本文介紹如何利用先進(jìn)的測試平臺(tái)來對ADSL芯片的某些關(guān)鍵參數(shù)進(jìn)行測試,從而使半導(dǎo)體制造商能夠降低ADSL器件的測試成本。
2011-11-21 17:49:28
2336 可測性設(shè)計(jì)是在滿足芯片正常功能的基礎(chǔ)上,通過有效地加入測試電路,來降低芯片的測試難度,降低測試成本。
2021-03-07 10:45:21
3315 本文就芯片測試做一個(gè)詳細(xì)介紹。芯片的測試大致可以分成兩大部分。CP(chipprobering)和FT(finaltest)。某些芯片還會(huì)進(jìn)行SLT(systemlevetest)。還有一些特定
2024-07-26 14:30:47
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、數(shù)碼相機(jī)、電子相冊(電子相框)、各類SENSOR及攝像模組、指紋識別、超級通訊終端、服務(wù)器、路由器、網(wǎng)卡、無線上網(wǎng)卡、DVD、DVB、LCD主芯片、ADSL、投影儀、內(nèi)存條等主控芯片及各類模塊測試架
2009-12-05 16:53:53
)**
在芯片制造的前端,對晶圓上的芯片進(jìn)行初步測試是至關(guān)重要的。半導(dǎo)體測試設(shè)備能夠在晶圓切割之前,通過微小的探針接觸芯片的焊盤,對芯片的基本電學(xué)參數(shù)進(jìn)行測試。例如,測試芯片內(nèi)晶體管的開啟電壓、飽和電流等
2025-10-10 10:35:17
IDS測試目的及指標(biāo)是什么IDS測試環(huán)境有哪幾種?怎么搭建軟件平臺(tái)進(jìn)行IDS測試?
2021-04-09 06:01:30
;另一種方法是測試和分選由兩臺(tái)機(jī)器完成,測試設(shè)備記錄下每個(gè)芯片的位置和參數(shù),然后把這些數(shù)據(jù)傳遞到分選設(shè)備上,進(jìn)行快速分選、這樣做的優(yōu)點(diǎn)是快速,但缺點(diǎn)是可***性比較低,容易出錯(cuò),因?yàn)樵?b class="flag-6" style="color: red">測試與分選兩個(gè)步驟
2018-08-24 09:47:12
,多則上千個(gè)用戶會(huì)同時(shí)發(fā)生阻斷;如果是多局制的中繼線纜出現(xiàn)障礙,會(huì)使兩個(gè)局的全體用戶都不能相互通信。因此,無論是ADSL業(yè)務(wù)還是市話業(yè)務(wù)的開通,還是正常的運(yùn)營維護(hù),都需進(jìn)行一系列的測試工作,而自動(dòng)化
2019-08-26 06:25:25
的輔助。 測試是為了以下三個(gè)目標(biāo)。第一,在晶圓送到封裝工廠之前,鑒別出合格的芯片。第二,器件/電路的電性參數(shù)進(jìn)行特性評估。工程師們需要監(jiān)測參數(shù)的分布狀態(tài)來保持工藝的質(zhì)量水平。第三,芯片的合格品與不良品
2011-12-01 13:54:00
內(nèi)存芯片測試軟件是一個(gè)可以電腦內(nèi)存診斷程序,而且容易操作可以找出所有可能的內(nèi)存問題。制作出一張可以開機(jī)的磁片。只要用這張磁片重新開機(jī)之后,就可以開始進(jìn)行測試了。有各種先進(jìn)的內(nèi)存測試機(jī)制。
2009-10-27 09:25:35
設(shè)計(jì)的性能指標(biāo)要求及是否滿足使用要求,同時(shí)可以根據(jù)測試結(jié)果確定傳感器的特性曲線和性能,進(jìn)而對器件進(jìn)行補(bǔ)償,從而提高器件的精度。以柔性測試技術(shù)理念開發(fā)一套傳感器測試平臺(tái),能夠?qū)Χ喾N傾角傳感器進(jìn)行標(biāo)定與檢測
2018-11-13 16:22:11
如何利用先進(jìn)模擬與電源管理設(shè)計(jì)滿足ADSL系統(tǒng)設(shè)計(jì)目標(biāo)?
2021-05-26 06:53:35
如何對EEPROM芯片的讀寫速度進(jìn)行測試呢?如何對EEPROM芯片的全片有效性進(jìn)行測試呢?
2022-02-24 07:53:45
如何對OK3399-C平臺(tái)多媒體進(jìn)行測試呢?有哪些測試步驟?
2022-03-08 09:47:29
數(shù)字預(yù)失真平臺(tái)系統(tǒng)模型是怎樣構(gòu)成的?如何對數(shù)字預(yù)失真平臺(tái)系統(tǒng)進(jìn)行仿真測試?
2021-04-21 07:23:32
能識別圖形界面上的關(guān)鍵信息,比如界面上的文字,數(shù)值,圖標(biāo)等。小螞蟻測試(AnTestin)平臺(tái)支持對人機(jī)接口的屏幕顯示進(jìn)行自動(dòng)化檢測,代替人的眼睛觀察,可以識別界面上的關(guān)鍵信息,結(jié)合其他操作(比如
2020-03-06 19:57:07
本文設(shè)計(jì)了一個(gè)用于串行總線芯片測試的實(shí)驗(yàn)平臺(tái)?
2021-05-27 06:24:48
對于RTL設(shè)計(jì)而言,仿真驗(yàn)證是上板前必不可少的一環(huán)。當(dāng)我們的代碼基于SpinalHDL進(jìn)行設(shè)計(jì)時(shí),自然也想通過基于scala來進(jìn)行測試驗(yàn)證。測試平臺(tái)該有的樣子對于仿真驗(yàn)證而言,簡單的仿真對比驗(yàn)證我們
2022-07-20 14:38:07
本文介紹一種運(yùn)用時(shí)域脈沖回波原理測量ADSL 線纜故障點(diǎn)位置的測試儀,只需單人操作,一鍵測試,小巧輕便,上手即會(huì)運(yùn)用。
2021-05-13 07:02:19
身體參數(shù)測試系統(tǒng)的硬件部分是由哪些部分組成的呢?怎樣去設(shè)計(jì)一種基于云平臺(tái)+APP+設(shè)備端的身體參數(shù)測試系統(tǒng)呢?
2021-11-11 09:14:50
求一種測試平臺(tái)上的阻抗測試方案
2021-05-06 09:13:47
如題,求移動(dòng)電源的測試參數(shù)及測試方法
2016-05-16 14:35:44
為什么要設(shè)計(jì)一款新型的ADSL2+測試儀?ADSL2+測試儀硬件系統(tǒng)結(jié)構(gòu)是由哪些部分組成?ADSL2+測試儀軟件系統(tǒng)結(jié)構(gòu)是由哪些部分組成?怎樣去設(shè)計(jì)一款新型的ADSL2+測試儀?
2021-04-15 06:23:02
基于對IC 測試接口原理和系統(tǒng)結(jié)構(gòu)的闡釋,具體針對型號為SL431L 的電源芯片,提出改進(jìn)測試電路的方法,電壓測試值的波動(dòng)范圍小于3mV。關(guān)鍵詞:測試系統(tǒng)結(jié)構(gòu),測試接口,芯片
2009-12-19 15:10:33
37 摘要:本文通過對一款系統(tǒng)芯片(System on Chip SoC)——“成電之芯”的功能測試平臺(tái)的搭建,介紹了一種實(shí)現(xiàn)系統(tǒng)芯片功能測試的方法。關(guān)鍵詞:系統(tǒng)芯片;雷達(dá)信號處理電路;
2009-12-21 09:59:44
20 本文提出了一套基于ARM9處理器與Windows CE操作系統(tǒng)的通用型ADSL2+測試儀表解決方案。在分析儀表產(chǎn)品現(xiàn)狀的基礎(chǔ)上,闡述了主要設(shè)計(jì)思想,并詳細(xì)介紹了系統(tǒng)的硬件和軟件設(shè)計(jì)方案。
2010-07-26 17:49:31
22 介紹一種基于時(shí)域脈沖回波(TDR)原理的ADSL線纜斷點(diǎn)測試系統(tǒng)。該系統(tǒng)設(shè)計(jì)以STC單片機(jī)為控制核心,以FPGA為測試主體發(fā)射接收脈沖,采集脈沖往返線纜時(shí)間,實(shí)現(xiàn)ADSL線纜斷
2010-12-28 10:41:31
58 摘 要: IPM測試需要測試多個(gè)參數(shù),這些不同的參數(shù)需要不同的測試平臺(tái)。本文通過對各種不同參數(shù)的測試方法進(jìn)行研究,設(shè)計(jì)并實(shí)現(xiàn)了自動(dòng)測試平臺(tái)。問題的提出火車
2006-03-11 13:45:29
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ADSL業(yè)務(wù)的用戶線測試及測試儀表選擇
ADSL業(yè)務(wù)利用現(xiàn)有的銅線資源實(shí)現(xiàn)高速數(shù)據(jù)、語音和圖像的傳輸,增強(qiáng)了傳統(tǒng)運(yùn)營商在數(shù)據(jù)接入方面的優(yōu)勢,但
2009-08-20 00:16:34
1130 利用先進(jìn)模擬與電源管理設(shè)計(jì)滿足ADSL系統(tǒng)設(shè)計(jì)目標(biāo)雖然數(shù)字科技是ADSL的技術(shù)基礎(chǔ),但仍要靠著互補(bǔ)搭配的模擬與混合信號技術(shù),服務(wù)供貨商才能以低
2009-11-27 20:30:25
578 ADSL收發(fā)器片上系統(tǒng)芯片的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)
非對稱數(shù)字用戶環(huán)路(ADSL)是目前寬帶接入網(wǎng)技術(shù)中最具有前景及競爭力的一種[1]。雖然歐美一些先進(jìn)國家在ADSL示范網(wǎng)上取得了
2010-01-26 10:48:54
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本文比較詳細(xì)的解釋了ADSL業(yè)務(wù)中常見的參數(shù),如交織、快速、噪聲容限、線路衰減等,并講解了這次參數(shù)對ADSL線路的速率和穩(wěn)定性的影響。本文參照標(biāo)準(zhǔn)以及本人在處理網(wǎng)上問題中的一些經(jīng)驗(yàn)和體會(huì)寫成的
2011-02-19 15:43:55
67 先進(jìn)的測試儀表能提供對射頻微波,中頻電路,數(shù)字電路等關(guān)鍵電路的獨(dú)立測試平臺(tái)。Agilent能提供業(yè)內(nèi)最完整的測試解決方案。測試儀表能提供與被測件匹配的物理接口和測試功能。
2011-04-06 12:36:27
35 介紹了一種以單片機(jī)和FPGA為核心的 ADSL 線纜測試儀。通過采用嵌入式計(jì)算機(jī)技術(shù),硬件電路模塊化設(shè)計(jì)技術(shù),方便了測量通道的擴(kuò)展,實(shí)現(xiàn)了ADSL線纜的導(dǎo)通,絕緣,電壓,電容測試。
2011-09-01 11:35:03
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有測試儀表多為國外品牌且價(jià)格昂貴,國內(nèi)產(chǎn)品普遍存在測試頻段有限,測試結(jié)果片面的問題;而且由于核心芯片處理能力有限,嵌入式操作系統(tǒng)不先進(jìn),軟件包功能不夠完善,對測試
2012-05-10 16:32:17
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本文結(jié)合ADC的靜態(tài)和動(dòng)態(tài)測試原理,給出了基于測試系統(tǒng)的ADC靜態(tài)參數(shù)和動(dòng)態(tài)參數(shù)測試的一般過程,并對此過程測試環(huán)境進(jìn)行了較為詳細(xì)的分析。從而用國產(chǎn)的自動(dòng)測試系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)了ADC的低成本、高可靠性的計(jì)算機(jī)輔助測試。
2017-11-06 13:06:26
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進(jìn)行測試的設(shè)備,主要用于IC晶圓的測試,以便驗(yàn)證芯片的性能參數(shù)是否符合規(guī)范要求。 1模擬IC自動(dòng)測試系統(tǒng)結(jié)構(gòu) 模擬IC自動(dòng)測試系統(tǒng)主要包括PC、PCI通信板、控制板、母板、TMU板、OVC板、AWG板、DIG板和DUT板組成,系統(tǒng)結(jié)構(gòu)框圖如圖1所示。 圖1 模擬IC自動(dòng)測試系統(tǒng)框圖 1.
2017-11-15 16:27:52
15 計(jì),不利于高頻信號傳輸,線路周邊環(huán)境惡劣且復(fù)雜多變,無論ADSL業(yè)務(wù)的開通還是正常的運(yùn)營維護(hù),都需進(jìn)行一系列復(fù)雜的測試工作。 現(xiàn)有測試儀表多為國外品牌且價(jià)格昂貴,國內(nèi)產(chǎn)品普遍存在測試頻段有限,測試結(jié)果片面的問題;而且由于核
2018-01-17 20:01:46
446 最近出現(xiàn)了行業(yè)級的 Python 測試框架,這意味著 Python 測試可以編寫得更簡潔、更統(tǒng)一,能夠產(chǎn)生更好的結(jié)果報(bào)告。本文介紹比較先進(jìn)的測試框架并討論它們的基本特性。
2018-09-21 16:16:02
12 本文檔的主要內(nèi)容詳細(xì)介紹的是 AXle測試平臺(tái)簡介主要內(nèi)容包括了:測試系統(tǒng)平臺(tái)的典型架構(gòu)和AXIe 測試平臺(tái)介紹及AXle測試平臺(tái)的優(yōu)勢詳細(xì)資料免費(fèi)下載。
2018-11-13 17:17:22
7 闡述了模數(shù)轉(zhuǎn)換器的靜態(tài)參數(shù)和動(dòng)態(tài)參數(shù)測試原理和方法,并且構(gòu)建了模數(shù)轉(zhuǎn)換器的自動(dòng)測試硬件平臺(tái)和軟件系統(tǒng)。重點(diǎn)討論了利用Matlab庫函數(shù)進(jìn)行快速傅立葉變換測試的方法,使用ADC自動(dòng)測試系統(tǒng)對高速模數(shù)轉(zhuǎn)換器SCM530101進(jìn)行了測試,并給出了測試結(jié)果。
2019-11-21 16:39:56
3 我們經(jīng)常被問到什么是EMC測試,為什么要進(jìn)行測試,誰應(yīng)該執(zhí)行EMC測試以及我們?nèi)绾?b class="flag-6" style="color: red">進(jìn)行測試,因此,這篇簡短的文章將嘗試以非技術(shù)方式回答這些問題。希望在此之后,您將理解為什么一致性測試如此重要,為什么使用能夠正確執(zhí)行測試的測試實(shí)驗(yàn)室是至關(guān)重要的,以及在選擇EMC測試實(shí)驗(yàn)室時(shí)應(yīng)該考慮的因素。
2020-05-12 10:49:46
19456 ATE測試流程構(gòu)成 ? 包含多個(gè)測試項(xiàng) ? 多個(gè)測試項(xiàng)按照一定的先后順序或根據(jù)測試結(jié)果進(jìn)行跳轉(zhuǎn)執(zhí)行 ? 根據(jù)測試項(xiàng)結(jié)果,進(jìn)行分bin,以利于測試中的信息收集、良品等級區(qū)分和統(tǒng)計(jì) ? Soft
2020-12-01 08:00:00
3 ? 集成電路產(chǎn)品EMC測試系統(tǒng)是嚴(yán)格按照IEC 61967和IEC 62132系列進(jìn)行設(shè)計(jì),整套系統(tǒng)的功能和性能不僅能夠滿足上述兩大類標(biāo)準(zhǔn)要求的測試項(xiàng)目。而且在系統(tǒng)的關(guān)鍵技術(shù)具有創(chuàng)新性、實(shí)踐可行性
2020-12-28 10:41:57
4920 集成電路芯片的測試(ICtest)分類包括:分為晶圓測試(wafertest)、芯片測試(chiptest)和封裝測試(packagetest)。
2021-07-14 14:31:23
11085 
前言 當(dāng)今半導(dǎo)體測試工程師面臨的挑戰(zhàn)是如何尋找和創(chuàng)建一個(gè)新的測試解決方案,該方案被要求能夠顯著降低測試成本,并滿足可配置、開放架構(gòu)、靈活的測試解決方案的需求,這些解決方案可以提供與專用ATE平臺(tái)
2021-11-10 10:36:10
6 從工序角度上看,似乎非常容易區(qū)分cp測試和ft測試,沒有必要再做區(qū)分,而且有人會(huì)問,封裝前已經(jīng)做過測試把壞的芯片篩選出來了,封裝后為什么還要進(jìn)行一次測試呢?難道是封裝完成度不高影響了芯片的動(dòng)能嗎?不是的,因?yàn)閺?b class="flag-6" style="color: red">測試內(nèi)容上看,cp測試和ft測試有著非常明顯的不同。
2022-08-09 17:29:13
8127 效率是電源測試中十分常見的測試項(xiàng),高效的電源表現(xiàn)是眾多廠家一直追求的目標(biāo)。在芯片的規(guī)格書中,通常都會(huì)提供幾種常見的輸入輸出應(yīng)用下的效率曲線。當(dāng)實(shí)際的應(yīng)用范圍與規(guī)格書上不同,或者在demo板的基礎(chǔ)上
2022-12-01 16:19:42
2475 隨著半導(dǎo)體電子技術(shù)的進(jìn)步,老化測試已成為保證產(chǎn)品質(zhì)量的關(guān)鍵流程。除了半導(dǎo)體元件外,PCB、IC 和處理器部件也都需要在老化條件下進(jìn)行測試。本篇文章納米軟件Namisoft小編將帶大家分享一下關(guān)于芯片
2023-01-13 10:50:51
3731 
BNC線材可以通過線材測試機(jī)來進(jìn)行測試它的電阻、電壓、漏電流、斷/短路等參數(shù)。
2023-04-11 10:54:39
4748 在開始芯片測試流程之前應(yīng)先充分了解芯片的工作原理。要熟悉它的內(nèi)部電路,主要參數(shù)指標(biāo),各個(gè)引出線的作用及其正常電壓。芯片很敏感,所以測試的時(shí)候要注意不要引起引腳之間的短路,任何一瞬間的短路都能被捕
2023-04-25 15:13:12
4000 
芯片自動(dòng)化測試系統(tǒng)平臺(tái),并探討其在國產(chǎn)芯片研發(fā)中的應(yīng)用和前景。 ATECLOUD是一款由中國自主研發(fā)的自動(dòng)化測試系統(tǒng)平臺(tái),旨在為CPU芯片的研發(fā)和生產(chǎn)提供高效、準(zhǔn)確的測試解決方案。該平臺(tái)采用了先進(jìn)的軟件和硬件技術(shù),可以實(shí)現(xiàn)對CPU芯片的全面測試,
2023-05-30 16:02:03
2117 
之間,是針對整片晶圓中的每一個(gè)Die做測試,具體操作是在晶圓制作完成之后,成千上萬的裸DIE(未封裝的芯片)規(guī)則的分布滿整個(gè)Wafer。由于尚未進(jìn)行劃片封裝,只需要將這些裸露在外的芯片管腳,通過探針與測試機(jī)臺(tái)連接,進(jìn)行芯片測試就是CP測試。 二、為什么要做CP測試
2023-06-10 15:51:49
8151 
writer ) 進(jìn)行區(qū)分,前者負(fù)責(zé)測試平臺(tái)的構(gòu)建和配置,后者可能對測試平臺(tái)的底層了解較少,但用它來創(chuàng)建測試用例。 基于驗(yàn)證組件創(chuàng)建測試平臺(tái)的步驟是:? Review可重用的驗(yàn)證組件配置參數(shù)。? 實(shí)例化和配置驗(yàn)證組件。? 為接口驗(yàn)證組件創(chuàng)建可重用的sequences(可選)。? 添加一
2023-06-13 09:14:23
1316 
TPT中的測試用例用信號特征和函數(shù)調(diào)用描述被測系統(tǒng)的刺激。您可以用連續(xù)的測試步驟對簡單的測試進(jìn)行建模。對于更復(fù)雜的測試用例,TPT提供了混合狀態(tài)機(jī)和測試步驟的圖形化建模。無論應(yīng)用哪種方法,由于使用了
2022-11-25 11:15:50
1924 
為什么要進(jìn)行半導(dǎo)體芯片測試?芯片測試的目的是在找出沒問題的芯片的同時(shí)盡量節(jié)約成本。芯片復(fù)雜度越來越高,為了保證出廠的芯片質(zhì)量不出任何問題,需要在出廠前進(jìn)行測試以確保功能完整性等。而芯片作為一個(gè)大
2022-12-29 16:33:29
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DCTEST什么是芯片直流特性測試?芯片測試中的直流(DC)特性測試是指通過測量芯片的直流電特性參數(shù)(例如電流、電壓、電阻)來驗(yàn)證芯片電學(xué)性能是否符合設(shè)計(jì)要求的過程。這些測試通常包括以下方面:電源
2023-05-16 09:54:43
5006 
在芯片測試中,分類和選擇是關(guān)鍵的步驟,以確保芯片的質(zhì)量和可靠性。根據(jù)不同的測試目標(biāo)和要求,可以采用不同的分類方法和選擇策略。
2023-06-30 13:50:22
1364 在IC芯片測試中,芯片測試座起著至關(guān)重要的作用。它是連接芯片和測試設(shè)備的關(guān)鍵橋梁,為芯片提供測試所需的電流和信號。
2023-07-25 14:02:50
1543 芯片封裝測試有技術(shù)含量嗎?封裝測試是干嘛的?? 芯片封裝測試是指針對生產(chǎn)出來的芯片進(jìn)行封裝,并且對封裝出來的芯片進(jìn)行各種類型的測試。封裝測試是芯片生產(chǎn)過程中非常關(guān)鍵的一環(huán),而且也需要高度的技術(shù)含量
2023-08-24 10:41:57
6907 芯片測試大講堂系列 又和大家見面了 本期我們來聊聊 半導(dǎo)體參數(shù)測試 內(nèi)容涉及半導(dǎo)體參數(shù)測試原理, 參數(shù)測試面臨的挑戰(zhàn)與實(shí)測避坑指南。 前言 ● 半導(dǎo)體元器件是構(gòu)成現(xiàn)代電子設(shè)備和系統(tǒng)的基礎(chǔ),其性能
2023-09-13 07:45:02
5532 
進(jìn)行各種測試成為可能。測試座確保了測試的準(zhǔn)確性和一致性,它可以測試芯片的功能、性能、耐久性和其他參數(shù)。一、芯片測試座的主要組成和類型組成:連接器:負(fù)責(zé)將測試座與測
2023-10-07 09:29:44
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軟件即可完成靜態(tài)功耗的測量,不同參數(shù)的配置與儀器操作完全由軟件完成,無需人工修改參數(shù)與讀取記錄數(shù)據(jù),可以一次對多個(gè)芯片進(jìn)行同時(shí)測量。
2023-10-08 15:30:25
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電學(xué)測試是芯片測試的一個(gè)重要環(huán)節(jié),用來描述和評估芯片的電性能、穩(wěn)定性和可靠性。芯片電學(xué)測試包括直流參數(shù)測試、交流參數(shù)測試和高速數(shù)字信號性能測試等。
2023-10-26 15:34:14
3077 開關(guān)器件,常用于控制高電壓和高電流的電力電子設(shè)備中。IGBT短路測試是在IGBT生產(chǎn)和維修過程中常用的一項(xiàng)關(guān)鍵測試,旨在檢測IGBT是否存在電路短路故障。 IGBT短路測試平臺(tái)是一種用于進(jìn)行IGBT
2023-11-09 09:18:29
3948 IC芯片測試基本原理是什么? IC芯片測試是指對集成電路芯片進(jìn)行功能、可靠性等方面的驗(yàn)證和測試,以確保其正常工作和達(dá)到設(shè)計(jì)要求。IC芯片測試的基本原理是通過引入測試信號,檢測和分析芯片的響應(yīng),以判斷
2023-11-09 09:18:37
3194 芯片電學(xué)測試如何進(jìn)行?包含哪些測試內(nèi)容? 芯片電學(xué)測試是對芯片的電學(xué)性能進(jìn)行測試和評估的過程。它是保證芯片質(zhì)量和可靠性的重要環(huán)節(jié),通過測試可以驗(yàn)證芯片的功能、性能和穩(wěn)定性,從而確保芯片可以在實(shí)際
2023-11-09 09:36:48
2759 芯片電源輸入電流怎么測試? 芯片電源輸入電流的測試是一項(xiàng)關(guān)鍵的工作,它能夠幫助我們了解電源系統(tǒng)的性能和穩(wěn)定性。在本文中,我們將詳細(xì)介紹如何進(jìn)行芯片電源輸入電流測試,并提供一些實(shí)用的技巧和建議。 首先
2023-11-09 09:42:29
2802 如何用集成電路芯片測試系統(tǒng)測試芯片老化? 集成電路芯片老化測試系統(tǒng)是一種用于評估芯片長期使用后性能穩(wěn)定性的測試設(shè)備。隨著科技的進(jìn)步和電子產(chǎn)品的廣泛應(yīng)用,人們對芯片的可靠性要求日益增高,因此老化測試
2023-11-10 15:29:05
2239 為什么需要芯片靜態(tài)功耗測試?如何使用芯片測試工具測試芯片靜態(tài)功耗? 芯片靜態(tài)功耗測試是評估芯片功耗性能和優(yōu)化芯片設(shè)計(jì)的重要步驟。在集成電路設(shè)計(jì)中,靜態(tài)功耗通常是指芯片在不進(jìn)行任何操作時(shí)消耗的功率
2023-11-10 15:36:27
3820 為什么要測試芯片上下電功能?芯片上電和下電功能測試的重要性? 芯片上下電功能測試是集成電路設(shè)計(jì)和制造過程中的一個(gè)重要環(huán)節(jié)。它是確保芯片在正常的上電和下電過程中能夠正確地執(zhí)行各種操作和功能的關(guān)鍵部分
2023-11-10 15:36:30
2857 電源芯片測試旨在檢測電源管理芯片的質(zhì)量和性能,保證其可以長期穩(wěn)定工作。電源芯片測試的參數(shù)主要有輸入/輸出電壓、輸出電流、效率、溫度、功耗等。本文將對電源芯片測試參數(shù)以及測試注意事項(xiàng)進(jìn)行介紹。
2023-11-15 15:39:11
3530 智能網(wǎng)聯(lián)汽車虛擬仿真測試平臺(tái)主要用于智能網(wǎng)聯(lián)汽車自動(dòng)駕駛功能的仿真測試。平臺(tái)內(nèi)置多個(gè)測試場景庫,嵌入先進(jìn)的自動(dòng)駕駛算法,可在系統(tǒng)中進(jìn)行場景搭建、多種型號車輛的選擇、單個(gè)或多種傳感器配置等測試項(xiàng)目。
2023-11-20 17:22:21
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車規(guī)芯片為什么要進(jìn)行三溫測試? 車規(guī)芯片,也被稱為汽車惡劣環(huán)境芯片,是一種專門用于汽車電子系統(tǒng)的集成電路芯片。車規(guī)芯片需要進(jìn)行三溫測試,是因?yàn)槠嚬ぷ鳝h(huán)境極其復(fù)雜,溫度變化范圍廣,從極寒的寒冷地區(qū)到
2023-11-21 16:10:48
7481 汽車功能安全芯片測試? 汽車功能安全芯片測試是保障汽車安全性能的重要環(huán)節(jié),也是汽車產(chǎn)業(yè)發(fā)展的關(guān)鍵部分。隨著汽車智能化技術(shù)的不斷進(jìn)步,車輛上搭載的各種智能功能也越來越多,這些功能倚賴于安全芯片來保障其
2023-11-21 16:10:51
2250 WAT需要標(biāo)注出測試未通過的裸片(die),只需要封裝測試通過的die。
FT是測試已經(jīng)封裝好的芯片(chip),不合格品檢出。WAT和FT很多項(xiàng)目是重復(fù)的,F(xiàn)T多一些功能性測試。WAT需要探針接觸測試點(diǎn)(pad)
2024-04-17 11:37:20
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隨著集成電路技術(shù)的飛速發(fā)展,芯片作為現(xiàn)代電子設(shè)備的核心組件,其性能和質(zhì)量對于整個(gè)系統(tǒng)的穩(wěn)定性和可靠性具有至關(guān)重要的影響。因此,在芯片生產(chǎn)過程中,出廠測試和ATE(自動(dòng)測試設(shè)備)測試成為了確保芯片質(zhì)量的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。本文將詳細(xì)介紹芯片的出廠測試和ATE測試是如何進(jìn)行的。
2024-04-19 10:31:45
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CP(Chip Probing)測試也叫晶圓測試(wafer test),也就是在芯片未封裝之前對wafer進(jìn)行測試,這樣就可以把有問題的芯片在封裝之前剔除出來,節(jié)約封裝和FT的成本。
2024-04-20 17:55:18
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射頻測試是無線通信系統(tǒng)中非常重要的一環(huán),它涉及到許多參數(shù)的測試。 射頻測試概述 射頻(Radio Frequency,簡稱RF)測試是無線通信系統(tǒng)中對射頻信號進(jìn)行性能評估和質(zhì)量保證的一種方法。射頻
2024-05-28 15:35:22
5737 SOC(System on Chip,芯片上的系統(tǒng))芯片的測試是一個(gè)復(fù)雜且全面的過程,涉及多個(gè)參數(shù)和模塊。以下是對SOC芯片測試的主要參數(shù)和模塊的歸納: 一、測試參數(shù) 電性能測試 : 電壓 :包括
2024-09-23 10:13:18
4420 近日,半導(dǎo)體測試設(shè)備領(lǐng)域的龍頭企業(yè)Advantest愛德萬測試集團(tuán)的首席執(zhí)行官Douglas Lefever在接受英國媒體采訪時(shí),就現(xiàn)代先進(jìn)芯片的測試需求發(fā)表了見解。 Lefever指出,隨著芯片
2025-01-03 14:26:20
925 、數(shù)據(jù)傳輸?shù)?。這可以通過專業(yè)的測試設(shè)備或測試手機(jī)來進(jìn)行。功能測試是確保網(wǎng)絡(luò)基本功能正常運(yùn)行的基礎(chǔ)。 二、信號質(zhì)量測試 測試FDD網(wǎng)絡(luò)的信號質(zhì)量,包括信號強(qiáng)度、信噪比(SNR)、誤碼率等參數(shù)。這些參數(shù)是衡量網(wǎng)絡(luò)性能的重要指標(biāo)。測試可以使用專業(yè)的信號質(zhì)量測試儀器或
2025-01-07 17:20:42
1289 在芯片行業(yè),可靠性測試是確保產(chǎn)品性能的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。金鑒實(shí)驗(yàn)室作為專業(yè)的檢測機(jī)構(gòu),提供全面的芯片可靠性測試服務(wù),幫助企業(yè)在激烈的市場競爭中保持領(lǐng)先。預(yù)處理(Preconditioning,PC)預(yù)處理
2025-03-04 11:50:55
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Test):對封裝完成后的每顆芯片進(jìn)行功能和電參數(shù)測試,分出芯片好壞或分等級。國內(nèi)分選機(jī)的重任工作還是用于芯片成品測試,測試平臺(tái)主要包括測試機(jī)、分選機(jī)、測試座等設(shè)備和材料,在芯片成片環(huán)節(jié)主要流程和晶圓測試類似: ? 傳送:分選機(jī)將
2025-04-23 09:13:40
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fA級電流和kV級電壓精度。 ? 關(guān)鍵參數(shù) ?: ? 靜態(tài)特性 ?:閾值電壓(Vth)、導(dǎo)通電阻(Ron)、擊穿電壓(BV)、漏電流(Leakage)。 ? 測試步驟 ?: 施加階梯電壓掃描,同步記錄電流響應(yīng); 通過V-I曲線提取參數(shù)(如Ron = ΔV/ΔI)。 ? 應(yīng)用范圍 ?:二極管
2025-06-27 13:27:23
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晶體管參數(shù)測試技術(shù) ? ? 一、測試參數(shù)體系 ? 晶體管參數(shù)測試主要涵蓋三大類指標(biāo): ? 靜態(tài)參數(shù) ? 直流放大系數(shù)(hFE):反映晶體管電流放大能力,可通過專用測試儀或萬用表hFE檔測量
2025-07-29 13:54:36
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在半導(dǎo)體測試領(lǐng)域,高性能、高可靠性的測試設(shè)備是保障芯片品質(zhì)與量產(chǎn)效率的核心關(guān)鍵。目前上海季豐電子已經(jīng)具備上海御渡K8000芯片測試平臺(tái)的硬件開發(fā)設(shè)計(jì)能力。
2025-08-28 16:59:16
1683 用例是項(xiàng)目開始的關(guān)鍵,利用白盒和黑盒覆蓋,保證產(chǎn)品質(zhì)量。根據(jù)芯片功能,目標(biāo)市場,進(jìn)行測試立項(xiàng):依據(jù)BRD/MRD/PRD;計(jì)劃:測試需求分析、人力資源時(shí)間線;測試用例設(shè)
2025-09-05 10:04:21
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在電能質(zhì)量在線監(jiān)測裝置的數(shù)據(jù)管理平臺(tái)(以下簡稱 “平臺(tái)”)中, 壓力測試的核心目標(biāo)是驗(yàn)證平臺(tái)在高負(fù)載(如海量數(shù)據(jù)接入、高并發(fā)查詢、峰值業(yè)務(wù)流量)下的穩(wěn)定性、性能瓶頸及容錯(cuò)能力 ,確保其滿足實(shí)際運(yùn)行中
2025-09-19 13:57:50
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汽車測試領(lǐng)域,在模型測試階段進(jìn)行故障注入,是保障汽車安全性、可靠性的關(guān)鍵手段。如何提高故障注入測試的效率呢?
2025-12-10 13:51:56
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、智能化數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)及燒錄重構(gòu)。國內(nèi)生態(tài)需封測廠、設(shè)備商、設(shè)計(jì)公司緊密協(xié)作,本土化協(xié)同加速國產(chǎn)高端芯片量產(chǎn),測試方案成先進(jìn)封裝落地關(guān)鍵。
2025-12-22 14:23:14
192 ATE(自動(dòng)測試設(shè)備)是芯片出廠前的關(guān)鍵“守門人”,負(fù)責(zé)篩選合格品。其工作流程分為測試程序生成載入、參數(shù)測量與功能測試(含直流、交流參數(shù)及功能測試)、分類分檔與數(shù)據(jù)分析三階段,形成品質(zhì)閉環(huán)。為平衡
2026-01-04 11:14:29
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