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標簽 > 白光干涉儀

白光干涉儀

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干涉儀是一種對光在兩個不同表面反射后形成的干涉條紋進行分析的儀器。其基本原理就是通過不同光學元件形成參考光路和檢測光路。

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白光干涉儀簡介

  干涉儀是一種對光在兩個不同表面反射后形成的干涉條紋進行分析的儀器。其基本原理就是通過不同光學元件形成參考光路和檢測光路。

  光的干涉是指從目標對象表面到某點的光距(光路)產生偏差時,所發(fā)生的現象。利用這種現象測量目標對象表面凹凸的就是光學干涉儀。右圖是干涉應變計的結構圖。從光源(半導體激光等)發(fā)出的光有一些透過分光鏡到達參考面上,其余被反射到樣本表面。透過的光經參考面反射通過光接收元件即CCD元件成像。其余被反射的光經目標對象表面反射透過分光鏡,同樣通過光接收元件即CCD元件成像。

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白光干涉儀知識

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