chinese直男口爆体育生外卖, 99久久er热在这里只有精品99, 又色又爽又黄18禁美女裸身无遮挡, gogogo高清免费观看日本电视,私密按摩师高清版在线,人妻视频毛茸茸,91论坛 兴趣闲谈,欧美 亚洲 精品 8区,国产精品久久久久精品免费

0
  • 聊天消息
  • 系統(tǒng)消息
  • 評論與回復
登錄后你可以
  • 下載海量資料
  • 學習在線課程
  • 觀看技術視頻
  • 寫文章/發(fā)帖/加入社區(qū)
會員中心
創(chuàng)作中心

完善資料讓更多小伙伴認識你,還能領取20積分哦,立即完善>

3天內不再提示

復雜的芯片設計驗證環(huán)境

廖阿朋 ? 來源:北美應用工程總監(jiān) ? 作者:SmartDV ? 2022-07-26 15:48 ? 次閱讀
加入交流群
微信小助手二維碼

掃碼添加小助手

加入工程師交流群

雖然滿足所有功能規(guī)范的工作設備是芯片設計項目組的首要目標,但許多設計人員醒來時滿頭大汗,擔心芯片到貨時會死機。無論使用多少覆蓋率或使用多少驗證工具,一個或多個錯誤都可能漏網。

這種高壓、苛刻的工程環(huán)境需要三個獨立的基于技術的功能級驗證工具,以保證芯片功能無缺陷且高度可靠。驗證和測試覆蓋率的重疊似乎過多。許多睡眠不足的設計師認為額外的努力是值得的。

三個功能級驗證步驟——功能驗證、功能測試和內置自測 (BIST)——每一個都提供了對芯片設計的信心。將它們結合起來可以使芯片按照預期的功能規(guī)格工作的信心增加三倍。

功能驗證是最耗費資源的步驟,因為它使用了大量可用的 EDA 工具和大量預算用于驗證的時間。功能驗證必須包括功能覆蓋和代碼覆蓋。兩者處理驗證問題的方式不同,對于確保全面驗證是必要的。

功能覆蓋回答了這個問題:設計的功能行為是否符合芯片應該做的規(guī)范?有必要根據規(guī)范測試設備的行為。還不夠,因為預期的功能行為幾乎不能說明遇到意外狀態(tài)或輸入時會發(fā)生什么。

這是代碼覆蓋關注設計結構(代碼)而不是設計規(guī)范的地方,并且可以發(fā)現功能規(guī)范中未考慮的行為。例如,可能存在在正常操作中從未預期存在的狀態(tài)或輸入。如果確實發(fā)生了這種意想不到的狀態(tài)或輸入,會發(fā)生什么?芯片如何響應?芯片可能會表現出從未預料到的行為。

通過相互補充,功能覆蓋率和代碼覆蓋率量化了功能驗證,并有助于將設計帶到下一個綜合、流片和最終硅片的連續(xù)步驟。實現功能和代碼覆蓋閉合的功能驗證會清除設計的大部分或所有功能錯誤。當然,最終目標不是設計,而是基于設計制造的芯片。

芯片制造完成后,功能測試和 BIST 用于清除由于制造缺陷或制造過程中其他問題引起的任何錯誤。根據每個測試設計實施的內容,BIST 計劃確定測試與執(zhí)行功能測試的任何重疊,以確保所有制造的晶體管和導線無缺陷。包括 BIST 在內的深思熟慮的測試策略可以減少測試儀的時間,降低制造測試的時間和成本,并測試使用外部測試方法難以設置的芯片關鍵內部區(qū)域。BIST 的第二個主要優(yōu)點是它可以在設備的生命周期內隨時部署使用,這是某些應用程序的必要策略。

使用嵌入式 FPGA 可以簡化功能設備測試,因為 FPGA 是一個預先驗證的組件,可以保證按照編程的方式運行,從而最大限度地減少測試。雖然 FPGA 中的 BIST 實施會帶來面積和性能開銷,但使用它具有很大的好處,包括更好的測試以及一旦將設備安裝到系統(tǒng)中就可以對其進行測試。

需要一種將功能設計驗證與綜合功能測試策略相結合的包容性驗證策略,以降低設備到達時死機的可能性。

審核編輯:彭靜
聲明:本文內容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網站授權轉載。文章觀點僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網立場。文章及其配圖僅供工程師學習之用,如有內容侵權或者其他違規(guī)問題,請聯(lián)系本站處理。 舉報投訴
  • 芯片設計
    +關注

    關注

    15

    文章

    1112

    瀏覽量

    56255
  • eda
    eda
    +關注

    關注

    72

    文章

    3007

    瀏覽量

    180879
  • 代碼
    +關注

    關注

    30

    文章

    4924

    瀏覽量

    72415
收藏 人收藏
加入交流群
微信小助手二維碼

掃碼添加小助手

加入工程師交流群

    評論

    相關推薦
    熱點推薦

    復雜電磁環(huán)境構建與測試軟件系統(tǒng)解析(精簡版)

    復雜電磁環(huán)境構建與測試軟件系統(tǒng)解析(精簡版)
    的頭像 發(fā)表于 09-15 21:05 ?346次閱讀
    <b class='flag-5'>復雜</b>電磁<b class='flag-5'>環(huán)境</b>構建與測試軟件系統(tǒng)解析(精簡版)

    半導體可靠性測試恒溫箱模擬嚴苛溫度環(huán)境加速驗證進程

    ,加速驗證半導體可靠性測試恒溫箱具備強大的環(huán)境模擬能力,可準確控制溫度、濕度等參數,模擬出高溫、低溫、高溫高濕、低溫低濕等復雜自然環(huán)境。通過這種模擬,能加速
    的頭像 發(fā)表于 08-04 15:15 ?876次閱讀
    半導體可靠性測試恒溫箱模擬嚴苛溫度<b class='flag-5'>環(huán)境</b>加速<b class='flag-5'>驗證</b>進程

    光纖測溫:復雜環(huán)境的測溫能手

    有一種像電線的設備,能用來測量溫度,這就是光纖測溫技術。它不需要電池,只要插入光纖就能完成測溫,而且非常耐用,能在各種復雜環(huán)境中發(fā)揮重要作用。 其中,熒光光纖測溫裝置的主要應用場景是高壓電磁環(huán)境
    的頭像 發(fā)表于 07-28 10:02 ?454次閱讀
    光纖測溫:<b class='flag-5'>復雜</b><b class='flag-5'>環(huán)境</b>的測溫能手

    ATR2660S芯片技術解析:面向復雜電磁環(huán)境的GNSS信號接收方案

    一、GNSS接收面臨的電磁環(huán)境挑戰(zhàn) ? ? ? ?全球導航衛(wèi)星系統(tǒng)(GNSS)在復雜電磁環(huán)境下的信號接收面臨多重挑戰(zhàn)。典型干擾場景包括: 人為干擾? :如浙江民航GNSS信號干擾案件導致航班復飛
    的頭像 發(fā)表于 06-27 14:14 ?311次閱讀
    ATR2660S<b class='flag-5'>芯片</b>技術解析:面向<b class='flag-5'>復雜</b>電磁<b class='flag-5'>環(huán)境</b>的GNSS信號接收方案

    Veloce Primo補全完整的SoC驗證環(huán)境

    芯片構建之前完成。雖然硬件加速器和桌面原型板是這項驗證中兩個眾所周知的參與者,但企業(yè)原型同樣具備重要的意義。 盡管仿真在設計的早期階段占據主導地位,但由于性能的原因,其更多的適用于模塊級驗證。一旦開始全
    的頭像 發(fā)表于 06-12 14:39 ?1022次閱讀
    Veloce Primo補全完整的SoC<b class='flag-5'>驗證</b><b class='flag-5'>環(huán)境</b>

    超大規(guī)模芯片驗證:基于AMD VP1902的S8-100原型驗證系統(tǒng)實測性能翻倍

    引言隨著AI、HPC及超大規(guī)模芯片設計需求呈指數級增長原型驗證平臺已成為芯片設計流程中驗證復雜架構、縮短迭代周期的核心工具。然而,傳統(tǒng)原型
    的頭像 發(fā)表于 06-06 13:13 ?934次閱讀
    超大規(guī)模<b class='flag-5'>芯片</b><b class='flag-5'>驗證</b>:基于AMD VP1902的S8-100原型<b class='flag-5'>驗證</b>系統(tǒng)實測性能翻倍

    芯片驗證為何越來越難?

    本文由半導體產業(yè)縱橫(ID:ICVIEWS)編譯自semiengineering過去,仿真曾是驗證的唯一工具,但如今選擇已變得多樣。平衡成本與收益并非易事。芯片首次流片成功率正在下降,主要原因
    的頭像 發(fā)表于 06-05 11:55 ?637次閱讀
    <b class='flag-5'>芯片</b>的<b class='flag-5'>驗證</b>為何越來越難?

    新思科技VSO.ai如何顛覆芯片驗證

    隨著片上系統(tǒng)(SoC)復雜性不斷增加,IP的復雜性與驗證難度以及用于驗證的VIP的開發(fā)要求也日益提高。不斷發(fā)展的協(xié)議標準要求為IP和VIP提供動態(tài)測試套件,并滿足規(guī)定的功能和代碼覆蓋率
    的頭像 發(fā)表于 05-21 14:49 ?735次閱讀
    新思科技VSO.ai如何顛覆<b class='flag-5'>芯片</b><b class='flag-5'>驗證</b>

    新思科技硬件加速驗證技術日即將來襲

    在AI、HPC、智能汽車高速迭代的驅動下,全球半導體行業(yè)正面臨千億門級芯片設計復雜度與上億行代碼級系統(tǒng)驗證的雙重壓力。如何加快從芯片到系統(tǒng)的全面驗證
    的頭像 發(fā)表于 05-08 10:09 ?541次閱讀

    CAN芯片邏輯響應驗證測試

    在CAN芯片研發(fā)階段,需要做諸多涉及通訊錯誤管理驗證的問題。在ISO-16845國際標準中,規(guī)定完善的測試標準,如錯誤幀檢測,傳輸幀相關檢測,錯誤管理邏輯驗證等,本文主要分享有效便捷的方法來完成測試
    的頭像 發(fā)表于 04-30 18:24 ?482次閱讀
    CAN<b class='flag-5'>芯片</b>邏輯響應<b class='flag-5'>驗證</b>測試

    復雜電磁環(huán)境構建與測試軟件系統(tǒng)

    復雜電磁環(huán)境構建與測試軟件系統(tǒng)
    的頭像 發(fā)表于 04-29 20:47 ?396次閱讀
    <b class='flag-5'>復雜</b>電磁<b class='flag-5'>環(huán)境</b>構建與測試軟件系統(tǒng)

    電磁環(huán)境仿真與驗證系統(tǒng)軟件

    電磁環(huán)境仿真與驗證系統(tǒng)軟件
    的頭像 發(fā)表于 04-29 16:59 ?631次閱讀
    電磁<b class='flag-5'>環(huán)境</b>仿真與<b class='flag-5'>驗證</b>系統(tǒng)軟件

    電機控制器EMC試驗測試整改:如何應對復雜電磁環(huán)境

    南柯電子|電機控制器EMC試驗測試整改:如何應對復雜電磁環(huán)境
    的頭像 發(fā)表于 04-01 11:46 ?719次閱讀
    電機控制器EMC試驗測試整改:如何應對<b class='flag-5'>復雜</b>電磁<b class='flag-5'>環(huán)境</b>

    無人機可靠性保障:高低溫濕熱試驗箱如何破解復雜環(huán)境測試難題

    高低溫濕熱試驗箱作為模擬復雜環(huán)境的關鍵設備,在無人機的可靠性保障中扮演著不可或缺的角色。從設計驗證到生產檢測,再到維護評估,高低溫濕熱試驗箱為無人機在各種復雜
    的頭像 發(fā)表于 02-22 17:40 ?612次閱讀
    無人機可靠性保障:高低溫濕熱試驗箱如何破解<b class='flag-5'>復雜</b><b class='flag-5'>環(huán)境</b>測試難題

    芯片設計復雜度劇增,紫光芯片云 3.0 助力企業(yè)搭建專業(yè)設計環(huán)境

    。 ? 實際上,國內中小IC設計企業(yè)居多,而如今他們面臨更加復雜的設計需求。隨著芯片制程和規(guī)模要求不斷提高,芯片設計環(huán)境所需資源越來越大,設計環(huán)境
    的頭像 發(fā)表于 12-26 17:04 ?1808次閱讀
    <b class='flag-5'>芯片</b>設計<b class='flag-5'>復雜</b>度劇增,紫光<b class='flag-5'>芯片</b>云 3.0 助力企業(yè)搭建專業(yè)設計<b class='flag-5'>環(huán)境</b>