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電子發(fā)燒友網(wǎng)>今日頭條>光致抗蝕劑剝離和清洗對器件性能的影響

光致抗蝕劑剝離和清洗對器件性能的影響

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。光線穿過薄膜的透明部分,使下面的銅上的硬化。繪圖儀的黑色墨水可防止光線到達不希望硬化的區(qū)域,因此將其清除?! “鍦蕚浜煤?,用堿性溶液洗滌,以除去任何未硬化的。最后的壓力清洗將去
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光刻膠在集成電路制造中的應(yīng)用

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2019-11-07 09:00:18

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印刷線路板及其加工

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雙面FPC制造工藝

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2021-07-21 11:25:3718006

多層PCB內(nèi)層的光刻工藝每個階段需要做什么

多層PCB內(nèi)層的光刻工藝包括幾個階段,接下來詳細為大家介紹多層PCB內(nèi)層的光刻工藝每個階段都需要做什么。 PART.1 在第一階段,內(nèi)層穿過化學(xué)制劑生產(chǎn)線。銅表面會出現(xiàn)粗糙度,這對于的最佳
2021-09-05 10:00:162856

顯影溫度對光刻膠溶解影響的新模型

引言 顯影過程中顯影溶液的溫度會對抗性能產(chǎn)生重大影響。速度隨著溫度以復(fù)雜的方式變化,通常導(dǎo)致“更快”的工藝的反直覺結(jié)果。顯影速率對劑量(或?qū)γ艋瘎舛?曲線的形狀也將隨溫度發(fā)生顯著變化
2022-01-04 17:17:112317

關(guān)于濕蝕刻中蝕刻擴散到深紫外光刻膠中的研究報告

,必須:1)保證光刻膠粘附,防止圖案被蝕刻;2)防止蝕刻滲透到/材料界面。為了避免后一種現(xiàn)象,了解蝕刻是否穿透光刻膠以及其擴散速率是至關(guān)重要的。 蝕刻垂直滲透的界面修飾已經(jīng)在之前的工作中得到了證明。我
2022-01-18 15:20:01914

改善去除負光刻膠效果的方法報告

刻膠AZ703的自旋速度為3000r/min,厚度為1.10um,對光刻膠的去除有顯著影響。為了最小化頂層與襯底物接觸的面積,進一步減少浮渣,我們選擇了8μm作為底層的最佳縮回距離d。 導(dǎo)讀 一般來說,負具有良好的特性作為掩
2022-01-26 11:43:221169

堿性濕法蝕刻的評價及應(yīng)用

本文主要報道了ProTEK PSB在實際應(yīng)用條件下的圖形化特性、性和去除特性。研究發(fā)現(xiàn)了ProTEK PSB的兩個問題:不可接受的大側(cè)刻和有機溶劑或氧化灰難以去除引物。為了制造一個lsi集成
2022-02-09 15:25:401116

《華林科納-半導(dǎo)體工藝》光刻膠剝離清洗

。 發(fā)明領(lǐng)域 本發(fā)明一般涉及半導(dǎo)體制造,更具體地涉及剝離和/或清潔半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)的金屬或金屬硅化物區(qū)域的方法。 發(fā)明背景 電互連技術(shù)通常需要金屬或其他導(dǎo)電層或區(qū)域之間的電連接,這些導(dǎo)電層或區(qū)域位于半導(dǎo)體襯底內(nèi)或
2022-02-24 13:45:531374

光刻膠層的去除方法丨結(jié)果與討論

。氣溶膠處理旨在破壞和部分去除植入的結(jié)痂頂層,在該表面產(chǎn)生圓形開口,直徑為數(shù)十至數(shù)百微米。在經(jīng)過氣溶膠預(yù)處理的晶片碎片浸入熱的 H2SO4/H2O2 混合物 (SPM) 后,光學(xué)顯微鏡或局部 SEM 檢測均未檢測到。 下一代器件面臨的最關(guān)鍵挑戰(zhàn)之一是有效去除離子注入后的
2022-02-28 15:00:181591

光刻中接觸孔和溝槽的雙重構(gòu)圖策略

摘要 一種光刻圖案化方法包括在基板上形成第一圖案,第一圖案在基板上包括多個開口;在基板上以及在第一圖案的多個開口內(nèi)形成第二圖案,第二圖案在基板上包括至少一個開口。去除
2022-03-01 14:37:31875

用于微系統(tǒng)的先進光刻膠技術(shù)

對用于微加工微系統(tǒng)(MST)產(chǎn)品的高縱橫比的發(fā)展的日益增長的興趣導(dǎo)致了許多商業(yè)上可獲得的產(chǎn)品的可用性。本文詳細描述了三種的應(yīng)用,即EPON SU-8、Clariant AZ
2022-03-04 15:05:201178

氫氧化鉀在凸角處的蝕刻行為

,在實現(xiàn)晶片通孔互聯(lián)的情況下,圓角是必須的。尖角增加了破裂的風(fēng)險,破裂用于圖案化下面的金屬。因此,了解最常見的各向異性蝕刻(氫氧化鉀)的蝕刻行為以及圓角的形狀非常重要。本文通過蝕刻
2022-03-07 15:26:14966

二氧化碳溶解水清洗方法

兆頻超聲波清洗已被用于去除集成電路器件的硅晶片制造中的缺陷,例如顆粒和聚合物/殘留物。然而,隨著器件技術(shù)節(jié)點的縮小,兆頻超聲波清洗正面臨著保持高清洗效率的挑戰(zhàn),這種高清洗效率是由較小顆粒的穩(wěn)定
2022-03-08 14:05:541618

正極極片激光清洗技術(shù)的亮點有哪些

激光,具有單色性、方向性好、亮度高等特點。在工業(yè)領(lǐng)域中,用激光作為能量源的常見應(yīng)用有:激光切割、激光焊接、激光打標、激光清洗等技術(shù)。其中,激光清洗技術(shù)是利用激光能量使材料表面的涂層或污物發(fā)生加熱、氣化、燒、剝離從而實現(xiàn)清洗的一種新型綠色清洗技術(shù)。
2022-03-14 11:55:591272

采用雙層法去除負光刻膠

本文提出了一種新型的雙層方法來減少負浮渣。選擇正光刻膠作為底層,選擇負光刻膠作為頂層膠。研究了底層的粘度和厚度對浮渣平均數(shù)量的影響。實驗表明,低粘度正光刻膠AZ703
2022-03-24 16:04:231451

詳解無臭氧剝離工藝

近年來,掩模剝離和清潔技術(shù)的發(fā)展主要是由于行業(yè)需要通過從這些過程中消除硫酸和氫氧化銨來防止表面霧霾的形成。因此,傳統(tǒng)的 SPM (H2SO4 + H2O2) 被臭氧水 (DIO3) 取代
2022-03-30 14:32:311109

兩種不同類型的兆頻超聲波清洗方法

兆頻超聲波清洗已被用于去除集成電路器件的硅晶片制造中的缺陷,例如顆粒和聚合物/殘留物。然而,隨著器件技術(shù)節(jié)點的縮小,兆頻超聲波清洗正面臨著保持高清洗效率的挑戰(zhàn),這種高清洗效率是由較小顆粒的穩(wěn)定
2022-03-30 14:33:501569

光刻膠剝離掩模清潔的工藝順序

本文一般涉及處理光掩模的領(lǐng)域,具體涉及用于從掩模上剝離和/或清洗集成電路制造中使用的掩模的設(shè)備和方法。
2022-04-01 14:26:371027

通過光敏的濕蝕刻滲透

本文研究了通過光敏的濕蝕刻滲透。后者能夠非??焖俚仨憫?yīng)選擇濕蝕刻/聚合物的兼容性,以保護下面的膜不被降解。如今,大多數(shù)材料圖案化是用等離子蝕刻而不是濕法蝕刻來進行的。事實上,與通常
2022-04-06 13:29:191222

通過光敏的濕蝕刻滲透研究

本文研究了通過光敏的濕蝕刻滲透。后者能夠非??焖俚仨憫?yīng)選擇濕蝕刻/聚合物的兼容性,以保護下面的膜不被降解。如今,大多數(shù)材料圖案化是用等離子蝕刻而不是濕法蝕刻來進行的。事實上,與通常
2022-04-22 14:04:191138

濕法蝕刻過程中影響對GaAs粘附的因素

最顯著的粘附性改進是在涂覆之前立即結(jié)合了天然氧化物蝕刻。除了改善粘附性,這種預(yù)涂處理還改變了GaAs,使得與未經(jīng)表面處理的晶片相比,反應(yīng)限制蝕刻更加各向同性;輪廓都具有正錐度方向,但錐角
2022-05-10 15:58:321010

光刻膠剝離工藝的基本原理

雖然通過蝕刻的結(jié)構(gòu)化是通過(例如)掩模對襯底的全表面涂層進行部分腐蝕來完成的,但是在剝離過程中,材料僅沉積在不受掩模保護的位置。本文章描述了獲得合適的掩模的要求、涂層方面的問題,以及最終去除其沉積材料的掩模。
2022-05-12 15:42:443519

鍺基襯底剝離工藝研究

具有高k柵極電介質(zhì)的鍺和絕緣體上鍺(GeOI)MOSFET由于鍺比硅具有更好的載流子傳輸特性,最近受到了先進技術(shù)節(jié)點的關(guān)注。對于Ge或GeOI CMOS,必須確定Ge專用的剝離工藝,因為鍺
2022-05-25 16:43:16983

非晶碳層的刻蝕特性研究

介紹 隨著半導(dǎo)體器件的小型化和超大規(guī)模集成(VLSI)電路的圖案密度的增加,單個掩模不再適用于細線圖案化和接觸圖案化。 盡管單光刻膠掩模工藝被認為是器件制造中的簡單工藝,但在接觸氧化物期間
2022-06-13 15:24:492394

新GaAs IC 金屬剝離的方法

在圖案化的上濺射或蒸發(fā)金屬,然后剝離金屬,傳統(tǒng)上用于在砷化鎵晶片處理中定義互連,在剝離工藝中,首先在襯底上沉積并圖案化諸如的犧牲材料,然后將金屬沉積在頂部,隨后通過暴露于溶劑浸泡
2022-06-27 17:21:551602

什么是臥式剝離推拉力機?廠商、參數(shù)

臥式剝離推拉力機 ,型號為SGL-8001W,是一種用于伏行業(yè)硅料、硅片、電池片、電池組件等產(chǎn)品的剝離力、抗拉強度等參數(shù)測試的專用儀器,根據(jù)不同參數(shù)測試應(yīng)配備相應(yīng)的冶具及機臺形式,可進行設(shè)備儀器的定制。
2022-12-14 13:41:331174

半導(dǎo)體的制造工序介紹 干法刻蝕設(shè)備溫度控制原理

清洗硅晶片,在其上形成諸如金屬或絕緣膜的薄膜,并且通過光刻形成用于電路圖案的掩模。然后,通過干法蝕刻進行實際加工,去除并清洗不需要的,并檢查圖案尺寸。在這里,光刻和干法蝕刻這兩種技術(shù)被稱為微細加工。
2023-01-05 14:16:055024

電子剝離試驗機都有什么類型?剝離試驗機的意義是什么?

電子剝離試驗機適用于膠黏、膠粘帶、不干膠、復(fù)合膜、人造革、編織袋、薄膜、紙張、電子載帶等相關(guān)產(chǎn)品的剝離、剪切、拉斷等性能測試。電子剝離試驗機有立式和臥式兩種結(jié)構(gòu),顯示方面又可分為LCD數(shù)顯和電腦顯示兩種。
2023-04-19 10:25:421686

再談剝離的藝術(shù)和科學(xué)

消費電子和工業(yè)用電子技術(shù)領(lǐng)域取得了相當大的發(fā)展;如今的電子設(shè)備價格合理,效率高,而且體積小,便于攜帶。然而,這些發(fā)展給生產(chǎn)那些更小、更便攜設(shè)備所需元器件的制造商帶來了挑戰(zhàn)。
2023-05-31 11:30:37900

低能量電子束曝光技術(shù)

直接蝕刻和剝離是兩種比較流行的圖案轉(zhuǎn)移工藝。在直接蝕刻工藝中,首先使用光刻技術(shù)對聚合物進行構(gòu)圖,然后通過干法蝕刻技術(shù)用作為掩模將圖案轉(zhuǎn)移到襯底或子層上。
2023-09-07 09:57:141088

腐蝕pcb板的溶液是什么

氧化還原成蝕刻的過程,F(xiàn)e3在銅表面將銅氧化成氯化亞銅,F(xiàn)e3被還原成Fe2。三氯化鐵+銅二氯化鐵+氯化銅,氯化銅具有還原性,可進一步與三氯化鐵反應(yīng)生成氯化銅。像絲網(wǎng)PCB線路板、液體、干膜、金等具有層的PCB線路板的
2023-10-08 09:50:223795

關(guān)于pcb顯影不凈的原因及解決方法

干膜顯影性不良,超期使用。上述已講過干膜,其結(jié)構(gòu)有三部分構(gòu)成:聚酯薄膜、膜及聚乙烯保護膜。在紫外光照射下,干膜與銅箔板表面之間產(chǎn)生良好的粘結(jié)力,起到電鍍和蝕刻的作用。
2023-12-26 16:17:492918

2023年中國光刻膠行業(yè)市場前景及投資研究報告

光刻膠又稱,是指通過紫外、電子束、離子束、X射線等的照射或輻射,其溶解度發(fā)生變化的耐蝕刻薄膜材料,是半導(dǎo)體制造中使用的核心電子材料之一。伴隨著晶圓制造規(guī)模持續(xù)提升,中國有望承接半導(dǎo)體
2024-01-19 08:31:241601

三星擬應(yīng)用金屬氧化物(MOR)于DRAM EUV光刻工藝

據(jù)悉,MOR作為被廣泛看好的下一代光刻膠(PR)解決方案,有望替代現(xiàn)今先進芯片光刻工藝中的化學(xué)放大膠(CAR)。然而,CAR在提升PR分辨率、增強能力及降低線邊緣粗糙度上的表現(xiàn)已無法滿足當前晶圓制造的產(chǎn)業(yè)標準。
2024-04-30 15:09:132888

激光指向穩(wěn)定在光刻系統(tǒng)應(yīng)用中的關(guān)鍵作用及其優(yōu)化方案

。光刻半導(dǎo)體芯片二氧化硅的主要步驟包括涂布光、套準掩模板并曝光、用顯影液溶解未感光的層、用腐蝕液溶解掉無光保護的二氧化硅層,以及去除已感
2024-06-27 08:16:054415

改性EVA膠膜在伏封裝中的PID性能對比研究

伏組件的PID性能影響組件的發(fā)電效率和使用壽命,被伏行業(yè)廣泛關(guān)注。EVA膠膜是伏組件的主要封裝材料之一,其具有優(yōu)異的性價比,但隨著伏行業(yè)技術(shù)革新,對封裝材料PID要求越來越高。實驗兩種
2025-01-22 09:02:271515

晶圓清洗設(shè)備概述

晶圓經(jīng)切割后,表面常附著大量由聚合物、及蝕刻雜質(zhì)等組成的顆粒物,這些物質(zhì)會對后續(xù)工序中芯片的幾何特征與電性能產(chǎn)生不良影響。顆粒物與晶圓表面的粘附力主要來自范德華力的物理吸附作用,因此業(yè)界主要采用物理或化學(xué)方法對顆粒物進行底切處理,通過逐步減小其與晶圓表面的接觸面積,最終實現(xiàn)脫附。
2025-06-13 09:57:01866

減少光刻膠剝離工藝對器件性能影響的方法及白光干涉儀在光刻圖形的測量

? ? 引言 ? 在半導(dǎo)體制造領(lǐng)域,光刻膠剝離工藝是關(guān)鍵環(huán)節(jié),但其可能對器件性能產(chǎn)生負面影響。同時,光刻圖形的精確測量對于保證芯片制造質(zhì)量至關(guān)重要。本文將探討減少光刻膠剝離工藝影響的方法,并介紹白光
2025-06-14 09:42:56736

金屬低蝕刻率光刻膠剝離液組合物應(yīng)用及白光干涉儀在光刻圖形的測量

引言 在半導(dǎo)體及微納制造領(lǐng)域,光刻膠剝離工藝對金屬結(jié)構(gòu)的保護至關(guān)重要。傳統(tǒng)剝離液易造成金屬過度蝕刻,影響器件性能。同時,光刻圖形的精確測量是保障工藝質(zhì)量的關(guān)鍵。本文將介紹金屬低蝕刻率光刻膠剝離液組合
2025-06-24 10:58:22565

槽式清洗和單片清洗最大的區(qū)別是什么

(如半導(dǎo)體晶圓、伏硅片、金屬零件等),通常以“槽”為單位裝載。適用場景:適合大批量生產(chǎn),尤其是對清潔度要求一且工藝相同的產(chǎn)品(如集成電路封裝前的引腳清洗、汽車零
2025-06-30 16:47:491175

封裝清洗流程大揭秘:保障半導(dǎo)體器件性能的核心環(huán)節(jié)

:根據(jù)封裝材料和污染物的類型選擇合適的化學(xué)清洗劑。例如,對于有機物污染,可以使用含有表面活性的堿性溶液;對于金屬氧化物和無機鹽污染,則可能需要酸性清洗液。在這個階段,通常會將器件浸泡在清洗液中一段時間,并通過
2025-11-03 10:56:20146

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