廣立微閃耀亮相 創(chuàng)新成果獲矚目

以"自主創(chuàng)新·應(yīng)用落地·生態(tài)共建"為主題的"第五屆中國集成電路設(shè)計創(chuàng)新大會暨IC應(yīng)用生態(tài)展（ICDIA創(chuàng)芯展）"近日在蘇州盛大舉行并圓滿落幕。此次展會圍繞AI大算力與數(shù)據(jù)處理、光子集成電路、超異構(gòu)計算RISC-V生態(tài)、5G射頻/6G半導(dǎo)體、AloT與邊緣計算、智能汽車與自動駕駛，分享前沿技術(shù)突破與應(yīng)用場景，推動創(chuàng)新成果轉(zhuǎn)化與產(chǎn)業(yè)鏈協(xié)同，促進芯片、應(yīng)用方案與整機研發(fā)深度合作。

作為國內(nèi)領(lǐng)先的集成電路EDA軟件與晶圓級電性測試設(shè)備供應(yīng)商，廣立微攜全線創(chuàng)新產(chǎn)品及解決方案重磅參展，成為展會焦點。其中廣立微的YAD、SemiMind等最新研發(fā)成果吸引了來自產(chǎn)業(yè)鏈上下游的專家、學(xué)者及企業(yè)代表的廣泛關(guān)注。

01YAD：良率感知大數(shù)據(jù)診斷分析平臺

廣立微新發(fā)布的 YAD (Yield Aware Diagnosis)作為一款專業(yè)良率分析與提升工具，因其深耕于 DFT（可測性設(shè)計）與良率分析領(lǐng)域，并可以賦能半導(dǎo)體設(shè)計與制造企業(yè)高效完成良率分析及根因定位，構(gòu)建從芯片設(shè)計診斷到量產(chǎn)良率提升的全流程分析閉環(huán)，進而縮短良率優(yōu)化周期、降低生產(chǎn)成本，吸引眾多專業(yè)觀眾前來咨詢。

在展會現(xiàn)場熱烈的交流氛圍中，廣立微技術(shù)團隊詳細講解了YAD的核心功能與價值。YAD全面滿足產(chǎn)品和測試工程團隊的需求，借助大數(shù)據(jù)驅(qū)動的智能診斷引擎，貫通設(shè)計、測試診斷與制程監(jiān)控全流程，提升溯源效率與根因定位精度。值得注意的是，YAD已在多個客戶的實際案例中得到驗證，并獲得高度認(rèn)可。展會現(xiàn)場廣立微技術(shù)專家從提升分析效率、提高根因分析準(zhǔn)確率、識別隱藏系統(tǒng)性設(shè)計問題、多維度數(shù)據(jù)分析與驗證、高度智能自動化5點客戶價值的維度為前來咨詢的觀眾逐一展開講解。

02SemiMind：半導(dǎo)體大模型平臺

除了YAD這一明星產(chǎn)品，廣立微旗下的SemiMind半導(dǎo)體大模型平臺，是一個 “知識庫+智能體” 驅(qū)動的 AI研發(fā)基座。它接入了DeepSeek-R1等大模型，并深度協(xié)同，構(gòu)建了一個開放、靈活、可擴展的智能研發(fā)生態(tài)系統(tǒng)。區(qū)別于目前通用型大語言模型平臺，廣立微SemiMind不僅能提供私有化知識庫搭建，還可以結(jié)合自身業(yè)務(wù)理解，落地多個半導(dǎo)體專業(yè)智能體，包括設(shè)計智能體– Design Rule形成及檢查；測試智能體–測試方案自動形成；良率分析智能體– YMS/DMS系統(tǒng)自主分析等。

在半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)高速發(fā)展、技術(shù)革新浪潮奔涌的時代背景下，廣立微始終將客戶成功作為創(chuàng)新原點，以客戶需求為核心，持續(xù)深耕良率提升領(lǐng)域。依托領(lǐng)先的技術(shù)積淀與深厚的行業(yè)洞察，我們正加速推進全產(chǎn)業(yè)鏈協(xié)同創(chuàng)新，通過前瞻性戰(zhàn)略布局和自主研發(fā)突破，為合作伙伴提供更高階的解決方案！

關(guān)于我們

杭州廣立微電子股份有限公司（股票代碼：301095）是領(lǐng)先的集成電路EDA軟件與晶圓級電性測試設(shè)備供應(yīng)商，公司專注于芯片成品率提升和電性測試快速監(jiān)控技術(shù)，是國內(nèi)外多家大型集成電路制造與設(shè)計企業(yè)的重要合作伙伴。公司提供EDA軟件、電路IP、WAT電性測試設(shè)備以及與芯片成品率提升技術(shù)相結(jié)合的整套解決方案，在集成電路設(shè)計到量產(chǎn)的整個產(chǎn)品周期內(nèi)實現(xiàn)芯片性能、成品率、穩(wěn)定性的提升，成功案例覆蓋多個集成電路工藝節(jié)點。