電源測(cè)試系統(tǒng)針對(duì)電源模塊的各項(xiàng)測(cè)試項(xiàng)目提供最合適的測(cè)試方案，解決測(cè)試需求，提高測(cè)試效能。重輕載變化測(cè)試是電源模塊測(cè)試的項(xiàng)目之一，是為了檢測(cè)負(fù)載變化時(shí)輸出電壓的變化情況。為此，納米軟件將介紹電源重輕載變化測(cè)試的方法，以及用電源測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試的優(yōu)勢(shì)。

電源重輕載變化測(cè)試方法

測(cè)試目的：測(cè)試S.M.P.S.的輸出負(fù)載在重輕載切換時(shí)對(duì)輸出電壓的影響，一般要求電壓最大與最小值不超過輸出規(guī)格的±10%。

測(cè)試設(shè)備：交流電源、電子負(fù)載、示波器

測(cè)試條件：依SPEC.規(guī)定，輸入電壓AC LINE和負(fù)載值(最大和最小值)

測(cè)試方法：

1.依規(guī)格設(shè)定AC VOLTAGE，頻率和負(fù)載(最大負(fù)載和最小負(fù)載)

2.示波器的CH1接Vo，并設(shè)為TRIGGER SOURCE，LEVEL設(shè)定在Vo的90% ~ 100%較為妥當(dāng)，TRIGGER SLOPE設(shè)定在"+"，VOLTS/DIV視輸出電壓情況而定。

3.TIME/DIV設(shè)定為1S/DIV或2S/DIV，為滾動(dòng)狀態(tài)。

4.在輸入電壓穩(wěn)定時(shí)，變化輸出負(fù)載(最大/最小)

5.在設(shè)定電壓下測(cè)試輸出電壓的最大和最小值

電源測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試重輕載變化的優(yōu)勢(shì)

智能自動(dòng)化測(cè)試：電源測(cè)試系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)了用自動(dòng)化測(cè)試取代手動(dòng)測(cè)試，提高了測(cè)試效率和準(zhǔn)確率。

指令封裝：內(nèi)含各類儀器指令，指令封裝，無需手動(dòng)編寫代碼。只需拖拽指令便可15分鐘快速搭建測(cè)試項(xiàng)目及方案進(jìn)行電源模塊的測(cè)試，避免手動(dòng)編寫代碼出現(xiàn)的錯(cuò)誤。

界面清晰流暢：操作界面簡(jiǎn)單清晰，一看就會(huì)，可快速上手。

數(shù)據(jù)洞察功能：數(shù)據(jù)可視化提供一手測(cè)試數(shù)據(jù)，多樣化展示(折線圖、柱狀圖、餅狀圖)可幫助快速分析數(shù)據(jù)，診斷問題。

自定義數(shù)據(jù)報(bào)告：數(shù)據(jù)報(bào)告可一鍵導(dǎo)出，方便快速查看數(shù)據(jù)，并且支持自定義報(bào)告模板。

權(quán)限管理：電源模塊自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)的權(quán)限管理功能可為不同用戶開放不同的權(quán)限，保證測(cè)試數(shù)據(jù)的安全性。

ATECLOUD-POWER電源測(cè)試系統(tǒng)采用硬件模塊化內(nèi)嵌式框架結(jié)構(gòu)，為電源模塊測(cè)試提供軟硬件測(cè)試方案，解決了人工手動(dòng)測(cè)試出現(xiàn)的一系列問題，如代碼編寫錯(cuò)誤，數(shù)據(jù)記錄錯(cuò)誤，測(cè)試速度慢，測(cè)試數(shù)據(jù)無法可視化等，從而大大提高了電源模塊的性能和可靠性。

審核編輯 黃宇