》》產(chǎn)品介紹

NSAT-2000電子元器件自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)可完成在不同的溫濕度環(huán)境、振動(dòng)環(huán)境下，自動(dòng)測(cè)試并實(shí)時(shí)采集不同類型的電子元器件（如：FPGA、電源模塊、電容、繼電器等）的老化特性的性能指標(biāo)數(shù)據(jù)。系統(tǒng)控制測(cè)試終端為示波器、邏輯分析儀、數(shù)據(jù)采集器、直流電源、電子負(fù)載、LCR數(shù)字電橋、絕緣耐壓測(cè)試儀等。

》》產(chǎn)品特點(diǎn)

1系統(tǒng)能夠?qū)崿F(xiàn)對(duì)FPFA/DSP芯片、電磁繼電器、電容、電源模塊等在環(huán)境應(yīng)力在的高速瞬時(shí)測(cè)試。

2 可實(shí)現(xiàn)對(duì)電源、LCR數(shù)字電橋、絕緣耐壓測(cè)試儀、電子負(fù)載、示波器、邏輯分析儀、數(shù)據(jù)采集器等測(cè)試儀器的并行控制。

3所有儀器的連接可在硬件設(shè)置界面通過自動(dòng)檢測(cè)的功能實(shí)現(xiàn)，并支持儀器更換品牌型號(hào)的兼容。

4在進(jìn)行環(huán)境應(yīng)力測(cè)試與被測(cè)產(chǎn)品參數(shù)測(cè)試前用戶只需對(duì)儀器設(shè)備的參數(shù)進(jìn)行設(shè)置，即可進(jìn)入自動(dòng)化測(cè)試。

5 測(cè)試系統(tǒng)滿足不同產(chǎn)品在環(huán)境應(yīng)力實(shí)驗(yàn)的同時(shí)進(jìn)行多種參數(shù)的測(cè)試。

6 系統(tǒng)滿足在線測(cè)試的要求，提供多功能的對(duì)象適配模塊，使被測(cè)產(chǎn)品可固定可外接高頻耐高溫鍍銀線纜實(shí)現(xiàn)實(shí)時(shí)測(cè)試，且對(duì)象適配模塊兼容不同被測(cè)產(chǎn)品類型。

7 針對(duì)FPGA多達(dá)256引腳測(cè)試，系統(tǒng)采用引腳測(cè)試模塊與對(duì)象適配模塊的方式完成?？蓪⑿酒?56路引腳接入外圍的引腳測(cè)試模塊中，并行測(cè)試結(jié)束后，用戶可更換引腳測(cè)試模塊的連接線至下一批測(cè)試的引腳，這樣順序執(zhí)行即可完成256路引腳測(cè)試。

8 系統(tǒng)不但運(yùn)行時(shí)間長(zhǎng)，而且能夠確保數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性和運(yùn)行的穩(wěn)定性。

9 系統(tǒng)提供用戶自定義報(bào)告模板的功能，實(shí)現(xiàn)報(bào)告的多樣化和靈活性。