在導(dǎo)通數(shù)據(jù)中,原本2,742μJ的開(kāi)關(guān)損耗變?yōu)?,690μJ,損耗減少了約38%。在關(guān)斷數(shù)據(jù)中也從2,039μJ降至1,462μJ,損耗減少了約30%。
2020-07-17 17:47:44
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開(kāi)關(guān)電源內(nèi)部主要損耗要提高開(kāi)關(guān)電源的效率,就必須分辨和粗略估算各種損耗。開(kāi)關(guān)電源內(nèi)部的損耗大致可分為四個(gè)方面:開(kāi)關(guān)損耗、導(dǎo)通損耗、附加損耗和電阻損耗。這些損耗通常會(huì)在有損元器件中同時(shí)出現(xiàn),下面將分別討論。
2022-08-12 11:53:21
1622 MOSFET/IGBT的開(kāi)關(guān)損耗測(cè)試是電源調(diào)試中非常關(guān)鍵的環(huán)節(jié),但很多工程師對(duì)開(kāi)關(guān)損耗的測(cè)量還停留在人工計(jì)算的感性認(rèn)知上,PFC MOSFET的開(kāi)關(guān)損耗更是只能依據(jù)口口相傳的經(jīng)驗(yàn)反復(fù)摸索,那么該如何量化評(píng)估呢?
2022-10-19 10:39:23
2763 對(duì)于MOSFET,米勒效應(yīng)(Miller Effect)指其輸入輸出之間的分布電容(柵漏電容)在反相放大作用下,使得等效輸入電容值放大的效應(yīng)。由于米勒效應(yīng),MOSFET柵極驅(qū)動(dòng)過(guò)程中,會(huì)形成平臺(tái)電壓,引起開(kāi)關(guān)時(shí)間變長(zhǎng),開(kāi)關(guān)損耗增加,給MOS管的正常工作帶來(lái)非常不利的影響。
2023-04-26 09:20:53
5662 
MOS 管計(jì)算導(dǎo)通損耗時(shí),應(yīng)該用平均電流IAVG還是用電流有效IRMS值呢?
2023-07-19 15:46:29
3960 
MOS 管的開(kāi)關(guān)損耗對(duì)MOS 管的選型和熱評(píng)估有著重要的作用,尤其是在高頻電路中,比如開(kāi)關(guān)電源,逆變電路等。
2023-07-23 14:17:00
6321 
的開(kāi)關(guān)損耗測(cè)試是電源調(diào)試中非常關(guān)鍵的環(huán)節(jié),開(kāi)關(guān)損耗測(cè)試對(duì)于器件評(píng)估非常關(guān)鍵,但很多工程師對(duì)開(kāi)關(guān)損耗的測(cè)量還停留在人工計(jì)算的感性認(rèn)知上。電源工程師們都知道開(kāi)關(guān)MOS在整個(gè)電源系統(tǒng)里面的損耗占比是不小的,開(kāi)關(guān)
2024-01-20 17:08:06
7241 
如圖片所示,為什么MOS管的開(kāi)關(guān)損耗(開(kāi)通和關(guān)斷過(guò)程中)的損耗是這樣算的,那個(gè)72pF應(yīng)該是MOS的輸入電容,2.5A是開(kāi)關(guān)電源限制的平均電流
2018-10-11 10:21:49
開(kāi)關(guān)電源 MOS管損耗MOS管開(kāi)關(guān)電源損耗開(kāi)關(guān)模式電源(Switch Mode Power Supply,簡(jiǎn)稱(chēng)SMPS),又稱(chēng)交換式電源、開(kāi)關(guān)變換器,是一種高頻化電能轉(zhuǎn)換裝置,是電源供應(yīng)器的一種。其
2021-10-29 09:16:45
-請(qǐng)問(wèn)各位專(zhuān)家,我是個(gè)電源新手,剛開(kāi)始接觸MOS管?,F(xiàn)在又些問(wèn)題,開(kāi)關(guān)損耗主要是導(dǎo)通和關(guān)斷這兩個(gè)過(guò)程,其它損耗可忽略嗎?
2019-06-27 09:10:01
和開(kāi)關(guān)損耗占大頭,本篇也只說(shuō)這兩個(gè)。 1、導(dǎo)通損耗
導(dǎo)通損耗指的是MOS 管完全導(dǎo)通的損耗,這個(gè)相對(duì)來(lái)說(shuō)最簡(jiǎn)單,導(dǎo)通后Vgs不變的情況下,導(dǎo)通電阻恒定,知道了通過(guò)的電流,開(kāi)關(guān)的占空比D,那么損耗就可以
2025-03-31 10:34:07
MOS管的開(kāi)關(guān)損耗測(cè)試是電源調(diào)試中非常關(guān)鍵的環(huán)節(jié),但很多工程師對(duì)開(kāi)關(guān)損耗的測(cè)量還停留在人工計(jì)算的感性認(rèn)知上,PFCMOS管的開(kāi)關(guān)損耗更是只能依據(jù)口口相傳的經(jīng)驗(yàn)反復(fù)摸索,那么該如何量化評(píng)估呢
2018-11-09 11:43:12
,不需要穩(wěn)壓二極管鉗制。米勒振蕩若只是引起GS絕緣層擊穿,那么加穩(wěn)壓二極管很容易解決,問(wèn)題的關(guān)鍵在于,米勒振蕩往往引起二次開(kāi)關(guān),也就是說(shuō),導(dǎo)通了又關(guān)閉又導(dǎo)通,多次開(kāi)關(guān),多次開(kāi)關(guān)帶來(lái)的直接效應(yīng),就是開(kāi)關(guān)損耗
2018-11-20 16:00:00
本帖最后由 小小的大太陽(yáng) 于 2017-5-31 10:06 編輯
MOS管的導(dǎo)通損耗影響最大的就是Rds,而開(kāi)關(guān)損耗好像不僅僅和開(kāi)關(guān)的頻率有關(guān),與MOS管的結(jié)電容,輸入電容,輸出電容都有關(guān)系吧?具體的關(guān)系是什么?有沒(méi)有具體計(jì)算開(kāi)關(guān)損耗的公式?
2017-05-31 10:04:51
。(MOS管不能很快得進(jìn)入開(kāi)關(guān)狀態(tài))所以就出現(xiàn)了所謂的圖騰驅(qū)動(dòng)??!選擇MOS時(shí),Cgd越小開(kāi)通損耗就越小。米勒效應(yīng)不可能完全消失。MOSFET中的米勒平臺(tái)實(shí)際上就是MOSFET處于“放大區(qū)”的典型標(biāo)志用用
2025-03-25 13:37:58
電源工程師知道,整個(gè)電源系統(tǒng)中開(kāi)關(guān)MOS的損耗比不小. 討論最多的是導(dǎo)通損耗和關(guān)斷損耗,因?yàn)檫@兩種損耗與傳導(dǎo)損耗或驅(qū)動(dòng)損耗不同,因?yàn)樗苤庇^,所以有些人對(duì)其計(jì)算仍然有些困惑.今天,我們將詳細(xì)分析
2021-10-29 08:43:49
MOS管開(kāi)通損耗只要不是軟開(kāi)關(guān),一般都是比較大的。假如開(kāi)關(guān)頻率80KHZ開(kāi)關(guān)電源中,由于有彌勒電容,如果關(guān)斷速度夠快是不是MOS管的關(guān)斷損耗都算軟關(guān)閉,損耗接近0?另外開(kāi)通和關(guān)閉損耗的比例是多少。請(qǐng)大神賜教,越詳細(xì)越好。
2021-09-11 23:56:46
要提高開(kāi)關(guān)電源的效率,就必須分辨和粗略估算各種損耗。開(kāi)關(guān)電源內(nèi)部的損耗大致可分為四個(gè)方面:開(kāi)關(guān)損耗、導(dǎo)通損耗、附加損耗和電阻損耗。這些損耗通常會(huì)在有損元器件中同時(shí)出現(xiàn),下面將分別討論。 01與功率
2020-08-27 08:07:20
要提高開(kāi)關(guān)電源的效率,就必須分辨和粗略估算各種損耗。開(kāi)關(guān)電源內(nèi)部的損耗大致可分為四個(gè)方面:開(kāi)關(guān)損耗、導(dǎo)通損耗、附加損耗和電阻損耗。這些損耗通常會(huì)在有損元器件中同時(shí)出現(xiàn),下面將分別討論。 與功率
2023-03-16 16:37:04
要提高開(kāi)關(guān)電源的效率,就必須分辨和粗略估算各種損耗。開(kāi)關(guān)電源內(nèi)部的損耗大致可分為四個(gè)方面:開(kāi)關(guān)損耗、導(dǎo)通損耗、附加損耗和電阻損耗。這些損耗通常會(huì)在有損元器件中同時(shí)出現(xiàn)。
2021-03-11 06:04:00
3、開(kāi)關(guān)動(dòng)態(tài)損耗?? 由于開(kāi)關(guān)損耗是由開(kāi)關(guān)的非理想狀態(tài)引起的,很難估算MOSFET 和二極管的開(kāi)關(guān)損耗,器件從完全導(dǎo)通到完全關(guān)閉或從完全關(guān)閉到完全導(dǎo)通需要一定時(shí)間,也稱(chēng)作死區(qū)時(shí)間,在這個(gè)過(guò)程中會(huì)產(chǎn)生
2021-12-29 07:52:21
一、開(kāi)關(guān)損耗包括開(kāi)通損耗和關(guān)斷損耗兩種。開(kāi)通損耗是指功率管從截止到導(dǎo)通時(shí)所產(chǎn)生的功率損耗;關(guān)斷損耗是指功率管從導(dǎo)通到截止時(shí)所產(chǎn)生的功率損耗。二、開(kāi)關(guān)損耗原理分析:(1)、非理想的開(kāi)關(guān)管在開(kāi)通時(shí),開(kāi)關(guān)
2021-10-29 07:10:32
在BUCK型開(kāi)關(guān)電源中,如果沒(méi)有損耗,那效率就是100%,但這是不可能的,BUCK型開(kāi)關(guān)電源中主要的損耗是導(dǎo)通損耗和交流開(kāi)關(guān)損耗,導(dǎo)通損耗主要是指MOS管導(dǎo)通后的損耗和肖特基二極管導(dǎo)通的損耗(是指完
2021-10-29 08:08:29
形。 3、逆變橋動(dòng)態(tài)過(guò)程分析 1)開(kāi)通時(shí)刻電流由上管IGBT→電感或者負(fù)載→N線→上母線電容; 2)關(guān)斷時(shí)刻電感進(jìn)行續(xù)流→負(fù)載→N線→下母線電容→下二極管。 4、IGBT模塊損耗組成部分 IGBT
2023-02-24 16:47:34
過(guò)程中MOSFET開(kāi)關(guān)損耗功率MOSFET的柵極電荷特性如圖1所示。值得注意的是:下面的開(kāi)通過(guò)程對(duì)應(yīng)著B(niǎo)UCK變換器上管的開(kāi)通狀態(tài),對(duì)于下管是0電壓開(kāi)通,因此開(kāi)關(guān)損耗很小,可以忽略不計(jì)。
圖1 MOSFET
2025-02-26 14:41:53
直流傳導(dǎo)損耗采用理想組件(導(dǎo)通狀態(tài)下零壓降和零開(kāi)關(guān)損耗)時(shí),理想降壓轉(zhuǎn)換器的效率為100%。而實(shí)際上,功耗始終與每個(gè)功率元件相關(guān)聯(lián)。SMPS中有兩種類(lèi)型的損耗:直流傳導(dǎo)損耗和交流開(kāi)關(guān)損耗。降壓轉(zhuǎn)換器的傳導(dǎo)損耗主要來(lái)自于晶體管Q1、二極管D1和電感L在傳導(dǎo)電流時(shí)產(chǎn)生的壓降。為...
2021-10-29 06:18:15
時(shí)間trr快(可高速開(kāi)關(guān))?trr特性沒(méi)有溫度依賴(lài)性?低VF(第二代SBD)下面介紹這些特征在使用方面發(fā)揮的優(yōu)勢(shì)。大幅降低開(kāi)關(guān)損耗SiC-SBD與Si二極管相比,大幅改善了反向恢復(fù)時(shí)間trr。右側(cè)的圖表為
2019-03-27 06:20:11
本帖最后由 張飛電子學(xué)院魯肅 于 2021-1-30 13:21 編輯
本文詳細(xì)分析計(jì)算功率MOSFET開(kāi)關(guān)損耗,并論述實(shí)際狀態(tài)下功率MOSFET的開(kāi)通過(guò)程和自然零電壓關(guān)斷的過(guò)程,從而使電子
2021-01-30 13:20:31
振蕩。防止mos管燒毀。過(guò)快的充電會(huì)導(dǎo)致激烈的米勒震蕩,但過(guò)慢的充電雖減小了震蕩,但會(huì)延長(zhǎng)開(kāi)關(guān)從而增加開(kāi)關(guān)損耗。Mos開(kāi)通過(guò)程源級(jí)和漏級(jí)間等效電阻相當(dāng)于從無(wú)窮大電阻到阻值很小的導(dǎo)通內(nèi)阻(導(dǎo)通內(nèi)阻一般
2019-07-26 07:00:00
討論交流,真正學(xué)到知識(shí),現(xiàn)在增加提問(wèn),參與回答者贈(zèng)送張飛實(shí)戰(zhàn)電子1部精品課程以下是今日問(wèn)題:1、開(kāi)關(guān)損耗和續(xù)流損耗和哪些因素有關(guān)系?2、MOS管在H橋電路中體二極管什么時(shí)候會(huì)續(xù)流?`
2021-06-09 09:08:41
討論交流,真正學(xué)到知識(shí),現(xiàn)在增加提問(wèn),參與回答者贈(zèng)送張飛實(shí)戰(zhàn)電子1部精品課程以下是今日問(wèn)題:1、MOS管在H橋電路中怎么解決續(xù)流損耗:A、熱源進(jìn)行分配,大家一起承擔(dān),B、分時(shí)載波,一會(huì)上管載波,一會(huì)
2021-06-15 09:25:50
分布電容引起。改善方法:在繞組層與層之間加絕緣膠帶,來(lái)減少層間分布電容。08、開(kāi)關(guān)管MOSFET上的損耗mos損耗包括:導(dǎo)通損耗,開(kāi)關(guān)損耗,驅(qū)動(dòng)損耗。其中在待機(jī)狀態(tài)下最大的損耗就是開(kāi)關(guān)損耗。改善辦法
2021-04-09 14:18:40
像2301那種mos導(dǎo)通后,VDS電壓是0嗎?也就是沒(méi)有損耗?仿真是沒(méi)有損耗的
2020-04-16 15:44:28
是基于技術(shù)規(guī)格書(shū)中的規(guī)格值的比較,Eon為開(kāi)關(guān)導(dǎo)通損耗,Eoff為開(kāi)關(guān)關(guān)斷損耗、Err為恢復(fù)損耗。全SiC功率模塊的Eon和Eoff都顯著低于IGBT,至于Err,由于幾乎沒(méi)有Irr而極其微小。結(jié)論是開(kāi)關(guān)損耗
2018-11-27 16:37:30
:RGWxx65C系列的亮點(diǎn)>使用SiC SBD作為續(xù)流二極管的Hybrid IGBT650V耐壓,IC(100℃) 30A/40A/50A有3種可選通過(guò)使用SiC SBD,顯著降低了導(dǎo)通時(shí)的開(kāi)關(guān)損耗用于xEV車(chē)載
2022-07-27 10:27:04
阻,在開(kāi)關(guān)管會(huì)給出該指標(biāo),如圖3所示Ts表示開(kāi)關(guān)周期t1、t2表示導(dǎo)通狀態(tài)的開(kāi)始時(shí)間與結(jié)束時(shí)間 圖3導(dǎo)通電阻與電流的關(guān)系四、開(kāi)關(guān)損耗開(kāi)關(guān)損耗指的是總體的能量損耗,由導(dǎo)通過(guò)程損耗、關(guān)閉過(guò)程損耗、導(dǎo)通損耗組成
2021-11-18 07:00:00
,軟關(guān)斷的開(kāi)關(guān)稱(chēng)之為零電流開(kāi)關(guān)。 功率開(kāi)關(guān)管的軟開(kāi)關(guān)理想波形和硬開(kāi)關(guān)波形如圖1所示,由圖可以看出,在硬開(kāi)關(guān)狀態(tài)下,功率開(kāi)關(guān)管兩端的電壓、電流有明顯的交疊區(qū),在此交疊區(qū)內(nèi)產(chǎn)生開(kāi)關(guān)損耗;而在軟開(kāi)關(guān)狀態(tài)下,功率開(kāi)關(guān)管兩端的電壓、電流幾乎沒(méi)有交疊區(qū),所以也就不會(huì)產(chǎn)生開(kāi)關(guān)損耗。
2019-08-27 07:00:00
導(dǎo)致激烈的米勒震蕩,但過(guò)慢的充電雖減小了震蕩,但會(huì)延長(zhǎng)開(kāi)關(guān)從而增加開(kāi)關(guān)損耗。Mos開(kāi)通過(guò)程源級(jí)和漏級(jí)間等效電阻相當(dāng)于從無(wú)窮大電阻到阻值很小的導(dǎo)通內(nèi)阻(導(dǎo)通內(nèi)阻一般低壓mos只有幾毫歐姆)的一個(gè)轉(zhuǎn)變
2020-06-26 13:11:45
公式計(jì)算:同樣,關(guān)斷損耗的米勒平臺(tái)時(shí)間在關(guān)斷損耗中占主導(dǎo)地位。對(duì)于兩個(gè)不同的MOSFET,如A管和B管,即使A管的Qg和Ciss小于B管的,但如果A管的Crss比B管的大得多時(shí),A管的開(kāi)關(guān)損耗就有可能
2017-03-06 15:19:01
完全開(kāi)通,只有導(dǎo)通電阻產(chǎn)生的導(dǎo)通損耗,沒(méi)有開(kāi)關(guān)損耗。t1-t2、t2-t3二個(gè)階段,電流和電壓產(chǎn)生重疊交越區(qū),因此產(chǎn)生開(kāi)關(guān)損耗。同時(shí),t1-t2和t2-t3二個(gè)階段工作于線性區(qū),因此功率MOSFET
2017-02-24 15:05:54
如何更加深入理解MOSFET開(kāi)關(guān)損耗?Coss產(chǎn)生開(kāi)關(guān)損耗與對(duì)開(kāi)關(guān)過(guò)程有什么影響?
2021-04-07 06:01:07
如何計(jì)算MOS管的損耗?
2021-11-01 08:02:22
開(kāi)關(guān)MOS的損耗如何計(jì)算?
2021-03-02 08:36:47
極電壓大于G極電壓,MOS管寄生電容Cgd儲(chǔ)存的電量需要在其導(dǎo)通時(shí)注入G極與其中的電荷中和,因MOS管完全導(dǎo)通后G極電壓大于D極電壓。米勒效應(yīng)會(huì)嚴(yán)重增加MOS管的開(kāi)通損耗。(MOS管不能很快得進(jìn)入開(kāi)關(guān)
2018-12-19 13:55:15
,LLC的諧振電感損耗,同步整流的MOS管損耗。等等。。。針對(duì)這些損耗,適當(dāng)?shù)臏p小可以提升效率。1.針對(duì)MOS管可選用開(kāi)關(guān)速度快的,導(dǎo)通電阻低的,電路上課采用軟開(kāi)關(guān)。2.針對(duì)變壓器:選擇合適大小的磁芯
2018-09-18 09:13:29
導(dǎo)通(為寄生電容充電)時(shí)出現(xiàn)一次,而當(dāng)它關(guān)閉(為寄生電容放電)時(shí)出現(xiàn)一次。因此,在這兩種情況下估算時(shí)間t3作為MOSFET的上升和下降時(shí)間,您可使用等式4估算開(kāi)關(guān)損耗:開(kāi)關(guān)損耗取決于頻率和輸入電壓
2018-08-30 15:47:38
的阻值啟動(dòng)損耗普通的啟動(dòng)方法,開(kāi)關(guān)電源啟動(dòng)后啟動(dòng)電阻回路未切斷,此損耗持續(xù)存在改善方法:恒流啟動(dòng)方式啟動(dòng),啟動(dòng)完成后關(guān)閉啟動(dòng)電路降低損耗。與開(kāi)關(guān)電源工作相關(guān)的損耗鉗位電路損耗有放電電阻存在,mos開(kāi)關(guān)管
2021-05-18 06:00:00
時(shí),MOS管的損耗是不容忽視的一部分。下面將詳細(xì)計(jì)算MOS管的損耗。2. MOS管的損耗來(lái)源2.1 MOS開(kāi)關(guān)損耗MOS在開(kāi)關(guān)電源中用作開(kāi)關(guān)器件,顧名思義,MOS會(huì)經(jīng)常的開(kāi)通和關(guān)斷。由于電壓和電流都是
2021-07-29 06:01:56
是為密勒電容(CGD)充電。在米勒時(shí)刻期間,漏極電流在IOUT端是恒定的,而VDS從VIN開(kāi)始下降。在這段時(shí)間內(nèi)的功率損耗通過(guò)等式2表示:在等式3中加上總開(kāi)關(guān)損耗的結(jié)果:注意,在圖1中,t2比第三個(gè)時(shí)段
2018-06-05 09:39:43
使用絕緣柵雙極晶體管(IGBT)。但隨著半導(dǎo)體技術(shù)的進(jìn)步,碳化硅 (SiC) 金屬氧化物半導(dǎo)體場(chǎng)效應(yīng)晶體管 (MOSFET) 能夠以比 IGBT 更高的頻率進(jìn)行開(kāi)關(guān),通過(guò)降低電阻和開(kāi)關(guān)損耗來(lái)提高效率
2022-11-02 12:02:05
理解功率MOSFET的開(kāi)關(guān)損耗
本文詳細(xì)分析計(jì)算開(kāi)關(guān)損耗,并論述實(shí)際狀態(tài)下功率MOSFET的開(kāi)通過(guò)程和自然零電壓關(guān)斷的過(guò)程,從而使電子工程師知道哪個(gè)參數(shù)起主導(dǎo)作用并
2009-10-25 15:30:59
3632 為了使MOSFET整個(gè)開(kāi)關(guān)周期都工作于ZVS,必須利用外部的條件和電路特性,實(shí)現(xiàn)其在開(kāi)通過(guò)程的ZVS。如同步BUCK電路下側(cè)續(xù)流管,由于其寄生的二極管或并聯(lián)的肖特基二極管先導(dǎo)通,然后續(xù)流的同步
2012-04-12 11:04:23
63739 
為了有效解決金屬-氧化物半導(dǎo)體場(chǎng)效應(yīng)晶體管(MOSFET)在通信設(shè)備直流-48 V緩啟動(dòng)應(yīng)用電路中出現(xiàn)的開(kāi)關(guān)損耗失效問(wèn)題,通過(guò)對(duì)MOSFET 柵極電荷、極間電容的闡述和導(dǎo)通過(guò)程的解剖,定位了MOSFET 開(kāi)關(guān)損耗的來(lái)源,進(jìn)而為緩啟動(dòng)電路設(shè)計(jì)優(yōu)化,減少M(fèi)OSFET的開(kāi)關(guān)損耗提供了技術(shù)依據(jù)。
2016-01-04 14:59:05
43 FPGA平臺(tái)實(shí)現(xiàn)最小開(kāi)關(guān)損耗的SVPWM算法
2016-04-13 16:12:11
10 基于DSP的最小開(kāi)關(guān)損耗SVPWM算法實(shí)現(xiàn)。
2016-04-18 09:47:49
7 使用示波器測(cè)量電源開(kāi)關(guān)損耗。
2016-05-05 09:49:38
0 工程師需要在系統(tǒng)設(shè)計(jì)過(guò)程中,精確的計(jì)算出不同的數(shù)值,并采取相應(yīng)措施減少無(wú)功損耗。這里將會(huì)通過(guò)雙向型DC-DC變換器的功率開(kāi)關(guān)元件損耗計(jì)算及對(duì)續(xù)流二極管的損耗產(chǎn)生原因分析,為工程師詳細(xì)介紹其損耗數(shù)值的計(jì)算方式。
2016-11-05 09:53:12
5468 
MOS門(mén)極功率開(kāi)關(guān)元件的開(kāi)關(guān)損耗受工作電壓、電流、溫度以及門(mén)極驅(qū)動(dòng)電阻等因素影響,在測(cè)量時(shí)主要以這些物理量為參變量。但測(cè)量的非理想因素對(duì)測(cè)量結(jié)果影響是值得注意的,比如常見(jiàn)的管腳引線電感。本文在理論分析和實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)基礎(chǔ)上闡述了各寄生電感對(duì)IGBT開(kāi)關(guān)損耗測(cè)量結(jié)果的影響。
2017-09-08 16:06:52
21 1、CCM 模式開(kāi)關(guān)損耗
CCM 模式與 DCM 模式的開(kāi)關(guān)損耗有所不同。先講解復(fù)雜 CCM 模式,DCM 模式很簡(jiǎn)單了。
2018-01-13 09:28:57
10741 
要提高開(kāi)關(guān)電源的效率,就必須分辨和粗略估算各種損耗。開(kāi)關(guān)電源內(nèi)部的損耗大致可分為四個(gè)方面:開(kāi)關(guān)損耗、導(dǎo)通損耗、附加損耗和電阻損耗。
2019-06-20 10:01:29
5816 一個(gè)高質(zhì)量的開(kāi)關(guān)電源效率高達(dá)95%,而開(kāi)關(guān)電源的損耗大部分來(lái)自開(kāi)關(guān)器件(MOSFET和二極管),所以正確的測(cè)量開(kāi)關(guān)器件的損耗,對(duì)于效率分析是非常關(guān)鍵的。那我們?cè)撊绾螠?zhǔn)確測(cè)量開(kāi)關(guān)損耗呢?
2019-06-26 15:49:45
1211 一個(gè)高質(zhì)量的開(kāi)關(guān)電源效率高達(dá)95%,而開(kāi)關(guān)電源的損耗大部分來(lái)自開(kāi)關(guān)器件(MOSFET和二極管),所以正確的測(cè)量開(kāi)關(guān)器件的損耗,對(duì)于效率分析是非常關(guān)鍵的。那我們?cè)撊绾螠?zhǔn)確測(cè)量開(kāi)關(guān)損耗呢?
2019-06-27 10:22:08
3155 一個(gè)高質(zhì)量的開(kāi)關(guān)電源效率高達(dá)95%,而開(kāi)關(guān)電源的損耗大部分來(lái)自開(kāi)關(guān)器件(MOSFET和二極管),所以正確的測(cè)量開(kāi)關(guān)器件的損耗,對(duì)于效率分析是非常關(guān)鍵的。
2019-07-31 16:54:53
6877 
電源工程師們都知道開(kāi)關(guān)MOS在整個(gè)電源系統(tǒng)里面的損耗占比是不小的,開(kāi)關(guān)mos的的損耗我們談及最多的就是開(kāi)通損耗和關(guān)斷損耗,由于這兩個(gè)損耗不像導(dǎo)通損耗或驅(qū)動(dòng)損耗一樣那么直觀,所有有部分人對(duì)于它計(jì)算還有
2021-03-24 09:45:40
9242 
功率MOSFET的開(kāi)關(guān)損耗分析。
2021-04-16 14:17:02
50 一、開(kāi)關(guān)損耗包括開(kāi)通損耗和關(guān)斷損耗兩種。開(kāi)通損耗是指功率管從截止到導(dǎo)通時(shí)所產(chǎn)生的功率損耗;關(guān)斷損耗是指功率管從導(dǎo)通到截止時(shí)所產(chǎn)生的功率損耗。二、開(kāi)關(guān)損耗原理分析:(1)、非理想的開(kāi)關(guān)管在開(kāi)通時(shí),開(kāi)關(guān)
2021-10-22 10:51:06
11 在BUCK型開(kāi)關(guān)電源中,如果沒(méi)有損耗,那效率就是100%,但這是不可能的,BUCK型開(kāi)關(guān)電源中主要的損耗是導(dǎo)通損耗和交流開(kāi)關(guān)損耗,導(dǎo)通損耗主要是指MOS管導(dǎo)通后的損耗和肖特基二極管導(dǎo)通的損耗(是指完
2021-10-22 15:05:59
27 電源工程師知道,整個(gè)電源系統(tǒng)中開(kāi)關(guān)MOS的損耗比不小. 討論最多的是導(dǎo)通損耗和關(guān)斷損耗,因?yàn)檫@兩種損耗與傳導(dǎo)損耗或驅(qū)動(dòng)損耗不同,因?yàn)樗苤庇^,所以有些人對(duì)其計(jì)算仍然有些困惑.今天,我們將詳細(xì)分析
2021-10-22 17:35:59
54 ,熱損耗極低。 開(kāi)關(guān)設(shè)備極大程度上決定了SMPS的整體性能。開(kāi)關(guān)器件的損耗可以說(shuō)是開(kāi)關(guān)電源中最為重要的一個(gè)損耗點(diǎn),課件開(kāi)關(guān)損耗測(cè)試是至關(guān)重要的。接下來(lái)普科科技PRBTEK就開(kāi)關(guān)損耗測(cè)試方案中的探頭應(yīng)用進(jìn)行介紹。 上圖使用MSO5配合THDP0200及TCP003
2021-11-23 15:07:57
1458 3、開(kāi)關(guān)動(dòng)態(tài)損耗?? 由于開(kāi)關(guān)損耗是由開(kāi)關(guān)的非理想狀態(tài)引起的,很難估算MOSFET 和二極管的開(kāi)關(guān)損耗,器件從完全導(dǎo)通到完全關(guān)閉或從完全關(guān)閉到完全導(dǎo)通需要一定時(shí)間,也稱(chēng)作死區(qū)時(shí)間,在這個(gè)過(guò)程中會(huì)產(chǎn)生
2022-01-07 11:10:27
1 電源工程師們都知道開(kāi)關(guān)MOS在整個(gè)電源系統(tǒng)里面的損耗占比是不小的,我們談及最多的就是開(kāi)通損耗和關(guān)斷損耗,由于這兩個(gè)損耗不像導(dǎo)通損耗或驅(qū)動(dòng)損耗一樣那么直觀,所以有部分人對(duì)于它計(jì)算還有些迷茫。
2022-02-10 10:35:23
16 MOS管損耗的8個(gè)組成部分
在器件設(shè)計(jì)選擇過(guò)程中需要對(duì) MOSFET 的工作過(guò)程損耗進(jìn)行先期計(jì)算(所謂先期計(jì)算是指在沒(méi)能夠測(cè)試各工作波形的情況下,利用器件規(guī)格書(shū)提供的參數(shù)及工作電路的計(jì)算值和預(yù)計(jì)波形
2022-02-11 14:06:46
3 MOS管即場(chǎng)效應(yīng)管(MOSFET),屬于壓控型,是一種應(yīng)用非常廣泛的功率型開(kāi)關(guān)元件,在開(kāi)關(guān)電源、逆變器、直流電機(jī)驅(qū)動(dòng)器等設(shè)備中很常見(jiàn),是電力電子的核心元件。
2022-02-16 16:38:46
6666 
開(kāi)關(guān)電源內(nèi)部主要損耗要提高開(kāi)關(guān)電源的效率,就必須分辨和粗略估算各種損耗。開(kāi)關(guān)電源內(nèi)部的損耗大致可分為四個(gè)方面:開(kāi)關(guān)損耗、導(dǎo)通損耗、附加損耗和電阻損耗。這些損耗通常會(huì)在有損元器件中同時(shí)出現(xiàn),下面將分別討論。
2022-03-21 17:31:39
5050 開(kāi)關(guān)過(guò)程中,穿越線性區(qū)(放大區(qū))時(shí),電流和電壓產(chǎn)生交疊,形成開(kāi)關(guān)損耗。其中,米勒電容導(dǎo)致的米勒平臺(tái)時(shí)間,在開(kāi)關(guān)損耗中占主導(dǎo)作用。
2023-01-17 10:21:00
2537 全SiC功率模塊與現(xiàn)有的IGBT模塊相比,具有1)可大大降低開(kāi)關(guān)損耗、2)開(kāi)關(guān)頻率越高總體損耗降低程度越顯著 這兩大優(yōu)勢(shì)。
2023-02-08 13:43:22
1533 
從某個(gè)外企的功率放大器的測(cè)試數(shù)據(jù)上獲得一個(gè)具體的感受:導(dǎo)通損耗60W開(kāi)關(guān)損耗251。大概是1:4.5 下面是英飛凌的一個(gè)例子:可知,六個(gè)管子的總功耗是714W這跟我在項(xiàng)目用用的那個(gè)150A的模塊試驗(yàn)測(cè)試得到的總功耗差不多。 導(dǎo)通損耗和開(kāi)關(guān)損耗大概1:2
2023-02-23 09:26:49
18 上一篇文章中探討了同步整流降壓轉(zhuǎn)換器的功率開(kāi)關(guān)--輸出端MOSFET的傳導(dǎo)損耗。本文將探討開(kāi)關(guān)節(jié)點(diǎn)產(chǎn)生的開(kāi)關(guān)損耗。開(kāi)關(guān)損耗:見(jiàn)文識(shí)意,開(kāi)關(guān)損耗就是開(kāi)關(guān)工作相關(guān)的損耗。在這里使用PSWH這個(gè)符號(hào)來(lái)表示。
2023-02-23 10:40:49
1866 
全SiC功率模塊與現(xiàn)有的功率模塊相比具有SiC與生俱來(lái)的優(yōu)異性能。本文將對(duì)開(kāi)關(guān)損耗進(jìn)行介紹,開(kāi)關(guān)損耗也可以說(shuō)是傳統(tǒng)功率模塊所要解決的重大課題。
2023-02-24 11:51:28
1234 
圖1所示為基于MAX1744/5控制器IC的簡(jiǎn)化降壓轉(zhuǎn)換器,具有異步整流功能。由于二極管的關(guān)斷特性,主開(kāi)關(guān)(Q1)的導(dǎo)通開(kāi)關(guān)損耗取決于開(kāi)關(guān)頻率、輸入環(huán)路的走線電感(由C1、Q1和D1組成)、主開(kāi)關(guān)
2023-03-10 09:26:35
1621 
MOS管在電源應(yīng)用中作為開(kāi)關(guān)用時(shí)將會(huì)導(dǎo)致一些不可避免的損耗,這些損耗可以分為兩類(lèi)。
2023-03-26 16:18:55
10934 
CCM 模式與 DCM 模式的開(kāi)關(guān)損耗有所不同。先講解復(fù)雜 CCM 模式,DCM 模式很簡(jiǎn)單了。
2023-07-17 16:51:22
19026 
,廣泛應(yīng)用于電源供應(yīng)、機(jī)器人控制、電動(dòng)車(chē)控制等領(lǐng)域。在同步Buck電路中,MOS開(kāi)關(guān)管起到了關(guān)鍵的作用,其開(kāi)關(guān)速度和損耗對(duì)于整個(gè)系統(tǒng)效率的影響十分重要。 傳統(tǒng)的Buck電路采用一個(gè)反饋環(huán)路來(lái)控制輸出電壓,這會(huì)增加電路的穩(wěn)定性,但同時(shí)也會(huì)增加開(kāi)關(guān)頻率帶來(lái)的開(kāi)關(guān)損耗
2023-10-25 11:45:14
1820 使用SiC MOSFET時(shí)如何盡量降低電磁干擾和開(kāi)關(guān)損耗
2023-11-23 09:08:34
2159 
IGBT元件的損耗總和分為:通態(tài)損耗與開(kāi)關(guān)損耗。開(kāi)關(guān)損耗分別為開(kāi)通損耗(EON)和關(guān)斷損耗(EOFF)之和。
2024-01-12 09:07:17
4836 
電源開(kāi)關(guān)損耗是電子電路中一個(gè)重要的性能指標(biāo),它反映了開(kāi)關(guān)器件在開(kāi)關(guān)過(guò)程中產(chǎn)生的能量損失。準(zhǔn)確測(cè)量電源開(kāi)關(guān)損耗對(duì)于優(yōu)化電路設(shè)計(jì)、提高系統(tǒng)效率具有重要意義。本文將詳細(xì)介紹使用示波器測(cè)量電源開(kāi)關(guān)損耗的步驟、方法和注意事項(xiàng),旨在幫助讀者更好地理解和掌握這一測(cè)量技術(shù)。
2024-05-27 16:03:29
2547 MOS管(Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistor,金屬氧化物半導(dǎo)體場(chǎng)效應(yīng)晶體管)在電子設(shè)備中扮演著重要角色,然而其在實(shí)際應(yīng)用中的損耗問(wèn)題也是不容忽視的。為了減少MOS管的損耗,提高其工作效率,以下將從多個(gè)方面進(jìn)行深入探討。
2024-05-30 16:41:51
2658 IGBT模塊關(guān)斷截止時(shí),I(t)≈0,損耗的功率可忽略。為了便于分析,將IGBT損耗分為導(dǎo)通損耗和開(kāi)關(guān)損耗。
2024-05-31 09:06:31
17234 
開(kāi)關(guān)電源中的MOS管(Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistor,金屬-氧化物半導(dǎo)體場(chǎng)效應(yīng)晶體管)在工作過(guò)程中會(huì)產(chǎn)生多種損耗,這些損耗不僅
2024-08-07 14:58:55
5015 減少開(kāi)關(guān)電源的導(dǎo)通損耗是提升電源效率、降低能耗的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。導(dǎo)通損耗主要來(lái)源于電流通過(guò)開(kāi)關(guān)管、導(dǎo)線、二極管等元件時(shí)產(chǎn)生的功率損失。以下將從多個(gè)方面詳細(xì)探討如何減少開(kāi)關(guān)電源的導(dǎo)通損耗,包括元件選擇、電路設(shè)計(jì)、控制策略以及散熱優(yōu)化等方面。
2024-08-07 15:06:18
1876 MOSFET(Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistor,金屬-氧化物半導(dǎo)體場(chǎng)效應(yīng)晶體管)的開(kāi)關(guān)損耗是電子工程中一個(gè)關(guān)鍵的性能參數(shù),它直接影響到電路的效率、熱設(shè)計(jì)和可靠性。下面將詳細(xì)闡述MOSFET開(kāi)關(guān)損耗的概念、組成以及影響因素。
2024-09-14 16:11:52
2432 基于LTSpice的GaN開(kāi)關(guān)損耗的仿真
2025-03-13 15:44:49
2319 
MOS管的功耗計(jì)算與散熱設(shè)計(jì)是確保其穩(wěn)定工作和延長(zhǎng)使用壽命的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。以下是對(duì)MOS管功耗計(jì)算與散熱設(shè)計(jì)要點(diǎn)的詳細(xì)分析: 一、MOS管的功耗計(jì)算 MOS管的功耗主要包括驅(qū)動(dòng)損耗、開(kāi)關(guān)損耗和導(dǎo)通損耗
2025-03-27 14:57:23
1518 
IGBT模塊的開(kāi)關(guān)損耗(動(dòng)態(tài)損耗)與導(dǎo)通損耗(靜態(tài)損耗)的平衡優(yōu)化是電力電子系統(tǒng)設(shè)計(jì)的核心挑戰(zhàn)。這兩種損耗存在固有的折衷關(guān)系:降低導(dǎo)通損耗通常需要提高載流子濃度,但這會(huì)延長(zhǎng)關(guān)斷時(shí)的載流子抽取時(shí)間
2025-08-19 14:41:23
2336
評(píng)論