深入解析 NTBLS1D5N10MC:高性能 N 溝道 MOSFET 的卓越之選
在電子工程師的日常設(shè)計(jì)工作中,MOSFET 作為關(guān)鍵的功率器件,其性能直接影響著整個(gè)電路的效率和穩(wěn)定性。今天,我們就來(lái)詳細(xì)探討 onsemi 推出的一款高性能 N 溝道 MOSFET——NTBLS1D5N10MC。
文件下載:onsemi NTBLS1D5N10MC單N溝道MOSFET.pdf
產(chǎn)品概述
NTBLS1D5N10MC 是一款單 N 溝道功率 MOSFET,采用 TOLL 封裝,具備 100V 的耐壓能力,極低的導(dǎo)通電阻(RDS(on))僅為 1.5mΩ,連續(xù)漏極電流可達(dá) 312A。這些出色的參數(shù)使其在眾多功率應(yīng)用場(chǎng)景中脫穎而出。
其常見(jiàn)的應(yīng)用場(chǎng)景包括開關(guān)電源、馬達(dá)驅(qū)動(dòng)以及照明調(diào)光等電路中。下面,我們從幾個(gè)關(guān)鍵方面深入了解這款產(chǎn)品。

產(chǎn)品特性
低損耗優(yōu)勢(shì)
- 低導(dǎo)通電阻(RDS(on)):僅為 1.5mΩ,能夠最大程度地降低導(dǎo)通損耗,提高電路的效率。在功率轉(zhuǎn)換應(yīng)用中,低導(dǎo)通電阻意味著在相同的電流下,MOSFET 上的功率損耗更小,發(fā)熱也更少,從而有助于提升整個(gè)系統(tǒng)的穩(wěn)定性和可靠性。
- 低柵極電荷(QG)和電容:有效降低了驅(qū)動(dòng)損耗。在高頻開關(guān)應(yīng)用中,驅(qū)動(dòng)損耗是一個(gè)不容忽視的問(wèn)題。低 QG 和電容使得 MOSFET 的開關(guān)速度更快,減少了開關(guān)過(guò)程中的能量損耗,同時(shí)也有助于降低開關(guān)噪聲和 EMI(電磁干擾)。
環(huán)保特性
該器件為無(wú)鉛產(chǎn)品,并且符合 RoHS(限制使用有害物質(zhì))標(biāo)準(zhǔn),滿足了現(xiàn)代電子設(shè)備對(duì)環(huán)保的要求。
最大額定值
| NTBLS1D5N10MC 的最大額定值規(guī)定了其在不同條件下能夠安全工作的范圍。以下是一些重要的參數(shù): | 參數(shù) | 符號(hào) | 數(shù)值 | 單位 |
|---|---|---|---|---|
| 漏源電壓 | VDss | 100 | V | |
| 柵源電壓 | VGs | +20 | V | |
| 連續(xù)漏極電流(Tc = 25℃) | ID | 312 | A | |
| 連續(xù)漏極電流(Ta = 25℃) | ID | 32 | A | |
| 功率耗散(Tc = 25℃) | PD | 322 | W | |
| 功率耗散(Ta = 25℃) | PD | 3.4 | W | |
| 脈沖漏極電流(Ta = 25℃,tp = 10μs) | IDM | 2055 | A | |
| 工作結(jié)溫和存儲(chǔ)溫度范圍 | TJ, Tstg | -55 至 +175 | ℃ |
需要注意的是,超過(guò)這些最大額定值可能會(huì)損壞器件,影響其功能和可靠性。
熱阻特性
| 熱阻是衡量 MOSFET 散熱性能的重要指標(biāo)。該產(chǎn)品的熱阻參數(shù)如下: | 參數(shù) | 符號(hào) | 數(shù)值 | 單位 |
|---|---|---|---|---|
| 結(jié)到殼熱阻(穩(wěn)態(tài)) | RθJC | 0.46 | ℃/W | |
| 結(jié)到環(huán)境熱阻(穩(wěn)態(tài)) | RθJA | 43 | ℃/W |
不過(guò),熱阻并非恒定值,整個(gè)應(yīng)用環(huán)境都會(huì)對(duì)其產(chǎn)生影響,這些數(shù)值僅在特定條件下有效。例如,當(dāng)采用 FR4 電路板并使用 650mm2、2oz 的銅焊盤進(jìn)行表面貼裝時(shí),熱阻才符合上述參數(shù)。
電氣特性
關(guān)斷特性
- 漏源擊穿電壓(V(BR)DSS):在 VGs = 0V,ID = 250μA 的條件下,最小值為 100V,確保了器件在高壓環(huán)境下的可靠性。
- 零柵壓漏電流(IDss):在 VGs = 0V,VDs = 100V,TJ = 25℃ 時(shí),最大值為 10μA;當(dāng) TJ = 125℃ 時(shí),最大值為 100μA。較低的漏電流有助于降低靜態(tài)功耗。
導(dǎo)通特性
- 柵極閾值電壓(VGs(TH)):在 VGs = VDs,ID = 799μA 的條件下,典型值為 2.0V,最大值為 4.0V。這一參數(shù)決定了 MOSFET 開始導(dǎo)通的柵源電壓。
- 漏源導(dǎo)通電阻(RDS(on)):在 VGs = 10V,ID = 80A 時(shí),典型值為 1.2mΩ,最大值為 1.5mΩ,體現(xiàn)了其良好的導(dǎo)通性能。
電荷和電容特性
- 輸入電容(Ciss):在 VGs = 0V,f = 1MHz,VDs = 50V 時(shí),典型值為 10100pF。
- 總柵極電荷(QG(TOT)):在 VGs = 10V,VDs = 50V,ID = 80A 時(shí),典型值為 131nC。這些參數(shù)對(duì)于評(píng)估 MOSFET 的開關(guān)速度和驅(qū)動(dòng)要求至關(guān)重要。
開關(guān)特性
開關(guān)特性包括開通延遲時(shí)間、上升時(shí)間、關(guān)斷延遲時(shí)間和下降時(shí)間等。例如,在 VGs = 10V,VDs = 50V,ID = 80A,RG = 6Ω 的條件下,開通延遲時(shí)間典型值為 39ns,上升時(shí)間典型值為 71ns。這些特性決定了 MOSFET 在高頻開關(guān)應(yīng)用中的性能。
漏源二極管特性
- 正向二極管電壓(VsD):在 VGs = 0V,Is = 80A,TJ = 25℃ 時(shí),典型值為 0.81V,最大值為 1.3V;當(dāng) TJ = 125℃ 時(shí),典型值為 0.68V。
- 反向恢復(fù)時(shí)間(tRR):在 VGs = 0V,dIg/dt = 100A/μs,Is = 71A 時(shí),典型值為 110ns。這些參數(shù)對(duì)于評(píng)估 MOSFET 在感性負(fù)載應(yīng)用中的性能非常重要。
典型特性曲線
文檔中還提供了一系列典型特性曲線,如導(dǎo)通區(qū)域特性、轉(zhuǎn)移特性、導(dǎo)通電阻與柵源電壓的關(guān)系、導(dǎo)通電阻與漏極電流和柵極電壓的關(guān)系、導(dǎo)通電阻隨溫度的變化、漏源漏電流與電壓的關(guān)系、電容變化、柵源電壓與總電荷的關(guān)系、電阻性開關(guān)時(shí)間與柵極電阻的關(guān)系、二極管正向電壓與電流的關(guān)系、最大額定正向偏置安全工作區(qū)以及最大漏極電流與雪崩時(shí)間的關(guān)系等。這些曲線可以幫助工程師更好地理解器件的性能,進(jìn)行電路設(shè)計(jì)和優(yōu)化。
封裝和訂購(gòu)信息
NTBLS1D5N10MC 采用 H - PSOF8L 封裝,其詳細(xì)的封裝尺寸在文檔中有明確說(shuō)明。在訂購(gòu)時(shí),可選擇 NTBLS1D5N10MCTXG 型號(hào),該型號(hào)為無(wú)鉛產(chǎn)品,每盤 2000 個(gè),采用帶盤包裝。
總結(jié)
NTBLS1D5N10MC 作為一款高性能的 N 溝道 MOSFET,憑借其低導(dǎo)通電阻、低柵極電荷和電容等優(yōu)勢(shì),在降低導(dǎo)通損耗和驅(qū)動(dòng)損耗方面表現(xiàn)出色,同時(shí)能夠有效降低開關(guān)噪聲和 EMI。其豐富的電氣特性和典型特性曲線為工程師的電路設(shè)計(jì)提供了有力的支持。在實(shí)際應(yīng)用中,工程師需要根據(jù)具體的需求和工作條件,合理選擇和使用該器件,以充分發(fā)揮其性能優(yōu)勢(shì)。大家在使用這款 MOSFET 時(shí),有沒(méi)有遇到過(guò)一些特殊的問(wèn)題或者有什么獨(dú)特的設(shè)計(jì)經(jīng)驗(yàn)?zāi)??歡迎在評(píng)論區(qū)分享交流。
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