝加工技術(shù)領(lǐng)域內(nèi)重要的加工設(shè)備,目前市場上使用較多的是金剛石刀片劃片機(jī),劃片機(jī)上高速旋轉(zhuǎn)的金剛石劃片刀在使用過程中會不斷磨損,如果劃片刀高度不調(diào)整,在工件上的切割
2025-06-11 17:20:39
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純分享帖,需要者可點(diǎn)擊附件免費(fèi)獲取完整資料~~~*附件:晶閘管控制異步電機(jī)軟啟動過程中振蕩現(xiàn)象研究.pdf【免責(zé)聲明】本文系網(wǎng)絡(luò)轉(zhuǎn)載,版權(quán)歸原作者所有。本文所用視頻、圖片、文字如涉及作品版權(quán)問題,請第一時(shí)間告知,刪除內(nèi)容!
2025-06-04 14:39:26
在存儲示波器的校準(zhǔn)過程中,需嚴(yán)格遵守電氣安全、設(shè)備保護(hù)及操作規(guī)范,以避免人身傷害、設(shè)備損壞或數(shù)據(jù)丟失。以下從電氣安全、設(shè)備防護(hù)、環(huán)境控制及操作流程四個(gè)維度,系統(tǒng)化梳理關(guān)鍵安全事項(xiàng)。
一、電氣安全
2025-05-28 15:37:36
直線導(dǎo)軌在運(yùn)轉(zhuǎn)過程中發(fā)生震動會影響設(shè)備的精度和穩(wěn)定性,甚至可能導(dǎo)致設(shè)備故障。
2025-05-23 17:50:13
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視為堆疊邏輯與內(nèi)存、3D NAND,甚至可能在高帶寬存儲(HBM)中的多層DRAM堆疊的關(guān)鍵技術(shù)。垂直堆疊使得芯片制造商能夠?qū)⒒ミB間距從35μm的銅微凸點(diǎn)提升到10μm甚至更小。
2025-05-22 11:24:18
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單相短路沖擊電流的瞬時(shí)值可能比三相短路時(shí)還要大30-40%,同步電機(jī)投入電網(wǎng)時(shí)的誤整步產(chǎn)生的沖擊電流也可能達(dá)到三相突然短路時(shí)的2倍。
在某些情況下的醉變過程中,沖擊電流雖然很大,但由于時(shí)間短促,產(chǎn)生
2025-04-29 16:17:37
、Chiller在半導(dǎo)體工藝中的應(yīng)用解析1、溫度控制的核心作用設(shè)備穩(wěn)定運(yùn)行保障:半導(dǎo)體制造設(shè)備如光刻機(jī)、刻蝕機(jī)等,其內(nèi)部光源、光學(xué)系統(tǒng)及機(jī)械部件在運(yùn)行過程中產(chǎn)生大量熱量。Ch
2025-04-21 16:23:48
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一、關(guān)于PCBA加工中靜電危害
從時(shí)效性看,靜電對電子元器件的危害分為兩種:
1.突發(fā)性危害:這種危害一般能在加工過程中的質(zhì)量檢測中發(fā)現(xiàn),通常給加工帶來的損失只有返工維修的成本。
2.潛在性危害
2025-04-17 12:03:35
MAX15046可以在運(yùn)行過程中修改它的開關(guān)頻率嗎?比如重負(fù)載時(shí)候頻率設(shè)置500K,輕負(fù)載通過改變RT電阻改變開關(guān)頻率為50K,這樣可以嗎?開關(guān)電源運(yùn)行中這樣可以這樣操作嗎?
2025-04-17 06:53:44
我在調(diào)試ADPD188芯片的過程中用I2C調(diào)試過程出現(xiàn)一些問題,參考官方提供的代碼調(diào)試中發(fā)現(xiàn),初始化過不去,抓取波形發(fā)現(xiàn)芯片型號對不上了,從芯片外觀看ADPD188bi這個(gè)芯片,請問是是芯片回的問題還是軟件上需要調(diào)整還是什么原因,這個(gè)怎么去解決?
2025-04-16 06:57:42
在記憶示波器校準(zhǔn)過程中,需特別注意以下關(guān)鍵點(diǎn),以確保校準(zhǔn)結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性:一、環(huán)境控制
[td]因素影響措施
溫度元件特性變化,導(dǎo)致測量誤差保持(23±5)℃,變化率≤1℃/h
濕度漏電流增加
2025-04-15 14:15:58
在使用AD2428時(shí),通過主節(jié)點(diǎn)發(fā)現(xiàn)從節(jié)點(diǎn)的過程中,遇到以下問題:
按照手冊中將0x9寄存器配置成0x1,讀回0x17寄存器的值為0x29,且主節(jié)點(diǎn)未發(fā)現(xiàn)從節(jié)點(diǎn)。
但是當(dāng)在此基礎(chǔ)上,將0X9寄存器的值配置為0x9(即打開診斷模式),讀回0x17的值為0x18,主節(jié)點(diǎn)可發(fā)現(xiàn)從節(jié)點(diǎn)
2025-04-15 07:14:06
封裝方案制定是集成電路(IC)封裝設(shè)計(jì)中的關(guān)鍵環(huán)節(jié),涉及從芯片設(shè)計(jì)需求出發(fā),制定出滿足功能、電氣性能、可靠性及成本要求的封裝方案。這個(gè)過程的核心是根據(jù)不同產(chǎn)品的特性、應(yīng)用場景和生產(chǎn)工藝選擇合適的封裝
2025-04-04 10:02:40
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功率放大器選購過程中做出明智的決策。 一、功率需求 首先要考慮的是功率需求。確定所需的輸出功率級別是基本的考慮因素。根據(jù)應(yīng)用需求和所要驅(qū)動的負(fù)載類型,要選擇適當(dāng)?shù)墓β史糯笃?,確保其具備所需的功率輸出能力。 二、頻率響
2025-04-01 11:12:21
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前段工藝(Front-End)、中段工藝(Middle-End)和后段工藝(Back-End)是半導(dǎo)體制造過程中的三個(gè)主要階段,它們在制造過程中扮演著不同的角色。
2025-03-28 09:47:50
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該書講解了在開關(guān)電源的制作過程中一些關(guān)鍵的選型與參數(shù)計(jì)算方法
純分享貼,有需要可以直接下載附件獲取完整資料!
(如果內(nèi)容有幫助可以關(guān)注、點(diǎn)贊、評論支持一下哦~)
2025-03-25 16:34:19
本文介紹了N型單晶硅制備過程中拉晶工藝對氧含量的影響。
2025-03-18 16:46:21
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在 QA 過程中采用了哪些特定的測試方法?
什么是 QA 流程,以及 yocto/linux BSP 在整個(gè) QA 生命周期中如何跟蹤和管理缺陷?
RSB 3720 板的 QA 流程中使用了
2025-03-17 08:04:41
Bump Pattern Design(焊點(diǎn)圖案設(shè)計(jì)) 是集成電路封裝設(shè)計(jì)中的關(guān)鍵部分,尤其在BGA(Ball Grid Array)和Flip Chip等封裝類型中,焊點(diǎn)設(shè)計(jì)決定了芯片與封裝基板
2025-03-06 16:44:18
1603 對于優(yōu)化發(fā)酵過程至關(guān)重要。 一、CDMO(合同研發(fā)生產(chǎn)組織)發(fā)酵尾氣檢測的重要性 在CDMO過程中,發(fā)酵尾氣檢測是確保發(fā)酵過程順利進(jìn)行的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。它不僅關(guān)系到工藝參數(shù)的優(yōu)化和產(chǎn)品質(zhì)量的提升,還直接影響到生產(chǎn)效率與資源消耗。
2025-03-04 10:29:48
969 本文論述了芯片制造中薄膜厚度量測的重要性,介紹了量測納米級薄膜的原理,并介紹了如何在制造過程中融入薄膜量測技術(shù)。
2025-02-26 17:30:09
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DLP4710 LC套件,在使用的過程中,不需要內(nèi)置的光源,如何去掉這三個(gè)光源? 目前去掉LED,就無法正確投影圖像。 是否可以通過在硬件上對PMIC管理芯片的反饋引腳做一定處理,如R595這個(gè)
2025-02-25 06:28:34
您好,我們在使用過程中,偶發(fā)的會出現(xiàn)DMD損壞,不確定是表面的玻璃損壞了還是內(nèi)部的微鏡損壞,也無法確定損壞原因。還請F(tuán)AE給我點(diǎn)建議,損壞DMD圖片如下。謝謝!
2025-02-21 08:30:25
由于項(xiàng)目需要,采購了一塊DLP3010EVM評估板,但是在使用過程中,將連接DMD的FPC排線損壞了,如何購買相同規(guī)格的FPC進(jìn)行維修?
2025-02-21 07:21:32
當(dāng)在測量過程中發(fā)現(xiàn)粉塵層對電極有腐蝕現(xiàn)象時(shí),需要采取一系列科學(xué)有效的應(yīng)對措施,以確保測量工作的順利進(jìn)行以及設(shè)備的使用壽命和測量精度。 第一步,精準(zhǔn)確定粉塵的腐蝕性成分至關(guān)重要。不同的腐蝕性成分猶如
2025-02-20 09:07:41
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在linux下開發(fā)過程中, DLP4500 GUI 無法連接光機(jī),出現(xiàn)錯誤提示如下:
open device_handle error: Is a directory
opening path
2025-02-20 08:41:56
在租用海外服務(wù)器時(shí),確保數(shù)據(jù)安全需要綜合運(yùn)用技術(shù)措施、合規(guī)措施和管理措施。以下是具體建議: 1. 技術(shù)措施 數(shù)據(jù)加密 數(shù)據(jù)加密是保護(hù)數(shù)據(jù)隱私的關(guān)鍵手段。無論是數(shù)據(jù)存儲還是傳輸過程中,都應(yīng)采用高級加密
2025-02-18 15:23:02
590 、原輔料混合、制粒和壓片等下游工藝。產(chǎn)品的粒度與結(jié)晶過程諸多控制條件有關(guān),包括過飽和度、溶劑體系、雜質(zhì)種類與含量、晶種比表面積、晶種點(diǎn)、攪拌強(qiáng)度與反應(yīng)釜內(nèi)流體力學(xué)等,在過程控制中需要綜合考慮。在實(shí)驗(yàn)室規(guī)模完成工藝優(yōu)化
2025-02-18 09:45:56
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電阻焊是一種廣泛應(yīng)用的焊接技術(shù),特別是在汽車制造、航空航天和電子工業(yè)等領(lǐng)域。它通過電流產(chǎn)生的熱量來連接金屬部件,具有高效、快速的特點(diǎn)。然而,電阻焊過程中溫度的精確控制對于保證焊接質(zhì)量和提高生產(chǎn)效率
2025-02-18 09:16:57
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直線模組不光在電子行業(yè)運(yùn)用廣泛,醫(yī)用設(shè)備、激光設(shè)備等都是不可或缺的一部分,是用于實(shí)現(xiàn)各種自動化設(shè)備的直線運(yùn)動。
2025-02-17 17:54:47
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關(guān)于 ADS1298,我想澄清下列問題:
1. 為什么 ADS1298 在初始化過程中 START 引腳的建立時(shí)間會有延遲?如果輸入信號在該建立時(shí)間過程中 (tsettle) 發(fā)生變化,會出
2025-02-17 07:15:00
錫膏的爬錫性對于印刷質(zhì)量和焊接效果至關(guān)重要。要提高錫膏在焊接過程中的爬錫性
2025-02-15 09:21:38
973 驅(qū)動板的參數(shù)配置是一個(gè)復(fù)雜且關(guān)鍵的過程,涉及多個(gè)方面。以下是一些主要的參數(shù)配置步驟和考慮因素。
2025-02-14 14:53:22
855 的固定式二維影像掃描器,成為了許多用戶關(guān)注的焦點(diǎn)。以下,我們就來詳細(xì)探討一下選購時(shí)需要注意的幾個(gè)方面。一、掃描速度與精度掃描速度與精度是衡量掃描器性能的關(guān)鍵指標(biāo)。對
2025-02-14 14:38:34
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1、TLV5616存在數(shù)據(jù)間隔轉(zhuǎn)換 2、 數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換過程中當(dāng)數(shù)字量為奇數(shù)值時(shí)寫不進(jìn)去或著轉(zhuǎn)換不出模擬量的問題! 芯片工作外圍:5v (VCC)、Uref 2.56v(基準(zhǔn)電壓)
2025-02-14 08:12:26
以及美國制裁帶來的更大限制。 TechInsights的高級半導(dǎo)體制造業(yè)分析師Boris Metodiev指出,中國在過去兩年一直是晶圓制造設(shè)備的最大采購國,累計(jì)購買了價(jià)值高達(dá)410億美元的設(shè)備,占據(jù)了2024年全球銷售額的40%份額。然而,受多重因素影響,2025年中國在芯片制造設(shè)備
2025-02-13 10:50:51
1508 要降低顛轉(zhuǎn)儀在運(yùn)行過程中的能耗,可從電機(jī)選型、傳動系統(tǒng)優(yōu)化以及控制系統(tǒng)設(shè)計(jì)這幾個(gè)關(guān)鍵維度入手。 在電機(jī)選型方面,永磁同步電機(jī)是極具優(yōu)勢的選擇。相較于普通異步電機(jī),永磁同步電機(jī)的效率明顯更高。這主要
2025-02-13 09:26:24
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不管是LTC6912還是AFE5801通過SPI總線對reg進(jìn)行寫的時(shí)候,在寫的過程中,AFE5801還在工作狀態(tài)嗎?被寫的這個(gè)reg里的值是保持在上一時(shí)刻寫入的數(shù)據(jù)還是不定態(tài)?現(xiàn)在采用Static PGA模式寫TVG曲線,需要每隔一段時(shí)間更新增益值。在寫的過程中增益值是否會有問題。
2025-02-11 07:24:29
速度探頭在使用過程中需要注意安裝與維護(hù)、參數(shù)設(shè)置與校準(zhǔn)、使用注意事項(xiàng)以及安全注意事項(xiàng)等多個(gè)方面。只有做好這些工作,才能確保探頭的正常工作、測量精度和安全性。
2025-02-06 15:11:04
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如題,在使用ADS1211的過程中,發(fā)現(xiàn)出現(xiàn)諸多問題先羅列如下:
一、ADS1211的上電時(shí)序是否要求嚴(yán)格,比如先上5V模擬電壓在上5V數(shù)字電壓,如果不滿足條件會出現(xiàn)什么問題?
二、ADS1211
2025-02-05 06:42:28
ADS1282采集過程中兩個(gè)通道能夠切換做成雙通道采集兩路數(shù)據(jù)嗎?
2025-01-24 06:59:01
1、使用ADS1192的AD芯片,但是測試過程中,出現(xiàn)一個(gè)問題,設(shè)置PGA的值,比如設(shè)置寄存器里的gain 為1 和設(shè)置gain為12的值,他們的測試的值不是12倍關(guān)系,連2倍的比值都達(dá)不到
2025-01-24 06:11:17
本人打算使用ADS1274 ADC進(jìn)行前端信號采集,信號帶寬大概為1Khz 至 11Khz,使用ADC的快速采樣模式,外部振蕩器頻率為32.768MHz。 現(xiàn)在遇到的問題是,不知道前端信號調(diào)理過程中
2025-01-22 08:18:47
TLV320AIC3106音頻芯片采樣數(shù)據(jù)或者DA轉(zhuǎn)換時(shí)能不能不需要CPU的參與?比如cpu處理采樣回來的數(shù)據(jù)的同時(shí) 音頻芯片還可以一直在采樣數(shù)據(jù)。
公司給的例子如下:
按上面這樣做的話,DA轉(zhuǎn)換過程中cpu就做不了其他的事了
2025-01-16 06:36:21
消息源自上個(gè)月Arm與高通之間的一場訴訟。在訴訟過程中,Arm的內(nèi)部文件和高管證詞被披露,揭示了其未來的戰(zhàn)略意圖。盡管Arm試圖通過訴訟向高通爭取更高的授權(quán)費(fèi)率,但遺憾的是,這一努力并未取得成功。 根據(jù)訴訟中披露的信息,Arm的這一戰(zhàn)略調(diào)整
2025-01-14 13:51:27
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在使用DAC1282過程中,VREF=+2.5V, AVSS=-2.5V,AVDD=+2.5V,在sine模式下,設(shè)置寄存器0x0與0x1之分別為0x40和0x0;輸出正弦波峰峰值為2.5V。
請問這個(gè)對嗎?按照說明書上說峰峰值應(yīng)該是5V才對,有誰知道這是為什么
2025-01-13 08:14:06
SMT(表面貼裝技術(shù))生產(chǎn)過程中常見的缺陷主要包括以下幾種,以及相應(yīng)的解決方法: 一、元件立碑(Manhattan效應(yīng)) 缺陷描述 : 元器件在回流焊過程中發(fā)生傾斜或翻倒,導(dǎo)致元器件的一端或兩端翹起
2025-01-10 18:00:40
3448 在測試過程中,防止電池?cái)D壓試驗(yàn)機(jī)故障率的關(guān)鍵在于設(shè)備的使用、維護(hù)和保養(yǎng)。以下是一些具體的方法和建議: 一、正確使用設(shè)備 熟悉操作規(guī)程 · 操作人員必須熟讀并理解電池?cái)D壓試驗(yàn)機(jī)的操作規(guī)程和使用說明
2025-01-10 08:55:34
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1、現(xiàn)在可以使用的EC芯片有哪些、有哪些功能
2、是否提供直接可用的EC的固件?
3、如果需要自己編程,是否提供例程?
4、編程過程中的問題是否提供技術(shù)支持?
2025-01-09 16:16:24
半導(dǎo)體濕法刻蝕過程中殘留物的形成,其背后的機(jī)制涵蓋了化學(xué)反應(yīng)、表面交互作用以及側(cè)壁防護(hù)等多個(gè)層面,下面是對這些機(jī)制的深入剖析: 化學(xué)反應(yīng)層面 1 刻蝕劑與半導(dǎo)體材料的交互:濕法刻蝕技術(shù)依賴于特定
2025-01-08 16:57:45
1468 邊緣計(jì)算網(wǎng)關(guān)不僅負(fù)責(zé)數(shù)據(jù)的收集、處理和轉(zhuǎn)發(fā),還通過實(shí)時(shí)分析和決策,提高整體系統(tǒng)的運(yùn)行效率。然而,在選購邊緣計(jì)算網(wǎng)關(guān)時(shí),我們需要綜合考慮多個(gè)因素,以確保所選設(shè)備能夠高效、安全地支撐起物聯(lián)網(wǎng)應(yīng)用的穩(wěn)定
2025-01-07 16:19:56
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隨著學(xué)校對于科研的重視不斷加大,想要提升整體的科研實(shí)力,對于實(shí)驗(yàn)室的設(shè)備的采購需求也在增大,而差示掃描量熱法(DSC)作為一種高精度的熱分析技術(shù),能夠準(zhǔn)確測量物質(zhì)在加熱或冷卻過程中的能量變化,是研究
2025-01-06 10:23:55
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如圖,我采集到脈搏波波形為什么基線漂移如此大
希望各位大神解答下,在采集和使用AFE4400過程中如何減小基線漂移
2025-01-06 07:00:32
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