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電子發(fā)燒友網(wǎng)>今日頭條>開(kāi)關(guān)損耗測(cè)試方案中的探頭應(yīng)用

開(kāi)關(guān)損耗測(cè)試方案中的探頭應(yīng)用

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什么是軟開(kāi)關(guān)?LLC電路是如何實(shí)現(xiàn)軟開(kāi)關(guān)的?

與傳統(tǒng)PWM(脈寬調(diào)節(jié))變換器不同,LLC是一種通過(guò)控制開(kāi)關(guān)頻率(頻率調(diào)節(jié))來(lái)實(shí)現(xiàn)輸出電壓恒定的諧振電路。它的優(yōu)點(diǎn)是:實(shí)現(xiàn)原邊兩個(gè)主MOS開(kāi)關(guān)的零電壓開(kāi)通(ZVS)和副邊整流二極管的零電流關(guān)斷(ZCS),通過(guò)軟開(kāi)關(guān)技術(shù),可以降低電源的開(kāi)關(guān)損耗,提高功率變換器的效率和功率密度。
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2023-10-25 11:45:14522

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2023-10-17 14:37:10206

納米軟件半導(dǎo)體測(cè)試廠家助力半導(dǎo)體分立器件動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試

半導(dǎo)體動(dòng)態(tài)測(cè)試參數(shù)是指在交流條件下對(duì)器件進(jìn)行測(cè)試,是確保半導(dǎo)體性能、穩(wěn)定性和可靠性的重要依據(jù)。動(dòng)態(tài)測(cè)試參數(shù)主要有開(kāi)關(guān)時(shí)間、開(kāi)關(guān)損耗、反向恢復(fù)電流、開(kāi)關(guān)電流、耗散功率等。
2023-10-10 15:23:38278

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了不可或缺的作用。 提到家電的性能測(cè)試,能耗測(cè)試必不可少。為了更好的覆蓋能耗測(cè)試需求,電流探頭的精度至關(guān)重要。只有使用更高精度的電流測(cè)試手段,才能更好地測(cè)試待機(jī)情況下的家電功耗。而帶寬則影響著測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性,可以
2023-10-09 11:47:34147

電流探頭在不同測(cè)試方案下的工作原理

其一:因?yàn)?b class="flag-6" style="color: red">探頭有負(fù)載效應(yīng),探頭會(huì)直接影響被測(cè)信號(hào)和被測(cè)電路;其二:探頭是整個(gè)示波器測(cè)量系統(tǒng)的一部分,會(huì)直接影響儀器的信號(hào)保真度和測(cè)試結(jié)果。
2023-09-28 15:01:32206

如何利用示波器和電流探頭進(jìn)行電流測(cè)試

在電流測(cè)試中,除了常用的萬(wàn)用表外,我們還可以采用示波器+電流探頭的方法,在不破壞電源線的情況下,體驗(yàn)簡(jiǎn)單高效的優(yōu)點(diǎn)。以下是操作例子。
2023-09-27 12:23:12688

示波器探頭系列 - 電流探頭基礎(chǔ)

類(lèi)那就是 電流探頭 。 我們?yōu)槭裁丛O(shè)計(jì)電流探頭? ● 其實(shí)最直接的原因就是我們有很多場(chǎng)合不僅僅需要測(cè)量電壓信號(hào),同時(shí)還需要觀測(cè)電流信號(hào)。例如:我們?cè)O(shè)計(jì)開(kāi)關(guān)電源電路一方面需要關(guān)注電壓信號(hào),同時(shí)也需要觀測(cè)電流信號(hào),再比如,
2023-09-27 07:40:06577

無(wú)源探頭,差分探頭和電流探頭如何選擇?

通過(guò)閱讀這篇文章,你將對(duì)示波器探頭有一個(gè)簡(jiǎn)單而快速的了解。本文重點(diǎn)介紹無(wú)源探頭、有源探頭(高壓差分探頭、電流探頭)等基礎(chǔ)知識(shí)。
2023-09-25 12:06:13631

等離子消融手術(shù)系統(tǒng)的全橋逆變輸出電路設(shè)計(jì)方案

大大降低開(kāi)關(guān)管的開(kāi)關(guān)損耗。同時(shí),其拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)同橋臂的2個(gè)開(kāi)關(guān)管的驅(qū)動(dòng)信號(hào)不需要設(shè)置死區(qū)。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明,諧振電路工作在感性狀態(tài)時(shí),開(kāi)關(guān)管可以實(shí)現(xiàn)軟開(kāi)關(guān),并適合兆赫茲的超高頻場(chǎng)合。
2023-09-20 07:38:22

為什么buck電路中開(kāi)關(guān)器多用mosfet而不用bjt?

了電路的工作原理和效率。 開(kāi)關(guān)器的兩種主要類(lèi)型是MOSFET和BJT。然而,在Buck電路中,MOSFET通常更受歡迎,而B(niǎo)JT則較少使用。這主要?dú)w因于以下幾個(gè)原因: 1. 低開(kāi)關(guān)損耗 MOSFET具有非常低的開(kāi)關(guān)損耗,因?yàn)樗鼈兪?b class="flag-6" style="color: red">開(kāi)關(guān)式的器件。當(dāng)MOSFET處于導(dǎo)通狀態(tài)時(shí),它的內(nèi)阻非常小,故具有非
2023-09-12 15:26:31686

面向新能源應(yīng)用的寬帶隙新材料和功率模塊解決方案

更高的性能 & 電壓運(yùn)行? 極低的功率損耗? 低電流下的高效率? 固有SiC 體二極管(4象限運(yùn)轉(zhuǎn))更高的工作頻率? 更低的開(kāi)關(guān)損耗? 出色的二極管開(kāi)關(guān)性能更高的工作溫度? 可在高達(dá) 200°C 的結(jié)溫下工作
2023-09-07 06:49:53

東芝推出用于工業(yè)設(shè)備的第3代碳化硅MOSFET,采用可降低開(kāi)關(guān)損耗的4引腳封裝

點(diǎn)擊“東芝半導(dǎo)體”,馬上加入我們哦! 東芝電子元件及存儲(chǔ)裝置株式會(huì)社(“東芝”)今日宣布, 推出采用有助于降低開(kāi)關(guān)損耗的4引腳TO-247-4L(X)封裝的碳化硅(SiC)MOSFET---
2023-09-04 15:13:401134

示波器探頭對(duì)信號(hào)的影響

示波器探頭對(duì)信號(hào)的影響 現(xiàn)代電子技術(shù)中,示波器探頭是一種非常重要的測(cè)量工具,它被廣泛地運(yùn)用于各種電子領(lǐng)域的測(cè)試與調(diào)試中。但是,示波器探頭在對(duì)待不同信號(hào)時(shí),會(huì)產(chǎn)生極大的影響,從而影響到測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性
2023-09-02 10:05:121243

示波器差分探頭要接地嗎

示波器差分探頭要接地嗎 示波器是一種基本的測(cè)試儀器,在電子工程領(lǐng)域廣泛應(yīng)用。在使用示波器進(jìn)行測(cè)試時(shí),探頭是一個(gè)非常重要的部分。示波器差分探頭是一種常見(jiàn)的探頭,在高頻電路的測(cè)試中尤其有用。在使用示波器
2023-09-02 10:05:081308

如何選擇適合測(cè)試短路電流的示波器探頭

作為工程領(lǐng)域的從業(yè)者,我們經(jīng)常需要測(cè)試短路電流以確保設(shè)備和電路的安全性和可靠性。而在進(jìn)行短路電流測(cè)試時(shí),如何選擇合適的示波器探頭就顯得非常重要了。本文將詳細(xì)介紹測(cè)試短路電流示波器探頭的選擇因素
2023-08-31 10:16:30333

開(kāi)關(guān)電源的內(nèi)部損耗大致包括

開(kāi)關(guān)電源的內(nèi)部損耗大致包括 開(kāi)關(guān)電源是現(xiàn)代電力電子技術(shù)中的一種高效能、壓降小、重量輕的電源。它具有高效、小型、輕量等優(yōu)點(diǎn),應(yīng)用廣泛。但同時(shí)也存在著其內(nèi)部損耗這一問(wèn)題。開(kāi)關(guān)電源的內(nèi)部損耗主要包括幾個(gè)
2023-08-27 16:13:17739

詳解MOS管的米勒效應(yīng)、開(kāi)關(guān)損耗、導(dǎo)通損耗、續(xù)流損耗

要比喻的話,三極管像綠皮車(chē),MOS管像高鐵。
2023-08-21 09:28:251416

介質(zhì)損耗測(cè)試

?介質(zhì)損耗測(cè)試儀是用來(lái)測(cè)量電介質(zhì)材料的介電常數(shù)和介質(zhì)損耗因數(shù)的設(shè)備。介質(zhì)損耗測(cè)試儀主要應(yīng)用在各種金屬氧化物,板材,瓷器(陶器),云母,玻璃,塑料等測(cè)量,通過(guò)儀器測(cè)量不同物質(zhì)的介質(zhì)損耗和介電常數(shù)
2023-08-17 09:50:08363

示波器有源探頭和無(wú)源探頭的使用區(qū)別

示波器是一種廣泛應(yīng)用于電子工程領(lǐng)域的測(cè)試儀器,用于對(duì)電子電路的信號(hào)進(jìn)行測(cè)量和分析。在示波器的使用中,探頭是不可或缺的部件。探頭是將電路中的信號(hào)引入示波器的傳感器,常見(jiàn)的有兩種類(lèi)型:有源探頭和無(wú)源探頭
2023-08-08 09:50:29940

差分探頭對(duì)時(shí)鐘測(cè)試影響

在現(xiàn)代科技的發(fā)展中,時(shí)鐘測(cè)試扮演著非常重要的角色。如今,我們生活在一個(gè)高度數(shù)字化的世界中,時(shí)鐘準(zhǔn)確性對(duì)于各種設(shè)備和系統(tǒng)的正常運(yùn)行至關(guān)重要。然而,在時(shí)鐘測(cè)試過(guò)程中,差分探頭的應(yīng)用對(duì)結(jié)果產(chǎn)生了一定的影響。本文將詳細(xì)探討差分探頭對(duì)時(shí)鐘測(cè)試的影響,從而加深我們對(duì)該領(lǐng)域的理解和認(rèn)識(shí)。
2023-08-07 11:37:31285

紅外模擬探頭額溫槍方案介紹

紅外模擬探頭額溫槍方案介紹該方案使用MCU主控芯片HC89F0541與紅外模擬探頭進(jìn)行人體溫度測(cè)量,采用高精度運(yùn)放,放大微弱信號(hào),測(cè)量精度可達(dá)±0.1℃。針對(duì)已大批量出貨的模擬探頭進(jìn)行了軟件和硬件
2023-08-02 09:57:56734

電流探頭用于傳導(dǎo)輻射測(cè)試和診斷分析的方法

EMC基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)CISPR16-1-2中定義了電流探頭的規(guī)格參數(shù)及校準(zhǔn)方法,并且被信息技術(shù)設(shè)備、通訊設(shè)備、機(jī)動(dòng)車(chē)輛、軍用設(shè)備等通用標(biāo)準(zhǔn)引用,使電流探頭成為重要的EMC標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試設(shè)備。電流探頭也是在EMC
2023-07-27 10:00:18825

MOS管的開(kāi)關(guān)損耗計(jì)算

MOS 管的開(kāi)關(guān)損耗對(duì)MOS 管的選型和熱評(píng)估有著重要的作用,尤其是在高頻電路中,比如開(kāi)關(guān)電源,逆變電路等。
2023-07-23 14:17:001216

示波器電流探頭測(cè)試大短路電流的方法

示波器電流探頭是電子測(cè)試領(lǐng)域中常用的一種儀器,用于測(cè)量電路中的電流。在測(cè)試大短路電流時(shí),示波器電流探頭可以起到重要的作用。本篇文章PRBTEK將介紹使用示波器電流探頭測(cè)試大短路電流的方法,并詳細(xì)解釋其原理和應(yīng)用。希望您能夠?qū)υ?b class="flag-6" style="color: red">測(cè)試方法有更深入的了解。
2023-07-21 10:45:20721

MOS管的開(kāi)關(guān)損耗計(jì)算

CCM 模式與 DCM 模式的開(kāi)關(guān)損耗有所不同。先講解復(fù)雜 CCM 模式,DCM 模式很簡(jiǎn)單了。
2023-07-17 16:51:224666

與無(wú)源探頭相比,有源探頭負(fù)載電容方面的優(yōu)勢(shì)和應(yīng)用

在電子測(cè)試領(lǐng)域中,無(wú)源探頭和有源探頭是兩種常見(jiàn)的工具,用于測(cè)量電路中的各種參數(shù)。本文將重點(diǎn)討論與無(wú)源探頭相比,有源探頭在負(fù)載電容方面的優(yōu)勢(shì)和應(yīng)用。
2023-07-06 13:58:47264

無(wú)源探頭和有源探頭的區(qū)別

無(wú)源探頭和有源探頭是現(xiàn)代電子領(lǐng)域中使用廣泛的兩種不同類(lèi)型的探頭。它們?cè)跍y(cè)量、控制和監(jiān)測(cè)電子設(shè)備和電路中起著重要的作用。盡管它們都被用于電子設(shè)備的測(cè)試和分析,但無(wú)源探頭和有源探頭之間存在著一些顯著的區(qū)別。
2023-07-04 10:33:211336

電流探頭連接測(cè)試線怎么接?

當(dāng)涉及到電流測(cè)量和測(cè)試時(shí),電流探頭是必不可少的工具之一。而電流探頭連接測(cè)試線的正確接法對(duì)于獲得精確且可靠的測(cè)試結(jié)果至關(guān)重要。本文PRBTEK將為您詳細(xì)介紹電流探頭連接測(cè)試線的正確接法,以確保您
2023-07-03 11:46:06692

光隔離探頭在功率半導(dǎo)體測(cè)試的一些誤區(qū)探討

光隔離探頭主要用于開(kāi)關(guān)電源、逆變器、充電樁、變頻器、電機(jī)驅(qū)動(dòng)等由功率半導(dǎo)體組成的高壓高頻電路的測(cè)試,尤其是寬禁帶半導(dǎo)體器件包括氮化鎵、碳化硅器件組成的半/全橋電路的測(cè)試。
2023-06-27 17:32:33555

開(kāi)關(guān)損耗驅(qū)動(dòng)電源解決方案

開(kāi)關(guān)損耗驅(qū)動(dòng)
2023-06-25 06:24:20

高效率功率變換成為開(kāi)關(guān)電源的主要選擇

開(kāi)關(guān)損耗一直困惑著開(kāi)關(guān)電源設(shè)計(jì)者,由于功率半導(dǎo)體器件在開(kāi)關(guān)過(guò)程中,器件上同時(shí)存在電流、電壓,因而不可避免地存在開(kāi)關(guān)損耗,如果開(kāi)關(guān)電源中開(kāi)關(guān)管和輸出整流二極管能實(shí)現(xiàn)零電壓開(kāi)關(guān)或零電流開(kāi)關(guān),則其效率可以明顯提高。
2023-06-24 11:02:00227

影響電源效率提升的主要損耗

電源的體積進(jìn)一步縮小。要在有限的體積及溫升范圍內(nèi)正常工作,這就對(duì)系統(tǒng)的效率提出了更高的要求。影響系統(tǒng)效率的主要損耗有功率管導(dǎo)通損耗、開(kāi)關(guān)損耗、續(xù)流損耗、變壓器銅損和磁損、二極管整流損耗、驅(qū)動(dòng)、采樣及控制電路損耗等。下面針對(duì)每一種損耗簡(jiǎn)單說(shuō)下自己的理解和分析。
2023-06-23 09:47:00609

別克君越開(kāi)關(guān)失靈,什么情況怎么解決

開(kāi)關(guān)
YS YYDS發(fā)布于 2023-06-23 00:38:57

開(kāi)關(guān)電源/開(kāi)關(guān)MOS管/開(kāi)關(guān)變壓器損耗講解

今天給大家分享的是:開(kāi)關(guān)電源損耗與效率、開(kāi)關(guān)晶體管損耗、開(kāi)關(guān)變壓器損耗。
2023-06-16 15:38:161323

GaN電源集成電路在無(wú)刷直流電機(jī)驅(qū)動(dòng)應(yīng)用的驅(qū)動(dòng)效率和尺寸改進(jìn)方案

電機(jī)逆變器功率開(kāi)關(guān)的比較電機(jī)逆變器:三相拓?fù)?IGBT:行業(yè)“主力”開(kāi)關(guān)速度慢,損耗低?MOSFET:更快的開(kāi)關(guān),更好?氮化鎵:幾乎沒(méi)有開(kāi)關(guān)損耗
2023-06-16 11:31:56

迪賽康的TDR手持探頭測(cè)試應(yīng)用方案

TDR手持探頭主要用于阻抗測(cè)試,可以測(cè)量信號(hào)線路上的阻抗變化和反射情況。通過(guò)分析測(cè)試結(jié)果,用戶可以評(píng)估信號(hào)線路的質(zhì)量和匹配情況。此外,TDR手持探頭還可用于故障檢測(cè),例如開(kāi)路、短路等問(wèn)題的定位。
2023-06-15 14:29:38269

PRBTEK分享電流注入探頭系數(shù)─插入損耗

本文prbtek將為您介紹電流注入探頭注入感應(yīng)電流的原理,插入損耗如何校準(zhǔn)得到,分析插入損耗在實(shí)際電磁兼容試驗(yàn)中的應(yīng)用場(chǎng)景。 在電磁兼容檢測(cè)領(lǐng)域,電流注入探頭是應(yīng)用廣泛的信號(hào)注入裝置
2023-06-15 10:12:22430

單端探頭怎么測(cè)試差分信號(hào)?

單端探頭是一種常見(jiàn)的測(cè)量工具,它可以用于測(cè)量電路中的電壓、電流、阻抗等參數(shù)。在差分信號(hào)測(cè)量中,單端探頭可以通過(guò)一些特殊的技術(shù)來(lái)實(shí)現(xiàn)對(duì)差分信號(hào)的測(cè)量。下面將介紹單端探頭如何測(cè)量差分型號(hào)。 1.
2023-06-02 10:06:161336

差分探頭在mipi測(cè)試中的應(yīng)用

差分探頭是一種廣泛應(yīng)用于電子測(cè)試領(lǐng)域的測(cè)試工具。MIPI(Mobile Industry Processor Interface)是由一組移動(dòng)行業(yè)領(lǐng)先公司聯(lián)合開(kāi)發(fā)的一種高效的串行總線協(xié)議。在移動(dòng)設(shè)備的生產(chǎn)和測(cè)試中,差分探頭被廣泛地應(yīng)用于MIPI總線調(diào)試和測(cè)試過(guò)程中。
2023-05-31 09:59:01533

EMI測(cè)試中電流探頭如何校準(zhǔn)

EMI(電磁干擾)測(cè)試是為了確保電子產(chǎn)品在使用過(guò)程中,不會(huì)對(duì)周?chē)渌O(shè)備造成電磁波干擾并影響正常使用的測(cè)試。在此測(cè)試中,電流探頭是非常重要的工具,其準(zhǔn)確性直接影響到測(cè)試結(jié)果的可靠性。 電流探頭的校準(zhǔn)
2023-05-30 09:17:50505

普科電流探頭用于開(kāi)關(guān)電源電流的測(cè)量方法

普科電流探頭是一種常用的電流測(cè)量工具,主要用于測(cè)量交流和直流電流。在電力子領(lǐng)域中,電流測(cè)量是非常重要的,尤其是在開(kāi)關(guān)電源等高效率電源中,電流測(cè)量更是不可或缺的。本文將介紹使用普科電流探頭測(cè)量開(kāi)關(guān)
2023-05-26 10:42:03541

萬(wàn)用表表筆連接電流探頭測(cè)試方法

萬(wàn)用表是一種常用的電子測(cè)試工具,可以用來(lái)測(cè)試電壓、電流、電阻等參數(shù)。如果需要測(cè)試電流,就需要使用電流探頭。下面我們來(lái)介紹一下萬(wàn)用表表筆連接電流探頭測(cè)試方法。 首先,將萬(wàn)用表的表筆插入表頭
2023-05-22 10:12:39649

知用近場(chǎng)探頭在輻射干擾源定位測(cè)試的應(yīng)用

如果一個(gè)新產(chǎn)品在電磁干擾(EMI)預(yù)兼容測(cè)試或者標(biāo)準(zhǔn)兼容測(cè)試中失敗,進(jìn)行故障診斷和改進(jìn)是當(dāng)務(wù)之急。西安普科科技PRBTEK在經(jīng)過(guò)多方面選擇過(guò)程中,了解到知用有一套完整的測(cè)試方案,知用接收機(jī)和知用近場(chǎng)探頭就可以查找干擾源,完成輻射干擾源定位測(cè)試。
2023-05-17 10:58:59510

高壓差分探頭測(cè)試三相電壓接法

高壓差分探頭是一種用于測(cè)量高電壓的儀器,它可以在不接觸電路的情況下進(jìn)行非接觸式測(cè)量。在三相電壓測(cè)試中,我們通常使用兩個(gè)高壓差分探頭來(lái)測(cè)量三相電壓。下面我們來(lái)詳細(xì)介紹一下高壓差分探頭測(cè)試三相電壓的接法。
2023-05-15 11:25:05759

差分探頭在pcie測(cè)試上的應(yīng)用

差分探頭是一種常用的測(cè)試儀器,在PCIE測(cè)試中也有廣泛的應(yīng)用。本文將介紹差分探頭在PCIE測(cè)試上的應(yīng)用及其優(yōu)勢(shì)。
2023-05-11 10:54:14451

示波器無(wú)源探頭如何檢測(cè)?

示波器無(wú)源探頭是一種用于電子測(cè)試和測(cè)量的重要工具,可以幫助工程師們準(zhǔn)確地捕捉到信號(hào)并進(jìn)行分析。無(wú)源探頭是指沒(méi)有任何源的電子組件,不需要電源或電池供電。相比于有源探頭,無(wú)源探頭的成本更低、使用更方便。
2023-05-10 10:45:49578

百兆以太網(wǎng)回波損耗測(cè)試

之前我們用示波器做過(guò)百兆、千兆以太網(wǎng)測(cè)試,但是受限于測(cè)試環(huán)境都跳過(guò)了回波損耗測(cè)試,這次我們的單獨(dú)介紹一下是德的回波損耗測(cè)試方案。首先看下測(cè)試環(huán)境,此次我們使用一臺(tái)是德MSO9404A示波器主機(jī),搭配
2023-05-08 10:29:46520

hioki日置電流探頭怎么調(diào)零

Hioki日置電流探頭是一種常用的電氣測(cè)試儀器,其用途是探測(cè)電路中的電流信號(hào)。在使用這種探頭時(shí),需要進(jìn)行零點(diǎn)校準(zhǔn),以保證測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性。下面將對(duì)Hioki日置電流探頭的調(diào)零方法進(jìn)行詳細(xì)說(shuō)明。
2023-05-06 13:41:21519

泰克Tektronix 高壓?jiǎn)味?b class="flag-6" style="color: red">探頭tpp0850產(chǎn)品簡(jiǎn)介及其應(yīng)用

半導(dǎo)體器件和開(kāi)關(guān)電源。為了最大限度減小功率損耗,開(kāi)關(guān)電源的開(kāi)關(guān)速度不斷增加,這引起了對(duì)更快上升時(shí)間、更高帶寬和更高電壓探頭產(chǎn)品的需求。 TPP0850滿足了這一需求,并可用于工作電壓為1200 VRMS的開(kāi)關(guān)晶體管電路,這已經(jīng)超出標(biāo)準(zhǔn)通用探頭的工作電壓范圍。它還能夠適應(yīng)
2023-05-06 13:37:31320

你真的了解示波器探頭嗎?

▼關(guān)注公眾號(hào):工程師看海▼ 示波器因?yàn)橛?b class="flag-6" style="color: red">探頭的存在而擴(kuò)展了示波器的應(yīng)用范圍,使得示波器可以在線測(cè)試和分析被測(cè)電子電路,如下圖: 探頭的選擇和使用需要考慮如下兩個(gè)方面: 其一:因?yàn)?b class="flag-6" style="color: red">探頭有負(fù)載效應(yīng),探頭
2023-05-05 15:32:10919

是德/keysight有源探頭產(chǎn)品介紹

Keysight是一家專(zhuān)注于提供電子測(cè)試和測(cè)量解決方案的公司。在測(cè)試和測(cè)量領(lǐng)域,Keysight以其高質(zhì)量、專(zhuān)業(yè)性和創(chuàng)新性而備受贊譽(yù)。其中,其有源探頭系列產(chǎn)品在電子測(cè)試和測(cè)量領(lǐng)域中具有重要的地位
2023-05-04 14:36:15513

如何區(qū)分電流探頭和電流注入探頭?

在電子實(shí)驗(yàn)和工程技術(shù)中,電流探頭和電流注入探頭是兩種常見(jiàn)的電子測(cè)試工具,但是它們之間有一些顯著的區(qū)別,需要我們進(jìn)行分辨。
2023-04-28 10:41:21695

變壓器損耗類(lèi)型有哪些?

  變壓器損耗有多種類(lèi)型,如鐵損、銅損、磁滯損耗、渦流損耗、雜散損耗和介電損耗。磁滯損耗是由于變壓器鐵芯磁化強(qiáng)度的變化而發(fā)生的,銅損是由于變壓器繞組電阻而發(fā)生的。   下面詳細(xì)解釋各種類(lèi)型
2023-04-24 18:24:29

請(qǐng)教一下大神什么是開(kāi)關(guān)電源的三大損耗呢?

請(qǐng)教一下大神什么是開(kāi)關(guān)電源的三大損耗呢?
2023-04-21 17:22:26

普源差分探頭的使用注意事項(xiàng)

普源差分探頭是一種用于測(cè)量電路中信號(hào)差分電壓的測(cè)試儀器。它的使用需要注意以下幾點(diǎn),以確保測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。 首先,接線是使用普源差分探頭時(shí)最基礎(chǔ)的動(dòng)作。應(yīng)將差分探頭的兩個(gè)端口逐一
2023-04-20 10:51:21332

差分探頭怎么接線?

差分探頭是一種電子測(cè)量設(shè)備,主要用于測(cè)試或測(cè)量一些需要記錄微小變化或低頻信號(hào)的應(yīng)用。差分探頭可以通過(guò)接線連到示波器或其他測(cè)量設(shè)備上來(lái)進(jìn)行使用。下面,我們將詳細(xì)說(shuō)明差分探頭怎樣接線。
2023-04-18 10:48:301427

看懂MOSFET數(shù)據(jù)表:開(kāi)關(guān)參數(shù)

另一方面,諸如FET固有體二極管的輸出電荷 (QOSS) 和反向恢復(fù)電荷(Qrr) 等開(kāi)關(guān)參數(shù)是造成很多高頻電源應(yīng)用中大部分FET開(kāi)關(guān)損耗的關(guān)鍵因素。
2023-04-17 09:47:30909

直流/直流轉(zhuǎn)換器數(shù)據(jù)表:系統(tǒng)損耗揭秘

讓我們先來(lái)看看在集成高側(cè)MOSFET中的開(kāi)關(guān)損耗。在每個(gè)開(kāi)關(guān)周期開(kāi)始時(shí),驅(qū)動(dòng)器開(kāi)始向集成MOSFET的柵極供應(yīng)電流。從第1部分,您了解到MOSFET在其終端具有寄生電容。在首個(gè)時(shí)段(圖1中的t1),源極電壓(VGS)正接近MOSFET的閾值電壓,VTH和漏電流為零。因此,在此期間的功率損耗為零。
2023-04-14 09:31:001015

近場(chǎng)探頭測(cè)試中應(yīng)注意的問(wèn)題

近場(chǎng)探頭是用于測(cè)試電磁波的一種測(cè)量設(shè)備,可以用于天線測(cè)試、無(wú)線電設(shè)備測(cè)試以及電磁兼容性測(cè)試等。在近場(chǎng)探頭測(cè)試過(guò)程中,我們需要注意以下問(wèn)題。
2023-04-12 11:49:43781

幾種典型的軟開(kāi)關(guān)電路分享

開(kāi)關(guān)損耗增大、效率下降和電磁干擾增大等影響。 這就引出了我們今天要討論的話題——軟開(kāi)關(guān)技術(shù):降低開(kāi)關(guān)損耗開(kāi)關(guān)噪聲; 大幅度提高開(kāi)關(guān)頻率。
2023-04-11 12:01:267785

示波器探頭的選擇和使用系列(二),三代功率半導(dǎo)體電路測(cè)試的DP0001A高壓差分探頭

當(dāng)今 WBG 為代表的第三代功率器件、功率轉(zhuǎn)換器或電機(jī)驅(qū)動(dòng)器電路的測(cè)試,示波器需要搭載帶寬高、負(fù)載效應(yīng)低、高共模抑制比(CMRR)的探頭,來(lái)精確測(cè)量現(xiàn)代開(kāi)關(guān)電源中最快上升邊沿達(dá) 1.2 ns、電壓
2023-04-06 08:15:05677

高頻電流探頭如何進(jìn)行電流測(cè)試?

高頻電流探頭是一種廣泛應(yīng)用于電子、通信和機(jī)械等領(lǐng)域的測(cè)試工具,主要用于測(cè)量高速電路中的電流,能夠處理高速、高負(fù)載的電信號(hào),具有高抗干擾,低失真等特點(diǎn),能夠滿足不同領(lǐng)域的測(cè)試需求。本文將介紹高頻電流探頭的基本原理、使用方法和注意事項(xiàng)等內(nèi)容,希望對(duì)您有所幫助。
2023-03-31 09:58:331590

影響EMI性能和開(kāi)關(guān)損耗的感性和容性寄生元素

DC/DC 轉(zhuǎn)換器中半導(dǎo)體器件的高頻開(kāi)關(guān)特性是主要的傳導(dǎo)和輻射發(fā)射源。本文章系列的第 2 部分回顧了 DC/DC 轉(zhuǎn)換器的差模 (DM) 和共模 (CM) 傳導(dǎo)噪聲干擾。在電磁干擾 (EMI
2023-03-29 09:27:221261

脈沖測(cè)試一定要做探頭的延時(shí)校準(zhǔn)

改進(jìn)方向,提取開(kāi)關(guān)特性參數(shù),制作設(shè)備規(guī)格,計(jì)算開(kāi)關(guān)損耗和反向恢復(fù)損耗,為電源熱設(shè)計(jì)提供數(shù)據(jù)支持,對(duì)比不同廠家設(shè)備開(kāi)關(guān)特性等。
2023-03-28 14:05:00921

MOSFET開(kāi)關(guān)損耗的計(jì)算方法

MOS管在電源應(yīng)用中作為開(kāi)關(guān)用時(shí)將會(huì)導(dǎo)致一些不可避免的損耗,這些損耗可以分為兩類(lèi)。
2023-03-26 16:18:555703

無(wú)源探頭探頭調(diào)節(jié)補(bǔ)償

使用探頭進(jìn)行測(cè)試前,首先檢查探頭的頻率補(bǔ)償,將其調(diào)制與所使用的示波器匹配,一般示波器的前面板上都有一個(gè)校準(zhǔn)信號(hào)的輸出端,將探頭連接至此信號(hào)輸出端(探頭衰減設(shè)為10X),令示波器顯示測(cè)試方波信號(hào)。將補(bǔ)償調(diào)節(jié)棒插入探頭微端的補(bǔ)償調(diào)節(jié)孔并順時(shí)針/逆時(shí)針轉(zhuǎn)動(dòng)調(diào)節(jié)棒直至示波器顯示正確補(bǔ)償?shù)姆讲ā?/div>
2023-03-24 18:12:46471

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