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安森美1200V EliteSiC M3e平臺讓平面碳化硅性能拉滿

安森美 ? 來源:電力電子網(wǎng) ? 2024-10-31 14:04 ? 次閱讀
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本文轉自電力電子網(wǎng)。

最近,行業(yè)內玩家8英寸碳化硅量產(chǎn)如火如荼的進行中,安森美(onsemi)也計劃于今年晚些時候對8英寸碳化硅晶圓進行認證,并于2025年投入生產(chǎn)。而在柵極結構方面,平面結構和溝槽結構的爭論仍在繼續(xù)。兩者各有其優(yōu)勢和劣勢,選擇哪種結構取決于具體的應用場景和需求,同時還要兼顧成本效益。前不久安森美推出的采用行業(yè)標準TO-247-4L封裝的1200V EliteSiC M3e平臺,可以說是平面結構的登頂之作,再次刷新了高耗電應用的能效。

在PCIM Asia Shenzhen 2024上,安森美電源方案事業(yè)群資深產(chǎn)品專家Mrinal Das博士接受媒體專訪時表示,碳化硅對于電源創(chuàng)新應用的重要性不言而喻。入行30年,他親眼見證了碳化硅材料的發(fā)展歷程。針對當前碳化硅行業(yè)的一些熱點以及市場趨勢,他結合技術創(chuàng)新分享了自己的觀點,內容涵蓋IDM(垂直整合制造)模式、碳化硅平面與溝槽紛爭,以及FoM(品質因數(shù))差異的權衡等。

01此IDM非彼IDM

從硅碳化物的生產(chǎn)流程可以看出,從碳化硅粉末放入長晶爐,到最終產(chǎn)品電動汽車,整個過程包括多個步驟,如高溫晶體生長、碳化硅晶錠、晶體切割、晶體拋光、晶圓制備、封裝、測試和質量控制等。這些步驟確保了高質量的產(chǎn)品能夠滿足客戶的需求。

安森美的“智能電源”由SiC和Si功率驅動,在全球市場位居第二位。面向未來,公司設定了25%市場份額,在市場增長趨緩之時,安森美仍有望在 2024 年實現(xiàn)超過碳化硅市場 2 倍的增長。Mrinal Das博士表示,安森美充分考慮了供應鏈的穩(wěn)定與靈活性。他明確指出:“安森美具備強大的供應鏈垂直整合能力,這意味著我們在很大程度上能夠自給自足地供應碳化硅襯底,滿足內部生產(chǎn)需求?!?/p>

他也坦言,作為一家負責任的企業(yè),安森美深知風險管理與多元化供應策略的重要性。因此,盡管我們擁有強大的內部供應能力,但仍“留有余量”,保留了與第三方供應商的合作渠道,以確保在市場需求發(fā)生未預見波動時,能夠迅速調整并滿足市場要求,降低整體生產(chǎn)風險。

其總體思路是,在碳化硅襯底供應上既依賴于自身強大的內部制造能力,也保持著與第三方供應商的靈活合作,以確保供應鏈的穩(wěn)定性和韌性,為公司的長遠發(fā)展奠定堅實基礎。

Mrinal Das博士還深入解析了IDM模式在安森美運營中的優(yōu)勢與挑戰(zhàn),并闡述了安森美如何有效應對這些挑戰(zhàn),以實現(xiàn)持續(xù)成功。

他指出,安森美在6英寸晶圓制造領域已建立起強大的產(chǎn)量和產(chǎn)能基礎,這是其市場優(yōu)勢之一。更重要的是,安森美通過堅定的承諾和對市場需求的高度敏感性而與眾不同。基于市場需求的決策,可確保從6英寸到8英寸的過渡平穩(wěn)且高效;選擇對客戶和自身最有價值的平臺,有助于保持定價合理和供應穩(wěn)定。這種保守而穩(wěn)健的策略可以在市場中形成差異化競爭優(yōu)勢。

此外,安森美之所以相對成功,還得益于采取的“棕地擴建”策略。在全球范圍內,安森美擁有多個晶圓廠,只通過少量投資即可轉化為碳化硅生產(chǎn)能力。這種靈活性使其能夠迅速響應市場需求,調整晶圓廠的使用分配。相比之下,沒有現(xiàn)有晶圓廠基礎的公司則需要進行大量的“綠地投資”,從頭開始建設生產(chǎn)線,這不僅成本高昂,而且時間周期長。

02讓平面碳化硅性能拉滿

安森美新推出的EliteSiC M3e技術平臺以其1200V、11mΩ MOSFET裸片為核心,憑借行業(yè)領先的優(yōu)值,在更高開關頻率與電壓下展現(xiàn)出卓越的性能,有效降低了功率轉換損耗。其獨特的平面拓撲經(jīng)過現(xiàn)場驗證,以獨特方式降低了導通損耗和開關損耗,為電力電子行業(yè)樹立了質量與可靠性的新標桿。

與前幾代產(chǎn)品相比,M3e平臺不僅將電氣化應用的傳導損耗減少了30%,開關損耗降低了50%,還以業(yè)界最低的具有短路能力的比導通電阻(RSP)賦能牽引逆變器市場。值得一提的是,M3e以更低的每千瓦成本提升了下一代電氣系統(tǒng)的性能和可靠性,同時減少了無源元件和熱管理成本,為用戶帶來前所未有的成本效益。

據(jù)介紹,采用安森美先進的分立和功率模塊封裝,1200V M3e裸片與之前的EliteSiC技術(M3T)相比,能夠提供更大的相電流,使同等尺寸主驅逆變器的輸出功率提升約20%,而在充電器和PSU(電腦電源)中,功率提高了10%。這意味著,在輸出功率不變的情況下,新設計所需的碳化硅材料可以相應減少,成本也更低,且能實現(xiàn)更小、更輕、更可靠的系統(tǒng)設計。

在質量保證方面,M3e 20年壽命后的柵極故障低于PPM,因此能夠讓客戶的產(chǎn)品在市場中脫穎而出。

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Mrinal Das博士指出,在當前1200V碳化硅器件競爭激烈的市場環(huán)境下,許多廠商都在努力降低導通損耗和開關損耗。然而,對于最終用戶而言,他們更看重的是實際結果和性能提升。目前的方案,要么是在固定的裸片數(shù)量的情況下去提升功率水平,要么是在指定的功率水平之上來減少裸片數(shù)量。

M3e順應了市場趨勢,其核心目標是實現(xiàn)最佳的導通損耗和開關損耗。它通過裸片層面的優(yōu)化,顯著降低了整體導通電阻,從而提高了系統(tǒng)開關效率,提升了整體性能表現(xiàn)。同時,通過采用更少裸片的并聯(lián)設計,簡化了系統(tǒng)結構,提高了系統(tǒng)的可用性和穩(wěn)定性。

Mrinal Das博士介紹說,同樣是平面結構,M3e采用了明顯不同的結構,可以確保該平臺的堅固性和穩(wěn)定性,使其成為關鍵電氣化應用的首選技術。M3e業(yè)界最低的損耗主要歸功于其獨特的晶胞(Unit Cell)設計和內部創(chuàng)新。

他解釋說,晶胞在功率MOSFET設計中非常關鍵,它是整個芯片上不斷復制的微型MOSFET的基本長度,包括兩個導電通道。事實上,盡可能縮小晶胞就可以增加功率密度。晶胞體積越小,每個芯片上可以放置的MOSFET就越多,而這些MOSFET是并聯(lián)的,所以整體的器件的電阻就會下降,晶胞本身的電阻也會下降。這兩種效應組合起來,就能夠進一步降低整個導通電阻,這是M3e導通損耗達到業(yè)界最低水平的主要原因。

從M1到M3e,晶胞的長度減少了62.5%,從而實現(xiàn)了更大的功率和更小的封裝,功率密度也在不斷提升。未來,這一過程將繼續(xù)演進,為市場提供行業(yè)領先的可持續(xù)性能、創(chuàng)新的晶胞結構以及渠道與材料工程。

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另外,每個器件內部的開關損耗主要由電容決定,而主要的電容是柵極到漏極的電容。在M3e晶胞結構上進行的內部創(chuàng)新,使得柵極到漏極的電容更低,從而降低了整體的開關損耗。

那么,安森美是怎么把晶胞做到很小的?Mrinal Das博士回應道,安森美通過投資先進的晶圓廠工具和技術,不斷拓展現(xiàn)有生產(chǎn)設備的能力,確保能夠實現(xiàn)微型和微觀功能的精確制造。這一策略使得安森美能夠成功地將MOSFET的晶胞體積做得非常小,最大化利用了每一個芯片空間,提高了功率MOSFET的性能,并實現(xiàn)了大規(guī)模批量化生產(chǎn)。這種對技術創(chuàng)新的持續(xù)投入和追求,是安森美在行業(yè)中保持領先地位的關鍵因素之一。

03平面結構仍優(yōu)于溝槽結構

雖然溝槽拓撲的技術難度比較大,但一般來講它更能夠節(jié)省碳化硅材料,進而帶來成本效益。不過,安森美認為,目前溝槽的MOSFET還不是全溝槽結構,還難以體現(xiàn)溝槽結構的優(yōu)勢。其中一些結構采用多個源極和柵極,有的則只有一個源極和一個柵極,并沒有達到最佳性能。

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Mrinal Das博士對比了平面拓撲結構與溝槽拓撲結構,詳細闡述了安森美在MOSFET拓撲結構選擇上的考量。他指出,平面拓撲結構的主要優(yōu)勢在于柵極氧化層的可靠性。柵極氧化層是平面拓撲MOSFET中最關鍵且最薄弱的環(huán)節(jié)。經(jīng)過40年的研發(fā)和超過15年的市場驗證,平面拓撲結構在質量和可靠性方面已經(jīng)得到了充分證明。

在討論碳化硅與硅材料在電力電子器件中的顯著差異時,他深入闡述了電場強度、柵極氧化物保護以及溝槽技術的復雜性。首先,相比傳統(tǒng)硅材料,碳化硅材料在電場強度上具有顯著優(yōu)勢,其峰值電場強度可達到每厘米3MV(200-300kV/cm),是傳統(tǒng)硅材料的10倍以上。這一特性使得碳化硅在高壓、高功率應用中具有更高的效率和更小的體積,但同時也帶來了新的技術挑戰(zhàn)。

在溝槽器件設計中,柵極氧化層的位置至關重要。在平面結構中,柵極氧化物位于低電場區(qū),相對安全。而在溝槽結構中,柵極氧化物暴露在高電場區(qū),要求必須采取特殊措施來保護其免受高電場的影響,以防止柵極氧化層失效。這種保護在碳化硅器件中尤為困難,因為碳化硅的柵極保護機制與硅不同,無法直接借鑒硅材料的經(jīng)驗。

此外,柵極氧化物在碳化硅溝槽技術中具有獨特性。與傳統(tǒng)的硅平面結構不同,碳化硅溝槽結構在側壁上交替堆疊硅和碳層,這種結構使得柵極氧化物表面引入了碳元素,從而改變了氧化物的性質。這種全新的氧化物不僅與平面結構中的氧化物不同,也與傳統(tǒng)硅功率器件中的氧化物大相徑庭。因此,溝槽技術在碳化硅器件中的推廣遇到了諸多延誤,因為所有的研究——包括制造性、可靠性和現(xiàn)場性能——都需要從頭開始,無法直接利用硅器件的成熟技術。

他強調,在碳化硅器件中采用溝槽技術所面臨的兩大技術挑戰(zhàn):一是如何在高電場環(huán)境下有效保護柵極氧化層,因為柵極氧化層一旦暴露在磁場或電場中,很早就會出現(xiàn)失效的情況,其壽命會大大縮短。

二是如何應對溝槽結構中全新氧化物帶來的制造、可靠性和性能問題。這些挑戰(zhàn)要求在研發(fā)過程中投入更多的時間和精力,以積累必要的經(jīng)驗,推動碳化硅溝槽技術的進一步發(fā)展。

對于M3e這樣的平面體結構MOSFET,Mrinal Das博士自信地表示,其性能甚至優(yōu)于當前的溝槽器件。而溝槽結構在碳化硅面積利用方面并未展現(xiàn)出顯著優(yōu)勢,尚未超越平面拓撲結構。

他預測,未來更多供應商可能還會選擇平面拓撲結構,除非溝槽結構在性能上能夠全面超越?!爸挥挟敎喜奂夹g的產(chǎn)品性能能夠全面超越平面拓撲結構時,我們才會考慮切換到溝槽技術。這表明我們在技術研發(fā)上持謹慎態(tài)度,注重產(chǎn)品的長期可靠性和性能表現(xiàn)?!彼麖娬{。

他還提到,市場上其他競爭對手的溝槽技術產(chǎn)品之所以性能不如M3e,主要原因是這些產(chǎn)品并未采用全溝槽技術。通過對采用的技術、導通損耗和開關損耗的對比,可以看到采用平面結構的M3e均優(yōu)于其他供應商的產(chǎn)品,包括2024年發(fā)布的產(chǎn)品。

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在他看來,M3e標志著平面結構MOSFET性能的頂峰。如果要在未來的產(chǎn)品中實現(xiàn)更高的性能突破,的確要轉向溝槽技術,但前提是這種技術需要實現(xiàn)百分之百的溝槽利用率,以充分發(fā)揮碳化硅的潛力。

因此,安森美目前正全力以赴地應對新的挑戰(zhàn),解決新的柵極氧化物的保護問題,同時實現(xiàn)百分之百的溝槽利用率。

04FoM因應用場景而異

在探討碳化硅材料在不同應用場景下的性能優(yōu)化時,Mrinal Das博士說,安森美憑借其深厚的技術積累和敏銳的市場洞察,成功地在多個領域實現(xiàn)了卓越的性能表現(xiàn)。無論是硬開關、軟開關,還是高頻、低頻環(huán)境,安森美都能通過精準的技術調整和產(chǎn)品優(yōu)化,確保每一款SiC MOSFET都能在各個使用場景中表現(xiàn)出色。

1200V EliteSiC M3e實現(xiàn)了牽引逆變器業(yè)界最低的損耗,安森美充分利用了碳化硅材料低開關損耗的特性,通過精細調控導通電阻(Rds)和柵極到漏極的電荷(Qgd),有效降低了器件在開關過程中的能量損失,使牽引逆變器的整體效率顯著提升。特別是在高功率密度和高效率要求的場合,這種優(yōu)化顯得尤為重要。

車載充電器高頻應用場景則面臨更為復雜的挑戰(zhàn),不僅需要處理高頻率的開關操作,還需要在硬開關和軟開關兩種模式下實現(xiàn)高效轉換。為此,安森美采用了創(chuàng)新的圖騰柱(Totem Pole)結構,并進一步優(yōu)化了Rsp(導通損耗與硬開關損耗的比例)和柵極驅動器損耗。通過精確計算總柵極電荷,能夠準確預測并降低柵極驅動器電路中的能量損失,從而確保車載充電器在不同工作頻率下都能保持高效穩(wěn)定的性能。

安森美深知不同應用場景下FoM的差異。在M3e等產(chǎn)品的研發(fā)過程中,安森美不僅關注單一的性能指標,更注重整體性能的最優(yōu)化。通過跟蹤和參考Rds、Qgd、Rsp等關鍵參數(shù),能夠確保新技術在開發(fā)過程中始終圍繞用戶需求和市場趨勢進行迭代和優(yōu)化。這種以用戶需求為導向的技術開發(fā)策略,使安森美的SiC MOSFET在多個應用領域都展現(xiàn)出了卓越的性能和廣泛的應用前景。

05碳化硅為未來電源創(chuàng)新賦能

Mrinal Das博士告訴記者,安森美也在利用摩爾定律思維加速碳化硅技術的迭代。其每一代碳化硅技術都會優(yōu)化單元結構,在更小的面積上高效傳輸更大的電流,從而提高功率密度;同時結合自有的先進封裝技術,最大限度提升性能并減小封裝尺寸。這些計劃于2030年前推出的多款高性能新品,將進一步應對全球能源需求的激增。

他強調,碳化硅在功率密度與效率上的卓越表現(xiàn),使其成為電動汽車、電網(wǎng)等關鍵領域的理想選擇,并預示其在未來新興應用場景中的廣闊潛力。

“只有憑借深厚的功率半導體技術積累,不斷突破技術瓶頸,確保設計與制造的全面掌控,才能加速新一代碳化硅產(chǎn)品的市場化進程?!彼嘈牛磥淼南乱淮蓟杓夹g在工業(yè)領域的采用和發(fā)展將會由這樣的公司來引領。

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原文標題:碳化硅專家|IDM有何不同?平面與溝槽孰優(yōu)孰劣?FoM差異何以權衡?

文章出處:【微信號:onsemi-china,微信公眾號:安森美】歡迎添加關注!文章轉載請注明出處。

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    基本股份B<b class='flag-5'>3M</b>013C120Z(<b class='flag-5'>碳化硅</b>SiC MOSFET)的產(chǎn)品力分析

    ?安森美推出基于碳化硅的智能功率模塊

    安森美(onsemi,美國納斯達克股票代號:ON)推出其第一代基于1200V碳化硅(SiC)金屬氧化物半導體場效應晶體管(MOSFET)的SPM31智能功率模塊(IPM)系列。
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