無(wú)論在研究實(shí)驗(yàn)室還是生產(chǎn)線，都要對(duì)封裝器件或在晶圓上的元器件I-V測(cè)試。元器件I-V特性分析通常需要高靈敏電流表、電壓表、電壓源和電流源。對(duì)所有分離儀器進(jìn)行編程、同步和連接，既麻煩又耗時(shí)，而且需要大量機(jī)架或測(cè)試臺(tái)空間。為了簡(jiǎn)化測(cè)試，縮小機(jī)架空間，單一設(shè)備數(shù)字源表應(yīng)運(yùn)而生，那么如此受歡迎的數(shù)字源表在選購(gòu)時(shí)需要注意哪些事項(xiàng)呢？在選購(gòu)數(shù)字源表時(shí)，您需了解的幾個(gè)知識(shí)點(diǎn)：

1.源的輸出范圍

這個(gè)輸出范圍包括電流輸出范圍和電壓輸出范圍。例如：Precise S300：其電流輸出最大范圍為1A，電壓輸出最大范圍為300V；Precise S200：其電流輸出最大范圍為1A，電壓輸出最大范圍為100V；Precise S100：其電流輸出最大范圍為1A，電壓輸出最大范圍為30V。在這里請(qǐng)注意：由于源表有總功率的限制，其輸出不能同時(shí)達(dá)到電流輸出和電壓輸出的最大值，而是在不同的區(qū)間，其輸出范圍有不同的限制，因此我們?cè)谶x購(gòu)源表的時(shí)候，一定要考慮到需要測(cè)量的樣品器件的電流電壓的最大范圍，然后參考儀器的參數(shù)手冊(cè)，看是否符合測(cè)試要求。

2.測(cè)量的精度

這里測(cè)量的精度包含了電流測(cè)量精度和電壓測(cè)量精度。在實(shí)踐當(dāng)中，用戶關(guān)心更多的是電流的測(cè)量精度，同樣值得注意的是源表的測(cè)量精度也是分量程的，并不是全范圍的精度都是一樣，例如在1uA范圍內(nèi)的量程其精度比1mA，10mA要高很多。用戶常?；煜囊粋€(gè)概念是量程和測(cè)量精度的關(guān)系，量程是一個(gè)檔位的概念，相當(dāng)于在這個(gè)檔位測(cè)量的最大值、而測(cè)量精度是在該量程內(nèi)測(cè)量的分辨率及準(zhǔn)確度，我們舉個(gè)例子：例如一個(gè)稱重的儀器，100克是它的一個(gè)檔位，也就是說(shuō)在這個(gè)檔位，它最大能稱重100克的物體，但測(cè)量精度根據(jù)精密程度可能是精確到1微克，1毫克等等。

具體的測(cè)量精度就可以參考每種型號(hào)的Datasheet（數(shù)據(jù)表）。

3.通道數(shù)

一般情況下的源表只有一個(gè)通道，也就是只有一路測(cè)量及輸出通道，雖然有的源表有前后兩個(gè)面板都可以接線，但在使用的時(shí)候只能選擇某一個(gè)面板輸出。單通道的源表包括：S100、S200、S300型；雙通道的源表可以理解為兩個(gè)單通道的源表集成在了一起，這樣一臺(tái)雙通道的源表就可以直接測(cè)試三端器件，利用2臺(tái)Precise S型源表即可達(dá)到雙通道的效果。還有一些用戶認(rèn)為四線法測(cè)量需要雙通道的源表才能完成，實(shí)際上任何一款單通道的源表都直接支持4線法的測(cè)量，跟雙通道沒(méi)有任何關(guān)系（我們?cè)谝院髸?huì)介紹四線制的測(cè)量原理）。

4.測(cè)量的速度（采樣率）

除了精度和測(cè)量范圍之外，測(cè)量的速度是用戶最關(guān)心的問(wèn)題了，我們經(jīng)常會(huì)聽(tīng)到用戶這么問(wèn)：這款表一秒鐘能采多少個(gè)點(diǎn)？指標(biāo)上明明寫著每秒能采XXX個(gè)點(diǎn)，怎么實(shí)際上一秒鐘才幾個(gè)點(diǎn)，相差幾十倍？采樣率不是一個(gè)固定的數(shù)值、它受到很多因素的影響，其中有以下幾個(gè)主要因素：NPLC（積分周期）：這個(gè)值越大，測(cè)量的精確性和穩(wěn)定性越好，但測(cè)量的速度越慢。測(cè)量信號(hào)的大小及量程：固定量程比自動(dòng)量程要快，在自動(dòng)量程的情況下，如果測(cè)量電流信號(hào)很?。ㄓ绕涫窃?a target="_blank">光電器件的暗電流的時(shí)候），其采樣速度會(huì)大幅下降。

5.是否支持脈沖輸出

目前普賽斯儀表的S系列源表是不支持脈沖的?

6.關(guān)于軟件

S系列軟件，兼容2400和2450，對(duì)使用2400和2450搭建的已有測(cè)試系統(tǒng)，可以實(shí)現(xiàn)替換，而無(wú)需修改測(cè)試系統(tǒng)軟件。

7.關(guān)于測(cè)試搭建

簡(jiǎn)易測(cè)試連接電極直接測(cè)試，其它要求可采取與探針臺(tái)，測(cè)試機(jī)配套使用。

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