半導(dǎo)體測(cè)試概述

傳統(tǒng)意義的半導(dǎo)體測(cè)試指基于ATE機(jī)臺(tái)的產(chǎn)品測(cè)試，分為wafer level的CP測(cè)試(chip probing）或FE測(cè)試（FrontEnd test）...

2023-11-06 標(biāo)簽：測(cè)試半導(dǎo)體封裝 1.1萬(wàn) 0

如何區(qū)分opc ua和opc da協(xié)議和對(duì)應(yīng)的使用測(cè)試

本文介紹了opc ua和opc da兩種協(xié)議的區(qū)別和使用上的區(qū)別，分別介紹了兩種協(xié)議的測(cè)試軟件。

2023-11-01 標(biāo)簽：測(cè)試網(wǎng)關(guān)OPC 2546 0

安全驅(qū)動(dòng)示例的測(cè)試

完成所有修改之后，編譯整個(gè)OP-TEE工程然后運(yùn)行。在OP-TEE的啟動(dòng)日志中能看見(jiàn)示例中的系統(tǒng)服務(wù)和驅(qū)動(dòng)啟動(dòng)的日志，啟動(dòng)的日志如圖22-4所示。 系統(tǒng)...

2023-10-30 標(biāo)簽：測(cè)試數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng) 690 0

如何測(cè)試電源紋波和噪聲？納米軟件電源模塊測(cè)試系統(tǒng)如何助力測(cè)試？

紋波及噪聲測(cè)試是電源模塊測(cè)試項(xiàng)目之一，也是電源模塊測(cè)試的重要環(huán)節(jié)，因?yàn)榧y波噪聲對(duì)設(shè)備的性能和穩(wěn)定性有很大影響。通過(guò)電源紋波噪聲測(cè)試，檢測(cè)電源紋波情況，從...

2023-10-30 標(biāo)簽：測(cè)試電源模塊 1006 0

ATE如何測(cè)試PLL

兩種方法： 時(shí)域和頻域測(cè)試，如下： ?方法1. ATE time measurement unit （ TMU）測(cè)試。（時(shí)域，需要額外的TMU lice...

2023-10-30 標(biāo)簽：測(cè)試ICpll 1619 0

DFT如何產(chǎn)生PLL 測(cè)試pattern

DFT PLL向量，ATE怎么用？ 自動(dòng)測(cè)試設(shè)備（ATE）對(duì)PLL（鎖相環(huán)）進(jìn)行測(cè)試時(shí)，我們首先要明白PLL在系統(tǒng)級(jí)芯片（SoC）中的重要性。它是SoC...

2023-10-30 標(biāo)簽：芯片測(cè)試IC 2431 0

如何解決電壓測(cè)試遇到的問(wèn)題

在IC的測(cè)試中，電壓的測(cè)試是所有測(cè)試參數(shù)中最為常見(jiàn)的一種參數(shù)，尤其是模擬芯片的測(cè)試，電壓測(cè)試更顯常見(jiàn)及重要，如：LDO、LED驅(qū)動(dòng)、音頻功放、運(yùn)放、馬達(dá)...

2023-10-30 標(biāo)簽：芯片測(cè)試IC 1169 0

測(cè)試平臺(tái)的建立方法

（1）DUT模型的建立 ?① 164245模型：在Modelsim工具下用Verilog HDL語(yǔ)言［5］，建立164245模型。164245是一個(gè)雙8...

2023-10-30 標(biāo)簽：測(cè)試IC模型 959 0

測(cè)試向量是什么意思

測(cè)試向量及其生成 測(cè)試向量（Test Vector）的一個(gè)基本定義是：測(cè)試向量是每個(gè)時(shí)鐘周期應(yīng)用于器件管腳的用于測(cè)試或者操作的邏輯1和邏輯0數(shù)據(jù)。 這一...

2023-10-30 標(biāo)簽：測(cè)試IC測(cè)量 4616 0

ic測(cè)試是什么意思

IC測(cè)試原理 IC 測(cè)試是指依據(jù)被測(cè)器件（DUT）特點(diǎn)和功能，給DUT提供測(cè)試激勵(lì)（X），通過(guò)測(cè)量DUT 輸出響應(yīng)（Y）與期望輸出做比較，從而判斷DUT...

2023-10-30 標(biāo)簽：測(cè)試IC測(cè)量 3570 0

通用測(cè)試系統(tǒng)硬件和軟件架構(gòu)介紹

通用測(cè)試系統(tǒng)架構(gòu) 通用化自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)（ATS）主要由圖1所示的三個(gè)部分組成： ?主控計(jì)算機(jī)、 其中“主控計(jì)算機(jī)”中的軟件主要包括操作系統(tǒng)、編譯器、測(cè)試執(zhí)...

2023-10-30 標(biāo)簽：測(cè)試IC軟件 2758 0

ATE/ATS內(nèi)部結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)介

ATE/ATS：自動(dòng)測(cè)試設(shè)備/自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，也稱測(cè)試機(jī)是測(cè)試工程師在IC測(cè)試中必須使用的工具，本文主要從技術(shù)層面對(duì)ATE/ATS的組成及軟硬件及其接口要...

2023-10-30 標(biāo)簽：測(cè)試IC儀器 2223 0

一文了解DA14531定頻測(cè)試方法和操作流程

定頻測(cè)試主要是為了測(cè)試發(fā)射頻率中心點(diǎn)，一般有三個(gè)頻點(diǎn)都需要測(cè)試：2.402GHz / 2.426GHz / 2.480GHz，中心頻點(diǎn)偏移會(huì)造成接收距離...

2023-10-27 標(biāo)簽：測(cè)試RAMuart 3008 0

高低溫試驗(yàn)箱設(shè)備互聯(lián)信息共享管理系統(tǒng)

高低溫試驗(yàn)箱是一種用于模擬高溫、低溫環(huán)境，測(cè)試材料或產(chǎn)品在不同溫度條件下的適應(yīng)性和穩(wěn)定性的設(shè)備。它通常由控制系統(tǒng)、加熱系統(tǒng)、冷卻系統(tǒng)和數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)等組成...

2023-10-23 標(biāo)簽：測(cè)試設(shè)備管理系統(tǒng) 807 0

雙脈沖試驗(yàn)及注意事項(xiàng)

雙脈沖試驗(yàn)及注意事項(xiàng)對(duì)于電力電子工程師來(lái)說(shuō)，功率元件是我們的設(shè)計(jì)對(duì)象，而IGBT由于其優(yōu)良的特性被廣泛應(yīng)用于功率元件。功率元件的效率、保護(hù)功能、EMC等...

2023-10-13 標(biāo)簽：測(cè)試電容IGBT 3328 0

如何用開(kāi)關(guān)電源性能測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試電源效率？

開(kāi)關(guān)電源在實(shí)際工作中輸入與輸出轉(zhuǎn)換是有一定的能量損耗的，并不會(huì)完全無(wú)損耗轉(zhuǎn)換，電源效率就是用來(lái)衡量能量轉(zhuǎn)換損耗的一個(gè)重要指標(biāo)。電源效率是指輸出功率與輸入...

2023-10-12 標(biāo)簽：電源測(cè)試開(kāi)關(guān)電源 1190 0

AEM TESTPRO CV-100支持最新的GB50312-2016國(guó)標(biāo)標(biāo)準(zhǔn)？

AEM八類線纜測(cè)試儀支持最新的GB測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)，高達(dá)3000MHz的測(cè)試頻率，進(jìn)口的AEM線纜分析儀支持POE驗(yàn)證和網(wǎng)絡(luò)健康測(cè)試，測(cè)試結(jié)果和DSX-8000...

2023-10-10 標(biāo)簽：測(cè)試測(cè)試儀網(wǎng)絡(luò) 819 0

福祿克DTX-1800精度糾偏、原廠校準(zhǔn)又為何做？

曾幾何時(shí)，風(fēng)靡各個(gè)線纜廠以及現(xiàn)場(chǎng)布線的利器------DTX-1800.由于產(chǎn)品的更新?lián)Q代，帶來(lái)的也是黯然離場(chǎng)。 但是，dtx-1800的目前存量毋庸置...

2023-10-10 標(biāo)簽：測(cè)試設(shè)備儀器 1279 0