隨著PCIe Gen 4和Gen 5的項(xiàng)目開(kāi)發(fā)越來(lái)越多，很多公司希望在PCIe鏈路層注入故障來(lái)模擬針對(duì)主板/背板一側(cè)，或者外設(shè)一側(cè)（如插卡，NVMe SSD等）的各種異常，業(yè)內(nèi)主流的CPU廠(chǎng)商例如Intel和AMD， 以及PCIe Switch廠(chǎng)商Broadcom， Microchip目前都在使用英國(guó)Quarch的PCIe Gen 5 x16的測(cè)試卡實(shí)現(xiàn)針對(duì)Gen 5的測(cè)試。

Quarch公司提供針對(duì)PCIe Gen 4和Gen 5各種接口的測(cè)試插卡和模塊，包括U.2， U.3， M.2， AIC （x8和x16），EDSFF L1.S （x4） / L1.L （x8），以及各類(lèi)PCIe Cable的測(cè)試模塊等，滿(mǎn)足用戶(hù)測(cè)試的各種需求。當(dāng)然，除了針對(duì)NVMe SSD的各種模塊之外，傳統(tǒng)的針對(duì)24G/12G/6G SAS和6G SATA也提供相應(yīng)的測(cè)試模塊。

下面的功能概覽適用于上述所有各種PCIe接口，工程師可以根據(jù)需要通過(guò)GUI或者Phyton API腳本對(duì)于主板/背板端，或者外設(shè)（插卡，NVMe SSD）端進(jìn)行測(cè)試。

模擬在任意針腳上注入信號(hào)毛刺，進(jìn)行物理層/協(xié)議層故障注入

可以設(shè)置信號(hào)毛刺的多少，注入一次毛刺，還是持續(xù)加毛刺，間隔時(shí)間多長(zhǎng)等

信號(hào)毛刺的高低，疏密，持續(xù)的時(shí)間長(zhǎng)短

通過(guò)調(diào)整信號(hào)毛刺參數(shù)實(shí)現(xiàn)針對(duì)PCIe協(xié)議的故障注入，如bit error，CRC error等。

模擬盤(pán)的熱插拔

模擬盤(pán)熱插拔過(guò)程中導(dǎo)致的pin bounce時(shí)斷時(shí)通等接觸不好的情況

模擬某些針腳斷掉

模擬某些針腳長(zhǎng)通

模擬某個(gè)Lane中的某些差分信號(hào)有毛刺，或者某個(gè)Lane不通

模擬非?？焖俚牟灏危ㄍ?斷）測(cè)試

電壓拉偏和功耗測(cè)試是測(cè)試SSD的基本測(cè)試項(xiàng)，包括PCIe/NVMe SSD和傳統(tǒng)的SAS/SATA HDD/SSD。其中，電壓拉偏測(cè)試主要是保證SSD在接入不同廠(chǎng)商設(shè)計(jì)的主板/背板時(shí)候如果其輸出電源和標(biāo)準(zhǔn)有偏離，那么SSD是否還可以正常穩(wěn)定的工作，該測(cè)試電壓拉偏的設(shè)置最低允許工程師以1us作為粒度調(diào)整電壓。功耗測(cè)試是找出SSD在不同的業(yè)務(wù)負(fù)載等情況下的電壓/電流/功耗的情況，Quarch可編程電源支持最大250K采樣率，可以實(shí)現(xiàn)非常精細(xì)的電壓/電流/功耗計(jì)量，在最小采樣率7Hz設(shè)置的時(shí)候其內(nèi)部記錄buffer可以實(shí)現(xiàn)24小時(shí)以上的持續(xù)記錄，記錄的數(shù)據(jù)可以通過(guò)GUI界面分析，其Test Monkey圖形化軟件允許用戶(hù)放大/縮小插卡分析局部細(xì)節(jié)，同時(shí)也自動(dòng)自動(dòng)計(jì)算出電壓/電流/功耗的最大/最小/平均值，另外軟件也允許用戶(hù)將記錄的數(shù)據(jù)導(dǎo)出成.csv作離線(xiàn)進(jìn)一步分析。

責(zé)任編輯：haq