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電子發(fā)燒友網(wǎng)>模擬技術(shù)>Al2O3/AIN/AIGaN/GaN MIS-HEMT器件結(jié)構(gòu)與特性

Al2O3/AIN/AIGaN/GaN MIS-HEMT器件結(jié)構(gòu)與特性

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氮化鎵(GaN)功率器件技術(shù)解析

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2023-11-06 09:39:2914900

Teledyne e2v HiRel新增兩款大功率GaN HEMT

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GaN器件在Class D上的應(yīng)用優(yōu)勢(shì)

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DS101_AL3_器件手冊(cè)

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2017-09-19 16:32:06

基于GaN HEMT的半橋LLC優(yōu)化設(shè)計(jì)和損耗分析

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2023-09-18 07:27:50

基于GaN的開(kāi)關(guān)器件

在過(guò)去的十多年里,行業(yè)專家和分析人士一直在預(yù)測(cè),基于氮化鎵(GaN)功率開(kāi)關(guān)器件的黃金時(shí)期即將到來(lái)。與應(yīng)用廣泛的MOSFET硅功率器件相比,基于GaN的功率器件具有更高的效率和更強(qiáng)的功耗處理能力
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新型Al_2O_3/BCB多層薄膜復(fù)合介質(zhì)材料的傳輸線損耗特性

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直接驅(qū)動(dòng)GaN晶體管的優(yōu)點(diǎn)

受益于集成器件保護(hù),直接驅(qū)動(dòng)GaN器件可實(shí)現(xiàn)更高的開(kāi)關(guān)電源效率和更佳的系統(tǒng)級(jí)可靠性。高電壓(600V)氮化鎵(GaN)高電子遷移率晶體管(HEMT)的開(kāi)關(guān)特性可實(shí)現(xiàn)提高開(kāi)關(guān)模式電源效率和密度的新型
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GaN HEMT增強(qiáng)型器件技術(shù)路線及關(guān)鍵科學(xué)問(wèn)題

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MIS結(jié)構(gòu)的能帶分布的變化與其電容-電壓特性

本周《漲知識(shí)啦》主要給大家介紹的是MIS(Metal-Insulator-Semiconductor)結(jié)構(gòu)的能帶分布的變化與其電容-電壓特性。 圖 1 ?(a) MIS結(jié)構(gòu)示意圖 ?(b) MIS
2020-12-10 11:09:447845

MIS結(jié)構(gòu)電極物理模型的開(kāi)發(fā)及應(yīng)用

,導(dǎo)致嚴(yán)重的熱衰退(thermal droop)現(xiàn)象。 根據(jù)我司技術(shù)團(tuán)隊(duì)前期關(guān)于MIS結(jié)構(gòu)的相關(guān)仿真結(jié)果可知,MIS
2021-12-21 13:55:501150

GaN HEMT概述/分類/結(jié)構(gòu)/工作原理

氮化鎵高電子遷移率晶體管GaN HEMT(High Electron Mobility Transistors)作為寬禁帶(WBG)功率半導(dǎo)體器件的代表,器件在高頻功率應(yīng)用方面有巨大的潛力。GaN材料相比于 Si 和SiC 具有更高的電子遷移率、飽和電子速度和擊穿電場(chǎng),如圖1所示。
2022-02-10 15:27:4330174

用于低溫應(yīng)用的GaN器件

作者研究了四個(gè)商用 GaN 器件在 400 K 和 4.2 K 之間的寬溫度范圍內(nèi)的性能。據(jù)作者介紹,正如原始文章中所報(bào)道的,所有測(cè)試的器件都可以在低溫下成功運(yùn)行,性能整體有所提高。然而,不同的 GaN HEMT 技術(shù)意味著器件柵極控制的顯著變化。
2022-07-25 09:20:281840

新的GaN技術(shù)簡(jiǎn)化了驅(qū)動(dòng)基于GaNHEMT

雖然乍一看似乎比較簡(jiǎn)單,但這些器件的柵極驅(qū)動(dòng)器電路需要仔細(xì)設(shè)計(jì)。首先,通常關(guān)閉的基于 GaNHEMT 需要負(fù)電壓來(lái)將其關(guān)閉并將其保持在關(guān)閉狀態(tài),從而避免意外開(kāi)啟。
2022-07-29 09:27:172427

增強(qiáng)型GaN HEMT的漏極電流特性?

已經(jīng)為基于 GaN 的高電子遷移率晶體管(HEMT)的增強(qiáng)模式開(kāi)發(fā)了兩種不同的結(jié)構(gòu)。這兩種模式是金屬-絕緣體-半導(dǎo)體 (MIS) 結(jié)構(gòu),2具有由電壓驅(qū)動(dòng)的低柵極泄漏電流,以及柵極注入晶體管 (GIT
2022-07-29 09:19:442002

用于電動(dòng)機(jī)的GaN器件

?;诘?(GaN) 的高電子遷移率晶體管 (HEMT) 器件具有卓越的電氣特性,是高壓和高開(kāi)關(guān)頻率電機(jī)控制應(yīng)用中 MOSFET 和 IGBT 的有效替代品。我們?cè)谶@里的討論集中在 GaN HEMT 晶體管在高功率密度電動(dòng)機(jī)應(yīng)用的功率和逆變器級(jí)中提供的優(yōu)勢(shì)。
2022-08-08 09:15:481660

分析毫米波GaN器件熱電效應(yīng)

針對(duì)熱效應(yīng)機(jī)理和熱電模型,我們將著重考慮熱導(dǎo)率和飽和速率隨晶格溫度的變化。由于熱電效應(yīng)最直接的外部反映是就是直流I-V特性,因此這里主要模擬GaN HEMT器件的直流特性曲線。通過(guò)編寫(xiě) Silvaco程序來(lái)模擬 GaN HEMT器件特性曲線,再與實(shí)驗(yàn)曲線作對(duì)比,獲得準(zhǔn)確的模型參數(shù)。
2022-09-08 10:44:052995

高功率GaN HEMT的可靠性設(shè)計(jì)

2,000 cm2/V·s 的 1.3 倍電子遷移率,這意味著與 RDS(ON) 和擊穿電壓相同的硅基器件相比,GaN RF 高電子遷移率晶體管(HEMT)的尺寸要小得多。因此,GaN RF HEMT 的應(yīng)用超出了蜂窩基站和國(guó)防雷達(dá)范疇,在所有 RF 細(xì)分市場(chǎng)中獲得應(yīng)用。
2022-09-19 09:33:213472

GaN HEMT基本概述、分類及工作原理

氮化鎵高電子遷移率晶體管GaN HEMT(High Electron Mobility Transistors)作為寬禁帶(WBG)功率半導(dǎo)體器件的代表,器件在高頻功率應(yīng)用方面有巨大的潛力。GaN材料相比于 Si 和SiC 具有更高的電子遷移率、飽和電子速度和擊穿電場(chǎng),如圖1所示。
2022-09-27 10:30:177365

CG2H80060D?C波段GaN HEMT管芯CREE

Wolfspeed的CG2H80060D是種氮化鎵(GaN)高電子遷移率晶體管(HEMT)。與硅或砷化鎵相比較,GaN具備優(yōu)異的性能指標(biāo);CG2H80060D包含更高的擊穿場(chǎng)強(qiáng);更高的飽和電子漂移
2022-11-01 09:29:511577

GaN功率HEMT設(shè)計(jì)+GaN寬帶功率放大器設(shè)計(jì)

GaN功率HEMT設(shè)計(jì)+GaN寬帶功率放大器設(shè)計(jì)
2023-01-30 14:17:441435

用熱反射測(cè)溫技術(shù)測(cè)量GaN HEMT的瞬態(tài)溫度

第三代半導(dǎo)體器件CaN高電子遷移率晶體管(HEMT)具備較高的功率密度,同時(shí)具有較強(qiáng)的自熱效應(yīng),在大功率工作條件下會(huì)產(chǎn)生較高的結(jié)溫。根據(jù)半導(dǎo)體器件可靠性理論,器件的工作溫度、性能及可靠性有著極為密切的聯(lián)系,因此準(zhǔn)確檢測(cè)GaN HEMT的溫度就顯得極為重要。
2023-02-13 09:27:523312

絕緣柵HEMT器件界面固定電荷分析

帶電壓解析模型,然后考慮柵絕緣層和勢(shì)壘層界面電荷對(duì)兩個(gè)模型進(jìn)行對(duì)比,提取出了MIS-HEMT和MOS-HEMT兩種器件的有效界面電荷密度。
2023-02-13 09:33:583244

AIN/AIGaN/GaN MIS異質(zhì)結(jié)構(gòu)C-V分析

C-V測(cè)試是研究絕緣柵HEMT器件性能的重要方法,采用Keithley 4200半導(dǎo)體表征系統(tǒng)的CVU模塊測(cè)量了肖特基柵和絕緣柵異質(zhì)結(jié)構(gòu)的C-V特性
2023-02-14 09:17:154987

AIN/AIGaN/GaN MIS-HEMT器件直流特性

關(guān)態(tài)漏電是制約HEMT器件性能提升的重要因素之一,采用絕緣柵HEMT器件結(jié)構(gòu)可以有效減小器件關(guān)態(tài)漏電。圖1給出了S-HEMT、MIS-HEMT、MOS-HEMT三種器件結(jié)構(gòu)的關(guān)態(tài)柵漏電曲線,漏極電壓Vd設(shè)定在0V,反向柵極電壓從0V掃描至-10V,正向柵電壓掃描至5V。
2023-02-14 09:18:546784

AlN/AIGaN/GaN MIS-HEMT器件制作

絕緣柵和肖特基柵HEMT器件結(jié)構(gòu)如圖1所示, AlGaN/GaN異質(zhì)結(jié)采用MOCVD技術(shù)在2英寸c面藍(lán)寶石襯底上外延得到,由下往上依次為180nm高溫AlN成核層、13μm非摻雜GaN緩沖層、1nm AlN界面插入層、22nm AlGaN勢(shì)壘層、及2nm GaN帽層,勢(shì)壘層鋁組分設(shè)定為30%。
2023-02-14 09:31:165006

氮化鋁AIN導(dǎo)熱界面填料和陶瓷電路板性能

配對(duì);Beo盡管具備出色的綜合型能,但是其具有很高的產(chǎn)品成本和有毒的缺陷限制它項(xiàng)目研究。因此不論是特性、成本費(fèi)、環(huán)保規(guī)定方面來(lái)講AL2O3和Beo陶瓷早已無(wú)法滿足電子器件電力電子器件發(fā)展和要求了,取代它
2023-02-16 14:44:572395

GaN HEMT外延材料表征技術(shù)研究進(jìn)展

氮化鎵 ( GaN) 作為第三代半導(dǎo)體材料的典型代表,具有高擊穿電場(chǎng)強(qiáng)度和高熱導(dǎo)率 等優(yōu)異的物理特性,是制作高頻微波器件和大功率電力電子器件的理想材料。GaN 外延材料的 質(zhì)量決定了高電子遷移率
2023-02-20 11:47:223015

氧化鋁陶瓷基板制造工藝概述

氧化鋁有許多同質(zhì)異晶體,例如α-Al2o3、β-Al2o3、γ-Al2o3等,其中以α-Al2o3的穩(wěn)定性較高,其晶體結(jié)構(gòu)緊密、物理性能與化學(xué)性能穩(wěn)定,具有密度與機(jī)械強(qiáng)度較高的優(yōu)勢(shì),在工業(yè)中的應(yīng)用也較多。
2023-03-22 09:48:571507

氧化鋁陶瓷基板的晶體結(jié)構(gòu)、分類及性能

氧化鋁有許多同質(zhì)異晶體,例如α-Al2o3、β-Al2o3、γ-Al2o3等,其中以α-Al2o3的穩(wěn)定性較高,其晶體結(jié)構(gòu)緊密、物理性能與化學(xué)性能穩(wěn)定,具有密度與機(jī)械強(qiáng)度較高的優(yōu)勢(shì),在工業(yè)中的應(yīng)用也較多。
2023-03-30 14:10:222737

五大陶瓷基板材料特性及應(yīng)用大全

BeO為纖鋅礦型結(jié)構(gòu),單胞為立方晶系。其熱傳導(dǎo)能力極高,BeO質(zhì)量分?jǐn)?shù)為99%的BeO陶瓷,室溫下其熱導(dǎo)率(熱導(dǎo)系數(shù))可達(dá)310W/(m·K),為同等純度Al2O3陶瓷熱導(dǎo)率的10倍左右。
2023-04-12 10:48:276971

藍(lán)寶石陶瓷電路板在MEMS器件發(fā)揮的作用

藍(lán)寶石陶瓷基板是一種高硬度、高強(qiáng)度、高熔點(diǎn)的陶瓷材料,其主要成分是氧化鋁(Al2O3)。藍(lán)寶石陶瓷基板的制備方法是在高溫高壓下燒結(jié)制成。藍(lán)寶石陶瓷基板的晶體結(jié)構(gòu)具有六方晶系,其晶體密度為3.98 g/cm3,熔點(diǎn)為2040℃。
2023-04-25 15:38:041219

絕緣柵Si基GaN平面器件關(guān)鍵工藝

傳統(tǒng)GaN-on-Si功率器件歐姆接觸主要采用Ti/Al/X/Au多層金屬體系,其中X金屬可為Ni,Mo,PT,Ti等。這種傳統(tǒng)有Au歐姆接觸通常采用高溫退火工藝(>800℃),第1層Ti在常溫下
2023-04-29 16:46:002558

絕緣柵GaN基平面功率開(kāi)關(guān)器件技術(shù)

GaN基功率開(kāi)關(guān)器件能實(shí)現(xiàn)優(yōu)異的電能轉(zhuǎn)換效率和工作頻率,得益于平面型AlGaN/GaN異質(zhì)結(jié)構(gòu)中高濃度、高遷移率的二維電子氣(2DEG)。圖1示出絕緣柵GaN基平面功率開(kāi)關(guān)的核心器件增強(qiáng)型AlGaN/GaN MIS/MOS-HEMT的基本結(jié)構(gòu)。
2023-04-29 16:50:002554

藍(lán)寶石陶瓷電路板在MEMS器件發(fā)揮的作用

藍(lán)寶石是一種高硬度、高強(qiáng)度、高熔點(diǎn)的陶瓷材料,其主要成分是氧化鋁(Al2O3)。藍(lán)寶石陶瓷基板的制備方法是在高溫高壓下燒結(jié)制成。藍(lán)寶石陶瓷基板的晶體結(jié)構(gòu)具有六方晶系,其晶體密度為3.98 g/cm3,熔點(diǎn)為2040℃。
2023-05-05 16:35:281040

GaN HEMT大信號(hào)模型

GaN HEMT 為功率放大器設(shè)計(jì)者提供了對(duì) LDMOS、GaAs 和 SiC 技術(shù)的許多改進(jìn)。更有利的特性包括高電壓操作、高擊穿電壓、功率密度高達(dá) 8W/mm、fT 高達(dá) 25 GHz 和低靜態(tài)
2023-05-24 09:40:013467

GaN HEMT工藝全流程

GaN HEMT(高電子遷移率晶體管:High Electron Mobility Transistor)是新一代功率半導(dǎo)體,具有低工作電阻和高抗損性,有望應(yīng)用于大功率和高頻電子設(shè)備。
2023-05-25 15:14:065126

GaN單晶襯底顯著改善HEMT器件電流崩塌效應(yīng)

最重要的器件之一,在功率器件和射頻器件領(lǐng)域擁有廣泛的應(yīng)用前景。HEMT器件通常是在硅(Si)、藍(lán)寶石(Al2O3)、碳化硅(SiC)等異質(zhì)襯底上通過(guò)金屬有機(jī)氣象外延(MOCVD)進(jìn)行外延制備。由于異質(zhì)
2023-06-14 14:00:554118

陶瓷基板材料的類型與優(yōu)缺點(diǎn)

已經(jīng)大規(guī)模生產(chǎn)的應(yīng)用較為廣泛的陶瓷基板主要有:Al2O3、BeO、SiC、AlN、Si3N4等。 ? ? 作為技術(shù)成熟度最高的陶瓷基板材料,Al2O3基板綜合性能較好,目前應(yīng)用最成熟。Al2O3原料豐富、價(jià)格低廉,具有良好的絕緣性、化學(xué)穩(wěn)定性及與金屬附著
2023-07-17 15:06:164517

實(shí)測(cè)干貨分享!1200V GaN HEMT功率器件動(dòng)態(tài)特性測(cè)試

速度,能夠顯著提升功率變換器的性能,受到電源工程師的青睞。同時(shí),極快的開(kāi)關(guān)速度又對(duì)其動(dòng)態(tài)特性的測(cè)試提出了更高的要求,稍有不慎就會(huì)得到錯(cuò)誤結(jié)果。 為了能夠?qū)崿F(xiàn)對(duì)GaN HEMT功率器件動(dòng)態(tài)特性進(jìn)行精準(zhǔn)測(cè)試,對(duì)應(yīng)的測(cè)試系統(tǒng)往往需要 注意以下幾
2023-07-17 18:45:022345

氧化鋁陶瓷基板你了解嗎?

α-Al2O3、β-Al2O3、γ-Al2O3等。其中,α-Al2O3具有較高的穩(wěn)定性。其晶體結(jié)構(gòu)致密,理化性能穩(wěn)定,具有密度和力學(xué)性能。高強(qiáng)度的優(yōu)勢(shì)在行業(yè)中有更多的應(yīng)用。 氧化鋁陶瓷按氧化鋁純度分類。氧化鋁純度為“99%稱為剛玉瓷,氧化鋁純度為99%、95%和90%的氧化鋁稱為9
2023-08-02 17:02:462485

AlGaN/GaN結(jié)構(gòu)的氧基數(shù)字蝕刻

寬帶隙GaN基高電子遷移率晶體管(HEMTs)和場(chǎng)效應(yīng)晶體管(fet)能夠提供比傳統(tǒng)Si基高功率器件更高的擊穿電壓和電子遷移率。常關(guān)GaN非常需要HEMT來(lái)降低功率并簡(jiǎn)化電路和系統(tǒng)架構(gòu),這是GaN HEMT技術(shù)的主要挑戰(zhàn)之一。凹進(jìn)的AlGaN/GaN結(jié)構(gòu)是實(shí)現(xiàn)常關(guān)操作的有用選擇之一。
2023-10-10 16:21:111555

GaN HEMT器件結(jié)構(gòu)解析

很多關(guān)注,由寬禁帶半導(dǎo)體所制備的功率器件可作為具有低導(dǎo)通電阻的高壓開(kāi)關(guān),可以取代硅功率器件。此外,寬禁帶異質(zhì)結(jié)場(chǎng)效應(yīng)晶體管具有較高的載流子密度和二維電子氣通道,以及較大的臨界電場(chǎng)強(qiáng)度等物理特性,其中的氮化鎵 (Gallium Nitride, GaN)已被認(rèn)為可制備極佳的功率開(kāi)關(guān)。
2023-11-09 11:26:433371

GaN HEMT為什么不能做成低壓器件

GaN HEMT為什么不能做成低壓器件? GaN HEMT(氮化鎵高電子遷移率晶體管)是一種迅速嶄露頭角的高頻功率器件,具有很高的電子遷移率、大的電子飽和漂移速度、高的飽和電子流動(dòng)速度以及較低的電阻
2023-12-07 17:27:201905

微波GaN HEMT 技術(shù)面臨的挑戰(zhàn)

報(bào)告內(nèi)容包含: 微帶WBG MMIC工藝 GaN HEMT 結(jié)構(gòu)的生長(zhǎng) GaN HEMT 技術(shù)面臨的挑戰(zhàn)
2023-12-14 11:06:58897

使用GaN HEMT設(shè)備最大化OBCs的功率密度

隨著電動(dòng)汽車(EVs)的銷售量增長(zhǎng),整車OBC(車載充電器)的性能要求日益提高。原始設(shè)備制造商正在尋求最小化這些組件的尺寸和重量以提高車輛續(xù)航里程。因此,我們將探討如何設(shè)計(jì)、選擇拓?fù)?b class="flag-6" style="color: red">結(jié)構(gòu),以及如何通過(guò)GaN HEMT設(shè)備最大化OBCS的功率密度。
2023-12-17 11:30:001866

氮化鎵功率器件結(jié)構(gòu)和原理

晶體管)結(jié)構(gòu)。GaN HEMT由以下主要部分組成: 襯底:氮化鎵功率器件的襯底采用高熱導(dǎo)率的材料,如氮化硅(Si3N4),以提高器件的熱擴(kuò)散率和散熱能力。 二維電子氣層:氮化鎵襯底上生長(zhǎng)一層氮化鎵,形成二維電子氣層。GaN材料的禁帶寬度大,由于
2024-01-09 18:06:416137

GaN功率HEMT制造中的缺陷及其表征方法

氮化鎵具有許多內(nèi)在材料優(yōu)勢(shì),如寬能隙和高電子遷移率。當(dāng)用作橫向高電子遷移率晶體管(HEMT)器件時(shí),這些特性可用于獲得功率轉(zhuǎn)換性能優(yōu)勢(shì),因?yàn)槠錈o(wú)反向恢復(fù)損失且電容相對(duì)較小。隨著這項(xiàng)技術(shù)在更廣
2024-04-18 11:49:423139

改善GaN HEMT功率器件的短路耐受時(shí)間

在本文中,我們將討論氮化鎵 (GaN) HEMT 功率器件中的一個(gè)關(guān)鍵參數(shù),即短路耐受時(shí)間 (SCWT)。
2024-05-09 10:43:262002

GaN MOSFET 器件結(jié)構(gòu)及原理

和更低的導(dǎo)通電阻,因此在高頻、高功率和高溫應(yīng)用中具有顯著優(yōu)勢(shì)。 GaN MOSFET器件結(jié)構(gòu) GaN MOSFET的基本結(jié)構(gòu)包括以下幾個(gè)部分: 1.1 襯底:GaN MOSFET通常采用硅或碳化硅作為襯底
2024-07-14 11:39:364189

QPD1026L采用SiC HEMT的1300W(PsdB)分立GaN器件管英文手冊(cè)

電子發(fā)燒友網(wǎng)站提供《QPD1026L采用SiC HEMT的1300W(PsdB)分立GaN器件管英文手冊(cè).pdf》資料免費(fèi)下載
2024-07-31 13:24:400

GaN晶體管的基本結(jié)構(gòu)和性能優(yōu)勢(shì)

GaN(氮化鎵)晶體管,特別是GaN HEMT(高電子遷移率晶體管),是近年來(lái)在電力電子和高頻通信領(lǐng)域受到廣泛關(guān)注的一種新型功率器件。其結(jié)構(gòu)復(fù)雜而精細(xì),融合了多種材料和工藝,以實(shí)現(xiàn)高效、高頻率和高功率密度的性能。
2024-08-15 11:01:063440

GaN HEMT有哪些優(yōu)缺點(diǎn)

GaN HEMT(氮化鎵高電子遷移率晶體管)作為一種先進(jìn)的功率半導(dǎo)體器件,在電力電子、高頻通信、汽車電子等多個(gè)領(lǐng)域展現(xiàn)出了顯著的優(yōu)勢(shì),但同時(shí)也存在一些缺點(diǎn)。以下是對(duì)GaN HEMT優(yōu)缺點(diǎn)的詳細(xì)分析:
2024-08-15 11:09:204131

高功率器件設(shè)備散熱用陶瓷基板 | 晟鵬耐高溫高導(dǎo)熱絕緣片

關(guān)于陶瓷材料,美國(guó)等西方國(guó)家很早便開(kāi)始了Al2O3陶瓷的研究與應(yīng)用,還開(kāi)展了Al2O3陶瓷金屬化等領(lǐng)域的研究,這為Al2O3陶瓷在電子封裝領(lǐng)域的應(yīng)用提供了更加完善的技術(shù)支持和更加可靠的應(yīng)用性
2024-10-23 08:03:141646

RS-ALD技術(shù)制備的Al2O3薄膜在TOPCon電池邊緣鈍化中的應(yīng)用研究

硅太陽(yáng)能電池和組件在光伏市場(chǎng)占主導(dǎo),但半電池切割產(chǎn)生的新表面會(huì)加劇載流子復(fù)合,影響電池效率,邊緣鈍化技術(shù)可解決此問(wèn)題。Al2O3薄膜穩(wěn)定性高、介電常數(shù)高、折射率低,在光學(xué)和光電器件中有應(yīng)用前景,常用
2025-01-13 09:01:392278

GaN HEMT憑什么贏得市場(chǎng)青睞

硅基半導(dǎo)體經(jīng)過(guò)多年發(fā)展,其性能逐漸接近極限,在進(jìn)一步降本增效的背景下,第三代寬禁帶半導(dǎo)體氮化鎵功率器件GaN HEMT被寄予厚望。
2025-02-27 09:38:48905

高速GaN E-HEMT的測(cè)量技巧方案免費(fèi)下載

高速GaN E-HEMT的測(cè)量技巧總結(jié) 一、概述 ? 重要性 ?:GaN E-HEMT(氮化鎵增強(qiáng)型高電子遷移率晶體管)具有極高的開(kāi)關(guān)速度,因此準(zhǔn)確的測(cè)量技術(shù)對(duì)評(píng)估其性能至關(guān)重要。 ? 內(nèi)容概覽
2025-02-27 18:06:411062

GaN HEMT的SPICE模型使用指南及示例

GaN HEMT的SPICE模型使用指南及示例總結(jié) 本文檔基于GaN HEMT的實(shí)測(cè)特性描述了當(dāng)前版本的模型。該模型專為與PSpice和LTspice配合使用而開(kāi)發(fā)。本文檔首先介紹該模型,然后提供將
2025-03-11 17:43:112142

什么是IGBT/SiC/GaN HEMT功率芯片/模塊/模組?特性是什么?主要應(yīng)用哪里?

IGBT/SiC/GaN HEMT功率芯片/模塊/模組 一、核心器件定義 ? IGBT(絕緣柵雙極型晶體管) ? 電力電子領(lǐng)域核心開(kāi)關(guān)器件,通過(guò)柵極電壓控制導(dǎo)通狀態(tài): ? 結(jié)構(gòu)特性 ?:融合
2025-05-26 14:37:052286

增強(qiáng)AlN/GaN HEMT

尺寸小得多、工作頻率高得多的AlN/GaN HEMT。 該團(tuán)隊(duì)的突破涉及原位鈍化和使用選擇性刻蝕工藝添加再生長(zhǎng)重?fù)诫sn型接觸。 AlN/GaN HEMT是一類極具前景的晶體管,可用于射頻和功率器件
2025-06-12 15:44:37800

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