該ADS9813是一個八通道數(shù)據(jù)采集(DAQ)系統(tǒng),基于同步采樣、18位逐次逼近寄存器(SAR)模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)。該ADS9813為每個通道提供完整的模擬前端 (AFE),并帶有輸入鉗位。該器件還具有 1MΩ 輸入阻抗和具有用戶可選帶寬選項的可編程增益放大器 (PGA)。高輸入阻抗允許直接與傳感器和變壓器連接,從而消除了對外部驅(qū)動電路的需求。配置ADS9813以接受±12V、±10V、±7V、±5V、±3.5V和±2.5V雙極性輸入,輸入共模電壓高達±12V。
支持1.2V至1.8V工作的數(shù)字接口使ADS9813無需外部電壓電平轉(zhuǎn)換器即可使用。
*附件:ads9811.pdf
特性
- 8通道、18位ADC,帶模擬前端:
- 同時采樣
- 恒定的 1MΩ 輸入阻抗前端
- 可編程模擬輸入范圍:
- ±12V、±10V、±7V、±5V、±3.5V和±2.5V
- 單端和差分輸入
- 共模電壓范圍:±12V
- 輸入過壓保護:高達 ±18V
- 用戶可選擇的模擬輸入帶寬:
- 22.7kHz 和 700kHz
- 集成低漂移精度基準:
- ADC基準電壓源:4.096V
- 2.5V 基準輸出,用于外部電路
- 全通量下的出色交流和直流性能:
- DNL:±0.35LSB,INL:±0.8LSB
- 信噪比:90.3dBFS,總諧波擾:–113dB
- 電源:
- 模擬和數(shù)字:5V 和 1.8V
- 數(shù)字接口:1.2V 至 1.8V
- 溫度范圍:–40°C 至 +125°C
參數(shù)
方框圖
一、產(chǎn)品概述
ADS981x 系列(含 ADS9813、ADS9811、ADS9810)是德州儀器推出的 18 位 8 通道同步采樣模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC) ,核心優(yōu)勢為高分辨率、寬輸入范圍與集成化模擬前端(AFE),專為半導(dǎo)體測試、可編程直流電源、參數(shù)測量單元(PMU)等高精度數(shù)據(jù)采集場景設(shè)計。系列內(nèi)產(chǎn)品僅采樣速率與功耗存在差異,均采用 7mm×7mm 56 引腳 VQFN(RSH 封裝),支持 - 40°C 至 + 125°C 工業(yè)級工作溫度,適配高通道數(shù)、高精度測量需求。
二、產(chǎn)品型號差異與核心參數(shù)
1. 型號功能對比
ADS981x 系列各型號核心差異集中在采樣速率與功耗,基礎(chǔ)架構(gòu)與性能一致,具體如下:
功能參數(shù) | ADS9813 | ADS9811 | ADS9810 |
---|---|---|---|
單通道采樣速率 | 最高 2MSPS | 最高 1MSPS | 最高 1MSPS |
總功耗(典型值) | 244mW(滿吞吐量) | 177mW(滿吞吐量) | 177mW(滿吞吐量) |
模擬電源電流(AVDD_5V) | 28.3mA(滿吞吐量,內(nèi)置參考) | 21.3mA(同左) | 21.3mA(同左) |
數(shù)字電源電流(VDD_1V8) | 52mA(滿吞吐量,內(nèi)置參考) | 35mA(同左) | 35mA(同左) |
2. 核心性能參數(shù)(全系列通用)
參數(shù) | 規(guī)格 | 備注 |
---|---|---|
分辨率 | 18 位 SAR ADC | 同步采樣,無失碼 |
輸入特性 | 輸入阻抗 1MΩ(恒定,與采樣速率 / 量程無關(guān))、過壓保護 ±18V、共模電壓范圍 ±12V | 高阻抗適配傳感器直接連接,寬共模抑制干擾 |
可編程輸入量程 | ±2.5V、±3.5V、±5V、±7V、±10V、±12V(差分 / 單端輸入) | 覆蓋多場景信號幅度需求 |
模擬帶寬 | 低噪聲模式 22.7kHz、寬帶寬模式最高 700kHz(±7V 量程時) | 靈活適配低速高精度 / 高速采集需求 |
線性度 | 微分非線性(DNL)±0.35LSB(典型值)、積分非線性(INL)±0.8LSB(典型值) | 18 位分辨率下線性度優(yōu)異,降低校準復(fù)雜度 |
噪聲性能 | 信噪比(SNR)90.3dBFS(低噪聲模式,±12V 量程,f_IN=2kHz)、總諧波失真(THD)-113dB | 低噪聲高抗干擾,適配微弱信號采集 |
電源電壓 | 模擬(AVDD_5V):4.75V-5.25V;數(shù)字(VDD_1V8):1.75V-1.85V;I/O(IOVDD):1.15V-1.85V | 雙模擬電源設(shè)計,降低數(shù)字噪聲串?dāng)_ |
參考電壓 | 內(nèi)置 4.096V 高精度參考(溫度漂移 20ppm/°C)、2.5V 參考輸出(供外部電路) | 支持內(nèi)置 / 外部參考切換,適配高精度校準需求 |
三、硬件設(shè)計關(guān)鍵信息
1. 封裝與引腳
- 封裝類型 :56 引腳 VQFN(RSH),尺寸 7mm×7mm,暴露熱焊盤需接地以保證散熱(熱阻 RθJA=23.2°C/W,RθJC=0.9°C/W)。
- 關(guān)鍵引腳功能 :
- 模擬輸入:AIN1P/AIN1M 至 AIN8P/AIN8M(8 路差分輸入,支持單端配置)、REFIO(參考電壓輸入 / 輸出,內(nèi)置參考時為輸出,外接參考時為輸入)、REFM(參考地,需接地)。
- 電源:AVDD_5V(5V 模擬電源)、VDD_1V8(1.8V 數(shù)字電源)、IOVDD(I/O 電源,1.15V-1.85V)、GND(公共地,模擬 / 數(shù)字地共地設(shè)計)。
- 時鐘與同步:SMPL_CLKP/SMPL_CLKM(差分采樣時鐘輸入,支持單端配置)、SMPL_SYNC(同步輸入,用于多芯片同步)。
- 數(shù)據(jù)接口:D0-D3(數(shù)據(jù)輸出通道)、DCLKOUT(數(shù)據(jù)時鐘輸出)、FCLKOUT(幀時鐘輸出)、SPI 接口(CS/SCLK/SDI/SDO,用于配置)。
- 控制與輔助:RESET(復(fù)位,低有效)、PWDN(掉電控制,低有效)、REFOUT_2V5(2.5V 參考輸出)。
2. 電源與信號設(shè)計要求
- 電源設(shè)計 :
- 信號設(shè)計 :
四、核心功能與配置
1. 集成化模擬前端(AFE)
- 可編程增益與濾波 :每通道集成可編程增益放大器(PGA)與低通濾波器(LPF),支持:
- 增益適配:通過量程配置(±2.5V-±12V)間接調(diào)整增益,無需額外 PGA 芯片,簡化電路。
- 帶寬選擇:低噪聲模式(22.7kHz)適配高精度低速采集,寬帶寬模式(最高 700kHz)適配高速信號采集,滿足不同場景需求。
- 輸入保護與共模抑制 :每路輸入集成 ±18V 過壓保護鉗位電路,支持 ±12V 寬共模電壓,共模抑制比(CMRR)-70dB(直流),有效抑制系統(tǒng)共模噪聲(如工頻干擾)。
2. 數(shù)據(jù)處理與接口
- 同步采樣與多芯片級聯(lián) :8 通道同步采樣,支持通過 SMPL_SYNC 引腳實現(xiàn)多芯片同步,通道間相位差 < 1ns,適配高通道數(shù)測量系統(tǒng)(如多模塊 PMU)。
- 靈活數(shù)據(jù)接口 :支持 2 通道 / 4 通道輸出,單數(shù)據(jù)率(SDR)/ 雙數(shù)據(jù)率(DDR)模式,數(shù)據(jù)時鐘(DCLKOUT)頻率隨采樣速率與通道數(shù)自動調(diào)整(如 4 通道 DDR 模式,2MSPS 采樣時 DCLKOUT=48MHz),適配高速數(shù)據(jù)傳輸。
- 數(shù)據(jù)優(yōu)化功能 :
- 數(shù)據(jù)隨機化:通過 XOR 操作隨機化輸出數(shù)據(jù),減少地彈噪聲對模擬性能的干擾。
- 數(shù)據(jù)平均:支持簡單平均(輸出速率減半)與移動平均(無速率損失),SNR 最高改善 13dB(128 倍平均),適配弱信號高精度采集。
- 測試圖案:內(nèi)置固定圖案、數(shù)字斜坡、交替圖案等測試模式,用于驗證數(shù)據(jù)接口正確性,簡化調(diào)試。
3. 參考電壓與校準
- 內(nèi)置參考 :集成 4.096V 低漂移參考(溫度漂移 20ppm/°C),支持外部參考輸入(REFIO 引腳),適配更高精度需求(如外接 REF7040 等高精度參考芯片)。
- 系統(tǒng)校準 :支持偏移與增益校準,校準后總未調(diào)整誤差(TUE)可降至 ±0.0015%(25°C±5°C),滿足半導(dǎo)體測試等超高精度場景。
五、應(yīng)用設(shè)計與布局
1. 典型應(yīng)用場景
- 參數(shù)測量單元(PMU) :采用 ADS9813+FPGA 架構(gòu),8 路通道同時采集 DUT(被測器件)的電壓與電流信號(通過分流電阻轉(zhuǎn)換),低噪聲模式(22.7kHz)下 SNR 達 89.1dBFS,滿足 PMU±0.01% 精度要求;支持多芯片級聯(lián)擴展至 32 通道,適配多引腳芯片測試。
- 可編程直流電源 :利用寬量程(±12V)與高線性度(INL±0.8LSB),采集電源輸出電壓與電流,通過反饋控制實現(xiàn)輸出精度 ±0.005%,寬帶寬模式(500kHz)支持快速響應(yīng)負載變化。
2. PCB 布局準則
- 分區(qū)設(shè)計 :模擬區(qū)(AINxP/AINxM、REFIO、AVDD_5V)與數(shù)字區(qū)(SPI 接口、數(shù)據(jù)輸出)嚴格分離,模擬地 / 數(shù)字地僅在器件熱焊盤處單點連接;模擬輸入走線需遠離數(shù)字信號線(如時鐘、數(shù)據(jù)總線),避免 EMI 干擾。
- 布線要求 :
- 模擬輸入線:采用 100Ω 差分對布線,長度匹配誤差 < 5mil,避免過孔;單端輸入線需短路徑布線,長度 < 5cm,減少寄生電阻。
- 時鐘線:差分時鐘線長度匹配誤差 < 2mil,單端時鐘線需靠近地平面,減少輻射干擾。
- 熱設(shè)計 :暴露熱焊盤需通過至少 4 個過孔連接至地平面,焊接面積≥5mm×5mm,確保滿負荷工作時結(jié)溫 < 125°C。
-
傳感器
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