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未來(lái)半導(dǎo)體先進(jìn)封裝PSPI發(fā)展技術(shù)路線趨勢(shì)解析

向欣電子 ? 2025-09-18 15:01 ? 次閱讀
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先進(jìn)封裝通過(guò)縮短(I/O)間距與互聯(lián)長(zhǎng)度,大幅提升 I/O 密度,成為驅(qū)動(dòng)芯片性能突破的關(guān)鍵路徑。相較于傳統(tǒng)封裝,其核心優(yōu)勢(shì)集中體現(xiàn)在多維度性能升級(jí)與結(jié)構(gòu)創(chuàng)新上:不僅能實(shí)現(xiàn)更高的內(nèi)存帶寬、更優(yōu)的能耗比與性能表現(xiàn),還可將芯片厚度做得更薄,同時(shí)支持多芯片集成、異質(zhì)集成及芯片間高速互聯(lián),完美適配當(dāng)下半導(dǎo)體器件對(duì)高密度、高速度、低功耗的需求。在先進(jìn)封裝的技術(shù)體系中,凸塊(Bump)、重布線層(RDL)、硅通孔(TSV)、混合鍵合(Hybrid Bonding)等技術(shù)共同構(gòu)成了實(shí)現(xiàn)其性能優(yōu)勢(shì)的關(guān)鍵支撐。

隨著半導(dǎo)體技術(shù)迭代速度的不斷加快,先進(jìn)封裝領(lǐng)域正迎來(lái)一場(chǎng)深度變革,而RDL在這場(chǎng)變革中脫穎而出,成為先進(jìn)封裝異質(zhì)集成的核心基石,持續(xù)吸引業(yè)界高度關(guān)注。作為實(shí)現(xiàn)芯片水平方向電氣延伸與互連的核心技術(shù),RDL在 3D/2.5D 封裝集成及晶圓級(jí)封裝中發(fā)揮著不可替代的作用。其技術(shù)原理是通過(guò)在芯片表面精準(zhǔn)沉積金屬層與相應(yīng)介電層,構(gòu)建出符合電路需求的金屬導(dǎo)線,并將原本集中的 I/O 端口重新布局到更開(kāi)闊的區(qū)域,形成高效的表面陣列結(jié)構(gòu)。這一技術(shù)創(chuàng)新不僅能大幅減薄芯片間的鍵合厚度、簡(jiǎn)化封裝工藝,還能以更緊湊、更高效的方式規(guī)劃芯片布局,最終顯著縮小器件的整體面積,為高密度封裝方案提供有力支持。

值得注意的是,光敏聚酰亞胺(PSPI)作為 RDL 圖案化過(guò)程中的關(guān)鍵材料,其技術(shù)路線的演進(jìn)與下游先進(jìn)封裝的需求變化高度綁定,直接影響 RDL 技術(shù)的性能表現(xiàn)與應(yīng)用拓展,在先進(jìn)封裝產(chǎn)業(yè)鏈中占據(jù)著重要地位。

PSPI 賦能多元先進(jìn)封裝,適配不同終端應(yīng)用場(chǎng)景

PART.02


圖1 清晰呈現(xiàn)了PSPI各類先進(jìn)封裝技術(shù)中的應(yīng)用路徑,及其對(duì)應(yīng)的代表性應(yīng)用與終端場(chǎng)景。從圖中可見(jiàn),PSPI 在不同技術(shù)路線的先進(jìn)封裝中均承擔(dān)關(guān)鍵角色,而各類封裝技術(shù)則憑借獨(dú)特性能優(yōu)勢(shì),精準(zhǔn)適配多元化的應(yīng)用需求與終端場(chǎng)景,形成了完整的技術(shù) - 應(yīng)用 - 終端產(chǎn)業(yè)鏈條。

FI - WLP(扇入型晶圓級(jí)封裝)具備工藝相對(duì)成熟、成本較低且集成度適中的優(yōu)勢(shì),能助力藍(lán)牙 MCU、NOR 閃存、藍(lán)牙 SoC 等應(yīng)用。這些應(yīng)用對(duì)應(yīng)可穿戴設(shè)備、智能手機(jī)等終端,F(xiàn)I - WLP 可滿足此類終端對(duì)芯片小型化、低功耗且兼具一定性能的需求,讓可穿戴設(shè)備更輕薄便攜,為智能手機(jī)提供基礎(chǔ)且穩(wěn)定的無(wú)線連接、存儲(chǔ)等功能支撐。FO - WLP/PLP(扇出型晶圓級(jí)封裝 / 扇出型面板級(jí)封裝)擁有更高集成度、可實(shí)現(xiàn)多芯片集成的優(yōu)點(diǎn),支撐 AP(手機(jī))、AP ( 手表)、PMIC 等眾多應(yīng)用,覆蓋智能手機(jī)、平板電腦、基站等終端。對(duì)于智能手機(jī)、平板電腦,其能提升芯片運(yùn)算與多任務(wù)處理能力,讓設(shè)備運(yùn)行更流暢;在基站等通信終端中,可保障芯片在復(fù)雜環(huán)境下長(zhǎng)時(shí)間穩(wěn)定運(yùn)行,增強(qiáng)通信的可靠性與效率。4d369454-945d-11f0-8ce9-92fbcf53809c.png2.5D 和 3D 封裝技術(shù)則憑借超高集成度、能實(shí)現(xiàn)芯片間高密度互連的特性,為 AI 芯片、服務(wù)器 CPU、DRAM 等高性能應(yīng)用提供支持,賦能服務(wù)器、數(shù)據(jù)中心、人工智能、汽車電子等終端。在人工智能領(lǐng)域,可助力芯片實(shí)現(xiàn)強(qiáng)大的運(yùn)算能力與高效散熱,滿足海量數(shù)據(jù)處理需求;在汽車電子,尤其是輔助駕駛芯片應(yīng)用中,能增強(qiáng)芯片可靠性與安全性,為駕駛安全保駕護(hù)航;對(duì)于服務(wù)器和數(shù)據(jù)中心,可提升數(shù)據(jù)處理與存儲(chǔ)的速度及效率,保障業(yè)務(wù)的高效開(kāi)展。


未來(lái)半導(dǎo)體封裝PSPI發(fā)展技術(shù)路線

PART.03


在先進(jìn)封裝技術(shù)向高密度、高性能、高可靠性持續(xù)演進(jìn)的過(guò)程中,不同應(yīng)用場(chǎng)景(如2.5D/3D 封裝、扇出型晶圓級(jí)封裝等)對(duì)核心材料PSPI性能要求呈現(xiàn)顯著差異化特征。圖 2 可見(jiàn),為適配多元化封裝場(chǎng)景的功能需求,PSPI 的技術(shù)發(fā)展正聚焦三大核心方向:微細(xì)化、低溫化、低介電,三者共同構(gòu)成未來(lái) PSPI 材料的關(guān)鍵技術(shù)突破路徑。4d4b74d2-945d-11f0-8ce9-92fbcf53809c.png


01 // RDL 微細(xì)化技術(shù)演進(jìn)、企業(yè)方案及 PSPI 適配創(chuàng)新



首先,當(dāng)前,4 層 RDL 技術(shù)已進(jìn)入大規(guī)模成熟應(yīng)用階段,良率穩(wěn)定達(dá)到 99% 的高水平,憑借可靠的性能與成本優(yōu)勢(shì),能夠覆蓋全球約 85% 的半導(dǎo)體封裝需求,成為消費(fèi)電子、物聯(lián)網(wǎng)等中高端封裝場(chǎng)景的主流方案。但隨著AI 芯片、HBM 存儲(chǔ)、高端服務(wù)器 CPU 等高性能場(chǎng)景對(duì)互連密度、信號(hào)傳輸效率的要求持續(xù)提升,RDL 微細(xì)化技術(shù)正加速向更高層數(shù)、更細(xì)線寬 / 線距(L/S)突破,具體演進(jìn)路徑清晰可見(jiàn):短期(2023-2024 年):頭部廠商已實(shí)現(xiàn) 2/2μm L/S 的 RDL 技術(shù)量產(chǎn),支撐 2.5D 封裝、中高端 FO-WLP 等工藝需求;中期(2025-2026 年):L/S 將進(jìn)一步縮減至 1/1μm,層數(shù)從 4 層提升至 6-8 層,以適配 Chiplet 異質(zhì)集成、高帶寬 HBM3e/HBM4 堆疊等場(chǎng)景;長(zhǎng)期(2027 年以后):L/S 有望突破 0.5/0.5μm,層數(shù)突破 8 層甚至達(dá)到 12 層以上,滿足 3D IC 高密度堆疊、超高速信號(hào)傳輸?shù)臉O致需求。

表1:各企業(yè)的 RDL 技術(shù)方案與進(jìn)展

編號(hào)

企業(yè)名稱

封裝技術(shù)名稱

RDL情況

1

臺(tái)積電

CoWoS-R

采用InFO 技術(shù)和 RDL 中介層實(shí)現(xiàn) HBM 和 SoC 集成,RDL 中介層有多達(dá) 6 個(gè)銅層用于布線,最小 4μm 間距(2μm 線寬 / 間距)

CoWoS-L

結(jié)合CoWoS-S 和 InFO 優(yōu)點(diǎn),使夾層與 LSI 芯片互連,通過(guò) RDL 層進(jìn)行電源和信號(hào)傳輸,LSI 芯片通過(guò)多層亞微米銅線實(shí)現(xiàn)芯片間高布線密度互連

InFO

具有高密度RDL,可實(shí)現(xiàn)各種應(yīng)用的高密度互連和性能,InFO_oS 有更高密度的 2/2μm RDL 線寬 / 間距,可提供多達(dá) 14 個(gè)重新分布層;Info_LSI 技術(shù)使用硅橋(RDL L/S:0.4/0.4μm)以及 RDL 層代替整塊硅

2

三星

I-CubeE

采用集成硅橋的RDL 中介層,能利用嵌入 FO-PLP 中間并用作接口的硅橋的小 L/S 優(yōu)勢(shì),實(shí)現(xiàn)硅芯片之間的高效連接

R-Cube

通過(guò)高密度RDL 實(shí)現(xiàn)邏輯到邏輯和邏輯到 HBM 模塊的連接

2.5D

配備2/2um 的 L/S,以及集成了 4 個(gè) HBM 模塊的大型中介層(約為 1600mm2)

3

ASE 集團(tuán)

VIPack

利用先進(jìn)的重布線層制程等技術(shù),實(shí)現(xiàn)超高密度和性能設(shè)計(jì)的三維異質(zhì)封裝結(jié)構(gòu)

FOCoS-CF

具備高層數(shù)(>6 層)和細(xì)線 / 間距(L /S = 1μm/1μm),由兩個(gè)面朝下的 ASIC 小芯片組成,通過(guò) Cu 過(guò)孔直接與 RDL 連接,Si 芯片和扇出 RDL (L/S 2/2 um) 之間沒(méi)有微凸塊

FOCoS-CL

具備高層數(shù)(>6 層)和細(xì)線 / 間距(L /S = 1μm/1μm),由并排配置的三個(gè)小芯片(1 個(gè) ASIC 芯片和 2 個(gè) HBM)構(gòu)建而成,ASIC 芯片和 2 個(gè) HBM 通過(guò) RDL (L/S 2/2 um) 和 Cu 微凸塊連接

FOCoS-Bridge

一種2.5D 封裝,具有 ASIC 和 HBM 兩個(gè)芯片,兩者通過(guò)嵌入 RDL 的硅橋芯片實(shí)現(xiàn)超細(xì)間距互連,硅橋芯片 (L/S 0.6/0.6 um) 嵌入扇出 RDL 層 (L/S 10/10 um),用于在 ASIC 和 HBM 之間建立連接

4

日月光

無(wú)

RDL 層數(shù)大于 6 層,L/S 為 1 - 1.5μm

5

安靠科技

SWIFT /HDFO

SWIFT 是最先進(jìn)的高密度扇出結(jié)構(gòu),可實(shí)現(xiàn) 2/2 μm 線 / 間距特性;HDFO 基于 SWIFT 開(kāi)發(fā),保持了高密度連線,出色的信號(hào)質(zhì)量,無(wú)需 TSV

SLIM

利用前道代工,在硅片表面的無(wú)機(jī)介質(zhì)層上制作1μm,甚至亞微米金屬布線,L/S 小于 2um

6

長(zhǎng)電科技

XDFOI

可實(shí)現(xiàn)線寬和線距低至2 微米的多個(gè)重新分布層 (RDL),將部分分布層轉(zhuǎn)移到 RSI 基板上,利用 RSI 線寬和線距縮小至 2 微米的優(yōu)勢(shì),減少芯片互連間距

7

通富微電

2.5D/3D

基于ChipLast 工藝的 Fan-out 技術(shù),實(shí)現(xiàn)了 5 層 RDL 超大尺寸封裝(65×65mm);FO 系列中重分布 L/S 為 2/2um

8

華天科技

eSiFO

在高密度晶圓級(jí)扇出型封裝技術(shù)方面,L/S 為 2/2um,RDL Layer 為 6 P5M,封裝尺寸 15×15mm

eSinC

在高密度晶圓級(jí)扇出型封裝技術(shù)方面,L/S 為 2/2um,RDL Layer 為 6 P5M,封裝尺寸最大可以達(dá)到 40mm×40mm

9

甬矽電子

/

目前最小線寬可達(dá)5um,最小線間距可達(dá) 5um,運(yùn)用于量產(chǎn)產(chǎn)品上的細(xì)線寬為最小線寬 8um,最小線間距 8um

10

云天半

導(dǎo)體

玻璃通孔技術(shù)

用大馬士革工藝在玻璃基表面制備三層RDL 堆疊,采用無(wú)機(jī)薄膜材料作為介質(zhì)層進(jìn)行制備,實(shí)現(xiàn)更細(xì)更高精度的金屬布線

來(lái)源:公開(kāi)資料、光界咨詢(OPTO)整理

RDL 微細(xì)化技術(shù)的推進(jìn),對(duì)作為關(guān)鍵絕緣與圖案化材料的 PSPI 提出了場(chǎng)景化適配要求,不同封裝類型的核心需求差異顯著:應(yīng)用處理器(AP)的 FO-WLP/PLP 封裝聚焦小型化與高 I/O 密度,對(duì) PSPI 的高分辨率性能要求突出。需 PSPI 在光刻過(guò)程中精準(zhǔn)實(shí)現(xiàn)微細(xì)線路成型,保障 2-4μm L/S 線路的邊緣粗糙度控制在較低水平,避免因線路缺陷導(dǎo)致的信號(hào)損耗或短路問(wèn)題;由于2.5D 集成封裝需同時(shí)實(shí)現(xiàn)芯片間高密度互連與高速信號(hào)傳輸,PSPI 需兼具微細(xì)線路加工能力與低介電特性。一方面需支持 1-2μm L/S 的精細(xì)布線,確保 RDL 互連密度;另一方面需將介電常數(shù)(Dk)控制在 3.0 以下,降低信號(hào)延遲與串?dāng)_,保障高頻場(chǎng)景下的信號(hào)完整性。為匹配RDL 微細(xì)化的技術(shù)節(jié)奏,PSPI 材料與制程工藝正同步開(kāi)展多維度創(chuàng)新:材料類型與規(guī)格適配方面,負(fù)性PSPI 因具備更優(yōu)異的光刻分辨率、更低的線寬偏差,已成為微細(xì)化場(chǎng)景的核心開(kāi)發(fā)方向,研發(fā)重點(diǎn)集中在提升其在 1/1μm 及以下 L/S 場(chǎng)景的圖案化精度與固化后力學(xué)穩(wěn)定性;同時(shí),非感光型材料的開(kāi)發(fā)也聚焦 “耐久性 + 微細(xì)化適配” 雙重目標(biāo),通過(guò)分子結(jié)構(gòu)改性,在支持 1μm 以下 L/S 的同時(shí),提升耐濕熱、抗熱沖擊性能,滿足長(zhǎng)期可靠性需求。

02// 低溫PSPI需求及旭化成市場(chǎng)格局與產(chǎn)能挑戰(zhàn)

傳統(tǒng)PSPI 固化溫度在 300-350℃,需專用耐高溫設(shè)備,成本與能耗高。高溫還會(huì)使金屬互連材料與 PI 反應(yīng),影響電氣性能,因熱膨脹系數(shù)差異致晶圓問(wèn)題,制約封裝精細(xì)發(fā)展,威脅芯片可靠性,難以契合高集成封裝需求。先進(jìn)封裝如FO-WLP、2.5D/3D 興起,對(duì) PSPI 性能提出新要求。FO-WLP 中,EMC 耐溫低于 250℃,PSPI 固化溫度需同步降。2.5D/3D 封裝,芯片堆疊多、互連密,PSPI 要在低溫下實(shí)現(xiàn)高精度光刻與低應(yīng)力固化,降低 PSPI 固化溫度成關(guān)鍵難題。低溫固化PSPI 是先進(jìn)封裝升級(jí)必然,其能解決高溫對(duì)結(jié)構(gòu)和材料的損傷,適配高端場(chǎng)景。目前,低溫固化溫度170℃產(chǎn)品量產(chǎn),更低溫產(chǎn)品研發(fā)正推進(jìn)。日本旭化成作為低溫PSPI 領(lǐng)域的絕對(duì)龍頭企業(yè),據(jù)光界咨詢(OPTO)數(shù)據(jù)顯示,其在全球半導(dǎo)體封裝用低溫 PSPI 市場(chǎng)中占據(jù)約 50% 的份額,行業(yè)地位顯著。然而,隨著AI 芯片、HBM 存儲(chǔ)等先進(jìn)封裝需求的爆發(fā)式增長(zhǎng),市場(chǎng)對(duì)低溫 PSPI 的需求同步激增,旭化成卻面臨產(chǎn)能難以匹配需求的困境。2025 年間有消息傳出,因產(chǎn)能缺口,旭化成向部分客戶發(fā)出通知,其核心產(chǎn)品 PIMEL 系列 PSPI 存在斷供風(fēng)險(xiǎn)。盡管旭化成已宣布啟動(dòng)擴(kuò)產(chǎn)計(jì)劃以緩解供需矛盾,但受限于產(chǎn)能建設(shè)周期、設(shè)備調(diào)試等因素,短期內(nèi)產(chǎn)能釋放有限,未來(lái)仍存在因需求持續(xù)超預(yù)期而再次出現(xiàn)斷供的可能性。

03// PSPI 低介電性能的場(chǎng)景需求與技術(shù)演進(jìn)

在RDL應(yīng)用場(chǎng)景中,PSPI的低介電性能已成為保障信號(hào)傳輸效率的關(guān)鍵指標(biāo),不同場(chǎng)景對(duì)介電損耗(Df)的要求呈現(xiàn)明確的梯度化特征:針對(duì)AiP應(yīng)用,為減少高頻信號(hào)在傳輸過(guò)程中的損耗,需 PSPI 具備低介電特性,確保天線與芯片間信號(hào)傳遞的完整性,適配 5G、毫米波等高頻通信需求;在 RDL 應(yīng)用場(chǎng)景,當(dāng)前主流要求 PSPI 的介電損耗(Df)達(dá)到 0.004~0.005 等級(jí),以滿足芯片間高密度互連的信號(hào)穩(wěn)定性需求。隨著半導(dǎo)體技術(shù)向高速傳輸升級(jí),低介電性能的要求將進(jìn)一步嚴(yán)苛。為適配SerDes 200Gbps 以上的高速傳輸場(chǎng)景,行業(yè)正積極探討采用 Df 為 0.002 等級(jí)的 PSPI 產(chǎn)品;從長(zhǎng)期技術(shù)演進(jìn)來(lái)看,預(yù)計(jì)未來(lái)還將涌現(xiàn)對(duì) Df 低至 0.0015 以下的 PSPI 產(chǎn)品需求,以突破更高速度信號(hào)傳輸?shù)慕閾p瓶頸,支撐高端服務(wù)器、AI 芯片等高性能場(chǎng)景的發(fā)展。


本土企業(yè)半導(dǎo)體封裝PSPI開(kāi)發(fā)動(dòng)向

PART.04


應(yīng)用端相關(guān)行業(yè)專家表示,光敏聚酰亞胺國(guó)產(chǎn)化在基礎(chǔ)物性上部分可與進(jìn)口材料對(duì)標(biāo),甚至部分單項(xiàng)指標(biāo)更優(yōu),但實(shí)際工程驗(yàn)證推進(jìn)遲緩,尚未大規(guī)模量產(chǎn)。原因之一半導(dǎo)體領(lǐng)域?qū)π虏牧蠎B(tài)度保守,客戶端接受度低;質(zhì)量管理體系有待完善,材料品質(zhì)穩(wěn)定性不足;且材料推出時(shí)間晚,驗(yàn)證機(jī)會(huì)少,工藝條件也需優(yōu)化。破局之策為產(chǎn)業(yè)鏈上下游協(xié)同推進(jìn)、合作共贏;技術(shù)創(chuàng)新,發(fā)展有特色的材料和工藝體系。

在產(chǎn)品技術(shù)開(kāi)發(fā)方面,國(guó)內(nèi)相關(guān)企業(yè)持續(xù)布局,以波米科技為代表,其技術(shù)聚焦于功率半導(dǎo)體器件制造和半導(dǎo)體先進(jìn)封裝用高性能聚酰亞胺材料領(lǐng)域。半導(dǎo)體封裝方面其PSPI 產(chǎn)品正朝著 “高溫→低溫→超低溫” 固化溫度、“Bumping→RDL (4P4M)→RDL (≥6P6M)” 應(yīng)用場(chǎng)景的 “三級(jí)跳” 目標(biāo)邁進(jìn)。4d5bfa78-945d-11f0-8ce9-92fbcf53809c.png

其中,高溫固化型已批量供應(yīng),用于先進(jìn)封裝 Bumping 技術(shù);低溫固化型通過(guò)下游頭部客戶認(rèn)證,用于 RDL (4P4M) 技術(shù),產(chǎn)品基本定型;超低溫固化型處于研發(fā)階段,膜性能及光刻工藝達(dá)標(biāo),其研發(fā)和產(chǎn)業(yè)化入選相關(guān)科研項(xiàng)目,以滿足未來(lái) 2.5D/3D 封裝、Chiplet 等領(lǐng)域 RDL (≥6P6M) 技術(shù)需求。

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    的頭像 發(fā)表于 07-31 12:18 ?800次閱讀

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    半導(dǎo)體傳統(tǒng)封裝先進(jìn)封裝的分類及特點(diǎn)
    的頭像 發(fā)表于 07-30 11:50 ?789次閱讀
    <b class='flag-5'>半導(dǎo)體</b>傳統(tǒng)<b class='flag-5'>封裝</b>與<b class='flag-5'>先進(jìn)</b><b class='flag-5'>封裝</b>的對(duì)比與<b class='flag-5'>發(fā)展</b>

    物聯(lián)網(wǎng)未來(lái)發(fā)展趨勢(shì)如何?

    ,人們才會(huì)更加信任和接受物聯(lián)網(wǎng)技術(shù)。 綜上所述,物聯(lián)網(wǎng)行業(yè)的未來(lái)發(fā)展趨勢(shì)非常廣闊。智能家居、工業(yè)互聯(lián)網(wǎng)、智慧城市、醫(yī)療保健以及數(shù)據(jù)安全和隱私保護(hù)都將成為物聯(lián)網(wǎng)行業(yè)的熱點(diǎn)領(lǐng)域。我們有理由相信,在不久的將來(lái),物聯(lián)網(wǎng)將進(jìn)一步改變我們
    發(fā)表于 06-09 15:25

    最全最詳盡的半導(dǎo)體制造技術(shù)資料,涵蓋晶圓工藝到后端封測(cè)

    刻蝕 第17章 離子注入 第18章 化學(xué)機(jī)械平坦化 第19章 硅片測(cè)試 第20章 裝配與封裝 本書詳細(xì)追述了半導(dǎo)體發(fā)展的歷史并吸收了當(dāng)今最新技術(shù)資料,學(xué)術(shù)界和工業(yè)界對(duì)《
    發(fā)表于 04-15 13:52

    先進(jìn)碳化硅功率半導(dǎo)體封裝技術(shù)突破與行業(yè)變革

    本文聚焦于先進(jìn)碳化硅(SiC)功率半導(dǎo)體封裝技術(shù),闡述其基本概念、關(guān)鍵技術(shù)、面臨挑戰(zhàn)及未來(lái)
    的頭像 發(fā)表于 04-08 11:40 ?1283次閱讀
    <b class='flag-5'>先進(jìn)</b>碳化硅功率<b class='flag-5'>半導(dǎo)體</b><b class='flag-5'>封裝</b>:<b class='flag-5'>技術(shù)</b>突破與行業(yè)變革

    瑞沃微先進(jìn)封裝:突破摩爾定律枷鎖,助力半導(dǎo)體新飛躍

    半導(dǎo)體行業(yè)的發(fā)展歷程中,技術(shù)創(chuàng)新始終是推動(dòng)行業(yè)前進(jìn)的核心動(dòng)力。深圳瑞沃微半導(dǎo)體憑借其先進(jìn)封裝
    的頭像 發(fā)表于 03-17 11:33 ?685次閱讀
    瑞沃微<b class='flag-5'>先進(jìn)</b><b class='flag-5'>封裝</b>:突破摩爾定律枷鎖,助力<b class='flag-5'>半導(dǎo)體</b>新飛躍

    砥礪創(chuàng)新 芯耀未來(lái)——武漢芯源半導(dǎo)體榮膺21ic電子網(wǎng)2024年度“創(chuàng)新驅(qū)動(dòng)獎(jiǎng)”

    對(duì)武漢芯源半導(dǎo)體創(chuàng)新能力的權(quán)威肯定。然而,我們深知榮譽(yù)只代表過(guò)去,未來(lái)的征程依然任重道遠(yuǎn)。在半導(dǎo)體技術(shù)飛速發(fā)展的今天,我們將面臨更多的挑戰(zhàn)與
    發(fā)表于 03-13 14:21

    芯和半導(dǎo)體將參加重慶半導(dǎo)體制造與先進(jìn)封測(cè)產(chǎn)業(yè)發(fā)展論壇

    芯和半導(dǎo)體科技(上海)股份有限公司(以下簡(jiǎn)稱“芯和半導(dǎo)體”)將于3月13日參加在重慶舉辦的重慶半導(dǎo)體制造與先進(jìn)封測(cè)產(chǎn)業(yè)發(fā)展論壇。作為國(guó)內(nèi)Ch
    的頭像 發(fā)表于 03-05 15:01 ?1066次閱讀

    淺析半導(dǎo)體激光器的發(fā)展趨勢(shì)

    文章綜述了現(xiàn)有高功率半導(dǎo)體激光器(包括單發(fā)射腔、巴條、水平陣列和垂直疊陣)的封裝技術(shù),并討論了其發(fā)展趨勢(shì);分析了半導(dǎo)體激光器
    的頭像 發(fā)表于 02-26 09:53 ?1643次閱讀
    淺析<b class='flag-5'>半導(dǎo)體</b>激光器的<b class='flag-5'>發(fā)展趨勢(shì)</b>

    全球先進(jìn)封裝市場(chǎng)現(xiàn)狀與趨勢(shì)分析

    半導(dǎo)體行業(yè)的演進(jìn)歷程中,先進(jìn)封裝技術(shù)已成為推動(dòng)技術(shù)創(chuàng)新和市場(chǎng)增長(zhǎng)的關(guān)鍵驅(qū)動(dòng)力。隨著傳統(tǒng)晶體管縮放技術(shù)
    的頭像 發(fā)表于 01-14 10:34 ?1586次閱讀
    全球<b class='flag-5'>先進(jìn)</b><b class='flag-5'>封裝</b>市場(chǎng)現(xiàn)狀與<b class='flag-5'>趨勢(shì)</b>分析

    技術(shù)前沿:半導(dǎo)體先進(jìn)封裝從2D到3D的關(guān)鍵

    技術(shù)前沿:半導(dǎo)體先進(jìn)封裝從2D到3D的關(guān)鍵 半導(dǎo)體分類 集成電路封測(cè)技術(shù)水平及特點(diǎn)?? ? 1.
    的頭像 發(fā)表于 01-07 09:08 ?3065次閱讀
    <b class='flag-5'>技術(shù)</b>前沿:<b class='flag-5'>半導(dǎo)體</b><b class='flag-5'>先進(jìn)</b><b class='flag-5'>封裝</b>從2D到3D的關(guān)鍵

    倒裝封裝(Flip Chip)工藝:半導(dǎo)體封裝的璀璨明星!

    半導(dǎo)體技術(shù)的快速發(fā)展中,封裝技術(shù)作為連接芯片與外部世界的橋梁,其重要性不言而喻。其中,倒裝封裝
    的頭像 發(fā)表于 01-03 12:56 ?5108次閱讀
    倒裝<b class='flag-5'>封裝</b>(Flip Chip)工藝:<b class='flag-5'>半導(dǎo)體</b><b class='flag-5'>封裝</b>的璀璨明星!

    探秘GaN功率半導(dǎo)體封裝未來(lái)趨勢(shì)一網(wǎng)打盡!

    ,GaN功率半導(dǎo)體器件的優(yōu)異性能要想得到充分發(fā)揮,離不開(kāi)先進(jìn)封裝技術(shù)。本文將深入探討GaN功率半導(dǎo)體器件的
    的頭像 發(fā)表于 01-02 12:46 ?1924次閱讀
    探秘GaN功率<b class='flag-5'>半導(dǎo)體</b><b class='flag-5'>封裝</b>:<b class='flag-5'>未來(lái)</b><b class='flag-5'>趨勢(shì)</b>一網(wǎng)打盡!

    一文解析全球先進(jìn)封裝市場(chǎng)現(xiàn)狀與趨勢(shì)

    半導(dǎo)體行業(yè)的演進(jìn)歷程中,先進(jìn)封裝技術(shù)已成為推動(dòng)技術(shù)創(chuàng)新和市場(chǎng)增長(zhǎng)的關(guān)鍵驅(qū)動(dòng)力。隨著傳統(tǒng)晶體管縮放技術(shù)
    的頭像 發(fā)表于 01-02 10:25 ?5000次閱讀
    一文<b class='flag-5'>解析</b>全球<b class='flag-5'>先進(jìn)</b><b class='flag-5'>封裝</b>市場(chǎng)現(xiàn)狀與<b class='flag-5'>趨勢(shì)</b>

    先進(jìn)封裝的核心概念、技術(shù)發(fā)展趨勢(shì)

    先進(jìn)封裝簡(jiǎn)介 先進(jìn)封裝技術(shù)已成為半導(dǎo)體行業(yè)創(chuàng)新發(fā)展
    的頭像 發(fā)表于 12-18 09:59 ?2112次閱讀
    <b class='flag-5'>先進(jìn)</b><b class='flag-5'>封裝</b>的核心概念、<b class='flag-5'>技術(shù)</b>和<b class='flag-5'>發(fā)展趨勢(shì)</b>