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標(biāo)簽 > 芯片設(shè)計(jì)
《芯片設(shè)計(jì)》是2009年11月上海科學(xué)技術(shù)出版社出版的圖書(shū),作者是(德)B.科爾特,(德)J.菲根。
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應(yīng)用芯片設(shè)計(jì)的人工智能解決方案有何優(yōu)勢(shì)?
谷歌的強(qiáng)化學(xué)習(xí)系統(tǒng)將放置稱(chēng)為宏的大型電路塊視為游戲。代理在芯片畫(huà)布上一次放置一個(gè)塊。然后一個(gè)單獨(dú)的算法填充稱(chēng)為標(biāo)準(zhǔn)單元格的較小部分。
2023-05-03 標(biāo)簽:計(jì)算機(jī)芯片設(shè)計(jì)eda 476 0
概倫電子標(biāo)準(zhǔn)單元庫(kù)驗(yàn)證解決方案LibWiz介紹
隨著半導(dǎo)體工藝技術(shù)節(jié)點(diǎn)的日益成熟和復(fù)雜,在芯片設(shè)計(jì)過(guò)程中需要提供各種復(fù)雜的標(biāo)準(zhǔn)單元庫(kù)。多種庫(kù)之間的一致性和有效性必須得到保證,以消除不必要的設(shè)計(jì)延遲。
2025-04-16 標(biāo)簽:半導(dǎo)體芯片設(shè)計(jì)驗(yàn)證 404 0
在芯片設(shè)計(jì)完成后,樣品功能性測(cè)試、可靠性測(cè)試以及失效分析除錯(cuò)等環(huán)節(jié)開(kāi)展之前,樣品備制前處理是不可或缺的關(guān)鍵步驟。其中,芯片切片方式用于斷面/橫截面觀察,...
2025-06-05 標(biāo)簽:芯片設(shè)計(jì)SEM離子束 340 0
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