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FormFactor的新型CM300xi-ULN（超低噪聲）是一種革命性的300毫米晶圓探測(cè)系統(tǒng)，設(shè)計(jì)用于高精度閃爍噪聲（1 / f），隨機(jī)電報(bào)信號(hào)噪聲（RTN或RTS）以及超靈敏設(shè)備的相位噪聲測(cè)量。

借助獲得專(zhuān)利的PureLine?3技術(shù)，ULN探測(cè)系統(tǒng)可將噪聲降低多達(dá)32倍（1 kHz），從而在針對(duì)5G及更高應(yīng)用的7/5/2 nm技術(shù)節(jié)點(diǎn)上改善了器件特性和建模。相較以往的探針臺(tái)系統(tǒng)，通過(guò)消除97%以上的環(huán)境噪聲，CM300xi-ULN系統(tǒng)創(chuàng)立了新的超低噪聲測(cè)試的行業(yè)黃金標(biāo)準(zhǔn)。

當(dāng)與噪聲測(cè)量?jī)x表（1/f, RTN, 相位噪聲）集成時(shí)，CM300xi-ULN通過(guò)Contact IntelligenceTM和電動(dòng)針座搭配使用，可提供業(yè)界最高效率的自動(dòng)DC測(cè)量，以及采用多DUT并行的低頻噪聲測(cè)量，完全實(shí)現(xiàn)7X24作業(yè)。

最后，CM300xi-ULN降低了低噪聲TestCell優(yōu)化的復(fù)雜性。只需將其插入即可。 TestCell電源管理消除了所有由接地環(huán)路引起的TestCell噪聲，并為整個(gè)系統(tǒng)，探測(cè)器和儀器提供了經(jīng)過(guò)全面管理和濾波的交流電源。

此外，F(xiàn)ormFactor特有的環(huán)境檢測(cè)和系統(tǒng)驗(yàn)證功能可顯著降低系統(tǒng)架設(shè)和工具開(kāi)發(fā)的成本。幫助實(shí)驗(yàn)室工程師專(zhuān)注于獲得良好的測(cè)量數(shù)據(jù)，減少昂貴的重新設(shè)計(jì)次數(shù)，從而以較低的開(kāi)發(fā)成本加快產(chǎn)品上市時(shí)間。

*典型噪聲（dBVrms/√Hz, 1kHz to 1MHz），機(jī)臺(tái)和溫控系統(tǒng)開(kāi)啟狀態(tài)

應(yīng)用范圍：閃爍噪聲（1 / f），隨機(jī)電報(bào)噪聲（RTN）和超靈敏設(shè)備的相位噪聲測(cè)量

該探針臺(tái)支持Contact Intelligence?，這是一種創(chuàng)新技術(shù)，能夠檢測(cè)環(huán)境變化并作出反應(yīng)，以?xún)?yōu)化探針接觸準(zhǔn)確度，從而實(shí)現(xiàn)自主型半導(dǎo)體測(cè)試。FormFactor 的 Contact Intelligence 結(jié)合了智能硬件設(shè)計(jì)、創(chuàng)新軟件算法和多年的經(jīng)驗(yàn)，旨在創(chuàng)立一種可在廣泛應(yīng)用中提供優(yōu)勢(shì)的技術(shù)，即使在測(cè)量小Pad時(shí)也不例外。Contact Intelligence 可加快獲得準(zhǔn)確測(cè)量數(shù)據(jù)的時(shí)間，在某些場(chǎng)合中能將測(cè)試時(shí)間從數(shù)月銳減到短短幾分鐘。

審核編輯 黃昊宇