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白盒測(cè)試

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2014-03-04 11:54:087174

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【招聘】算法、圖像檢索、嵌入式、測(cè)試、架構(gòu)等職位(bj/sh)

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2018-03-06 15:26:31

什么是黑盒測(cè)試測(cè)試

軟件測(cè)試其實(shí)就是對(duì)程序進(jìn)行一些操作,來(lái)發(fā)現(xiàn)程序所存在的缺陷,衡量軟件的質(zhì)量,并對(duì)其是否能滿足設(shè)計(jì)要求進(jìn)行評(píng)估的過(guò)程。
2019-07-22 07:56:47

嵌入式軟件怎么測(cè)試?

效率和效果常常是不能讓人滿意的。了解過(guò)一些軟件測(cè)試的大概知識(shí)如黑盒測(cè)試測(cè)試之類的,但一直不知道如何在工作中去實(shí)施。比如在PC平臺(tái)上的軟件要對(duì)某個(gè)功能模塊進(jìn)行測(cè)試可以寫(xiě)一段測(cè)試代碼運(yùn)行一下,但在
2019-10-21 09:10:55

嵌入式軟件技術(shù)的缺陷查找方法介紹

大多數(shù)軟件問(wèn)題,但它們無(wú)法檢查出當(dāng)今復(fù)雜系統(tǒng)中的許多共性錯(cuò)誤。結(jié)構(gòu)測(cè)試測(cè)試能有效地發(fā)現(xiàn)代碼中的邏輯、控制流、計(jì)算和數(shù)據(jù)錯(cuò)誤。這項(xiàng)測(cè)試要求對(duì)軟件的內(nèi)部工作能夠一覽無(wú)遺(因此稱為"
2012-08-22 11:19:08

嵌入式軟件的覆蓋測(cè)試該怎么進(jìn)行?

軟件測(cè)試是很廣的概念。從其貫穿軟件生命周期全過(guò)程來(lái)看,測(cè)試可分為模塊測(cè)試、集成測(cè)試、系統(tǒng)測(cè)試等階段。測(cè)試還可分為靜態(tài)檢查和動(dòng)態(tài)運(yùn)行測(cè)試兩大類。在動(dòng)態(tài)運(yùn)行測(cè)試中,又可有基于程序結(jié)構(gòu)的測(cè)試(或稱為
2019-09-18 07:23:30

嵌入式軟件的重要性

效率的重要工作。目前,裝備嵌入式軟件的自動(dòng)化測(cè)試,更多的還是依賴代碼級(jí)別的測(cè)試工具;黑盒動(dòng)態(tài)測(cè)試還主要是根據(jù)不同的裝備需求,研發(fā)配套的工裝系統(tǒng),測(cè)試效率和測(cè)試深度都有很大缺陷。主要表現(xiàn)在以下幾點(diǎn):...
2021-10-27 06:59:00

嵌入式軟件設(shè)計(jì)中如何查找缺陷?

結(jié)構(gòu)測(cè)試測(cè)試能有效地發(fā)現(xiàn)代碼中的邏輯、控制流、計(jì)算和數(shù)據(jù)錯(cuò)誤。這項(xiàng)測(cè)試要求對(duì)軟件的內(nèi)部工作能夠一覽無(wú)遺(因此稱為""或"玻璃"),以便了解軟件結(jié)構(gòu)
2019-10-24 07:21:47

怎么用嵌入式軟件運(yùn)行剖面生成測(cè)試用例?

航天應(yīng)用中的大部分軟件都是嵌入式軟件,可靠性要求很高,因此,對(duì)其進(jìn)行充分測(cè)試顯得尤為重要。但是,嵌入式軟件運(yùn)行環(huán)境同硬件有著密切的關(guān)系,使得嵌入式軟件測(cè)試過(guò)程非常復(fù)雜,目前存在的一些測(cè)試工具偏重于
2019-10-11 08:32:48

招聘-單片機(jī)開(kāi)發(fā)工程師,高級(jí)嵌入式測(cè)試(北京)

進(jìn)行測(cè)試;2、全權(quán)負(fù)責(zé)所分配的軟件測(cè)試相關(guān)任務(wù);3、跟蹤研發(fā)項(xiàng)目中軟件開(kāi)發(fā),制定軟件測(cè)試計(jì)劃;4、采用測(cè)試技術(shù)、黑盒測(cè)試技術(shù)及嵌入式軟件相關(guān)測(cè)試手段,對(duì)軟件進(jìn)行測(cè)試;5、對(duì)軟件測(cè)試助理工程師進(jìn)行
2013-08-30 14:28:09

淺析嵌入式系統(tǒng)軟件的可靠性測(cè)試難點(diǎn)

動(dòng)態(tài)測(cè)試方法:1)嵌入式軟件“測(cè)試:嵌入式軟件測(cè)試又稱為結(jié)構(gòu)測(cè)試,是指在了解被測(cè)裝置內(nèi)部結(jié)構(gòu)和軟件實(shí)現(xiàn)細(xì)節(jié)的基礎(chǔ)上進(jìn)行的軟件測(cè)試,根據(jù)測(cè)試需要可以打開(kāi)被測(cè)裝置,重點(diǎn)關(guān)注軟件內(nèi)部的實(shí)現(xiàn)細(xì)節(jié)。2
2017-08-02 10:05:36

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3.3.1測(cè)試方法基本概念

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2019-12-19 10:04:103575

什么是EMC測(cè)試_如何進(jìn)行EMC測(cè)試

我們經(jīng)常被問(wèn)到什么是EMC測(cè)試,為什么要進(jìn)行測(cè)試,誰(shuí)應(yīng)該執(zhí)行EMC測(cè)試以及我們?nèi)绾芜M(jìn)行測(cè)試,因此,這篇簡(jiǎn)短的文章將嘗試以非技術(shù)方式回答這些問(wèn)題。希望在此之后,您將理解為什么一致性測(cè)試如此重要,為什么使用能夠正確執(zhí)行測(cè)試測(cè)試實(shí)驗(yàn)室是至關(guān)重要的,以及在選擇EMC測(cè)試實(shí)驗(yàn)室時(shí)應(yīng)該考慮的因素。
2020-05-12 10:49:4615306

軟件測(cè)試測(cè)試對(duì)象:多個(gè)測(cè)試的特點(diǎn)

軟件測(cè)試測(cè)試對(duì)象:多個(gè)測(cè)試的特點(diǎn)
2020-06-29 11:15:022843

α測(cè)試和β測(cè)試的區(qū)別

α測(cè)試和β測(cè)試的區(qū)別
2020-06-29 11:22:4925177

UMTS測(cè)試項(xiàng)目的系統(tǒng)原理與測(cè)試原理介紹

本文旨在通過(guò)一些UMTS的部分測(cè)試用例來(lái)介紹UMTS測(cè)試項(xiàng)目背后的一些測(cè)試原理以及系統(tǒng)原理。希望大家能通過(guò)本文了解一些測(cè)試項(xiàng)目背后的系統(tǒng)原理以及測(cè)試原理。 1、綜述本文主要針對(duì)UMTS終端規(guī)范介紹部分重要測(cè)試項(xiàng)目的測(cè)試原理,主要針對(duì)TS34.121規(guī)范中規(guī)定的射頻測(cè)試項(xiàng)目進(jìn)行介紹。
2020-09-01 10:48:002

詳談黑盒測(cè)試與白盒測(cè)試的異同及用例

詳談黑盒測(cè)試與白盒測(cè)試的異同及用例
2020-08-19 17:07:215794

什么是PCBA測(cè)試架_PCBA測(cè)試架的用途

PCBA測(cè)試架的原理很簡(jiǎn)單,是通過(guò)金屬探針連接PCB板上的焊盤(pán)或測(cè)試點(diǎn),在PCB板加電的情況下,獲取測(cè)試電路的電壓值、電流值等典型數(shù)值,從而觀測(cè)所測(cè)試電路是否導(dǎo)通正常。
2020-09-25 11:37:014790

VLSI測(cè)試與可測(cè)試性設(shè)計(jì)的學(xué)習(xí)課件資料合集

VLSI測(cè)試技術(shù)導(dǎo)論, 可測(cè)試性設(shè)計(jì), 邏輯與故障模擬,測(cè)試生成,邏輯自測(cè)試測(cè)試壓縮,邏輯電路故障診斷,存儲(chǔ)器測(cè)試與BIST,存儲(chǔ)器診斷與BISR,邊界掃描與SOC測(cè)試,納米電路測(cè)試技術(shù),復(fù)習(xí)及習(xí)題
2020-10-09 08:00:001

ICT測(cè)試與飛針測(cè)試

為您的印刷電路板確定最佳測(cè)試方法可能是一項(xiàng)艱巨的任務(wù)。有很多因素需要考慮,包括成本,覆蓋范圍和開(kāi)發(fā)提前期。但是,您經(jīng)常會(huì)發(fā)現(xiàn)有兩種流行的測(cè)試策略供您選擇: ICT 測(cè)試與飛針測(cè)試。 兩者中哪一個(gè)
2020-10-14 20:25:425543

淺談PCB設(shè)計(jì)板級(jí)測(cè)試中的有源測(cè)試

關(guān)于測(cè)試,分板級(jí)測(cè)試和芯片測(cè)試,板級(jí)測(cè)試又分無(wú)源測(cè)試,有源測(cè)試。板級(jí)測(cè)試的目的是驗(yàn)證在當(dāng)前特定的這塊PCB上,板材、拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)、走線長(zhǎng)度等等都已固化的情況下,信號(hào)質(zhì)量如何。芯片測(cè)試的目的是驗(yàn)證這款芯片
2021-03-26 11:42:284546

晶圓及芯片測(cè)試

晶圓測(cè)試:接觸測(cè)試、功耗測(cè)試、輸入漏電測(cè)試、輸出電平測(cè)試、全面的功能測(cè)試、全面的動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試、模擬信號(hào)參數(shù)測(cè)試。
2021-04-09 15:55:12102

起毛起球評(píng)級(jí)箱的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)及測(cè)試方法的簡(jiǎn)介

起毛起球評(píng)級(jí)箱 適用于所有起球勾絲測(cè)試評(píng)級(jí)標(biāo)準(zhǔn),將試樣與標(biāo)準(zhǔn)圖卡在制定光源下進(jìn)行對(duì)照得出評(píng)級(jí)結(jié)果。適用類型:馬丁代爾起球測(cè)試,ICI起球測(cè)試.ICI勾絲測(cè)試,亂翻式起球測(cè)試,圓軌跡法起毛起球測(cè)試
2021-06-15 11:29:125172

芯片測(cè)試流程 芯片測(cè)試價(jià)格

集成電路芯片的測(cè)試(ICtest)分類包括:分為晶圓測(cè)試(wafertest)、芯片測(cè)試(chiptest)和封裝測(cè)試(packagetest)。
2021-07-14 14:31:239715

嵌入式測(cè)試階段及解析測(cè)試流程

嵌入式測(cè)試階段:根據(jù)軟件開(kāi)發(fā)階段不同,可分為平臺(tái)測(cè)試、單元測(cè)試、集成測(cè)試和系統(tǒng)測(cè)試。1.平臺(tái)測(cè)試包括硬件電路測(cè)試、操作系統(tǒng)及底層驅(qū)動(dòng)程序測(cè)試等等。硬件電路測(cè)試需要所對(duì)應(yīng)的測(cè)試工具來(lái)進(jìn)行測(cè)試。操作系統(tǒng)
2021-10-20 09:59:099

測(cè)試】嵌入式軟件測(cè)試VS一般軟件測(cè)試

文章目錄1)什么是軟件測(cè)試測(cè)試的目的:軟件測(cè)試的特點(diǎn):軟件測(cè)試信息流:軟件測(cè)試的對(duì)象:2)嵌入式軟件測(cè)試2.1 嵌入式軟件2.2 嵌入式軟件測(cè)試嵌入式軟件測(cè)試的特點(diǎn):3)嵌入式軟件測(cè)試與普通軟件
2021-10-21 13:06:0829

線束測(cè)試儀耐壓測(cè)試的工作原理是什么

Aigtek安泰線束測(cè)試儀具有導(dǎo)通測(cè)試,二極管測(cè)試,兩線制或四線制電阻測(cè)試,絕緣測(cè)試,耐壓測(cè)試等功能。是一款綜合性線束測(cè)試儀,軟件功能操作,登錄權(quán)限設(shè)置,測(cè)試報(bào)告及數(shù)據(jù)存儲(chǔ)分析等??涉溄哟蛴C(jī),探針,轉(zhuǎn)接板,校準(zhǔn)配件等,滿足線纜測(cè)試基本功能需求。
2022-06-17 14:38:182012

Pogo Pin機(jī)械測(cè)試測(cè)試內(nèi)容及測(cè)試目的

彈簧針Pogo Pin連接器需要通過(guò)的測(cè)試項(xiàng)目包括機(jī)械性能測(cè)試、環(huán)境測(cè)試、電氣測(cè)試及精密測(cè)試。機(jī)械性能測(cè)試需要使用紙帶耐磨試驗(yàn)機(jī)、按鍵壽命測(cè)試機(jī)、剝離試驗(yàn)機(jī)、維氏硬度計(jì)等檢驗(yàn)檢測(cè)設(shè)備。下面著重介紹
2022-08-22 09:29:502391

什么是PCBA測(cè)試的ICT測(cè)試?

對(duì)數(shù)字IC,采用Vector(向量)測(cè)試。向量測(cè)試類似于真值表測(cè)量,激勵(lì)輸入向量,測(cè)量輸出向量,通過(guò)實(shí)際邏輯功能測(cè)試判斷器件的好壞。如:與非門(mén)的測(cè)試對(duì)模擬IC的測(cè)試,可根據(jù)IC實(shí)際功能激勵(lì)電壓、電流,測(cè)量對(duì)應(yīng)輸出,當(dāng)作功能塊測(cè)試。
2022-09-07 10:01:464922

硬件測(cè)試與軟件測(cè)試的一些區(qū)別

硬件測(cè)試一般是硬件產(chǎn)品的測(cè)試,保證測(cè)試質(zhì)量和順利進(jìn)行,參與硬件測(cè)試技術(shù)和規(guī)范的改進(jìn)和制定。測(cè)試人員需要熟練使用萬(wàn)用表、示波器等各種基本測(cè)試儀器。 軟件測(cè)試是利用人工或自動(dòng)手段運(yùn)行或測(cè)試一個(gè)系統(tǒng)的過(guò)程
2022-11-20 11:25:261210

軟件性能測(cè)試常見(jiàn)指標(biāo)。在哪里測(cè)試測(cè)試?

軟件性能測(cè)試是指測(cè)試I程師運(yùn)用各種自動(dòng)化測(cè)試工具在正常、峰值或者特殊異常情況下對(duì)系統(tǒng)軟件進(jìn)行測(cè)試,以檢測(cè)系統(tǒng)的性能指標(biāo)。性能測(cè) 也被稱為多用戶并發(fā)性能測(cè)試,負(fù)載測(cè)試、穩(wěn)定性測(cè)試、壓力測(cè)試、可靠性測(cè)試
2022-12-22 23:13:39232

軟件測(cè)試中的功能測(cè)試和非功能測(cè)試

什么是功能測(cè)試? 進(jìn)行功能測(cè)試以確保應(yīng)用程序的功能符合需求規(guī)范。這是黑盒測(cè)試,不涉及應(yīng)用程序源代碼的詳細(xì)信息。在執(zhí)行功能測(cè)試時(shí),重點(diǎn)應(yīng)放在應(yīng)用程序主要功能的用戶友好性上。要首先執(zhí)行功能測(cè)試,我們需要
2023-01-03 17:07:351215

軟件測(cè)試之易用性測(cè)試

一、易用性測(cè)試概述 我們所說(shuō)的易用性測(cè)試是指軟件界面的測(cè)試,而對(duì)于產(chǎn)品的易用性來(lái)說(shuō),不僅僅是軟件界面,還包括硬件(即產(chǎn)品的外觀),如按鈕圖標(biāo)是否易懂、菜單是否易找到等。易用性主要研究3個(gè)方向:用戶
2023-02-28 15:01:24856

PCB測(cè)試架和PCBA測(cè)試架的原理與用途

在PCBA生產(chǎn)制造的過(guò)程中會(huì)用到兩種測(cè)試架,一種是pcb測(cè)試架,一種是PCBA測(cè)試架,很多客戶會(huì)將二者弄混,有的甚至不知道測(cè)試架是做什么用的,接下來(lái)為大家介紹這兩種測(cè)試架的原理以及其用途。
2023-04-27 15:32:451997

軟件驗(yàn)收測(cè)試和系統(tǒng)測(cè)試的區(qū)別點(diǎn)

軟件驗(yàn)收測(cè)試和系統(tǒng)測(cè)試是軟件測(cè)試過(guò)程中的兩個(gè)階段。驗(yàn)收測(cè)試是部署軟件之前的最后一個(gè)測(cè)試操作。在軟件產(chǎn)品完成了單元測(cè)試、集成測(cè)試和系統(tǒng)測(cè)試之后,產(chǎn)品發(fā)布 之前所進(jìn)行的軟件測(cè)試活動(dòng)。它是技術(shù)測(cè)試的最后
2023-05-06 21:32:23460

芯片測(cè)試測(cè)試方法有哪些?

芯片從設(shè)計(jì)到成品有幾個(gè)重要環(huán)節(jié),分別是設(shè)計(jì)->流片->封裝->測(cè)試,但芯片成本構(gòu)成的比例確大不相同,一般為人力成本20%,流片40%,封裝35%,測(cè)試5%。測(cè)試是芯片各個(gè)環(huán)節(jié)中最
2023-05-22 08:58:331849

如何分辨測(cè)試治具和測(cè)試

測(cè)試治具和測(cè)試座是電子產(chǎn)品測(cè)試時(shí)常用的兩種工具。雖然它們的作用相似,但它們的外形和用途略有不同。
2023-06-09 15:11:33388

ic測(cè)試座是芯片測(cè)試必不可少的專用測(cè)試工具

IC測(cè)試座是一種專門(mén)用于測(cè)試集成電路(IC)的工具,也被稱為IC插座或者IC測(cè)試夾。
2023-06-19 15:07:23576

使用TPT進(jìn)行測(cè)試建模/測(cè)試設(shè)計(jì)

TPT中的測(cè)試用例用信號(hào)特征和函數(shù)調(diào)用描述被測(cè)系統(tǒng)的刺激。您可以用連續(xù)的測(cè)試步驟對(duì)簡(jiǎn)單的測(cè)試進(jìn)行建模。對(duì)于更復(fù)雜的測(cè)試用例,TPT提供了混合狀態(tài)機(jī)和測(cè)試步驟的圖形化建模。無(wú)論應(yīng)用哪種方法,由于使用了
2022-11-25 11:15:50608

車載測(cè)試是什么 車載測(cè)試介紹

車載測(cè)試是什么 車載測(cè)試是指在汽車領(lǐng)域中對(duì)車輛及其相關(guān)系統(tǒng)進(jìn)行測(cè)試和診斷的過(guò)程。它是一種系統(tǒng)性的測(cè)試方法,旨在評(píng)估車輛的功能、性能、安全性、可靠性并確保其符合預(yù)定的標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范。 車載測(cè)試主要包含
2023-07-19 11:03:112734

汽車電子測(cè)試服務(wù)-軟件測(cè)試

上海北匯除可提供軟件單元/集成測(cè)試的解決方案之外,也提供單元/集成測(cè)試測(cè)試服務(wù)。測(cè)試范圍:針對(duì)模型/代碼的動(dòng)態(tài)測(cè)試(應(yīng)用層):?jiǎn)卧?jí)/組件級(jí)/軟件級(jí)。
2022-07-19 15:43:04484

什么是可測(cè)試性設(shè)計(jì) 可測(cè)試性評(píng)估詳解

可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)之可測(cè)試性評(píng)估詳解 可測(cè)試性設(shè)計(jì)的定性標(biāo)準(zhǔn): 測(cè)試費(fèi)用: 一測(cè)試生成時(shí)間 -測(cè)試申請(qǐng)時(shí)間 -故障覆蓋 一測(cè)試存儲(chǔ)成本(測(cè)試長(zhǎng)度) 自動(dòng)測(cè)試設(shè)備的一可用性
2023-09-01 11:19:34459

V2X功能測(cè)試用例設(shè)計(jì)及測(cè)試分類方法

汽車行業(yè)中,任何一款產(chǎn)品的上線都離不開(kāi)測(cè)試工作,在整個(gè)測(cè)試工作中,測(cè)試人員通過(guò)使用不同的測(cè)試技術(shù)來(lái)創(chuàng)建測(cè)試用例,保證測(cè)試活動(dòng)的全面性和高效性。根據(jù)ISTQB可以將測(cè)試技術(shù)分為黑盒、白盒和基于經(jīng)驗(yàn)
2023-09-07 08:27:13357

什么是芯片測(cè)試座?芯片測(cè)試座的選擇和使用

芯片測(cè)試座,又稱為IC測(cè)試座、芯片測(cè)試夾具或DUT夾具,是一種用于測(cè)試集成電路(IC)或其他各種類型的半導(dǎo)體器件的設(shè)備。它為芯片提供了一個(gè)穩(wěn)定的物理和電氣接口,使得在不造成芯片或測(cè)試設(shè)備損傷的情況下
2023-10-07 09:29:44811

電源高壓測(cè)試是什么?有哪些測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)?

ATECLOUD-POWER電源測(cè)試系統(tǒng)滿足電源常規(guī)測(cè)試指標(biāo),用電源測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試電源高壓,不僅可以提升測(cè)試數(shù)據(jù)準(zhǔn)確性,還可以自動(dòng)分析數(shù)據(jù),所測(cè)數(shù)據(jù)也可以生成數(shù)據(jù)報(bào)告并導(dǎo)出,方便用戶分析、管理數(shù)據(jù),提升電源性能,實(shí)現(xiàn)智能化改造。
2023-10-24 16:34:181227

芯片電學(xué)測(cè)試是什么?都有哪些測(cè)試參數(shù)?

電學(xué)測(cè)試是芯片測(cè)試的一個(gè)重要環(huán)節(jié),用來(lái)描述和評(píng)估芯片的電性能、穩(wěn)定性和可靠性。芯片電學(xué)測(cè)試包括直流參數(shù)測(cè)試、交流參數(shù)測(cè)試和高速數(shù)字信號(hào)性能測(cè)試等。
2023-10-26 15:34:14629

開(kāi)關(guān)電源特性怎么測(cè)試?有哪些測(cè)試指標(biāo)?測(cè)試的規(guī)范是什么?

對(duì)開(kāi)關(guān)電源特性進(jìn)行測(cè)試是為了確保電氣性能的設(shè)計(jì)符合要求,保證電源的工作狀態(tài)。在進(jìn)行電源特性測(cè)試時(shí)需要注意測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)和測(cè)試條件,確保測(cè)試符合要求,保證測(cè)試結(jié)果準(zhǔn)確性。
2023-11-02 14:37:47549

什么是浮地測(cè)試?如何進(jìn)行浮地測(cè)試?

浮地測(cè)試是電氣工程中常用的測(cè)試方法之一,其主要作用是檢測(cè)電氣設(shè)備和電路中的接地故障。
2023-11-02 15:41:42490

電源電性能測(cè)試之諧波測(cè)試

開(kāi)關(guān)電源電性能測(cè)試需要做諧波測(cè)試,它是屬于輸入特性方面的測(cè)試。
2023-11-03 14:18:57557

什么是電源功能測(cè)試?電源測(cè)試系統(tǒng)有什么測(cè)試優(yōu)勢(shì)?

電源功能測(cè)試是評(píng)估電源質(zhì)量好壞、性能、響應(yīng)等的重要測(cè)試方法,也是電源的常規(guī)測(cè)試內(nèi)容,包含電壓調(diào)整率、負(fù)載調(diào)整率、紋波測(cè)試等。納米軟件專注于儀器測(cè)試軟件的開(kāi)發(fā),針對(duì)電源模塊測(cè)試提供軟硬件解決方案。對(duì)于
2023-11-03 15:50:22593

安規(guī)測(cè)試儀的類型 安規(guī)測(cè)試儀的應(yīng)用

安規(guī)測(cè)試儀的類型 安規(guī)測(cè)試儀的應(yīng)用? 安規(guī)測(cè)試儀,也被稱為電器安全測(cè)試儀,是用于對(duì)電器產(chǎn)品進(jìn)行安全性能測(cè)試的儀器設(shè)備。它可以用來(lái)檢測(cè)產(chǎn)品在正常和異常情況下的安全性能,以確保產(chǎn)品符合相關(guān)的安全標(biāo)準(zhǔn)
2023-11-07 10:18:06434

半導(dǎo)體可靠性測(cè)試有哪些測(cè)試項(xiàng)目?測(cè)試方法是什么?

可靠性測(cè)試是半導(dǎo)體器件測(cè)試的一項(xiàng)重要測(cè)試內(nèi)容,確保半導(dǎo)體器件的性能和穩(wěn)定性,保證其在各類環(huán)境長(zhǎng)時(shí)間工作下的穩(wěn)定性。半導(dǎo)體可靠性測(cè)試項(xiàng)目眾多,測(cè)試方法多樣,常見(jiàn)的有高低溫測(cè)試、熱阻測(cè)試、機(jī)械沖擊測(cè)試、引線鍵合強(qiáng)度測(cè)試等。
2023-11-09 15:57:52748

電源模塊過(guò)溫保護(hù)測(cè)試原理、測(cè)試步驟、測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)詳解

過(guò)溫保護(hù)測(cè)試是電源模塊保護(hù)功能測(cè)試項(xiàng)目之一,也是電源模塊測(cè)試的重要測(cè)試指標(biāo),以保證電源模塊過(guò)溫保護(hù)功能正常,確保電源模塊不受損壞。用ate測(cè)試軟件測(cè)試電源模塊過(guò)溫保護(hù),不僅可以保證測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性,還可以多維度分析數(shù)據(jù),指導(dǎo)電源的設(shè)計(jì)和生產(chǎn)。
2023-11-14 14:56:57453

測(cè)試焊接質(zhì)量的方法,推拉力測(cè)試機(jī)測(cè)試方法

焊點(diǎn)推力測(cè)試是一種測(cè)試焊接質(zhì)量的方法,它可以檢測(cè)焊點(diǎn)的強(qiáng)度和耐久性。測(cè)試時(shí),將焊點(diǎn)固定在測(cè)試機(jī)上,然后施加一定的力量來(lái)測(cè)試焊點(diǎn)的承載能力。測(cè)試結(jié)果可以用來(lái)評(píng)估焊接的質(zhì)量和可靠性,以及確定焊接是否符合
2023-12-11 17:59:52253

開(kāi)關(guān)電源功率如何測(cè)試?有哪些測(cè)試方法?開(kāi)關(guān)電源測(cè)試軟件的測(cè)試優(yōu)勢(shì)是什么?

開(kāi)關(guān)電源功率常見(jiàn)的測(cè)試方法有:通過(guò)測(cè)量電壓和電流來(lái)計(jì)算出功率、使用功率計(jì)直接測(cè)出功率。這兩種測(cè)試方法各有優(yōu)點(diǎn)與不足。以自動(dòng)化方式測(cè)試開(kāi)關(guān)電源工率,用開(kāi)關(guān)電源測(cè)試軟件不僅可以提高測(cè)試速度,還可以對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行多維度分析,確保測(cè)試數(shù)據(jù)和結(jié)果可靠性。
2023-12-20 16:03:42637

探針測(cè)試臺(tái)工作原理 探針測(cè)試臺(tái)為嘛測(cè)試會(huì)偏大?

探針測(cè)試臺(tái)是一種用于測(cè)試集成電路(IC)的設(shè)備,工作原理是將待測(cè)試的IC芯片安裝在測(cè)試座上,然后通過(guò)探針接觸到芯片的引腳,以測(cè)試芯片的功能和性能。在測(cè)試過(guò)程中,探針測(cè)試臺(tái)會(huì)生成一系列的測(cè)試信號(hào),通過(guò)
2024-02-04 15:14:19234

PCBA測(cè)試測(cè)試設(shè)備都有哪些?

一站式PCBA智造廠家今天為大家講講 測(cè)試PCBA需要哪些儀器設(shè)備?PCBA加工所需要用到的檢測(cè)設(shè)備。PCBA測(cè)試(Printed Circuit Board Assembly Testing
2024-03-11 09:40:30135

如何使用EMC測(cè)試軟件執(zhí)行輻射抗擾度測(cè)試?(一)測(cè)試方法

一、前言 輻射抗擾度測(cè)試是對(duì)對(duì)講機(jī)、移動(dòng)電話、便攜式電話和廣播發(fā)射機(jī)等強(qiáng)發(fā)射機(jī)產(chǎn)生的射頻場(chǎng)的模擬。 二、測(cè)試方法 在輻射抗擾度測(cè)試期間,測(cè)試電波暗室中會(huì)產(chǎn)生射頻場(chǎng)。不同的EMC測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)使用不
2024-03-11 15:03:06126

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