在 FPGA 開發(fā)過程中，燒寫bit文件和使用ILA進(jìn)行調(diào)試是再常見不過的操作。但如果 FPGA 板卡被放在機(jī)房，或者通過PCIe插在服務(wù)器上，那么每次調(diào)試時(shí)我們都不得不帶著筆記本電腦跑去機(jī)房或服務(wù)器旁，接上 JTAG 線后才能進(jìn)行調(diào)試，非常不便。
2025-06-05 16:41:28
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在Vivado中，VIO（Virtual Input/Output）是一種用于調(diào)試和測(cè)試FPGA設(shè)計(jì)的IP核，它允許設(shè)計(jì)者通過JTAG接口實(shí)時(shí)讀取和寫入FPGA內(nèi)部的寄存器，從而檢查設(shè)計(jì)的運(yùn)行狀態(tài)并修改其行為。VIO IP核提供了一個(gè)簡單易用的接口，使得用戶可以輕松地與FPGA內(nèi)部寄存器進(jìn)行交互。
2025-06-09 09:32:063372 
隨著FPGA融入越來越多的能力，對(duì)有效調(diào)試工具的需求將變得至關(guān)重要。對(duì)內(nèi)部可視能力的事前周密計(jì)劃將能使研制組采用正確的調(diào)試戰(zhàn)略，以更快完成他們的設(shè)計(jì)任務(wù)。
2011-01-23 10:13:171176 
FPGA調(diào)試時(shí)硬件設(shè)計(jì)中及其重要的一步，本文就在FPGA調(diào)試過程中存在3種常見的誤解，進(jìn)行一些討論....
2018-09-19 09:27:504748 在某FPGA系統(tǒng)中，對(duì)電源系統(tǒng)進(jìn)行調(diào)試，在同樣的測(cè)試條件下，發(fā)現(xiàn)其中有一塊板相對(duì)其它的板功耗總偏大，進(jìn)而對(duì)其進(jìn)行調(diào)試分析。
2022-10-20 09:13:114748 FPGA設(shè)計(jì)流程是利用EDA開發(fā)軟件和編程工具對(duì)FPGA芯片進(jìn)行開發(fā)的過程。FPGA的設(shè)計(jì)流程如上圖所示：包括設(shè)計(jì)定義、代碼實(shí)現(xiàn)、功能仿真、邏輯綜合、前仿真、布局布線、后仿真和板級(jí)調(diào)試等步驟！
2023-04-04 10:29:513088 日常的FPGA開發(fā)常常會(huì)遇到“編碼與上機(jī)調(diào)試使用各自的電腦”的場(chǎng)景，解決方法一般如下。
2023-05-25 14:36:444304 
上篇主要是分享了Vivado編譯軟件遠(yuǎn)程調(diào)試的方法。杰克使用Vivado軟件進(jìn)行遠(yuǎn)程連接，主要是用于固化程序以及FPGA(PL端)的異常排查。而本篇主要內(nèi)容是對(duì)使用Vitis軟件遠(yuǎn)程調(diào)試的方法進(jìn)行總結(jié)和分享。
2023-05-25 14:36:584231 今天跟大家分享的內(nèi)容很重要，也是調(diào)試FPGA經(jīng)驗(yàn)的總結(jié)。隨著FPGA對(duì)時(shí)序和性能的要求越來越高，高頻率、大位寬的設(shè)計(jì)越來越多。在調(diào)試這些FPGA樣機(jī)時(shí)，需要從寫代碼時(shí)就要小心謹(jǐn)慎，否則寫出來的代碼
2023-08-01 09:18:343075 
對(duì)于FPGA調(diào)試，主要以Intel FPGA為例，在win10 Quartus ii 17.0環(huán)境下進(jìn)行仿真和調(diào)試，開發(fā)板類型EP4CE15F17。
2024-01-12 09:34:144177 
調(diào)試，即Debug，有一定開發(fā)經(jīng)驗(yàn)的人一定會(huì)明確這是設(shè)計(jì)中最復(fù)雜最磨人的部分。對(duì)于一個(gè)龐大復(fù)雜的FPGA工程而言，出現(xiàn)問題的概率極大，這時(shí)如果沒有一個(gè)清晰的Debug思路，調(diào)試過程只能是像無頭蒼蠅一樣四處亂撞。
2025-03-04 11:02:191758 
。由于一般的集成電路自動(dòng)測(cè)試儀ATE為通用IC測(cè)試設(shè)計(jì)，但FPGA測(cè)試有上述特殊性，在芯片功能測(cè)試之前必須對(duì)其進(jìn)行特定的配置，否則芯片是不具備內(nèi)部電路結(jié)構(gòu)的，內(nèi)部資源將無法測(cè)試，而通用的ATE要完成
2020-05-14 07:00:00
的板級(jí)調(diào)試方法有很多，借助于常規(guī)的示波器和邏輯分析儀的調(diào)試方法是最典型的手段。如圖10.1所示，基于傳統(tǒng)的臺(tái)式示波器或邏輯分析儀進(jìn)行板級(jí)調(diào)試有著諸多的不便，相對(duì)于設(shè)計(jì)電路深藏在芯片內(nèi)部的FPGA
2015-09-02 18:39:49
的代碼有更深刻體會(huì)；FPGA調(diào)試，解決bug問題和軟件調(diào)試過程一樣嗎，還是和硬件一樣完全黑盒調(diào)試（很多情況都是摸索，看看是不是電阻電容問題，干擾問題.....），解決bug的方式區(qū)別是什么？？？據(jù)說
2012-11-25 02:10:05
電源部分。使用萬用表進(jìn)行測(cè)試，排除電源短路等情況后，上電測(cè)量電壓是否正確。（2）然后焊接FPGA及相關(guān)的下載電路。再次測(cè)量電源地之間是否有短路現(xiàn)象，上電測(cè)試電壓是否正確，然后將手排除靜電后觸摸FPGA
2012-08-12 11:52:54
最近一直在忙期末考試的事情，現(xiàn)在終于閑下來了，已經(jīng)把相應(yīng)的芯片期間買來了，正在進(jìn)行FPGA與TFT彩屏通訊的測(cè)試
2012-07-06 17:55:39
我使用fpga跑一個(gè)arm的軟核，測(cè)試點(diǎn)亮一個(gè)led燈的程序。仿真結(jié)果與自己想要的結(jié)果是吻合的（頂層led的port是有輸出的），但是下載到fpga開發(fā)板上后，運(yùn)行就沒有結(jié)果（連接頂層led的port測(cè)試沒有輸出）。請(qǐng)問如何去調(diào)試找出問題出在哪里？
2017-06-13 17:06:52
其切換到 FX3 SDK 1.3.4，則一切正常。
看來 SDK 1.3.5 中的預(yù)置庫出了問題，因?yàn)檫@是唯一真正發(fā)生變化的地方。
有辦法讓 SDK 1.3.5 與 JTAG 調(diào)試器配合使用嗎？
2025-05-23 07:32:08
需要各個(gè)儀表之間的配合(如同步等)，此外還要照顧到由于衰減器和耦合器等周邊器件的引入導(dǎo)致的測(cè)試精度和準(zhǔn)確度的損失。雖然這種方式將導(dǎo)致很多麻煩，但由于這種測(cè)試解決方案便于白箱測(cè)試的擴(kuò)展，比較適合于基站的研究開發(fā)領(lǐng)域，所以還是被基站研究開發(fā)領(lǐng)域所采用。那有什么辦法，可以進(jìn)行WCDMA基站的綜合測(cè)試嗎？
2019-08-08 07:35:05
大家好，
我們現(xiàn)在用STM32H743ZIT6，在調(diào)試FreeRTOS + LWIP，發(fā)現(xiàn)SOCKET為堵塞方式，有什么辦法能將socket設(shè)置為非堵塞方式？用setsockopt函數(shù)設(shè)置，已經(jīng)測(cè)試過了，不起作用；大神們幫看下，多謝
2024-04-26 08:14:30
我采用TLV3501將混頻后的50Hz正弦波變成方波，然后送入FPGA，對(duì)方波信號(hào)進(jìn)行檢測(cè)，發(fā)現(xiàn)方波信號(hào)有有毛刺導(dǎo)致FPGA誤觸發(fā)，有什么辦法減少方波的毛刺呀
2025-05-28 10:31:52
在設(shè)計(jì)基于FPGA的電子系統(tǒng)時(shí)，一般需要用示波器、邏輯分析儀等外部測(cè)試設(shè)備進(jìn)行輸入輸出信號(hào)的測(cè)試，借助測(cè)試探頭把信號(hào)送到測(cè)試設(shè)備上進(jìn)行觀察分析。當(dāng)然，前提是需要保留足夠多的引腳，以便能選擇信號(hào)來驅(qū)動(dòng)
2019-08-19 08:03:56
因?yàn)?b class="flag-6" style="color: red">有很多的小伙伴是從單片機(jī)轉(zhuǎn)過來的，用慣了單片機(jī)上的JLINK調(diào)試程序，換到Linux上非常的不習(xí)慣。確實(shí)，如果能設(shè)置斷點(diǎn)，單步調(diào)試，查看變量，那確實(shí)是太爽了，那么在我們的Linux可以做到
2020-12-28 06:59:24
FPGA所需的.bit文件，并在DSP端執(zhí)行命令進(jìn)行測(cè)試。（1）測(cè)試步驟?部署TFTP服務(wù)器打開TFTP服務(wù)器，路徑："光盤資料/Demo/Hostapp
2018-10-31 14:27:30
嗨，我想測(cè)試一個(gè)芯片，并想知道Virtex 5評(píng)估板是否可行。芯片在晶圓上，我有探針探測(cè)它，然后我將探針卡連接到FPGA。我需要數(shù)字I / O（芯片上用于數(shù)字I / O的48個(gè)焊盤），模擬輸入（芯片上的14個(gè)模擬輸入焊盤）以及電源引腳。如果Virtex 5可以用于此目的，請(qǐng)告訴我嗎？謝謝
2020-06-17 11:00:29
我的設(shè)計(jì)完全在Verilog中，并且已經(jīng)使用Spartan FPGA進(jìn)行了測(cè)試。我將源代碼提供給ASIC工廠，以實(shí)現(xiàn)作為ASIC使用他們（我認(rèn)為）的概要工具。我的問題是，有沒有辦法使用任何
2019-07-25 13:44:31
請(qǐng)問各位，開放式FPGA的常見測(cè)試應(yīng)用有哪些？
2021-05-06 09:53:50
，以便在較大的FPGA中達(dá)到高的系統(tǒng)吞吐量。如果懷疑內(nèi)部的32位總線里有壞的數(shù)據(jù)，則難以用幾個(gè)I/O引腳來確定問題所在?！ ?第三，通常需要在系統(tǒng)中測(cè)試復(fù)雜的功能。在這種情況下，在系統(tǒng)中調(diào)試時(shí)訪問一些I
2010-01-08 15:05:27
嗨，我使用的是spartan6 FPFA板，我已經(jīng)使用iMPACT將mcs文件配置到FPGA板中。有沒有辦法從FPGA讀回mcs文件？如果有辦法從fpga板讀回mcs文件，請(qǐng)告訴我。謝謝，拉胡爾庫
2019-07-11 07:28:53
`請(qǐng)問各路大神LTC3850GN有辦法測(cè)試好壞嗎`
2020-05-25 16:33:38
我閱讀過AN84868，了解到fx3可以對(duì)連接的FPGA芯片進(jìn)行串行配置；但是我的項(xiàng)目中，希望能盡量縮短FPGA配置的時(shí)間，因此希望能夠了解是否有辦法使用fx3芯片對(duì)外接的FPGA芯片進(jìn)行并行配置？ 具體使用什么接口，例如gpio或者spi等？或者，是否有相關(guān)的文檔可以作為參考，謝謝！...
2024-05-28 08:30:33
潤和Hi3861V100芯片迷你無線仿真USB Open OCD調(diào)試板多功能調(diào)試器
2023-03-28 13:07:10
FPGA調(diào)試工具chipscope,學(xué)習(xí)與使用FPGA必用的工具。。
2009-03-23 09:45:00
86 USB-Blaster的特性： 支持USB Blaster下載仿真調(diào)試，通過計(jì)算機(jī)的USB接口可對(duì)Altera的FPGA/CPLD以及配置芯片進(jìn)行編程、調(diào)試等操作
2022-07-27 10:31:29
混合CPU_FPGA系統(tǒng)的調(diào)試方法:
2009-07-23 10:44:077 本文運(yùn)用黑盒測(cè)試的基本理論，提出了FPGA邏輯設(shè)計(jì)的測(cè)試模型，分析了FPGA邏輯設(shè)計(jì)的基本方法和步驟，最后結(jié)合一個(gè)實(shí)際項(xiàng)目說明了FPGA邏輯設(shè)計(jì)的測(cè)試驗(yàn)證過程。關(guān)鍵詞：黑盒
2009-08-19 09:12:419 簡化Xilinx和Altera FPGA調(diào)試過程:通過FPGAViewTM 解決方案，如混合信號(hào)示波器(MSO)和邏輯分析儀，您可以在Xilinx 和Altera FPGA 內(nèi)部迅速移動(dòng)探點(diǎn)，而無需重新編譯設(shè)計(jì)方案。能夠把內(nèi)部FPGA
2009-11-20 17:46:2627 實(shí)用FPGA的調(diào)試工具—ChipScope Pro
ChipScope Pro應(yīng)用于FPGA調(diào)試階段，它具有傳統(tǒng)邏輯分析儀的功能，可以觀察FPGA內(nèi)部的任何信號(hào)，觸發(fā)條件，數(shù)據(jù)寬度和深度等的設(shè)
2010-02-09 15:10:4695 目錄•FPGA調(diào)試的挑戰(zhàn)•傳統(tǒng)的FPGA調(diào)試方案•Agilent FPGA動(dòng)態(tài)探頭的調(diào)試方案•總結(jié)
2010-10-11 11:04:3626 使用RealView MDK進(jìn)行SW調(diào)試和實(shí)時(shí)跟蹤
STM32有兩個(gè)調(diào)試端口，即JTAG和SW。Keil 的ULINK2 USB
2008-08-02 09:27:504838 
FPGA 重復(fù)配置和測(cè)試的實(shí)現(xiàn)
從制造的角度來講，FPGA測(cè)試是指對(duì)FPGA器件內(nèi)部的邏輯塊、可編程互聯(lián)線、輸入輸出塊等資源的檢測(cè)。完整的FPGA測(cè)試包括
2009-09-03 11:17:08725 
FPGA重復(fù)配置和測(cè)試的實(shí)現(xiàn)
從制造的角度來講，FPGA測(cè)試是指對(duì)FPGA器件內(nèi)部的邏輯塊、可編程互聯(lián)線、輸入輸出塊等資源的檢測(cè)。完整的FPGA測(cè)試包括兩步，一是配置FPGA
2010-01-26 09:39:56690 
FPGA硬件系統(tǒng)的調(diào)試方法
在調(diào)試FPGA電路時(shí)要遵循一定的原則和技巧，才能減少調(diào)試時(shí)間，避免誤操作損壞電路。一般情況下，可以參考以下步驟進(jìn)行
2010-02-08 14:44:423102 在設(shè)計(jì)基于FPGA的電子系統(tǒng)時(shí)，一般需要用示波器、邏輯分析儀等外部測(cè)試設(shè)備進(jìn)行輸入輸出信號(hào)的測(cè)試，借助測(cè)試探頭把信號(hào)送到測(cè)試設(shè)備上進(jìn)行觀察分析。當(dāng)然，前提是需要保
2010-05-28 16:27:511007 
隨著 FPGA 的設(shè)計(jì)速度、尺寸和復(fù)雜度明顯增長，使得整個(gè)設(shè)計(jì)流程中的實(shí)時(shí)驗(yàn)證和調(diào)試成為當(dāng)前FPGA 系統(tǒng)的關(guān)鍵部分。獲得FPGA 內(nèi)部信號(hào)有限、FPGA 封裝和印刷電路板(PCB)電氣噪聲，這一
2011-06-10 15:42:2828 縱觀數(shù)字集成電路的發(fā)展歷史，電子產(chǎn)品的市場(chǎng)正在逐漸細(xì)分。本書主要重點(diǎn)介紹相關(guān)問題和技巧，幫助您在調(diào)試 FPGA 系統(tǒng)是提高您的工作效率。希望對(duì)您的工作學(xué)習(xí)有所幫助！
2011-07-11 16:49:37406 本文就調(diào)試FPGA系統(tǒng)時(shí)遇到的問題及有助于提高調(diào)試效率的方法，針對(duì)Altera和Xilinx的FPGA調(diào)試提供了最新的方法和工具。
2011-09-27 14:28:391197 
基于對(duì)FPGA系統(tǒng)失效機(jī)理的深入分析, 提出了軟件測(cè)試技術(shù)在FPGA測(cè)試中的應(yīng)用, 并分析了其可行性; 通過對(duì)比FPGA與軟件系統(tǒng)的異同, 歸納出FPGA特有的測(cè)試要求，從而在軟件測(cè)試技術(shù)的基礎(chǔ)
2011-09-29 17:41:2165 AS下載和調(diào)試接口電路（Altera FPGA開發(fā)板）如下圖所示：
2012-08-15 14:29:236161 
在調(diào)試FPGA電路時(shí)要遵循必須的原則和技巧，才能降低調(diào)試時(shí)間，防止誤操作損壞電路。通常情況下，參考以下步驟執(zhí)行 FPGA硬件系統(tǒng)的調(diào)試。 1、在焊接硬件電路前，首先要測(cè)試電路板
2013-01-16 11:59:586120 在軟硬件的開發(fā)階段中，測(cè)試結(jié)果直接關(guān)系到這個(gè)軟硬件能否順利進(jìn)行調(diào)試應(yīng)用。其中，硬件的測(cè)試往往容易受外界因素的影響，如環(huán)境、計(jì)算機(jī)設(shè)備等，可以通過一些仿真軟件來避免外界環(huán)境的影響，但是其測(cè)試速度比較慢
2017-11-18 05:46:282320 部分組成。對(duì)FPGA進(jìn)行測(cè)試要對(duì)FPGA內(nèi)部可能包含的資源進(jìn)行結(jié)構(gòu)分析，經(jīng)過一個(gè)測(cè)試配置(TC)和向量實(shí)施(TS)的過程，把FPGA配置為具有特定功能的電路，再從應(yīng)用級(jí)別上對(duì)電路進(jìn)行測(cè)試，完成電路的功能及參數(shù)測(cè)試。 2 FPGA的配置方法 對(duì)FPGA進(jìn)行配置有多種方法可以選擇，包括邊界掃描配置方法等。
2017-11-18 10:44:373307 
針對(duì)FPGA的特點(diǎn)進(jìn)行改進(jìn)，形成了一套實(shí)用的FPGA測(cè)試方法。 現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列（FPGA）的出現(xiàn)大大壓縮了電子產(chǎn)品研發(fā)的周期和成本，由于FPGA器件具有高密度、低功耗、高速、高可靠性等優(yōu)點(diǎn)，在航空、航天、通信、工業(yè)控制等方面得到了大量應(yīng)用。隨著FPG
2018-01-19 22:34:593023 在設(shè)計(jì)基于FPGA的電子系統(tǒng)時(shí)，一般需要用示波器、邏輯分析儀等外部測(cè)試設(shè)備進(jìn)行輸入輸出信號(hào)的測(cè)試，借助測(cè)試探頭把信號(hào)送到測(cè)試設(shè)備上進(jìn)行觀察分析。當(dāng)然，前提是需要保留足夠多的引腳，以便能選擇信號(hào)來驅(qū)動(dòng)
2018-02-14 09:19:001054 本文檔內(nèi)容介紹了基于chipscope使用教程以及FPGA在線調(diào)試的方法，供參考
2018-03-02 14:09:499 電路調(diào)試與測(cè)試原因有哪些？
2018-04-09 15:43:4942 對(duì)MAX10 FPGA 開發(fā)套件進(jìn)行以太網(wǎng) Ping 測(cè)試
2018-06-20 01:00:005655 
本文重點(diǎn)介紹在調(diào)試FPGA系統(tǒng)時(shí)遇到的問題及有助于提高調(diào)試效率的技術(shù)，針對(duì)Altera和Xilinx的FPGA調(diào)試提供了最新的方法和工具。
2018-11-28 08:43:003254 
在設(shè)計(jì)基于FPGA的電子系統(tǒng)時(shí)，一般需要用示波器、邏輯分析儀等外部測(cè)試設(shè)備進(jìn)行輸入輸出信號(hào)的測(cè)試，借助測(cè)試探頭把信號(hào)送到測(cè)試設(shè)備上進(jìn)行觀察分析。當(dāng)然，前提是需要保留足夠多的引腳，以便能選擇信號(hào)來驅(qū)動(dòng)
2019-01-08 08:29:002292 
EP2C5Q208 上，進(jìn)行在線編程調(diào)試，實(shí)現(xiàn)了串行通信控制功能?；?b class="flag-6" style="color: red">FPGA 的系統(tǒng)設(shè)計(jì)調(diào)試維護(hù)方便、可靠性高，而且設(shè)計(jì)具有靈活性，可以方便地進(jìn)行擴(kuò)展和移植。
2018-11-07 11:18:236 在SDAccel中進(jìn)行調(diào)試
2018-11-29 06:20:002282 了解使用Vivado 2016.1中引入的ECO流程進(jìn)行調(diào)試的好處，以及在ECO布局中替換ILA調(diào)試探針?biāo)璧牟襟E。
2018-11-29 06:01:004313 
這十年來我做過小的嵌入式系統(tǒng)，大的電信系統(tǒng)以及基于web的系統(tǒng)。使用過C ++，Ruby，Java和Python等。這篇文章中的經(jīng)驗(yàn)教訓(xùn)旨在幫助減少編碼、測(cè)試和調(diào)試三個(gè)階段的bug。
2019-02-11 16:52:453575 無論多么有經(jīng)驗(yàn)的程序員，開發(fā)的任何軟件都不可能完全沒有 bug。因此，排查及修復(fù) bug 成為軟件開發(fā)周期中最重要的任務(wù)之一。有許多辦法可以排查 bug（測(cè)試、代碼自審等等），但是還有一些專用軟件（稱為調(diào)試器）可以幫助準(zhǔn)確定位問題的所在，以便進(jìn)行修復(fù)。
2019-05-15 16:39:51933 
在某FPGA系統(tǒng)中，對(duì)電源系統(tǒng)進(jìn)行調(diào)試，在同樣的測(cè)試條件下，發(fā)現(xiàn)其中有一塊板相對(duì)其它的板功耗總偏大，進(jìn)而對(duì)其進(jìn)行調(diào)試分析。在該系統(tǒng)中，輸入電壓為DC12V，輸出電壓有：5V、3.3V、2.5V和1.2V，綜合考慮電源紋波和轉(zhuǎn)換效率，在該系統(tǒng)中采用了DC-DC和LDO。
2019-07-27 09:19:363686 
盡管業(yè)界廣泛采用IJTAG（IEEE 1687）測(cè)試架構(gòu)進(jìn)行芯片級(jí)測(cè)試，但很多公司在芯片級(jí)測(cè)試向量轉(zhuǎn)換，以及自動(dòng)測(cè)試設(shè)備 (ATE) 調(diào)試測(cè)試保留了非常不同的方法。因此，每個(gè)特定芯片必須由 DFT 工程師編寫測(cè)試向量，然后由測(cè)試工程師進(jìn)行轉(zhuǎn)換，以便在每種測(cè)試儀類型上調(diào)試每個(gè)場(chǎng)景。
2019-10-11 15:36:234952 
對(duì)于FPGA調(diào)試，主要以Intel FPGA為例，在win10 Quartus ii 17.0環(huán)境下進(jìn)行仿真和調(diào)試，開發(fā)板類型EP4CE15F17。
2020-03-29 11:37:001630 進(jìn)行硬件設(shè)計(jì)的功能調(diào)試時(shí)，FPGA的再編程能力是關(guān)鍵的優(yōu)點(diǎn)。CPLD和FPGA早期使用時(shí)，如果發(fā)現(xiàn)設(shè)計(jì)不能正常工作，工程師就使用“調(diào)試鉤”的方法。先將要觀察的FPGA內(nèi)部信號(hào)引到引腳，然后用外部的邏輯分析儀捕獲數(shù)據(jù)。
2020-09-14 15:08:00909 
FPGA概述FPGA調(diào)試介紹調(diào)試挑戰(zhàn)設(shè)計(jì)流程概述■FPGA調(diào)試方法概述嵌入式邏輯分析儀外部測(cè)試設(shè)備■使用 FPGAVIEW改善外部測(cè)試設(shè)備方法■FPGA中高速O的信號(hào)完整性測(cè)試和分析
2020-09-22 17:43:2112 在線調(diào)試也稱作板級(jí)調(diào)試，它是將工程下載到FPGA芯片上后分析代碼運(yùn)行的情況。
2020-11-01 10:00:495441 
焊接變位機(jī)如何進(jìn)行調(diào)試？在正式使用焊接變位機(jī)進(jìn)行焊接之前，要注意對(duì)設(shè)備的調(diào)試方法，并注意使用，從而保證焊接精度，我們需要根據(jù)合理的調(diào)試流程進(jìn)行，可以幫助焊接變位機(jī)穩(wěn)定發(fā)揮，青島賽邦小編帶您了解焊接
2021-11-02 16:57:263551 FPGA與STM32等嵌入式開發(fā)最大的一個(gè)優(yōu)點(diǎn)就是，可以在時(shí)序仿真階段驗(yàn)證超過90%的功能，發(fā)現(xiàn)90%的問題。當(dāng)所有的仿真沒問題了，才能進(jìn)行最...
2022-01-25 17:28:091 使用Jtag Master調(diào)試FPGA程序時(shí)用到tcl語言，通過編寫tcl腳本，可以實(shí)現(xiàn)對(duì)FPGA的讀寫，為調(diào)試FPGA程序帶來極大的便利，下面對(duì)FPGA調(diào)試過程中常用的tcl語法進(jìn)行介紹，并通過tcl讀FIFO的例子，說明tcl在實(shí)際工程中的應(yīng)用。
2022-02-19 19:44:343645 對(duì)FPGA進(jìn)行上板調(diào)試時(shí)，使用最多的是SignalTap，但SignalTap主要用來抓取信號(hào)時(shí)序，當(dāng)需要發(fā)送信號(hào)到FPGA時(shí)，Jtag Master可以發(fā)揮很好的作用，可以通過Jtag Master對(duì)FPGA進(jìn)行讀寫測(cè)試
2022-02-16 16:21:363151 
在某FPGA系統(tǒng)中，對(duì)電源系統(tǒng)進(jìn)行調(diào)試，在同樣的測(cè)試條件下，發(fā)現(xiàn)其中有一塊板相對(duì)其它的板功耗總偏大，進(jìn)而對(duì)其進(jìn)行調(diào)試分析。
2022-04-26 13:45:387122 隨著復(fù)雜性的增加和對(duì)探測(cè)點(diǎn)的訪問受限，ASIC 和 FPGA 驗(yàn)證和調(diào)試變得乏味且耗時(shí)。隨著越來越多的功能集成到每個(gè)芯片中，對(duì)探測(cè)點(diǎn)的物理訪問變得不可能。接下來的挑戰(zhàn)是整合足夠的片上觀察點(diǎn)，不僅可以處理預(yù)期的調(diào)試場(chǎng)景，還可以處理意外的調(diào)試場(chǎng)景。
2022-07-09 06:54:00843 
本設(shè)計(jì)對(duì)系統(tǒng)的性能和系統(tǒng)的功能分別進(jìn)行了測(cè)試，性能測(cè)試是對(duì)FPGA的資源利用情況和運(yùn)行速度情況進(jìn)行測(cè)試，功能測(cè)試有腐蝕算法測(cè)試，幀差算法測(cè)試，定位功能調(diào)試等。
2023-02-07 10:47:19679 Xilinx LabTools工具是Xilinx FPGA單獨(dú)的編程和調(diào)試工具，是從ISE或Vivado中獨(dú)立出來的實(shí)驗(yàn)室工具，只能用來下載FPGA程序和進(jìn)行ILA調(diào)試，支持所有的FPGA系列，無需
2023-03-28 10:46:569161 之前介紹過一種遠(yuǎn)程（無線）更新的方式，詳見《起飛！通過無線WIFI下載調(diào)試FPGA》，這種方式缺點(diǎn)有兩個(gè)：一是速度較慢；二是我們的設(shè)備中需要增加一個(gè)無線設(shè)備，增加成本的同時(shí)增加了暴露的風(fēng)險(xiǎn)。這兩點(diǎn)即無法在調(diào)試的時(shí)候使用也沒辦法在實(shí)際設(shè)備中使用。今天我們?cè)俳榻B另一種簡單方式。
2023-05-25 09:23:034492 
剖析》分析了用戶在進(jìn)行大規(guī)模原型驗(yàn)證過程中的多FPGA聯(lián)合調(diào)試難題，并介紹了一種新型FPGA原型驗(yàn)證深度跟蹤調(diào)試解決方案，用于幫助客戶在SoC開發(fā)過程中解決調(diào)試問
2022-06-16 10:16:481693 
調(diào)試和測(cè)試方法主要還是結(jié)合開發(fā)人員，比如軟件工程師在代碼中通過CLI增加【調(diào)試接口】，讓調(diào)試人員可以通過CLI發(fā)送指令進(jìn)行調(diào)試。
2023-10-18 11:04:481537 
點(diǎn)擊上方 藍(lán)字 關(guān)注我們 大容量、高速率和低功耗已成為FPGA的發(fā)展重點(diǎn)。 嵌入式邏輯分析工具無法滿足通用性要求，外部測(cè)試工具可以把FPGA內(nèi)部信號(hào)與實(shí)際電路聯(lián)合起來觀察系統(tǒng)真實(shí)運(yùn)行情況。 隨著
2023-10-23 15:20:011956 
前言本指導(dǎo)文檔適用的開發(fā)環(huán)境為Windows764bit和Windows1064bit。本文檔主要提供開發(fā)板FPGA端案例測(cè)試方法，所有工程均位于產(chǎn)品資料Demo1目錄下。進(jìn)行本文檔操作前，請(qǐng)先
2022-08-25 15:08:541 USB調(diào)試模式是什么意思？USB調(diào)試模式有什么用？ USB調(diào)試模式是一種在Android設(shè)備上進(jìn)行開發(fā)、測(cè)試和調(diào)試的模式。當(dāng)設(shè)備處于USB調(diào)試模式下，開發(fā)人員可以通過USB連接設(shè)備和計(jì)算機(jī)，在計(jì)算機(jī)上進(jìn)行
2023-12-11 11:06:1016307 1 推動(dòng)FPGA調(diào)試技術(shù)改變的原因 進(jìn)行硬件設(shè)計(jì)的功能調(diào)試時(shí)，FPGA的再編程能力是關(guān)鍵的優(yōu)點(diǎn)。CPLD和FPGA早期使用時(shí)，如果發(fā)現(xiàn)設(shè)計(jì)不能正常工作，工程師就使用“調(diào)試鉤”的方法。先將要觀察
2023-12-20 13:35:011207 
在調(diào)試FPGA電路時(shí)要遵循必須的原則和技巧，才能降低調(diào)試時(shí)間，防止誤操作損壞電路。通常情況下，參考以下步驟執(zhí)行 FPGA硬件系統(tǒng)的調(diào)試。 1、在焊接硬件電路前，首先要測(cè)試電路板的各個(gè)電源之間，各電源
2023-12-22 16:40:011607 
FPGA軟件包含進(jìn)行設(shè)計(jì)而產(chǎn)生的程序、文檔和數(shù)據(jù)，同時(shí)包含與之相關(guān)的軟件特性和硬件特性。FPGA軟件測(cè)試需要考慮軟件代碼正確性、軟硬件接口協(xié)調(diào)性、時(shí)序性等方面的全面覆蓋。
2024-03-06 11:39:361509 FPGA開發(fā)板是一種基于FPGA（現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列）技術(shù)的開發(fā)平臺(tái)，它允許工程師通過編程來定義和配置FPGA芯片上的邏輯電路，以實(shí)現(xiàn)各種數(shù)字電路和邏輯功能。FPGA開發(fā)板通常包括FPGA芯片、時(shí)鐘模塊、電源模塊、輸入輸出接口等組件，并提供相應(yīng)的編程軟件和開發(fā)工具，方便工程師進(jìn)行電路設(shè)計(jì)和調(diào)試。
2024-03-14 18:20:294535 FPGA（現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列）和DSP（數(shù)字信號(hào)處理器）之間通過SRIO接口進(jìn)行調(diào)試通常需要以下步驟。
2024-04-19 11:48:462569 聯(lián)合開發(fā)或者跑多策略工程的時(shí)候，一般都使用多核的服務(wù)器進(jìn)行FPGA設(shè)計(jì)。這個(gè)時(shí)候如果板卡在本地電腦上應(yīng)該怎么進(jìn)行調(diào)試呢?
2024-10-24 18:05:001317 
Verilog測(cè)試平臺(tái)設(shè)計(jì)方法是Verilog FPGA開發(fā)中的重要環(huán)節(jié)，它用于驗(yàn)證Verilog設(shè)計(jì)的正確性和性能。以下是一個(gè)詳細(xì)的Verilog測(cè)試平臺(tái)設(shè)計(jì)方法及Verilog FPGA開發(fā)
2024-12-17 09:50:061630
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