在線測試,ICT,In-Circuit Test,是通過對在線元器件的電性能及電氣連接進(jìn)行測試來檢查生產(chǎn)制造缺陷及元器件不良的一種標(biāo)準(zhǔn)測試手段。
2012-03-26 11:41:01
4437 TLT507-EVM-評估板測試手冊
2024-01-26 09:27:10
257 
現(xiàn)場測試 灌溉測試儀套件
2024-03-14 22:12:01
4396B性能測試手冊
2019-04-02 08:40:11
測試點(diǎn)/測試插座/測試插針
2023-03-30 17:34:49
測試手機(jī)傳導(dǎo)時(shí)無法連接,都有哪些原因?
2013-11-26 16:28:28
FT測試,英文全稱Final Test,是芯片出廠前的最后一道攔截。測試對象是針對封裝好的chip,對封裝好了的每一個(gè)chip進(jìn)行測試,是為了把壞的chip挑出來,檢驗(yàn)的是封裝的良率。
FT測試
2023-08-01 15:34:26
天能否正常工作,以及芯片能用一個(gè)月、一年還是十年等等,這些都要通過可靠性測試進(jìn)行評估。那要實(shí)現(xiàn)這些測試,我們有哪些手段呢?測試方法:板級測試、晶圓CP測試、封裝后成品FT測試、系統(tǒng)級SLT測試、可靠性
2021-01-29 16:13:22
芯片功能測試常用5種方法有板級測試、晶圓CP測試、封裝后成品FT測試、系統(tǒng)級SLT測試、可靠性測試。
2023-06-09 16:25:42
、一年還是十年等等,這些都要通過可靠性測試進(jìn)行評估。那要實(shí)現(xiàn)這些測試,我們有哪些手段呢?測試方法:板級測試、晶圓CP測試、封裝后成品FT測試、系統(tǒng)級SLT測試、可靠性測試,多策并舉。板級測試,主要應(yīng)用于
2020-09-02 18:07:06
對于移動(dòng)端APP的測試工作經(jīng)歷了功能測試,自動(dòng)化測試,性能測試幾個(gè)階段之后,看似測試的工作已經(jīng)完整執(zhí)行完畢,但是在后期使用過程中,依然會有一些未知的問題被反饋出來,所以為了能更好的保障軟件產(chǎn)品的質(zhì)量,對移動(dòng)端APP進(jìn)行專項(xiàng)測試也是常見的一種測試手段。
2022-04-17 09:31:05
DALI電源的常規(guī)調(diào)試和測試手段重點(diǎn)在于參數(shù)配置和狀態(tài)查看,但這是建立在DALI系統(tǒng)內(nèi)所有設(shè)備工作正常的前提之下。如果測試的環(huán)境中存在故障或者部分設(shè)備為待驗(yàn)證功能的新產(chǎn)品,那么采用這種方...
2022-01-03 06:34:57
測試元件 脈沖發(fā)生器測試儀
2024-03-14 20:50:37
隨著高速設(shè)計(jì)越來越普遍,信號完整性設(shè)計(jì)在產(chǎn)品開發(fā)中也受到了越來越多的重視。信號完整性的測試手段種類繁多,有頻域,也有時(shí)域的,還有一些綜合性的手段,涉及的儀器也很多,因此熟悉各種測試手段的特點(diǎn),以及
2019-08-26 08:12:50
`請問PCBA測試常見形式有哪些?`
2020-03-23 16:44:42
以看出整個(gè)工藝流程存在的問題,比如前期工序SMT、DIP等,存在問題,就進(jìn)行調(diào)整,讓整個(gè)工藝更加完善。PCBA測試常見方法,主要有以下幾種: 1.手工測試手工測試就是直接依靠視覺進(jìn)行測試,通過視覺與比較來
2016-11-08 17:19:06
測試元件 LCR 測試儀
2024-03-14 21:39:21
測試元件 LCR 測試儀
2024-03-14 21:39:21
測試元件 LCR 測試儀
2024-03-14 21:39:21
產(chǎn)品測試手冊,,
2017-09-30 08:59:05
全網(wǎng)通模塊EC20測試手冊很多客戶問到3G/4G模塊,準(zhǔn)備好了嗎?明遠(yuǎn)小編為你一一解答:MY-EC20 Linux-3.14.52 測試手冊支持的設(shè)備MY-IMX6-A9系列
2018-06-15 17:18:40
信號完整性仿真,這兩個(gè)手段結(jié)合在一起,為硬件開發(fā)活動(dòng)提供了強(qiáng)大的支持。圖1是目前比較常見的硬件開發(fā)過程。 在需求分析和方案選擇階段,就可以應(yīng)用一些信號完整性測試手段和仿真手段來分析可行性,或者判斷哪種
2014-12-15 14:13:30
信號完整性設(shè) 計(jì)在產(chǎn)品開發(fā)中越來越受到重視,而信號完整性的測試手段種類繁多,有頻域,也有時(shí)域的,還有一些綜合性的手段,比如誤碼測試。這些手段并非任何情況下都適 合使用,都存在這樣那樣的局限性,合適
2019-06-03 06:53:10
請問各位,開放式FPGA的常見測試應(yīng)用有哪些?
2021-05-06 09:53:50
測量MIMO:新技術(shù)需要新的測試手段作者:測量測試… 文章來源:EEFOCUS  
2008-06-13 13:55:40
求大神分享MY-RK3288-EK314 L31079測試手冊
2022-03-02 07:56:08
汽車電子部件EMI抗擾性測試的各種方法及其優(yōu)缺點(diǎn),幫助測試工程師正確選擇最佳的測試手段。
2021-04-14 06:45:47
類似芯片,整個(gè)產(chǎn)品元器件數(shù)目不超過20個(gè),認(rèn)為沒什么技術(shù)含量,很容易搞定。進(jìn)來后才知道要做好這個(gè)產(chǎn)品其實(shí)都很難的,方向性、一至性、靈敏度的要求很難兼顧,最主要是測試手段不夠,批量時(shí)測試不可能像測試
2014-04-30 11:04:55
摘要:相位噪聲指標(biāo)對于當(dāng)前的射頻微波系統(tǒng)、移動(dòng)通信系統(tǒng)、雷達(dá)系統(tǒng)等電子系統(tǒng)影響非常明顯,將直接影響系統(tǒng)指標(biāo)的優(yōu)劣。該項(xiàng)指標(biāo)對于系統(tǒng)的研發(fā)、設(shè)計(jì)均具有指導(dǎo)意義。相位噪聲指標(biāo)的測試手段很多,如何能夠精準(zhǔn)
2019-07-18 07:19:43
自動(dòng)化測試儀器對開關(guān)電源測試的常見疑問是什么
2021-03-11 08:17:02
調(diào)器的絕對延時(shí),卻一直困擾著我們。下面是對調(diào)制器和解調(diào)器測試手段和測試方法的探索和分析,希望對研發(fā)和測試工作者有參考價(jià)值。
2019-07-19 06:15:58
軟交換是什么?有哪些特點(diǎn)?軟交換性能的高低為什么會成為運(yùn)營商考察NGN系統(tǒng)好壞與否的關(guān)鍵指標(biāo)?軟交換常見的測試方法有哪幾種?軟交換關(guān)鍵參數(shù)是什么?及性能測試結(jié)果是怎樣的?當(dāng)軟交換測試碰到故障時(shí),我們可以采取哪幾種輔助定位的手段來做進(jìn)一步分析?
2021-04-15 06:34:32
信號完整性設(shè)計(jì)在產(chǎn)品開發(fā)中越來越受到重視,而信號完整性的測試手段種類繁多,有頻域,也有時(shí)域的,還有一些綜合性的手段,比如誤碼測試。這些手段并非任何情況下都適合使用,都存在這樣那樣的局限性,合適選用,可以做到事半功倍,避免走彎路。
2019-08-26 06:32:33
測試 測試測試測試
2021-11-22 09:26:58

為實(shí)現(xiàn)裝甲裝備全車電纜的原位自動(dòng)測試,克服傳統(tǒng)測試手段效率低、精度差等弊端,研制了一套針對裝甲裝備電纜斷、短路故障的原位通用測試系統(tǒng);系統(tǒng)采用單片機(jī)技術(shù)、數(shù)
2009-08-31 14:43:42
23 一、測試規(guī)范介紹
二、測試項(xiàng)目
三、輻射參數(shù)測試
四、電路參數(shù)測試
五、環(huán)境與可靠性試驗(yàn)
2010-10-10 15:51:36
93 常用信號完整性的測試手段和在設(shè)計(jì)的應(yīng)用
信號完整性設(shè) 計(jì)在產(chǎn)品開發(fā)中越來越受到重視,而信號完整性的測試手段種類繁多,有頻域,也有時(shí)域的,還有一些綜合性
2009-06-30 11:04:29
701 
信號完整性的測試手段很多,涉及的儀器也很多,因此熟悉各種測試手段的特點(diǎn),以及根據(jù)測試對象的特性和要求,選用適當(dāng)?shù)?b class="flag-6" style="color: red">測試手段,對于選擇方案、驗(yàn)證效果、解決問題等硬件開
2011-04-21 11:14:27
9055 
信號完整性的測試手段主要可以分為三大類,下面對這些手段進(jìn)行一些說明,抖動(dòng)測試.波形測試,眼圖測試
2011-11-21 13:59:06
2267 IC測試常見問答提供了IC測試中最常見到的一些問題并給出了解決方法,希望對您有所幫助!
2012-02-03 16:40:38
3528 硅片級可靠性(WLR)測試最早是為了實(shí)現(xiàn)內(nèi)建(BIR)可靠性而提出的一種測試手段。
2012-03-27 15:53:09
3852 越來越小的利潤空間正驅(qū)使元器件制造商降低生產(chǎn)成本,包括測試成本在內(nèi)。采用具有嵌入式測試排序器的儀器會起到作用。為了采取更有效的測試手段來提高利潤空間,制造商要考慮
2012-04-26 10:22:31
707 
產(chǎn)品測試手冊FPGA資料,又需要的下來看看
2016-08-09 14:45:44
38 CP最大的目的就是確保在芯片封裝前,盡可能地把壞的芯片篩選出來以節(jié)約封裝費(fèi)用。所以基于這個(gè)認(rèn)識,在CP測試階段,盡可能只選擇那些對良率影響較大的測試項(xiàng)目,一些測試難度大,成本高但fail率不高的測試項(xiàng)目,完全可以放到FT階段再測試。這些項(xiàng)目在CP階段測試意義不大,只會增加測試的成本。
2017-10-27 15:17:20
64609 信號完整性設(shè)計(jì)在產(chǎn)品開發(fā)中越來越受到重視,而信號完整性的測試手段種類繁多,有頻域,也有時(shí)域的,還有一些綜合性的手段,比如誤碼測試。這些手段并非任何情況下都適合使用,都存在這樣那樣的局限性,合適選用,可以做到事半功倍,避免走彎路。本文對各種測試手段進(jìn)行介紹,并結(jié)合實(shí)際硬件開發(fā)活動(dòng)說明如何選用。
2017-11-22 10:06:16
4504 
信號完整性設(shè)計(jì)在產(chǎn)品開發(fā)中越來越受到重視,而信號完整性的測試手段種類繁多,有頻域,也有時(shí)域的,還有一些綜合性的手段,比如誤碼測試。這些手段并非任何情況下都適合使用,都存在這樣那樣的局限性,合適選用
2017-11-23 19:52:39
516 使用MES提高生產(chǎn)力已經(jīng)成為半導(dǎo)體測試廠商的常見手段,而客戶對FT測試流程及測試步驟的多樣化需求要求MES軟件必須具有靈活定制測試流程的功能,并在必要時(shí)能夠由開發(fā)人員在MES軟件中快速擴(kuò)展出新種類
2017-12-05 14:06:04
3 信號完整性設(shè) 計(jì)在產(chǎn)品開發(fā)中越來越受到重視,而信號完整性的測試手段種類繁多,有頻域,也有時(shí)域的,還有一些綜合性的手段,比如誤碼測試。這些手段并非任何情況下都適 合使用,都存在這樣那樣的局限性,合適
2018-01-21 16:36:01
306 信號完整性的測試手段主要可以分為三大類:1. 抖動(dòng)測試;2. 波形測試;3. 眼圖測試
2018-03-21 10:14:00
6712 動(dòng)態(tài)測試因測試實(shí)施過程中被測系統(tǒng)處于運(yùn)行狀態(tài),能夠較為準(zhǔn)確地反映系統(tǒng)實(shí)際運(yùn)行時(shí)的行為,因此在測試技術(shù)中成為最重要的測試手段之一。FPGA動(dòng)態(tài)測試過程通常采用仿真測試與實(shí)物測試相結(jié)合的方法,通過執(zhí)行測試用例覆蓋FPGA需求、發(fā)現(xiàn)相關(guān)缺陷,與靜態(tài)測試相比, 具有測試結(jié)果直觀、覆蓋率高等優(yōu)勢。
2018-04-21 09:17:52
5993 
測試、計(jì)量是人們從客觀事物中提取所需信息,借以認(rèn)識客觀事物并掌握其客觀規(guī)律的一種科學(xué)方法,測試測量技術(shù)則是通過測試手段實(shí)現(xiàn)上述方法的技術(shù)。
2018-08-29 16:09:34
2612 淺談易用性測試及GUI常見的測試要求
2020-06-29 10:15:11
2504 數(shù)據(jù)測試:UI測試常見BUG
2020-06-29 10:17:46
2263 隨著高速設(shè)計(jì)越來越普遍,信號完整性設(shè)計(jì)在產(chǎn)品開發(fā)中也受到了越來越多的重視。信號完整性的測試手段種類繁多,有頻域,也有時(shí)域的,還有一些綜合性的手段,涉及的儀器也很多,因此熟悉各種測試手段的特點(diǎn),以及
2020-11-11 10:39:00
1 信號完整性設(shè)計(jì)在產(chǎn)品開發(fā)中越來越受到重視,而信號完整性的測試手段種類繁多,有頻域,也有時(shí)域的,還有一些綜合性的手段,比如誤碼測試。這些手段并非任何情況下都適合使用,都存在這樣那樣的局限性,合適選用
2020-09-09 10:47:00
2 信號完整性測試的手段有很多,主要的一些手段有波形測試、眼圖測試、抖動(dòng)測試等,目前應(yīng)用比較廣泛的信號完整性測試手段應(yīng)該是波形測試,即使用示波器測試波形幅度、邊沿和毛刺等,通過測試波形的參數(shù),可以看出幅度、邊沿時(shí)間等是否滿足器件接口電平的要求,有沒有存在信號毛刺等。
2020-09-24 09:31:30
1654 測試方法:板級測試、晶圓CP測試、封裝后成品FT測試、系統(tǒng)級SLT測試、可靠性測試,多策并舉。
2020-12-29 14:47:08
31914 手機(jī)攝像頭性能測試項(xiàng)目和目的可分為: 1.像素測試測試手機(jī)攝像頭的像素是否達(dá)到了標(biāo)準(zhǔn)值。 2.色彩還原測試測試手機(jī)攝像頭在各種光源環(huán)境下對物體的還原能力。 3.解析度測試主要測試手機(jī)攝像頭對于物體
2020-10-14 15:41:14
1018 電阻測試是表征材料特性的最常用測試手段,在某些應(yīng)用中,用戶需要進(jìn)行極端微小電阻(Ultra-lowresistance)測試,例如納米材料,超導(dǎo)材料,繼電器開關(guān),低電阻材料、連接器的測試,或者精密的熱量測定和研究領(lǐng)域。這些被測件通常具有非常高的導(dǎo)電性和非常小的電阻阻值,對測試連接方案有很大挑戰(zhàn)。
2020-10-19 10:01:10
572 信號完整性測試的手段有很多,主要的一些手段有波形測試、眼圖測試、抖動(dòng)測試等,目前應(yīng)用比較廣泛的信號完整性測試手段應(yīng)該是波形測試,即——使用示波器測試波形幅度、邊沿和毛刺等,通過測試波形的參數(shù),可以
2020-10-30 03:40:14
998 ,它的各項(xiàng)性能最好能到什么程度、最薄弱的環(huán)節(jié)又在哪。因?yàn)?b class="flag-6" style="color: red">芯片測試的儀器是誤碼儀,跟板級測試的手段、目的都不相同,所以今天我們先講講板級測試中的有源測試,芯片測試放到下次再講。 上周關(guān)于測試的留言中點(diǎn)贊人數(shù)最多的
2021-03-26 11:42:28
4546 信號完整性測試的手段有很多,主要的一些手段有波形測試、眼圖測試、抖動(dòng)測試等,目前應(yīng)用比較廣泛的信號完整性測試手段應(yīng)該是波形測試,即——使用示波器測試波形幅度、邊沿和毛刺等,通過測試波形的參數(shù),可以看出幅度、邊沿時(shí)間等是否滿足器件接口電平的要求,有沒有存在信號毛刺等。
2020-12-25 06:27:00
12 信號完整性測試的手段有很多,主要的一些手段有波形測試、眼圖測試、抖動(dòng)測試等,目前應(yīng)用比較廣泛的信號完整性測試手段應(yīng)該是波形測試。
2020-12-26 02:04:02
3842 手機(jī)攝像頭性能測試項(xiàng)目和目的可分為: 1.像素測試——測試手機(jī)攝像頭的像素是否達(dá)到了標(biāo)準(zhǔn)值。 2.色彩還原測試——測試手機(jī)攝像頭在各種光源環(huán)境下對物體的還原能力。 3.解析度測試——主要測試手
2021-04-06 15:44:40
1079 集成電路芯片的測試(ICtest)分類包括:分為晶圓測試(wafertest)、芯片測試(chiptest)和封裝測試(packagetest)。
2021-07-14 14:31:23
9715 
芯片中的CP一般指的是CP測試,也就是晶圓測試(Chip Probing)。
2022-07-12 17:00:57
13842 
昨天我們了解到芯片的CP測試是什么,以及相關(guān)的測試內(nèi)容和方法,那我們今天趁熱打鐵,來了解一下CP測試的流程。
2022-07-13 17:49:14
7556 從工序角度上看,似乎非常容易區(qū)分cp測試和ft測試,沒有必要再做區(qū)分,而且有人會問,封裝前已經(jīng)做過測試把壞的芯片篩選出來了,封裝后為什么還要進(jìn)行一次測試呢?難道是封裝完成度不高影響了芯片的動(dòng)能嗎?不是的,因?yàn)閺?b class="flag-6" style="color: red">測試內(nèi)容上看,cp測試和ft測試有著非常明顯的不同。
2022-08-09 17:29:13
5715 一個(gè)可靠性的PCB板,需要經(jīng)過多輪測試。本文將會整理出16種常見的PCB可靠性測試,有興趣的客戶可以測試下自己的板子是否過關(guān),也可以幫忙補(bǔ)充還有哪些常用的測試方法哦!
2022-11-08 11:45:05
2670 等都屬于性能測試常見的指標(biāo)。 負(fù)載測試(Load Test) : 負(fù)載測試是一種性能測試,指數(shù)據(jù)在超負(fù)荷環(huán)境中運(yùn)行,程序是否能夠承擔(dān)。關(guān)注點(diǎn): how much 穩(wěn)定性測試: 穩(wěn)定性測試是質(zhì)量保證的重要組成部分,因?yàn)樗兄诖_定軟件的局限性,更深
2022-12-22 23:13:39
232 車規(guī)級專線測試服務(wù),以期滿足客戶對于芯片功能、性能、品質(zhì)等多方面的要求。專注于三溫CP,三溫FT,三溫SLT以及量產(chǎn)老化測試領(lǐng)域,旨在全面提升芯片測試能力,為車規(guī)級芯片保駕護(hù)航。 ? *CP測試目的: CP測試,英文全稱Chip Probi
2023-03-21 14:32:38
8329 企業(yè)都想著盡可能的保證軟件的安全性,確保軟件在安全性方面能滿足客戶期望,在軟件測試行業(yè),安全測試的重要性是不言而喻的。 一、什么是軟件安全性測試 ? ?安全性測試是指有關(guān)驗(yàn)證應(yīng)用程序的安全等級和識別潛在安全性缺陷
2023-04-11 13:46:06
722 一站式PCBA智造廠家今天為大家講講什么是PCBA測試的ICT測試?PCBA測試常見ICT測試方法。 PCBA測試的ICT測試主要是通過測試探針接觸PCBA板上的測試點(diǎn),可以檢測出線路的短路、開路
2023-05-09 09:25:08
2172 芯片從設(shè)計(jì)到成品有幾個(gè)重要環(huán)節(jié),分別是設(shè)計(jì)->流片->封裝->測試,但芯片成本構(gòu)成的比例確大不相同,一般為人力成本20%,流片40%,封裝35%,測試5%。測試是芯片各個(gè)環(huán)節(jié)中最
2023-05-22 08:58:33
1849 芯片測試座,又稱為芯片測試插座,是一種專門用于測試芯片的設(shè)備。它通常包括一個(gè)底座和一個(gè)插頭,是一種連接芯片與測試儀器或其他設(shè)備的接口。
2023-06-07 14:14:00
426 芯片功能測試常用5種方法有板級測試、晶圓CP測試、封裝后成品FT測試、系統(tǒng)級SLT測試、可靠性測試。
2023-06-09 15:46:58
1665 
芯片中的CP測試是什么?讓凱智通小編來為您解答~ ★芯片中的CP一般指的是CP測試,也就是晶圓測試(Chip Probing)。 一、CP測試是什么? CP測試在整個(gè)芯片制作流程中處于晶圓制造和封裝
2023-06-10 15:51:49
3373 
本期我們理論聯(lián)系實(shí)際,把芯片CP測試真正的動(dòng)手操作起來?;靖拍罱榻B1什么是CP測試CP(ChipProbing)指的是晶圓測試。CP測試在整個(gè)芯片制作流程中處于晶圓制造和封裝之間。晶圓(Wafer
2022-04-02 11:23:35
1322 
你知道嗎?你手上的芯片,被扎過針,被電擊,可能還被高低溫烘烤冷凍;每一顆交付到您手上,經(jīng)過了嚴(yán)格的測試篩選,尤其車規(guī)芯片,整體的測試覆蓋項(xiàng)和卡控指標(biāo)更加嚴(yán)格今天,和大家介紹下最常見,最核心的CP測試
2023-06-03 10:54:12
559 
在IC芯片測試中,芯片測試座起著至關(guān)重要的作用。它是連接芯片和測試設(shè)備的關(guān)鍵橋梁,為芯片提供測試所需的電流和信號。
2023-07-25 14:02:50
632 芯片測試座,又稱為IC測試座、芯片測試夾具或DUT夾具,是一種用于測試集成電路(IC)或其他各種類型的半導(dǎo)體器件的設(shè)備。它為芯片提供了一個(gè)穩(wěn)定的物理和電氣接口,使得在不造成芯片或測試設(shè)備損傷的情況下
2023-10-07 09:29:44
811 
芯片電源電流測試是為了測試S.M.P.S.的輸入電流有效值INPUT CURRENT。電流測試是芯片電源測試的項(xiàng)目之一,用來檢測電路或設(shè)備的電流負(fù)載是否正常,保證其正常工作防止過載,評估芯片電源的電氣特性。
2023-10-25 16:54:54
620 
電學(xué)測試是芯片測試的一個(gè)重要環(huán)節(jié),用來描述和評估芯片的電性能、穩(wěn)定性和可靠性。芯片電學(xué)測試包括直流參數(shù)測試、交流參數(shù)測試和高速數(shù)字信號性能測試等。
2023-10-26 15:34:14
629 對于測試項(xiàng)來說,有些測試項(xiàng)在CP時(shí)會進(jìn)行測試,在FT時(shí)就不用再次進(jìn)行測試了,節(jié)省了FT測試時(shí)間,但也有很多公司只做FT不做CP(如果FT和封裝yield高的話,CP就失去意義了)。但是有些測試項(xiàng)必須在FT時(shí)才進(jìn)行測試(不同的設(shè)計(jì)公司會有不同的要求)。
2023-11-01 10:32:38
800 
傳統(tǒng)意義的半導(dǎo)體測試指基于ATE機(jī)臺的產(chǎn)品測試,分為wafer level的CP測試(chip probing)或FE測試(FrontEnd test)和封裝之后的FT測試(final test
2023-11-06 15:33:00
2551 
有源等等都會是非常低的標(biāo)準(zhǔn),但是對于高速信號,這些條件就會變得非常苛刻,不然測試測量結(jié)果就會出現(xiàn)較大偏差。 其中比較重點(diǎn)的方向就是信號完整性測試,對于信號完整性的測試手段有很多,有從頻域的,時(shí)域的角度,也有一
2023-11-06 17:10:29
337 
應(yīng)用中正常工作。 芯片電學(xué)測試的內(nèi)容非常廣泛,涉及到多個(gè)方面的測試,以下是一些常見的測試內(nèi)容: 1. 電性能測試:包括電壓、電流、功耗等參數(shù)的測試。通過測試這些電性能指標(biāo),可以驗(yàn)證芯片在正常工作條件下的電氣特性是否達(dá)
2023-11-09 09:36:48
676 如何測試電源芯片負(fù)載調(diào)整率呢?有哪些測試規(guī)范呢? 電源芯片的負(fù)載調(diào)整率是指電源芯片在負(fù)載變化時(shí),輸出電壓的調(diào)整速度。測試電源芯片的負(fù)載調(diào)整率是非常重要的,它能夠評估電源芯片在實(shí)際使用中對負(fù)載變化
2023-11-09 15:30:46
632 如何用集成電路芯片測試系統(tǒng)測試芯片老化? 集成電路芯片老化測試系統(tǒng)是一種用于評估芯片長期使用后性能穩(wěn)定性的測試設(shè)備。隨著科技的進(jìn)步和電子產(chǎn)品的廣泛應(yīng)用,人們對芯片的可靠性要求日益增高,因此老化測試
2023-11-10 15:29:05
680 。本文將詳細(xì)解釋為什么要進(jìn)行芯片上下電功能測試,以及測試的重要性。 首先,芯片上下電功能測試是確保芯片按照設(shè)計(jì)要求正確工作的重要手段。芯片是電子產(chǎn)品的核心部件,如果其中的電路設(shè)計(jì)有錯(cuò)誤或缺陷,將導(dǎo)致芯片在上電或
2023-11-10 15:36:30
591 半導(dǎo)體生產(chǎn)流程由晶圓制造,晶圓測試,芯片封裝和封裝后測試組成。而測試環(huán)節(jié)主要集中在CP(chip probing)、FT(Final Test)和WAT(Wafer Acceptance Test)三個(gè)環(huán)節(jié)。
2023-12-01 09:39:24
1263 
常見的電池測試項(xiàng)目有容量測試、電壓檢測、內(nèi)阻測試、充放電測試、充電速度測試、循壞壽命測試、安全性檢測、環(huán)境適應(yīng)性檢測等。電池檢測是電池在設(shè)計(jì)與生產(chǎn)過程中的關(guān)鍵環(huán)節(jié),以把控電池質(zhì)量和性能,檢測電池是否合格,從而優(yōu)化設(shè)計(jì),確保電子產(chǎn)品穩(wěn)定運(yùn)行。
2024-01-17 16:24:20
929 
RK3568-PCIe 5G通信測試手冊
2024-01-18 14:53:55
227 
評論