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      標(biāo)簽　>　白光干涉儀

      白光干涉儀

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      干涉儀是一種對光在兩個(gè)不同表面反射后形成的干涉條紋進(jìn)行分析的儀器。其基本原理就是通過不同光學(xué)元件形成參考光路和檢測光路。

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      白光干涉儀簡介

      　　干涉儀是一種對光在兩個(gè)不同表面反射后形成的干涉條紋進(jìn)行分析的儀器。其基本原理就是通過不同光學(xué)元件形成參考光路和檢測光路。

      　　光的干涉是指從目標(biāo)對象表面到某點(diǎn)的光距（光路）產(chǎn)生偏差時(shí)，所發(fā)生的現(xiàn)象。利用這種現(xiàn)象測量目標(biāo)對象表面凹凸的就是光學(xué)干涉儀。右圖是干涉應(yīng)變計(jì)的結(jié)構(gòu)圖。從光源（半導(dǎo)體激光等）發(fā)出的光有一些透過分光鏡到達(dá)參考面上，其余被反射到樣本表面。透過的光經(jīng)參考面反射通過光接收元件即CCD元件成像。其余被反射的光經(jīng)目標(biāo)對象表面反射透過分光鏡，同樣通過光接收元件即CCD元件成像。

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      白光干涉儀知識(shí)

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      引進(jìn)白光干涉儀管控微流控芯片形貌，性能大幅提升

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      2025-05-29 標(biāo)簽：微流控芯片微流控表面粗糙度 419 0

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      關(guān)于白光干涉儀的常見提問及回答

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      2025-01-09 標(biāo)簽：測量CCD相機(jī)白光干涉儀 1.3k 0

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      白光干涉儀資訊

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      誠邀您蒞臨第二十六屆中國國際光電博覽會(huì)（CIOE）優(yōu)可測展位3A50！

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      白光干涉儀在太陽能電池片柵線高度 3D 輪廓測量中的應(yīng)用解析

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      2025-07-22 標(biāo)簽：輪廓測量儀光學(xué)測量白光干涉儀 1.2k 0

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        是德科技公司(NYSE:KEYS)是全球領(lǐng)先的電子測量公司,通過在無線、模塊化和軟件解決方案等領(lǐng)域的不斷創(chuàng)新,為您提供全新的測量體驗(yàn)。
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