2602A/吉時利2602A源表2602A/吉時利2602A源表吉時利 2602A 是雙通道系統(tǒng)級數(shù)字源測量單元（SMU），核心為單通道 40.4W 功率、±40.4V/±3.03A 直流
2026-01-05 17:20:19
2461-吉時利2461源表2461-吉時利2461源表吉時利 2461 是單通道高電流觸摸屏數(shù)字源測量單元（SMU），核心為 100W 直流 / 1000W 脈沖功率、±105V/±7A 直流
2026-01-05 15:57:56
2460吉時利2460數(shù)字源表2460吉時利2460數(shù)字源表吉時利 2460 是單通道觸摸屏高功率數(shù)字源測量單元（SMU），以 100W 功率、±105V 電壓、±7A（直流 / 脈沖）電流輸出、6
2026-01-05 11:49:26
吉時利2450/2450數(shù)字源表吉時利2450/2450數(shù)字源表吉時利 2450 是單通道觸摸屏數(shù)字源測量單元（SMU），以 6? 位分辨率、±200V/±1A/20W 輸出、四象限工作與 5 英寸
2026-01-05 10:09:59
吉時利2440-C源表2440-C吉時利2440-C源表2440-C吉時利 2440-C 是 2400 系列單通道源測量單元（SMU），主打 50W 功率、±5A 電流與 ±40V 電壓輸出，核心
2026-01-05 09:59:56
吉時利2420大電流型數(shù)字源表-2420吉時利2420大電流型數(shù)字源表-2420吉時利 2420 是2400 系列的大電流型數(shù)字源表（SMU），主打60W 功率、3A 大電流場景，兼顧高壓與大電流
2026-01-04 18:03:52
2410吉時利2410高壓型數(shù)字源表2410吉時利2410高壓型數(shù)字源表吉時利 2410 是2400 系列的 200V/1A 高壓型數(shù)字源表（SMU），集精密源、測量、負載于一體，主打高壓小電流場景
2026-01-04 17:47:33
2401/吉時利2401數(shù)字源表2401/吉時利2401數(shù)字源表吉時利 2401 是2400 系列的低壓經(jīng)濟型數(shù)字源表（SMU），集精密電壓 / 電流源、萬用表、電子負載于一體，主打20V/1A
2026-01-04 16:54:02
吉時利2400數(shù)字源表2400吉時利2400數(shù)字源表2400吉時利 2400 是經(jīng)典單通道數(shù)字源表（SMU），集精密電壓 / 電流源、萬用表、電子負載于一體，以四象限工作、0.012% 基礎精度、6
2026-01-04 16:48:54
吉時利6487皮安表主要特點及優(yōu)點： 1）10fA 分辨率； 2）吉時利6487皮安表/電壓源具有5位半讀數(shù)； 3）輸入端壓降
2026-01-02 15:21:57
在半導體材料表征、光電探測器測試、高絕緣材料評估及靜電測量領域，對皮安（pA）至微安（μA）級別的微弱直流電流進行精確測量是核心挑戰(zhàn)。 吉時利（Keithley，現(xiàn)為是德科技旗下品牌）6487皮安表
2025-12-24 09:43:55
143 
Keithley吉時利數(shù)字源表2400(SourceMeter)是一款高性能精密儀器，集成電源輸出與測量功能于一體，適用于電子元件特性分析、生產(chǎn)測試及教學實驗。
2025-12-10 17:30:16507 
鋰電池作為現(xiàn)代電子設備核心能源單元，其充放電性能直接影響終端產(chǎn)品的可靠性。吉時利2636A數(shù)字源表憑借雙通道高精度測量、嵌入式測試腳本處理器（TSP）及LXI-C類網(wǎng)絡兼容性，為鋰電池電化學特性分析
2025-12-10 15:39:19194 
吉時利2400數(shù)字源表（SMU）作為高精度源測量單元，兼具電壓源、電流源及多功能測量能力，廣泛應用于半導體、復合材料、電解質(zhì)等材料的電導率測試。本文將系統(tǒng)介紹其測量電導率的方法、操作步驟及關鍵
2025-12-10 15:38:30232 
聚焦離子束技術聚焦離子束（FocusedIonBeam,FIB）技術作為現(xiàn)代半導體失效分析的核心手段之一，通常與掃描電子顯微鏡（ScanningElectronMicroscope,SEM）集成
2025-12-04 14:09:25368 
聚焦離子束-掃描電鏡（FIB-SEM）雙束系統(tǒng)是現(xiàn)代材料科學研究中不可或缺的多維表征平臺。該系統(tǒng)將聚焦離子束的精準加工能力與掃描電鏡的高分辨率成像功能有機結合，為從微觀到納米尺度的材料結構解析提供了
2025-11-24 14:42:18287 
聚焦離子束（FIB）技術作為材料分析領域的重要工具，已在納米科技、半導體和材料科學研究中發(fā)揮著不可替代的作用。1.FIB制樣的注意事項有哪些？①首先確定樣品成分是否導電，導電性差的樣品要噴金；②其次
2025-11-21 20:07:20290 
吉時利2400數(shù)字源表是一款廣泛應用于電子測試領域的高性能儀器，具備電壓源、電流源、電壓表、電流表和電阻表等多種功能。以下是使用該儀器進行電壓、電阻和電流測量的詳細步驟： 電壓測量 1. 連接設備
2025-11-13 11:59:45278 ，通常以鎵（Ga）離子為主，部分設備還配備氦（He）或氖（Ne）離子源。離子束在轟擊樣品時，會產(chǎn)生濺射現(xiàn)象，從而實現(xiàn)材料的精準去除，同時通過二次電子信號獲取樣品的形貌
2025-11-11 15:20:05259 
在微觀尺度上進行精細操作是科學和工程領域長期面臨的重要挑戰(zhàn)。聚焦離子束（FocusedIonBeam,FIB）加工技術為解決這一難題提供了有效途徑。該技術通過將離子束聚焦至納米尺度的束斑，利用離子
2025-11-10 11:11:17281 
聚焦離子束技術的崛起在納米科技蓬勃發(fā)展的浪潮中，納米尺度制造業(yè)正以前所未有的速度崛起，而納米加工技術則是這一領域的心臟。聚焦離子束（FocusedIonBeam，F(xiàn)IB）作為納米加工的代表性方法
2025-10-29 14:29:37251 
橫截面分析操作與目的利用聚焦離子束（FIB）技術對電池材料進行精確切割，能夠制備出適合觀察的橫截面。這一操作的核心目的在于使研究人員能夠直接觀察材料內(nèi)部不同層次的結構特征，從而獲取材料在特定平面
2025-10-20 15:31:56279 
在微觀世界的探索中，顯微鏡一直是科學家們最重要的工具之一。隨著科技的發(fā)展，顯微鏡的種類和功能也日益豐富。聚焦離子束顯微鏡（FocusedIonBeam,FIB）作為一種高端的科研設備，在納米
2025-10-13 15:50:25452 
吉時利2460數(shù)字源表作為高精度電子測量儀器，在半導體測試、電源穩(wěn)定性分析等領域廣泛應用。其核心優(yōu)勢之一在于高速響應與精準測量，以下將從技術原理、操作配置及系統(tǒng)集成三個維度，解析如何通過優(yōu)化方法實現(xiàn)更高效的測量速度。
2025-10-09 17:47:53516 
頗為精妙。通過加熱鎵金屬使其熔化，利用其表面張力形成一個尖端半徑極小的錐形體，即“Taylor錐”。在強電場的作用下，離子得以從錐尖發(fā)射出來，形成高度聚焦的離子束
2025-09-22 16:27:35584 
吉時利 2000 吉時利 2000 數(shù)字萬用表吉時利Keithley2000 6位半數(shù)字多用表吉時利2000型6?數(shù)字多用表是一款快速、精確和高可靠性的儀器，并且易學易用，價格實惠。它具有
2025-09-11 16:18:05
吉時利2470產(chǎn)品名稱: Tektronix Keithley（泰克吉時利）2470 高電壓源表品牌: Tektronix Keithley（泰克吉時利）產(chǎn)品類型: 高電壓源表主要用途: 用于高電壓
2025-08-29 11:30:01
聚焦離子束技術（FIB）聚焦離子束技術（FocusedIonbeam，F(xiàn)IB）是利用電透鏡將離子束聚焦成非常小尺寸的離子束轟擊材料表面，實現(xiàn)材料的剝離、沉積、注入、切割和改性。隨著納米科技的發(fā)展
2025-08-28 10:38:33823 
吉時利Keithley 6487皮安表核心特點
高精度與分辨率
10fA（飛安級）分辨率，支持20fA至20mA的寬電流測量范圍。
5位半數(shù)字讀數(shù)，輸入端壓降低于200μV，減少測量誤差。
內(nèi)置
2025-08-27 17:45:44
回收租賃出售維修二手吉時利2602B源表
吉時利2602B源表：高精度測量新標桿
吉時利2602B源表的核心功能與特性
測量與輸出能力
雙通道設計，總輸出功率80W（每通道40W），支持4象限
2025-08-26 17:48:58
吉時利Keithley6487皮安表
吉時利6487皮安表 主要特點及優(yōu)點：
·10fA 分辨率
·吉時利6487皮安表/電壓源具有5位半讀數(shù)
·輸入端壓降 <200μV
·交互式電壓
2025-08-26 17:45:02
FIB是聚焦離子束的簡稱，由兩部分組成。一是成像，把液態(tài)金屬離子源輸出的離子束加速、聚焦，從而得到試樣表面電子像（與SEM相似）；二是加工，通過強電流離子束剝離表面原子，從而完成微，納米級別的加工
2025-08-26 15:20:22727 
聚焦離子束（FIB）技術因液態(tài)金屬離子源突破而飛速發(fā)展。1970年初期，多國科學家研發(fā)多種液態(tài)金屬離子源。1978年，美國加州休斯研究所搭建首臺Ga+基FIB加工系統(tǒng)，推動技術實用化。80至90年代
2025-08-19 21:35:57962 
吉時利2430/keithley2430數(shù)字源表keithley2430脈沖數(shù)字源表吉時利SourceMeter（數(shù)字源表）系列是專為那些要求緊密結合激勵源和測量功能，要求精密電壓源并同時進行電流
2025-08-18 17:31:41
吉時利2636B數(shù)字源表keithley 2636B吉時利2636B數(shù)字源表是 Keithley 的 60 瓦源表。源表儀器是一種電子測試設備，可測量和記錄精確的電壓和電流數(shù)據(jù)。源儀表以高精度收集
2025-08-18 16:51:35
二極管作為電子電路中的基本元件之一，其特性測試對于保障電路性能和可靠性至關重要。吉時利數(shù)字源表2400是一款功能強大的儀器，憑借其高精度、多功能和靈活性，在二極管特性測試中得到了廣泛的應用。本文將
2025-08-04 18:16:33685 吉時利6487吉時利(Keithley) 6487 皮安表10fA 分辨率 5位半讀數(shù) 應用領域 綜合吉時利(Keithley) 皮安表 6487具有
2025-08-04 17:14:05
吉時利2182A納伏表-Keithley2182A雙通道吉時利Keithley2182A納米電壓表進行了優(yōu)化，以進行穩(wěn)定、低噪聲電壓測量，并可靠、重復地表征低電阻材料和器件。它提供了更高的測量速度
2025-08-02 14:57:51
吉時利Keithley2450數(shù)字源表sourcemeter（SMU）吉時利Keithley2450數(shù)字源表是新一代 SourceMeter源測量單元 (SMU) 儀器，真正實現(xiàn)了歐姆定律（電流
2025-07-26 15:28:26
吉時利2636B雙通道數(shù)字源表｜keithley2636B2636A吉時利keithley數(shù)字源表是吉時利 新的I-V源-測量儀器，既可以用作桌面級I-V特性分析工具，也可以成為多通道I-V測試系統(tǒng)
2025-07-24 10:06:56
工作原理聚焦離子束掃描電鏡（FIB-SEM）是一種集多種先進技術于一體的微觀分析儀器，其工作原理基于離子束與電子束的協(xié)同作用。1.離子束原理離子束部分的核心是液態(tài)金屬離子源，通常使用鎵離子。在強電
2025-07-15 16:00:11734 
聚焦離子束（FIB）技術作為一種高精度的微觀加工和分析工具，在半導體行業(yè)具有不可替代的重要地位。它通過聚焦離子束直接在材料上進行操作，無需掩模，能夠?qū)崿F(xiàn)納米級精度的成像和修改，特別適合需要
2025-07-11 19:17:00491 
束高能離子束轟擊材料表面時，能夠在納米尺度上對材料實施剝離、沉積、注入、切割和改性等一系列操作。FIB/SEM雙束系統(tǒng)加工過程FIB/SEM雙束系統(tǒng)是聚焦離子束技
2025-07-08 15:33:30467 
FIB系統(tǒng)工作原理1.工作原理聚焦離子束（FIB）系統(tǒng)是一種高精度的納米加工與分析設備，其結構與電子束曝光系統(tǒng)類似，主要由發(fā)射源、離子光柱、工作臺、真空與控制系統(tǒng)等組成，其中離子光學系統(tǒng)是核心
2025-07-02 19:24:43679 
卓越的性能，在光伏測試領域發(fā)揮著關鍵作用。 光伏電池特性測試 ? 伏安特性曲線測量 伏安（I-V）特性曲線是評估光伏電池性能的基礎。吉時利 2461 數(shù)字源表能精準輸出不同的電壓，模擬光伏電池在實際工作中的各種工況，并同步測量對應
2025-07-01 16:37:59554 隨著半導體技術的快速發(fā)展，對測試設備的要求也越來越高。吉時利2601B源表作為一款高性能的數(shù)字源表，以其卓越的精度、多功能性和靈活性，成為半導體測試領域的重要工具。本文將深入探討吉時利2601B在半導體測試中的具體應用，分析其技術優(yōu)勢及如何助力半導體研發(fā)與生產(chǎn)。
2025-06-27 17:04:58569 吉時利6487皮安表是一款高精度、高性能的電流測量設備，專為低電流（20fA-20mA）和高電阻（10Ω-1PΩ）測量設計。
2025-06-24 16:41:52666 
聚焦離子束（FIB）技術是一種先進的納米加工和分析工具。其基本原理是在電場和磁場作用下，將離子束聚焦到亞微米甚至納米量級，通過偏轉和加速系統(tǒng)控制離子束掃描運動，實現(xiàn)微納圖形的監(jiān)測分析和微納結構的無
2025-06-24 14:31:45553 
聚焦離子束（FIB）在材料科學和微納加工領域內(nèi)的重要性日益顯現(xiàn)，離子束的傳輸過程由多個關鍵組件構成，包含離子源、透鏡和光闌等，而其性能的提升則依賴于光學元件的校正和功能擴展。此外，F(xiàn)IB技術的功能
2025-06-17 15:47:05863 
技術原理聚焦離子束顯微鏡（FocusedIonBeam,FIB）的核心在于其獨特的鎵（Ga）離子源。鎵金屬因其較低的熔點（29.76°C）和在該溫度下極低的蒸氣壓（?10^-13Torr），成為理想
2025-06-12 14:05:51683 
吉時利2400數(shù)字源表作為廣泛應用于通信、半導體、計算機、汽車與醫(yī)療行業(yè)的精密測試儀器，在元件特征分析和生產(chǎn)測試中發(fā)揮著關鍵作用。然而，長期使用或操作不當可能導致儀器出現(xiàn)故障，影響測試精度與效率
2025-06-10 12:02:48695 技術原理與背景聚焦離子束（FIB）技術是一種先進的納米加工和分析工具。其基本原理是在電場和磁場作用下，將離子束聚焦到亞微米甚至納米量級，通過偏轉和加速系統(tǒng)控制離子束掃描運動，實現(xiàn)微納圖形的監(jiān)測分析
2025-06-09 22:50:47605 
2450源表的10大應用場景 1. 電子器件測試 吉時利2450源表在電子器件測試中發(fā)揮核心作用。其高精度電壓和電流源可測試轉換器和放大器的性能，支持小信號測量，適用于芯片的電流、電壓特性測試。自動切換功能和預設測試程序顯著提升測試
2025-06-09 15:25:52690 聚焦離子束（FIB）技術憑借其獨特的原理和強大的功能，成為微納加工與分析領域不可或缺的重要工具。FIB如何工作聚焦離子束（FIB）技術是一種先進的微納加工技術，其核心在于液態(tài)金屬離子源，通常使用鎵
2025-05-29 16:15:07899 
聚焦離子束技術（FocusedIonBeam，簡稱FIB）作為一種前沿的微觀加工與分析技術，近年來在眾多領域得到了廣泛應用。金鑒實驗室憑借其專業(yè)的檢測技術和服務，成為了眾多企業(yè)在半導體檢測領域的首選
2025-05-08 14:26:23524 
，通常以鎵（Ga）離子為主，部分設備還配備氦（He）或氖（Ne）離子源。離子束在轟擊樣品時，會產(chǎn)生濺射現(xiàn)象，從而實現(xiàn)材料的精準去除，同時通過二次電子信號獲取樣品的形貌
2025-05-06 15:03:01467 
在工業(yè)制造邁向高精度、智能化的進程中，聚焦離子束(FIB)技術作為一種前沿的納米級加工與分析手段，近年來在眾多領域嶄露頭角。在此背景下，廣電計量攜手南京大學、中國科學技術大學、上海交通大學、哈爾濱
2025-04-30 16:16:57765 聚焦離子束技術（FocusedIonBeam,FIB）作為一種前沿的納米加工與分析手段，憑借其獨特的優(yōu)勢在多個領域展現(xiàn)出強大的應用潛力。本文將從技術原理、應用領域、測試項目以及制樣流程等方面，對聚焦
2025-04-28 20:14:04554 電導率是衡量物質(zhì)導電能力的重要參數(shù)，廣泛應用于水質(zhì)分析、材料研究和電化學領域。吉時利2450數(shù)字源表作為一款高精度源測量單元（SMU），具備電流、電壓和電阻的精密控制與測量功能，其觸摸屏界面和自動化
2025-04-28 09:45:55825 聚焦離子束（FIB）技術是一種極為精細的樣品制備與加工手段，它能夠?qū)饘?、合金、陶瓷等多種材料進行加工，制備出尺寸極小的薄片。這些薄片的寬度通常在10~20微米，高度在10~15微米，厚度僅為100
2025-04-23 14:31:251017 
聚焦離子束（FIB）技術在納米科技里很重要，它在材料科學、微納加工和微觀分析等方面用處很多。離子源：FIB的核心部件離子源是FIB系統(tǒng)的關鍵部分，液態(tài)金屬離子源（LMIS）用得最多，特別是鎵（Ga
2025-04-11 22:51:22652 
技術原理與核心優(yōu)勢聚焦離子束雙束系統(tǒng)（FIB-SEM）是一種集成多種先進技術的高端設備，其核心構成包括聚焦離子束（FIB）模塊、掃描電子顯微鏡（SEM）模塊以及多軸樣品臺，這種獨特的結構設計使得它能
2025-04-10 11:53:441125 
聚焦離子束（FocusedIonBeam，簡稱FIB）技術，宛如一把納米尺度的“萬能鑰匙”，在材料加工、分析及成像領域大放異彩。它憑借高度集中的離子束，精準操控離子束與樣品表面的相互作用，實現(xiàn)納米級
2025-04-08 17:56:15610 
聚焦離子束顯微鏡（FIB-SEM）作為一種前沿的微觀分析與加工工具，將聚焦離子束（FIB）和掃描電子顯微鏡（SEM）技術深度融合，兼具高分辨率成像和精密微加工能力，廣泛應用于材料科學、電子工業(yè)
2025-04-01 18:00:03793 
一、吉時利2450數(shù)字源表概述 1.1 基本介紹 吉時利2450數(shù)字源表是1通道實驗室設備，能提供±20mV至±200V的電壓輸出，以及±10nA至±1A的電流輸出。它具有0.012%的基本測量精度
2025-03-31 13:26:11582 聚焦離子束（Focused-Ion-Beam,FIB）技術是一種先進的微納加工與分析手段。其基本原理是通過電場和磁場的作用，將離子束聚焦到亞微米甚至納米級別，并利用偏轉和加速系統(tǒng)控制離子束的掃描運動
2025-03-27 10:24:541522 
聚焦離子束技術的崛起近年來，F(xiàn)IB技術憑借其獨特的優(yōu)勢，結合掃描電鏡（SEM）等高倍數(shù)電子顯微鏡的實時觀察功能，迅速成為納米級分析與制造的主流方法。它在半導體集成電路的修改、切割以及故障分析等
2025-03-26 15:18:56712 
電流穩(wěn)定性是評估電子設備性能的重要指標之一，尤其在精密電子測量和測試過程中，穩(wěn)定的電流輸出對確保測量結果的準確性和可靠性至關重要。吉時利數(shù)字源表2450作為一款高精度、多功能測試儀器，其電流穩(wěn)定性
2025-03-24 13:09:41602 
關于吉時利（Keithley）2425數(shù)字萬用表的相關資料，以下是一些基本信息：1. 型號： - 吉時利2425是一款高精度的數(shù)字源表（SourceMeter
2025-03-24 11:38:55
吉時利2400數(shù)字源表（Keithley 2400 SourceMeter）作為一款集高精度電源和測量功能于一體的多功能儀器，在材料科學領域的應用日益廣泛，尤其是在電導率測量方面展現(xiàn)了獨特的優(yōu)勢
2025-03-19 13:50:29869 
數(shù)字源表作為一種多功能、高精度的測試儀器，在5G通信設備的測試中展現(xiàn)出顯著的優(yōu)勢，成為行業(yè)內(nèi)不可或缺的工具。本文將從吉時利2602B的功能特點、在5G通信設備測試中的具體應用以及其帶來的技術價值三個方面進行詳細探討。 一、吉時利26
2025-03-19 13:46:29646 
聚焦離子束掃描電鏡雙束系統(tǒng)（FIB-SEM）作為一種前沿的微納加工與成像技術，憑借其強大的功能和多面性，在材料科學研究中占據(jù)著舉足輕重的地位。它能夠深入微觀世界，揭示材料內(nèi)部的結構與特性，為材料科學
2025-03-19 11:51:59925 
吉時利數(shù)字源表2400（Keithley 2400）作為一款高性能源測量單元（SMU），集成了電壓源、電流源、電壓表和電流表的多功能特性，在半導體器件測試領域展現(xiàn)了卓越的性能和廣泛的應用。本文將從
2025-03-18 11:36:15891 
吉時利（Keithley）2612B實際上是一款高性能、高精度的直流源和測量儀器，而不是靜電計。它廣泛應用于半導體測試、材料研究、電池測試、器件表征等領域?1。以下是吉時利2612B源表的使用方法
2025-03-14 17:08:56
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2025-03-12 13:47:401075 
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