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半導(dǎo)體熱阻測試原理和測試方法詳解

納米軟件(系統(tǒng)集成) ? 來源:納米軟件(系統(tǒng)集成) ? 作者:納米軟件(系統(tǒng)集 ? 2023-11-08 16:15 ? 次閱讀
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對于半導(dǎo)體器件而言熱阻是一個(gè)非常重要的參數(shù)和指標(biāo),是影響半導(dǎo)體性能和穩(wěn)定性的重要因素。如果熱阻過大,那么半導(dǎo)體器件的熱量就無法及時(shí)散出,導(dǎo)致半導(dǎo)體器件溫度過高,造成器件性能下降,甚至損壞器件。因此,半導(dǎo)體熱阻測試是必不可少的,納米軟件將帶你了解熱阻測試的方法。

半導(dǎo)體熱阻測試原理

熱阻是指電子器件或材料對熱量傳導(dǎo)的阻礙程度,半導(dǎo)體熱阻是指半導(dǎo)體器件中傳遞熱量的阻力大小。半導(dǎo)體熱阻分為內(nèi)部熱阻和外部熱阻。內(nèi)部熱阻是指器件內(nèi)部材料之間的熱阻,外部熱阻是器件與周圍環(huán)境之間的熱阻。

半導(dǎo)體熱阻測試是通過測量半導(dǎo)體器件兩端的溫度差及通過器件的電流推算器件發(fā)熱量,從而計(jì)算出半導(dǎo)體熱阻的大小。

半導(dǎo)體熱阻測試

半導(dǎo)體熱阻測試步驟

1. 選擇測試儀器

一般使用對焦式熱阻計(jì)或紅外測溫儀,需要根據(jù)樣品尺寸、測量范圍、準(zhǔn)確度等要素進(jìn)行選擇。

2. 準(zhǔn)備測試樣品

將待測半導(dǎo)體器件加在散熱器上,使之與環(huán)境達(dá)到熱平衡。

3. 開始測試

在一定的載流條件下,使用選定的測試儀器測量器件兩端的溫度差,并根據(jù)電流和電壓計(jì)算器件的功率和發(fā)熱量。

4. 計(jì)算熱阻

根據(jù)測量出的溫度差和發(fā)熱量及器件表面積等參數(shù),計(jì)算得到半導(dǎo)體器件的熱阻。

半導(dǎo)體熱阻測試方法

1. 熱板法

將半導(dǎo)體器件放在一個(gè)恒溫的熱板上,測量熱板上的溫度分布,進(jìn)而計(jì)算半導(dǎo)體器件的熱阻。該方法的優(yōu)點(diǎn)是測試精度高,適用于各種尺寸的半導(dǎo)體器件,但是測試成本較高。

2. 熱流法

通過測量半導(dǎo)體器件的熱流來計(jì)算熱阻。將半導(dǎo)體器件放在恒溫環(huán)境中,測量半導(dǎo)體器件的熱流和溫度分布來計(jì)算熱阻。熱流法測試速度快,適用于大批量測試。但是使用的測試設(shè)備復(fù)雜,測試精度較低。

3. 熱像儀法

熱像儀法是通過測量半導(dǎo)體器件表面的溫度分布來計(jì)算熱阻的一種方法。用熱像儀對半導(dǎo)體器件進(jìn)行拍攝,分析熱像儀圖像,計(jì)算熱阻。熱像儀法測試速度快,適合大批量測試。但測試設(shè)備較貴,測試精度較低。

4. 熱電偶法

熱電偶法是通過測量半導(dǎo)體器件的溫度分布來計(jì)算熱阻。將器件放在恒溫環(huán)境中,測量半導(dǎo)體器件表面的溫度分布,計(jì)算熱阻。該方法測試精度高,適用于各種尺寸的器件,但是測試速度較慢。

5. 熱阻測試儀法

通過測量半導(dǎo)體器件兩端的溫差和器件的電流來計(jì)算熱阻。測試時(shí)需要將器件加熱到一定溫度,然后通過測試儀器測量器件的溫度和電流,從而計(jì)算出器件的熱阻。熱阻測試儀法測試精度較高,在實(shí)驗(yàn)室中應(yīng)用廣泛,但是測試過程較為復(fù)雜。

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審核編輯:湯梓紅

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