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電子發(fā)燒友網(wǎng)>光電顯示>怎么進(jìn)行離子束濺射來(lái)優(yōu)化UV光學(xué)鍍膜

怎么進(jìn)行離子束濺射來(lái)優(yōu)化UV光學(xué)鍍膜

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FIB聚焦離子束電路修改服務(wù)

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2019-08-15 15:57:55

失效分析:離子束剖面研磨

的應(yīng)力影響。宜特任何材料都可以以離子束剖面研磨(CP)進(jìn)行約1mm大范圍剖面的制備,由于不受應(yīng)力影響,因此更適用于樣品表面之材料特性的分析(例如EDS、AES、EBSD等表面分析),有效樣品處理范圍約
2018-08-28 15:39:44

聚焦離子束FIBSEM切片測(cè)試【博仕檢測(cè)】

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2023-09-05 11:58:27

聚焦離子束應(yīng)用介紹

進(jìn)行元素組成分析。1.引言 隨著納米科技的發(fā)展,納米尺度制造業(yè)發(fā)展迅速,而納米加工就是納米制造業(yè)的核心部分,納米加工的代表性方法就是聚焦離子束。近年來(lái)發(fā)展起來(lái)的聚焦離子束(FIB)技術(shù)利用高強(qiáng)度聚焦
2020-02-05 15:13:29

聚焦離子束顯微鏡(FIB-SEM)

缺陷清晰明了,給客戶和供應(yīng)商解決爭(zhēng)論焦點(diǎn),減少?gòu)?fù)測(cè)次數(shù)與支出。 (4)FIB其他領(lǐng)域定點(diǎn)、圖形化切割 3. 誘導(dǎo)沉積材料利用電子離子束將金屬有機(jī)氣體化合物分解,從而可在樣品的特定區(qū)域進(jìn)行材料
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離子束濺射鍍膜機(jī)電源的研制

本文介紹了離子束濺射鍍膜機(jī)電源的設(shè)計(jì)方案,并著重闡述了短路保護(hù)電路、自動(dòng)恢復(fù)電路和線性光電隔離電路的設(shè)計(jì)。測(cè)試結(jié)果表明:該電源能滿足離子束濺射鍍膜機(jī)設(shè)備的要
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離子束加工原理和離子束加工的應(yīng)用范圍,離子束加工的特點(diǎn)。
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2011-05-22 13:00:550

利用不同的安表/電壓源測(cè)量離子束

離子源用以獲得離子束的裝置。在各類離子源中,用得最多的是等離子離子源,即用電場(chǎng)將離子從一團(tuán)等離子體中引出來(lái)。這類離子源的主要參數(shù)由等離子體的密度、溫度和引出系統(tǒng)
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中國(guó)研出1米長(zhǎng)電弧等離子束 可用于3D打印

成都一家本土企業(yè)通過(guò)自主創(chuàng)新,研制出了可以廣泛應(yīng)用于眾多工業(yè)領(lǐng)域的基礎(chǔ)熱源———層流電弧等離子束,這種等離子束可以產(chǎn)生穩(wěn)定、可控的熱源,溫度可在15000攝氏度至200攝氏度間調(diào)節(jié)。其在3D打印技術(shù)中也可以得到應(yīng)用.
2013-09-24 15:43:381909

離子束加工”引領(lǐng)微納制造產(chǎn)業(yè)下一波突破

在一張頭發(fā)薄厚、米粒大小的透明塑料薄膜上雕刻出復(fù)雜的電路,對(duì)離子束加工是小菜一碟。北京埃德萬(wàn)斯公司,一家不到百人的小公司,不聲不響地持有這一前景無(wú)限、體現(xiàn)國(guó)家頂級(jí)加工能力的利器。 初冬,中關(guān)村環(huán)保園一間工廠里,幾十臺(tái)離子束刻蝕機(jī)、鍍膜機(jī)正在運(yùn)行。
2016-12-13 01:48:112195

中科院在研發(fā)射頻負(fù)離子束源獲得重大突破,推動(dòng)核聚變事業(yè)

近日,中科院合肥物質(zhì)科學(xué)研究院等離子體物理研究所在自主發(fā)展聚變工程技術(shù)即研發(fā)射頻負(fù)離子束源方面取得重要進(jìn)展,實(shí)現(xiàn)了穩(wěn)定可重復(fù)的百秒量級(jí)強(qiáng)流負(fù)離子束引出。
2020-08-06 15:43:131411

一文看懂電子離子束加工工藝

電子加工和離子束加工是近年來(lái)得到較大發(fā)展的新型特種加工。他們?cè)诰芪⒓?xì)加工方面,尤其是在微電子學(xué)領(lǐng)域中得到較多的應(yīng)用。通常來(lái)說(shuō),電子加工主要用于打孔、焊接等熱加工和電子光刻化學(xué)加工,而離子束加工則主要用于離子刻蝕、離子鍍膜離子注入等加工。?
2021-03-17 20:10:4815

關(guān)于聚焦離子束技術(shù)的簡(jiǎn)介與淺析

聚焦離子束技術(shù)(Focused Ion beam,F(xiàn)IB)是利用電透鏡將離子束聚焦成非常小尺寸的離子束轟擊材料表面,實(shí)現(xiàn)材料的剝離、沉積、注入、切割和改性。隨著納米科技的發(fā)展,納米尺度制造業(yè)發(fā)展迅速,而納米加工就是納米制造業(yè)的核心部分,納米加工的代表性方法就是聚焦離子束
2021-04-03 13:51:004042

聚焦離子束(FIB)技術(shù)介紹

隨著納米科技的發(fā)展,納米尺度制造業(yè)發(fā)展迅速,而納米加工就是納米制造業(yè)的核心部分,納米加工的代表性方法就是聚焦離子束。
2021-03-25 16:40:0817286

吉時(shí)利皮安表在離子束測(cè)量的應(yīng)用

離子束用于各種應(yīng)用場(chǎng)合,諸如,質(zhì)譜儀和離子注入機(jī)等。離子 電流通常非常?。╩A), 所以需要使用靜電計(jì)或皮安表來(lái)進(jìn)行測(cè)量。今天安泰測(cè)試為大家介紹如何使用吉時(shí)利皮安表6485 型和 6487 型皮安表來(lái)進(jìn)行這種測(cè)量工作。在電流靈敏度更高時(shí),可以改用靜電計(jì)來(lái)進(jìn)行測(cè)量。
2021-09-10 14:04:571049

物理氣相沉積及濺射工藝(PVD and Sputtering)

物理氣相沉積(Physical Vapor Deposition, PVD)工藝是指采用物理方法,如真空蒸發(fā)、濺射 (Sputtering)鍍膜離子鍍膜和分子外延等,在圓片表面形成薄膜。
2022-11-03 15:32:2011934

一文詳解離子束工藝技術(shù)

 二次離子質(zhì)譜(SIMS)是一種分析方法。具有高空間分辨率和高靈敏度的工具。它使用高度聚焦的離子束(通常是氧氣或(無(wú)機(jī)樣品用銫離子)“濺射”樣品表面上選定區(qū)域的材料。
2022-11-22 10:44:091721

聚焦離子束技術(shù)介紹

科技的發(fā)展,納米尺度制造業(yè)發(fā)展迅速,而納米加工就是納米制造業(yè)的核心部分,納米加工的代表性方法就是聚焦離子束。近年來(lái)發(fā)展起來(lái)的聚焦離子束技術(shù)(FIB)利用高強(qiáng)度聚焦離子束對(duì)材料進(jìn)行納米加工,配合掃描電鏡(SEM)等高倍數(shù)電子顯微鏡實(shí)時(shí)觀察,成為了納米
2023-01-16 17:10:223197

布勒萊寶光學(xué)HELIOS磁控濺射鍍膜設(shè)備迎接半導(dǎo)體光學(xué)的挑戰(zhàn)

有人曾這樣形容磁控濺射技術(shù)——就像往平靜的湖水里投入了石子濺起水花。磁控濺射真空鍍膜技術(shù)是物理氣相沉積(Physical Vapor Deposition)的一種,其原理是:用帶電粒子加速轟擊靶材表面,發(fā)生表面原子碰撞并產(chǎn)生能量和動(dòng)量的轉(zhuǎn)移,使靶材原子從表面逸出并沉積在襯底材料上的過(guò)程。
2023-04-18 10:30:074559

與傳統(tǒng)濺射或熱蒸發(fā)技術(shù)相比,離子束輔助沉積有哪些優(yōu)勢(shì)?

離子束輔助沉積 (IBAD) 是一種薄膜沉積技術(shù),可與濺射或熱蒸發(fā)工藝一起使用,以獲得具有出色工藝控制和精度的最高質(zhì)量薄膜。
2023-06-08 11:10:223677

上海伯東大口徑射頻離子源成功應(yīng)用于12英寸IBE 離子束蝕刻機(jī)

上海伯東美國(guó)?KRi?考夫曼公司大口徑射頻離子源?RFICP 380, RFICP 220 成功應(yīng)用于 12英寸和 8英寸?IBE 離子束蝕刻機(jī), 實(shí)現(xiàn) 300mm 和 200mm 硅片蝕刻, 刻蝕
2023-06-15 14:58:471960

KRi 射頻離子源應(yīng)用于國(guó)產(chǎn)離子束濺射鍍膜機(jī) IBSD

上海伯東客戶某高校使用國(guó)產(chǎn)品牌離子束濺射鍍膜機(jī)用于金屬薄膜制備, 工藝過(guò)程中, 國(guó)產(chǎn)離子源鎢絲僅使用 18個(gè)小時(shí)就會(huì)燒斷, 必須中斷鍍膜工藝更換鎢絲, 無(wú)法滿足長(zhǎng)時(shí)間離子束濺射鍍膜的工藝要求, 導(dǎo)致
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AMEYA360分析蔡司用于亞10納米級(jí)應(yīng)用的離子束顯微鏡

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2023-07-19 15:45:07969

美國(guó)KRi 離子源光通信應(yīng)用, 助力5G技術(shù)發(fā)展

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2023-08-07 14:08:311350

美國(guó) KRi 霍爾離子源輔助鍍膜 IBAD 應(yīng)用

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2023-05-11 13:26:301598

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2023-05-25 10:18:341863

KRi 離子源 e-beam 電子蒸發(fā)系統(tǒng)輔助鍍膜應(yīng)用

上海伯東美國(guó) KRi 考夫曼離子源 KDC 系列, 通過(guò)加熱燈絲產(chǎn)生電子, 是典型的考夫曼型離子源, 離子源增強(qiáng)設(shè)計(jì)輸出低電流高能量寬離子束, 通過(guò)同時(shí)的或連續(xù)的離子轟擊表面使原子(分子)沉積在襯底上形成薄膜, 實(shí)現(xiàn)輔助鍍膜 IBAD.
2023-05-25 10:22:371871

聚焦離子束FIBSEM在微電子技術(shù)中的應(yīng)用

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2023-09-08 11:34:112316

光纖傳感器在磁控濺射鍍膜溫度的監(jiān)測(cè)

磁控濺射(Magnetron Sputtering)是一種常見(jiàn)的物理氣相沉積 (PVD) 工藝,具有速度快、溫度低、損傷小等優(yōu)點(diǎn),其關(guān)鍵特點(diǎn)是使用一個(gè)磁場(chǎng)來(lái)控制并增強(qiáng)濺射過(guò)程。已發(fā)展成為工業(yè)鍍膜中非
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離子束拋光在微電子封裝失效分析領(lǐng)域的應(yīng)用

離子束拋光的工作原理、樣品參數(shù)選擇依據(jù);然后,利用離子束拋光系統(tǒng)對(duì)典型的封裝互連結(jié)構(gòu)進(jìn)行拋光, 結(jié)合材料和離子束刻蝕理論進(jìn)行參數(shù)探索;最后, 對(duì)尺寸測(cè)量、成分分布和相結(jié)構(gòu)等信息進(jìn)行觀察和分析, 為離子束拋光系統(tǒng)在微電子封裝破壞
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離子束刻蝕機(jī)物理量傳感器 MEMS 刻蝕應(yīng)用

離子束刻蝕機(jī) IBE 可以很好的解決傳感器 MEMS 的刻蝕難題, 射頻角度可以任意調(diào)整, 蝕刻可以根據(jù)需要做垂直, 斜面等等加工形狀, 刻蝕那些很難刻蝕的硬質(zhì)或惰性材料.
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聚焦離子束一電子(FIB-SEM)雙系統(tǒng)原理

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2024-11-14 23:24:131435

聚焦離子束(FIB)技術(shù)的特點(diǎn)、優(yōu)勢(shì)以及應(yīng)用

本文介紹了聚焦離子束(FIB)技術(shù)的特點(diǎn)、優(yōu)勢(shì)以及應(yīng)用。 一、FIB 在芯片失效分析中的重要地位 芯片作為現(xiàn)代科技的核心組成部分,其可靠性至關(guān)重要。而在芯片失效分析領(lǐng)域,聚焦離子束(FIB)技術(shù)正
2024-11-21 11:07:011917

聚焦離子束掃描電鏡(FIB-SEM)技術(shù)原理、樣品制備要點(diǎn)及常見(jiàn)問(wèn)題解答

和掃描電子顯微鏡(SEM)的高分辨率成像技術(shù),為材料分析領(lǐng)域帶來(lái)了革命性的變化。FIB-SEM技術(shù)FIB-SEM技術(shù)通過(guò)高能離子束對(duì)材料進(jìn)行精確的切割、蝕刻或沉積
2024-11-23 00:51:171907

離子束技術(shù)在多領(lǐng)域的應(yīng)用探索

。這一過(guò)程與掃描電子顯微鏡(SEM)的成像原理相似,但FIB利用高能離子束對(duì)材料表面原子進(jìn)行剝離,實(shí)現(xiàn)微米至納米級(jí)別的精確加工。FIB技術(shù)結(jié)合物理濺射和化學(xué)氣體反
2024-12-04 12:37:251166

聚焦離子束技術(shù)的歷史發(fā)展

。FIB技術(shù)的起源FIB技術(shù)的歷史可以追溯到20世紀(jì)60年代,當(dāng)時(shí)科學(xué)家們開(kāi)始探索使用離子束對(duì)樣品進(jìn)行分析和加工的可能性。在隨后的幾十年里,這項(xiàng)技術(shù)經(jīng)歷了從實(shí)驗(yàn)室原
2024-12-05 15:32:571050

聚焦離子束系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)、工作原理及聚焦離子束系統(tǒng)

尺度的測(cè)量與制造納米技術(shù),作為全球科研的熱點(diǎn),關(guān)鍵在于其能夠在納米級(jí)別進(jìn)行精確的測(cè)量和制造。納米測(cè)量技術(shù)負(fù)責(zé)收集和處理數(shù)據(jù),而納米加工技術(shù)則是實(shí)現(xiàn)微觀制造目標(biāo)的核心工具。電子離子束技術(shù)是這一
2024-12-17 15:08:141789

聚焦離子束(FIB)加工硅材料的損傷機(jī)理及控制

???? 聚焦離子束(FIB)在材料表征方面有著廣泛的應(yīng)用,包括透射電鏡(TEM)樣品的制備。在這方面,F(xiàn)IB比傳統(tǒng)的氬離子束研磨具有許多優(yōu)勢(shì)。例如,電子透明區(qū)域可以高精度定位,研磨時(shí)間更短,并且
2024-12-19 10:06:402201

離子束與材料的相互作用

聚焦離子束(FIB)技術(shù)憑借其在微納米尺度加工和分析上的高精度和精細(xì)控制,已成為材料科學(xué)、納米技術(shù)和半導(dǎo)體工業(yè)等領(lǐng)域的關(guān)鍵技術(shù)。該技術(shù)通過(guò)精確操控具有特定能量的離子束與材料相互作用,引發(fā)一系列復(fù)雜
2024-12-19 12:40:461333

詳細(xì)解讀——FIB-SEM技術(shù)(聚焦離子束)制備透射電鏡(TEM)樣品

技術(shù)概述聚焦離子束技術(shù)是一種先進(jìn)的納米加工技術(shù),它通過(guò)靜電透鏡將離子束精確聚焦至2至3納米的寬,對(duì)材料表面進(jìn)行精細(xì)的加工處理。這項(xiàng)技術(shù)能夠?qū)崿F(xiàn)材料的剝離、沉積、注入、切割和改性等多種操作
2024-12-25 11:58:222282

上海伯東IBE離子束刻蝕機(jī)介紹

IBE (Ion Beam Etching) 離子束刻蝕, 通常使用 Ar 氣體作為蝕刻氣體, 將與電子的沖擊產(chǎn)生的離子在 200~ 1000ev 的范圍內(nèi)加速, 利用離子的物理動(dòng)能, 削去基板表面
2024-12-26 15:21:191646

聚焦離子束技術(shù):核心知識(shí)與應(yīng)用指南

納米結(jié)構(gòu)加工。液態(tài)金屬鎵因其卓越的物理特性,常被選作理想的離子源材料。技術(shù)應(yīng)用的多樣性聚焦離子束技術(shù)在多個(gè)領(lǐng)域展現(xiàn)出其廣泛的應(yīng)用潛力,如修復(fù)掩模板、調(diào)整電路、分析
2025-01-08 10:59:36936

聚焦離子束技術(shù)中液態(tài)鎵作為離子源的優(yōu)勢(shì)

聚焦離子束(FIB)在芯片制造中的應(yīng)用聚焦離子束(FIB)技術(shù)在半導(dǎo)體芯片制造領(lǐng)域扮演著至關(guān)重要的角色。它不僅能夠進(jìn)行精細(xì)的結(jié)構(gòu)切割和線路修改,還能用于觀察和制備透射電子顯微鏡(TEM)樣品。金屬鎵
2025-01-10 11:01:381047

一文帶你了解聚焦離子束(FIB)

的FIB裝置是最為常見(jiàn)的類型,因其具有良好的分辨率和加工能力。FIB的三個(gè)基本功能1.濺射功能FIB的濺射功能是其最基礎(chǔ)的應(yīng)用之一。當(dāng)Ga離子束聚焦并照射到樣品表面時(shí),
2025-01-14 12:04:311488

聚焦離子束(FIB)技術(shù)在芯片逆向工程中的應(yīng)用

聚焦離子束(FIB)技術(shù)概覽聚焦離子束(FocusedIonBeam,F(xiàn)IB)技術(shù)在微觀尺度的研究和應(yīng)用中扮演著重要角色。這種技術(shù)以其超高精度和操作靈活性,允許科學(xué)家在納米層面對(duì)材料進(jìn)行精細(xì)的加工
2025-01-17 15:02:491098

聚焦離子束系統(tǒng)在微機(jī)電系統(tǒng)失效分析中的應(yīng)用

聚焦離子束(FIB)技術(shù)概述聚焦離子束(FIB)技術(shù)是一種通過(guò)離子源產(chǎn)生的離子束,經(jīng)過(guò)過(guò)濾和靜電磁場(chǎng)聚焦,形成直徑為納米級(jí)的高能離子束。這種技術(shù)用于對(duì)樣品表面進(jìn)行精密加工,包括切割、拋光和刻蝕
2025-01-24 16:17:291225

制備用于掃描電子顯微鏡(SEM)分析的氬離子拋光和化學(xué)拋光(CP)截面樣品

利用氬離子束對(duì)樣品表面進(jìn)行物理濺射,從而達(dá)到拋光的效果。在這個(gè)過(guò)程中,氬氣作為惰性氣體,不會(huì)與樣品發(fā)生化學(xué)反應(yīng),保證了樣品的原始性質(zhì)不被破壞。通過(guò)精確控制離子束
2025-02-10 11:45:38924

聚焦離子束技術(shù):納米的精準(zhǔn)操控與廣闊應(yīng)用

巧妙利用,從而實(shí)現(xiàn)了對(duì)樣品的原子級(jí)別操控。在刻蝕方面,高能離子束如同一把無(wú)形的“刻刀”,對(duì)樣品表面進(jìn)行轟擊,將表面材料逐層剝離,實(shí)現(xiàn)微觀結(jié)構(gòu)的精細(xì)加工。這種刻蝕過(guò)程
2025-02-11 22:27:50733

什么是聚焦離子束(FIB)?

什么是聚焦離子束?聚焦離子束(FocusedIonBeam,簡(jiǎn)稱FIB)技術(shù)作為一種前沿的納米級(jí)加工與分析手段,近年來(lái)在眾多領(lǐng)域嶄露頭角。它巧妙地融合了離子束技術(shù)與掃描電子顯微鏡(SEM)技術(shù)的優(yōu)勢(shì)
2025-02-13 17:09:031179

聚焦離子束顯微鏡(FIB):原理揭秘與應(yīng)用實(shí)例

工作原理聚焦離子束顯微鏡的原理是通過(guò)將離子束聚焦到納米尺度,并探測(cè)離子與樣品之間的相互作用來(lái)實(shí)現(xiàn)成像。離子束可以是氬離子、鎵離子等,在加速電壓的作用下,形成高能離子束。通過(guò)使用電場(chǎng)透鏡系統(tǒng),離子束
2025-02-14 12:49:241875

詳細(xì)聚焦離子束(FIB)技術(shù)

聚焦離子束(FocusedIonBeam,F(xiàn)IB)技術(shù),堪稱微觀世界的納米“雕刻師”,憑借其高度集中的離子束,在納米尺度上施展著加工、分析與成像的精湛技藝。FIB技術(shù)以鎵離子源為核心,通過(guò)精確調(diào)控
2025-02-18 14:17:452727

KRi考夫曼離子源適用于各類真空設(shè)備

上海伯東美國(guó) KRi 考夫曼離子源適用于各類真空設(shè)備, 實(shí)現(xiàn)離子清洗 PC, 離子刻蝕 IBE, 輔助鍍膜 IBAD, 離子濺射鍍膜 IBSD 和離子束拋光 IBF 等工藝. 在真空環(huán)境下, 通過(guò)
2025-02-20 14:24:151043

FIB聚焦離子束切片分析

FIB(聚焦離子束)切片分析作為一種前沿的材料表征技術(shù),憑借其高精度和多維度的分析能力,在材料科學(xué)、電子器件研究以及納米技術(shù)領(lǐng)域扮演著至關(guān)重要的角色。它通過(guò)離子束對(duì)材料表面進(jìn)行刻蝕,形成極薄的切片
2025-02-21 14:54:441322

聚焦離子束與掃描電鏡結(jié)合:雙FIB-SEM切片應(yīng)用

聚焦離子束技術(shù)聚焦離子束(FocusedIonBeam,簡(jiǎn)稱FIB)技術(shù)作為一種前沿的納米級(jí)加工與分析手段,近年來(lái)在眾多領(lǐng)域嶄露頭角。它巧妙地融合了離子束技術(shù)與掃描電子顯微鏡(SEM)技術(shù)的優(yōu)勢(shì)
2025-02-24 23:00:421004

聚焦離子束與掃描電鏡聯(lián)用技術(shù)

技術(shù)概述聚焦離子束與掃描電鏡聯(lián)用系統(tǒng)(FIB-SEM)是一種融合高分辨率成像與微納加工能力的前沿設(shè)備,主要由掃描電鏡(SEM)、聚焦離子束(FIB)和氣體注入系統(tǒng)(GIS)構(gòu)成。聚焦離子束系統(tǒng)利用
2025-02-25 17:29:36935

聚焦離子束(FIB)技術(shù)原理和應(yīng)用

FIB技術(shù)原理聚焦離子束(FocusedIonBeam,簡(jiǎn)稱FIB)技術(shù)作為一種前沿的納米級(jí)加工與分析手段。它巧妙地融合了離子束技術(shù)與掃描電子顯微鏡(SEM)技術(shù)的優(yōu)勢(shì),憑借其獨(dú)特的原理、廣泛
2025-02-26 15:24:311863

聚焦離子束技術(shù)在現(xiàn)代科技的應(yīng)用

聚焦離子束(FocusedIonBeam,簡(jiǎn)稱FIB)技術(shù)是一種在微觀尺度上對(duì)材料進(jìn)行加工、分析和成像的先進(jìn)技術(shù)。它在材料科學(xué)、半導(dǎo)體制造、納米技術(shù)等領(lǐng)域發(fā)揮著不可或缺的作用。FIB的基本原理聚焦
2025-03-03 15:51:58736

聚焦離子束(FIB)技術(shù):微納加工的利器

聚焦離子束(FocusedIonBeam,FIB)技術(shù)是微納加工領(lǐng)域中不可或缺的關(guān)鍵技術(shù)。它憑借高精度、高靈活性和多功能性,成為眾多微納加工技術(shù)中的佼佼者。通過(guò)精確控制電場(chǎng)和磁場(chǎng),F(xiàn)IB技術(shù)能夠?qū)?/div>
2025-03-05 12:48:11895

聚焦離子束掃描電子顯微鏡(FIB-SEM)的用途

離子束掃描電子顯微鏡(FIB-SEM)是將聚焦離子束(FIB)技術(shù)與掃描電子顯微鏡(SEM)技術(shù)有機(jī)結(jié)合的高端設(shè)備。什么是FIB-SEM?FIB-SEM系統(tǒng)通過(guò)聚焦離子束(FIB)和掃描電子顯微鏡
2025-03-12 13:47:401077

離子拋光技術(shù):材料科學(xué)中的關(guān)鍵樣品制備方法

離子拋光技術(shù)的核心氬離子拋光技術(shù)的核心在于利用高能氬離子束對(duì)樣品表面進(jìn)行精確的物理蝕刻。在拋光過(guò)程中,氬離子束與樣品表面的原子發(fā)生彈性碰撞,使表面原子或分子被濺射出來(lái)。這種濺射作用能夠在不引
2025-03-19 11:47:26627

聚焦離子束掃描電鏡雙系統(tǒng)(FIB-SEM)

聚焦離子束掃描電鏡雙系統(tǒng)(FIB-SEM)作為一種前沿的微納加工與成像技術(shù),憑借其強(qiáng)大的功能和多面性,在材料科學(xué)研究中占據(jù)著舉足輕重的地位。它能夠深入微觀世界,揭示材料內(nèi)部的結(jié)構(gòu)與特性,為材料科學(xué)
2025-03-19 11:51:59925

聚焦離子束技術(shù)在納米加工中的應(yīng)用與特性

關(guān)鍵環(huán)節(jié)中發(fā)揮著至關(guān)重要的作用,為電子器件的微型化、高性能化提供了有力的技術(shù)支撐。FIB-SEM雙系統(tǒng)的協(xié)同工作原理當(dāng)樣品表面垂直于離子束時(shí),離子束可以高效地進(jìn)行切割
2025-03-26 15:18:56718

聚焦離子束技術(shù):原理、特性與應(yīng)用

聚焦離子束(Focused-Ion-Beam,FIB)技術(shù)是一種先進(jìn)的微納加工與分析手段。其基本原理是通過(guò)電場(chǎng)和磁場(chǎng)的作用,將離子束聚焦到亞微米甚至納米級(jí)別,并利用偏轉(zhuǎn)和加速系統(tǒng)控制離子束的掃描運(yùn)動(dòng)
2025-03-27 10:24:541533

聚焦離子束顯微鏡(FIB-SEM)的應(yīng)用領(lǐng)域

聚焦離子束顯微鏡(FIB-SEM)作為一種前沿的微觀分析與加工工具,將聚焦離子束(FIB)和掃描電子顯微鏡(SEM)技術(shù)深度融合,兼具高分辨率成像和精密微加工能力,廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、電子工業(yè)
2025-04-01 18:00:03794

聚焦離子束技術(shù)之納米尺度

聚焦離子束(FocusedIonBeam,簡(jiǎn)稱FIB)技術(shù),宛如一把納米尺度的“萬(wàn)能鑰匙”,在材料加工、分析及成像領(lǐng)域大放異彩。它憑借高度集中的離子束,精準(zhǔn)操控離子束與樣品表面的相互作用,實(shí)現(xiàn)納米級(jí)
2025-04-08 17:56:15615

聚焦離子束系統(tǒng) FIB - SEM 的技術(shù)剖析與應(yīng)用拓展

技術(shù)原理與核心優(yōu)勢(shì)聚焦離子束系統(tǒng)(FIB-SEM)是一種集成多種先進(jìn)技術(shù)的高端設(shè)備,其核心構(gòu)成包括聚焦離子束(FIB)模塊、掃描電子顯微鏡(SEM)模塊以及多軸樣品臺(tái),這種獨(dú)特的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)使得它能
2025-04-10 11:53:441127

聚焦離子束技術(shù)的原理和應(yīng)用

聚焦離子束(FIB)技術(shù)在納米科技里很重要,它在材料科學(xué)、微納加工和微觀分析等方面用處很多。離子源:FIB的核心部件離子源是FIB系統(tǒng)的關(guān)鍵部分,液態(tài)金屬離子源(LMIS)用得最多,特別是鎵(Ga
2025-04-11 22:51:22654

聚焦離子束(FIB)技術(shù)的應(yīng)用原理

聚焦離子束(FIB)技術(shù)是一種極為精細(xì)的樣品制備與加工手段,它能夠?qū)饘?、合金、陶瓷等多種材料進(jìn)行加工,制備出尺寸極小的薄片。這些薄片的寬度通常在10~20微米,高度在10~15微米,厚度僅為100
2025-04-23 14:31:251018

聚焦離子束技術(shù):納米加工與分析的利器

離子束技術(shù)進(jìn)行全面剖析,以期為相關(guān)領(lǐng)域的研究人員和從業(yè)者提供有價(jià)值的參考。聚焦離子束技術(shù)核心聚焦離子束技術(shù)的核心在于利用電透鏡將離子束聚焦成極小尺寸的離子束,進(jìn)而
2025-04-28 20:14:04554

廣電計(jì)量出席工業(yè)聚焦離子束技術(shù)發(fā)展研討會(huì)

在工業(yè)制造邁向高精度、智能化的進(jìn)程中,聚焦離子束(FIB)技術(shù)作為一種前沿的納米級(jí)加工與分析手段,近年來(lái)在眾多領(lǐng)域嶄露頭角。在此背景下,廣電計(jì)量攜手南京大學(xué)、中國(guó)科學(xué)技術(shù)大學(xué)、上海交通大學(xué)、哈爾濱
2025-04-30 16:16:57765

聚焦離子束技術(shù)在透射電子顯微鏡樣品制備中的應(yīng)用

,通常以鎵(Ga)離子為主,部分設(shè)備還配備氦(He)或氖(Ne)離子源。離子束在轟擊樣品時(shí),會(huì)產(chǎn)生濺射現(xiàn)象,從而實(shí)現(xiàn)材料的精準(zhǔn)去除,同時(shí)通過(guò)二次電子信號(hào)獲取樣品的形貌
2025-05-06 15:03:01467

聚焦離子束技術(shù):原理、應(yīng)用與展望

聚焦離子束技術(shù)(FocusedIonBeam,簡(jiǎn)稱FIB)作為一種前沿的微觀加工與分析技術(shù),近年來(lái)在眾多領(lǐng)域得到了廣泛應(yīng)用。金鑒實(shí)驗(yàn)室憑借其專業(yè)的檢測(cè)技術(shù)和服務(wù),成為了眾多企業(yè)在半導(dǎo)體檢測(cè)領(lǐng)域的首選
2025-05-08 14:26:23525

一文了解聚焦離子束(FIB)技術(shù)及聯(lián)用技術(shù)

聚焦離子束(FIB)技術(shù)憑借其獨(dú)特的原理和強(qiáng)大的功能,成為微納加工與分析領(lǐng)域不可或缺的重要工具。FIB如何工作聚焦離子束(FIB)技術(shù)是一種先進(jìn)的微納加工技術(shù),其核心在于液態(tài)金屬離子源,通常使用鎵
2025-05-29 16:15:07900

聚焦離子束(FIB)技術(shù):半導(dǎo)體量產(chǎn)中的高精度利器

和微納結(jié)構(gòu)的無(wú)掩模加工。與傳統(tǒng)的光刻技術(shù)不同,F(xiàn)IB無(wú)需掩模,直接在材料上進(jìn)行修改,特別適合高精度任務(wù)。在電場(chǎng)和磁場(chǎng)的精準(zhǔn)調(diào)控下,離子束如同一支無(wú)形的納米畫(huà)筆,在材
2025-06-09 22:50:47606

聚焦離子束顯微鏡(FIB)的應(yīng)用

技術(shù)原理聚焦離子束顯微鏡(FocusedIonBeam,FIB)的核心在于其獨(dú)特的鎵(Ga)離子源。鎵金屬因其較低的熔點(diǎn)(29.76°C)和在該溫度下極低的蒸氣壓(?10^-13Torr),成為理想
2025-06-12 14:05:51685

離子束的傳輸與信號(hào)探測(cè)

聚焦離子束(FIB)在材料科學(xué)和微納加工領(lǐng)域內(nèi)的重要性日益顯現(xiàn),離子束的傳輸過(guò)程由多個(gè)關(guān)鍵組件構(gòu)成,包含離子源、透鏡和光闌等,而其性能的提升則依賴于光學(xué)元件的校正和功能擴(kuò)展。此外,F(xiàn)IB技術(shù)的功能
2025-06-17 15:47:05864

聚焦離子束技術(shù)的崛起與應(yīng)用拓展

聚焦離子束(FIB)技術(shù)是一種先進(jìn)的納米加工和分析工具。其基本原理是在電場(chǎng)和磁場(chǎng)作用下,將離子束聚焦到亞微米甚至納米量級(jí),通過(guò)偏轉(zhuǎn)和加速系統(tǒng)控制離子束掃描運(yùn)動(dòng),實(shí)現(xiàn)微納圖形的監(jiān)測(cè)分析和微納結(jié)構(gòu)的無(wú)
2025-06-24 14:31:45554

聚焦離子束技術(shù):微納加工與分析的利器

FIB系統(tǒng)工作原理1.工作原理聚焦離子束(FIB)系統(tǒng)是一種高精度的納米加工與分析設(shè)備,其結(jié)構(gòu)與電子曝光系統(tǒng)類似,主要由發(fā)射源、離子光柱、工作臺(tái)、真空與控制系統(tǒng)等組成,其中離子光學(xué)系統(tǒng)是核心
2025-07-02 19:24:43681

聚焦離子束技術(shù):微納米制造與分析的利器

聚焦離子束技術(shù)概述聚焦離子束(FocusedIonBeam,F(xiàn)IB)技術(shù)是微納米尺度制造與分析領(lǐng)域的一項(xiàng)關(guān)鍵核心技術(shù)。其原理是利用靜電透鏡將離子源匯聚成極為精細(xì)的斑,斑直徑可精細(xì)至約5納米。當(dāng)這
2025-07-08 15:33:30469

聚焦離子束(FIB)技術(shù)在半導(dǎo)體中的應(yīng)用與操作指導(dǎo)

聚焦離子束(FIB)技術(shù)作為一種高精度的微觀加工和分析工具,在半導(dǎo)體行業(yè)具有不可替代的重要地位。它通過(guò)聚焦離子束直接在材料上進(jìn)行操作,無(wú)需掩模,能夠?qū)崿F(xiàn)納米級(jí)精度的成像和修改,特別適合需要
2025-07-11 19:17:00496

什么是聚焦離子束掃描電鏡(FIB-SEM)?

工作原理聚焦離子束掃描電鏡(FIB-SEM)是一種集多種先進(jìn)技術(shù)于一體的微觀分析儀器,其工作原理基于離子束與電子的協(xié)同作用。1.離子束原理離子束部分的核心是液態(tài)金屬離子源,通常使用鎵離子。在強(qiáng)電
2025-07-15 16:00:11735

聚焦離子束(FIB)技術(shù)介紹

聚焦離子束(FIB)技術(shù)因液態(tài)金屬離子源突破而飛速發(fā)展。1970年初期,多國(guó)科學(xué)家研發(fā)多種液態(tài)金屬離子源。1978年,美國(guó)加州休斯研究所搭建首臺(tái)Ga+基FIB加工系統(tǒng),推動(dòng)技術(shù)實(shí)用化。80至90年代
2025-08-19 21:35:57962

聚焦離子束(FIB)在材料分析的應(yīng)用

FIB是聚焦離子束的簡(jiǎn)稱,由兩部分組成。一是成像,把液態(tài)金屬離子源輸出的離子束加速、聚焦,從而得到試樣表面電子像(與SEM相似);二是加工,通過(guò)強(qiáng)電流離子束剝離表面原子,從而完成微,納米級(jí)別的加工
2025-08-26 15:20:22730

聚焦離子束(FIB)技術(shù)分析

聚焦離子束技術(shù)(FIB)聚焦離子束技術(shù)(FocusedIonbeam,F(xiàn)IB)是利用電透鏡將離子束聚焦成非常小尺寸的離子束轟擊材料表面,實(shí)現(xiàn)材料的剝離、沉積、注入、切割和改性。隨著納米科技的發(fā)展
2025-08-28 10:38:33826

納米技術(shù)之聚焦離子束(FIB)技術(shù)

離子束具備的基本功能早期的FIB技術(shù)依賴氣體場(chǎng)電離源(GFIS),但隨著技術(shù)的演進(jìn),液態(tài)金屬離子源(LMIS)逐漸嶄露頭角,尤其是以鎵為基礎(chǔ)的離子源,憑借其卓越的性能成為行業(yè)主流。鎵離子源的工作原理
2025-09-22 16:27:35584

FIB(聚焦離子束顯微鏡):是反射還是透射?

在微觀世界的探索中,顯微鏡一直是科學(xué)家們最重要的工具之一。隨著科技的發(fā)展,顯微鏡的種類和功能也日益豐富。聚焦離子束顯微鏡(FocusedIonBeam,FIB)作為一種高端的科研設(shè)備,在納米
2025-10-13 15:50:25454

納米加工技術(shù)的核心:聚焦離子束及其應(yīng)用

聚焦離子束技術(shù)的崛起在納米科技蓬勃發(fā)展的浪潮中,納米尺度制造業(yè)正以前所未有的速度崛起,而納米加工技術(shù)則是這一領(lǐng)域的心臟。聚焦離子束(FocusedIonBeam,F(xiàn)IB)作為納米加工的代表性方法
2025-10-29 14:29:37255

帶你一文了解聚焦離子束(FIB)加工技術(shù)

在微觀尺度上進(jìn)行精細(xì)操作是科學(xué)和工程領(lǐng)域長(zhǎng)期面臨的重要挑戰(zhàn)。聚焦離子束(FocusedIonBeam,FIB)加工技術(shù)為解決這一難題提供了有效途徑。該技術(shù)通過(guò)將離子束聚焦至納米尺度的斑,利用離子
2025-11-10 11:11:17281

聚焦離子束技術(shù)在TEM樣品制備中的應(yīng)用

,通常以鎵(Ga)離子為主,部分設(shè)備還配備氦(He)或氖(Ne)離子源。離子束在轟擊樣品時(shí),會(huì)產(chǎn)生濺射現(xiàn)象,從而實(shí)現(xiàn)材料的精準(zhǔn)去除,同時(shí)通過(guò)二次電子信號(hào)獲取樣品的形貌
2025-11-11 15:20:05259

聚焦離子束-掃描電鏡(FIB-SEM)的三大應(yīng)用技術(shù)

完整解決方案。二維樣品制備基礎(chǔ)FIB二維樣品制備通過(guò)可控離子濺射實(shí)現(xiàn)材料的定點(diǎn)加工,首先在目標(biāo)區(qū)域沉積鉑/鎢保護(hù)層,隨后采用聚焦離子束進(jìn)行精確定點(diǎn)銑削獲得觀測(cè)截面
2025-11-24 14:42:18288

聚焦離子束(FIB)技術(shù)在芯片失效分析中的應(yīng)用詳解

聚焦離子束技術(shù)聚焦離子束(FocusedIonBeam,FIB)技術(shù)作為現(xiàn)代半導(dǎo)體失效分析的核心手段之一,通常與掃描電子顯微鏡(ScanningElectronMicroscope,SEM)集成
2025-12-04 14:09:25371

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