--- 產(chǎn)品參數(shù) ---
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--- 產(chǎn)品詳情 ---
中圖儀器CP系列接觸式臺階儀是利用光學(xué)干涉原理,可以對微米和納米結(jié)構(gòu)進行膜厚和薄膜高度、表面形貌、表面波紋和表面粗糙度等的測量。是一種接觸式表面形貌測量儀器。

CP系列接觸式臺階儀廣泛應(yīng)用于:大學(xué)、研究實驗室和研究所、半導(dǎo)體和化合物半導(dǎo)體、高亮度LED、太陽能、MEMS微機電、觸摸屏、汽車、醫(yī)療設(shè)備等行業(yè)領(lǐng)域。如在太陽能光伏行業(yè)中,通過測量膜層表面的臺階高度來計算出膜層的厚度,具有測量精度高、測量速度快、適用范圍廣等優(yōu)點。它可以測量各種材料的膜層厚度,包括金屬、陶瓷、塑料等。
產(chǎn)品特性
1.出色的重復(fù)性和再現(xiàn)性,滿足被測件測量精度要求
線性可變差動電容傳感器(LVDC),具有亞埃級分辨率,13um量程下可達0.01埃。高信噪比和低線性誤差,使得產(chǎn)品能夠掃描到幾納米至幾百微米臺階的形貌特征。
2.超微力恒力傳感器:(1-50)mg可調(diào)
測力恒定可調(diào),以適應(yīng)硬質(zhì)或軟質(zhì)材料表面。超低慣量設(shè)計和微小電磁力控制,實現(xiàn)無接觸損傷的精準接觸式測量。
3.超平掃描平臺
系統(tǒng)配有超高直線度導(dǎo)軌,杜絕運動中的細微抖動,提高掃描精度,真實反映工件微小形貌。
4.頂視光學(xué)導(dǎo)航系統(tǒng),5MP超高分辨率彩色相機
5.全自動XY載物臺, Z軸自動升降、360°全自動θ轉(zhuǎn)臺
6.強大的數(shù)據(jù)采集和分析系統(tǒng)
臺階儀軟件包含多個模塊,為對不同被測件的高度測量及分析評價提供充分支持。

CP系列接觸式臺階儀對測量工件的表面反光特性、材料種類、材料硬度都沒有特別要求,樣品適應(yīng)面廣,數(shù)據(jù)復(fù)現(xiàn)性高、測量穩(wěn)定、便捷、高效,是微觀表面測量中使用非常廣泛的微納樣品測量手段。
典型應(yīng)用

部分技術(shù)參數(shù)
型號 | CP200 |
測量技術(shù) | 探針式表面輪廓測量技術(shù) |
探針傳感器 | 超低慣量,LVDC傳感器 |
平臺移動范圍X/Y | 電動X/Y(150mm*150mm)(可手動校平) |
樣品R-θ載物臺 | 電動,360°連續(xù)旋轉(zhuǎn) |
單次掃描長度 | 55mm |
樣品厚度 | 50mm |
載物臺晶圓尺寸 | 150mm(6吋),200mm(8吋) |
尺寸(L×W×H)mm | 640*626*534 |
重量 | 40kg |
儀器電源 | 100-240 VAC,50/60 Hz,200W |
使用環(huán)境
相對濕度:濕度 (無凝結(jié))30-40% RH
溫度:16-25℃ (每小時溫度變化小于2℃)
地面振動:6.35μm/s(1-100Hz)
音頻噪音:≤80dB
空氣層流:≤0.508 m/s(向下流動)
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當(dāng)前眾多零部件廠商仍仍依賴手持式掃描設(shè)備,掃描儀無法實現(xiàn)批量測量,且間鍵槽控的位置度無法測量:1.特征捕獲殘缺:對深腔流道、隱蔽鍵槽等特征束手無策,位置度檢測存在盲區(qū)2.批量檢測失效:單件掃描耗時超30分鐘,無法適應(yīng)產(chǎn)線節(jié)拍3.數(shù)據(jù)鏈斷裂:點云數(shù)據(jù)與工程圖紙脫節(jié),形位公差判定依賴人工比對智能三坐標測量解決方案及配置中圖儀器三坐標測量儀采用智能特征識別引擎,對散熱器特有的16類關(guān)鍵尺寸實現(xiàn)一鍵式測量 -
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應(yīng)用背景概述:雷達天線的曲面輪廓度,是影響其信號傳輸質(zhì)量及效率的核心因素。哪怕極其細微的輪廓度偏差,都可能引發(fā)信號失真,大幅降低雷達的工作性能。因此,在雷達天線的生產(chǎn)環(huán)節(jié),實施高精度的曲面測量,確保產(chǎn)品嚴格契合設(shè)計標準,是行業(yè)內(nèi)保障產(chǎn)品質(zhì)量的關(guān)鍵舉措??蛻粜枨竺枋觯嚎蛻粜枰环N能夠快速、高效獲取大型曲面三維數(shù)據(jù)的測量方案,不僅要精準計算曲面輪廓度偏差,還要生成直觀清晰的偏差圖,助力生產(chǎn)過程中的質(zhì)量 -
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